裝置與被測設備發(fā)送有效數(shù)據(jù)的速率差值，根據(jù)有效數(shù)據(jù)速率差，獲得第一時刻 滯留在被測設備緩存中的有效數(shù)據(jù)量，如果該有效數(shù)據(jù)量大于預設闊值，則測試裝置確定 被測設備因頻偏導致丟包。本發(fā)明實施例中，丟包測試方法簡單，且能夠快速精確定位被測 設備因頻偏導致丟包，丟包測試準確，也使得測試人員能夠及時發(fā)現(xiàn)和解決問題。
[0170] 請參照圖12,為本發(fā)明實施例提供的一種丟包測試系統(tǒng)示意圖，如圖所示，該系統(tǒng) 中包括被測設備和測試裝置。本實施例中的測試裝置可W是圖7至圖11中任意一個實施 例中所表示的測試裝置。
[0171] 測試裝置用于測試被測設備是否因頻偏導致丟包，具體的，測試方式是，測試裝置 W速率A發(fā)送碼流，該碼流中包括有效數(shù)據(jù)。被測設備包括轉(zhuǎn)發(fā)芯片，轉(zhuǎn)發(fā)芯片中包括緩存 FIFO,當被測設備收到測試裝置發(fā)送的碼流時，W速率B進行轉(zhuǎn)發(fā)，即是測試裝置再次W速 率B收取被測設備發(fā)送的碼流。在發(fā)送和轉(zhuǎn)發(fā)的過程中，可能會因為測試裝置發(fā)送碼流速 率A大于被測設備轉(zhuǎn)發(fā)碼流速率B，多于的碼流中有效數(shù)據(jù)將會存在轉(zhuǎn)發(fā)芯片的緩存FIFO 中，隨著時間的增加，緩存中的有效數(shù)據(jù)越來越多，直到溢出時將導致丟包問題，送也是由 于頻偏導致的丟包。
[0172] 本發(fā)明實施例中，獲取第一時刻的有效數(shù)據(jù)速率差，該有效數(shù)據(jù)速率差表示第一 時刻測試裝置與被測設備發(fā)送有效數(shù)據(jù)的速率差值，根據(jù)有效數(shù)據(jù)速率差，獲得第一時刻 滯留在被測設備緩存中的有效數(shù)據(jù)量，如果該有效數(shù)據(jù)量大于預設闊值，則測試裝置確定 被測設備因頻偏導致丟包。本發(fā)明實施例中，丟包測試方法簡單，且能夠快速精確定位被測 設備因頻偏導致丟包，丟包測試準確，也使得測試人員能夠及時發(fā)現(xiàn)和解決問題。
[0173] 請參照圖13,為本發(fā)明實施例提供的一種丟包測試場景圖，本實施例的丟包測試 場景圖為對圖12所示的丟包測試系統(tǒng)的進一步闡釋，如圖13所示，該丟包測試場景圖中包 括被測設備和測試裝置。
[0174] 測試裝置需要對被測設備進行丟包測試時，測試裝置W速率A發(fā)送碼流，被測設 備接收到測試裝置所發(fā)送的碼流，該碼流中包括有效數(shù)據(jù)。測試裝置再W速率B將所接收 的碼流發(fā)送至測試裝置，測試裝置W速率B接收被測設備所發(fā)送的碼流，由于速率A與速率 B不同，例如速率A大于速率B，則導致被測設備不能及時將測試裝置所發(fā)送的碼流發(fā)送出 去，因此將所剩余的碼流中的有效數(shù)據(jù)存儲至被測設備緩存中，隨著時間的積累被測設備 緩存中有效數(shù)據(jù)量大于被測設備緩存，則可能導致因頻偏丟包。
[01巧]測試裝置中包括測試裝置的業(yè)務時鐘，對該業(yè)務時鐘的實際輸出頻率進行倍頻處 理后的頻率值即是測試裝置發(fā)送碼流的速率，與測試裝置的業(yè)務時鐘連接的是時鐘檢測模 塊，時鐘檢測模塊主要用于檢測測試裝置的業(yè)務時鐘，檢測的內(nèi)容可W是測試裝置的業(yè)務 時鐘頻偏和倍頻系數(shù)。同時時鐘檢測模塊也與時鐘恢復模塊連接，時鐘恢復模塊與被測設 備傳輸信息，時鐘恢復模塊根據(jù)從被測設備所接收的碼流中恢復出被測設備的時鐘頻偏和 倍頻系數(shù)，并傳輸至時鐘檢測模塊，時鐘檢測模塊將測試裝置的業(yè)務時鐘頻偏和倍頻系數(shù) 已經(jīng)被測設備的業(yè)務時鐘頻偏和倍頻系數(shù)送入分析程序進行數(shù)據(jù)分析，數(shù)據(jù)分析中結(jié)合測 試裝置業(yè)務設置，例如測試裝置發(fā)送碼流中頓長度、流量大小、頓間隙等等參數(shù)進行數(shù)據(jù)分 析，獲取到第一時刻滯留在被測設備緩存中的有效數(shù)據(jù)量，再對有效數(shù)據(jù)量進行分析判斷， 如果有效數(shù)據(jù)量大于緩存大小的設置，則發(fā)出頻偏丟包告警；若有效數(shù)據(jù)量小于緩存大小 的設置，則不處理，即是沒有出現(xiàn)頻偏丟包。
[0176] 在被測設備中包括轉(zhuǎn)發(fā)芯片，轉(zhuǎn)發(fā)芯片用于轉(zhuǎn)發(fā)測試裝置所發(fā)送的碼流，轉(zhuǎn)發(fā)芯 片中包括緩存，當測試裝置發(fā)送碼流速率大于被測設備轉(zhuǎn)發(fā)速率時，則將多余的有效數(shù)據(jù) 存儲至緩存中，隨著時間的積累，緩存中的有效數(shù)據(jù)越來越多，直到溢出時，將會導致頻偏 丟包。
[0177]本發(fā)明實施例中，獲取第一時刻的有效數(shù)據(jù)速率差，該有效數(shù)據(jù)速率差表示第一 時刻測試裝置與被測設備發(fā)送有效數(shù)據(jù)的速率差值，根據(jù)有效數(shù)據(jù)速率差，獲得第一時刻 滯留在被測設備緩存中的有效數(shù)據(jù)量，如果該有效數(shù)據(jù)量大于預設闊值，則測試裝置確定 被測設備因頻偏導致丟包。本發(fā)明實施例中，丟包測試方法簡單，且能夠快速精確定位被測 設備因頻偏導致丟包，丟包測試準確，也使得測試人員能夠及時發(fā)現(xiàn)和解決問題。
[0178] 本領域普通技術人員可W理解實現(xiàn)上述實施例方法中的全部或部分流程，是可W 通過計算機程序來指令相關的硬件來完成，所述的程序可存儲于一計算機可讀取存儲介質(zhì) 中，該程序在執(zhí)行時，可包括如上述各方法的實施例的流程。其中，所述的存儲介質(zhì)可為磁 碟、光盤、只讀存儲記憶體巧eacH3nlyMemo巧，ROM)或隨機存儲記憶體（RandomAccess Memoir,RAM)等。
[0179] 本發(fā)明實施例方法中的步驟可W根據(jù)實際需要進行順序調(diào)整、合并和刪減。
[0180] 本發(fā)明實施例終端中的模塊或單元可W根據(jù)實際需要進行合并、劃分和刪減。
[0181] 本發(fā)明實施例的微控制器等部件，可WW通用集成電路（如中央處理器CPU),或 W專用集成電路（ASIC)來實現(xiàn)。
[0182]W上所掲露的僅為本發(fā)明較佳實施例而已，當然不能W此來限定本發(fā)明之權利范 圍，因此依本發(fā)明權利要求所作的等同變化，仍屬本發(fā)明所涵蓋的范圍。
【主權項】
1. 一種丟包測試方法，其特征在于，所述方法包括： 測試裝置獲取第一時刻的有效數(shù)據(jù)速率差，所述有效數(shù)據(jù)速率差表示在所述第一時刻 所述測試裝置與被測設備發(fā)送有效數(shù)據(jù)的速率差值； 所述測試裝置根據(jù)所述有效數(shù)據(jù)速率差，獲得在所述第一時刻滯留在所述被測設備的 緩存中的有效數(shù)據(jù)量； 若所述有效數(shù)據(jù)量大于預設閾值，則所述測試裝置確定所述被測設備因頻偏導致丟 包。2. 如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述獲取第一時刻的有效數(shù)據(jù)速率差，包 括： 所述測試裝置獲取所述第一時刻的碼流速率差，所述碼流速率差為所述測試裝置與所 述被測設備發(fā)送碼流的速率差值； 所述測試裝置根據(jù)所述測試裝置發(fā)送碼流的速率和發(fā)送有效數(shù)據(jù)的速率，獲得所述測 試裝置的有效數(shù)據(jù)碼流比，所述碼流中包括所述有效數(shù)據(jù)； 所述測試裝置根據(jù)所述碼流速率差和所述有效數(shù)據(jù)碼流比，獲得所述有效數(shù)據(jù)速率 差。3. 如權利要求2所述的方法，其特征在于，所述測試裝置獲取所述第一時刻的碼流速 率差，包括： 所述測試裝置獲取所述測試裝置在所述第一時刻的時鐘頻偏和倍頻系數(shù)； 所述測試裝置獲取所述被測設備在所述第一時刻的時鐘頻偏和倍頻系數(shù)； 所述測試裝置根據(jù)所述測試裝置在所述第一時刻的時鐘頻偏和倍頻系數(shù)，以及所述被 測設備在所述第一時刻的時鐘頻偏和倍頻系數(shù)，獲得所述第一時刻的所述碼流速率差。4. 如權利要求1至3任一項所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)所述有效數(shù)據(jù)速率差， 獲得在所述第一時刻滯留在所述被測設備的緩存中的有效數(shù)據(jù)量，包括： 所述測試裝置根據(jù)所述有效數(shù)據(jù)速率差，獲取所述第一時刻所述有效數(shù)據(jù)速率差的積 分值； 若所述積分值小于或者等于零，則所述測試裝置將零確定為在所述第一時刻滯留在所 述被測設備的緩存中的有效數(shù)據(jù)量； 若所述積分值大于零，則所述測試裝置將所述積分值確定為在所述第一時刻滯留在所 述被測設備的緩存中的有效數(shù)據(jù)量。5. -種測試裝置，其特征在于，所述裝置包括： 第一獲取模塊，用于獲取第一時刻的有效數(shù)據(jù)速率差，所述有效數(shù)據(jù)速率差表示在所 述第一時刻所述測試裝置與被測設備發(fā)送有效數(shù)據(jù)的速率差值； 第二獲取模塊，用于根據(jù)所述有效數(shù)據(jù)速率差，獲得在所述第一時刻滯留在所述被測 設備的緩存中的有效數(shù)據(jù)量； 確定模塊，用于若所述有效數(shù)據(jù)量大于預設閾值，則確定所述被測設備因速率差導致 丟包。6. 如權利要求5所述的裝置，其特征在于，所述第一獲取模塊包括： 第一獲取單元，用于獲取所述第一時刻的碼流速率差，所述碼流速率差為所述測試裝 置與所述被測設備發(fā)送碼流的速率差值； 第二獲取單元，用于根據(jù)所述測試裝置發(fā)送碼流的速率和發(fā)送有效數(shù)據(jù)的速率，獲得 所述測試裝置的有效數(shù)據(jù)碼流比，所述碼流中包括所述有效數(shù)據(jù)； 第三獲取單元，用于根據(jù)所述碼流速率差和所述有效數(shù)據(jù)碼流比，獲得所述有效數(shù)據(jù) 速率差。7. 如權利要求6所述的裝置，其特征在于，所述第一獲取單元，具體用于獲取所述測試 裝置在所述第一時刻的時鐘頻偏和所倍頻系數(shù)；獲取所述被測設備在所述第一時刻的時鐘 頻偏和倍頻系數(shù)；并根據(jù)所述測試裝置在所述第一時刻的時鐘頻偏和倍頻系數(shù)，以及所述 被測設備在所述第一時刻的時鐘頻偏和倍頻系數(shù)，獲得所述第一時刻的所述碼流速率差。8. 如權利要求6所述的裝置，其特征在于，所述第一獲取單元包括： 時鐘檢測子模塊，用于獲取所述測試裝置在所述第一時刻的時鐘頻偏和所倍頻系數(shù)； 時鐘恢復子模塊，用于獲取所述被測設備在所述第一時刻的時鐘頻偏和倍頻系數(shù)； 數(shù)據(jù)分析子模塊，用于根據(jù)所述測試裝置在所述第一時刻的時鐘頻偏和倍頻系數(shù)，以 及所述被測設備在所述第一時刻的時鐘頻偏和倍頻系數(shù)，獲得所述第一時刻的所述碼流速 率差。9. 如權利要求5至8任一項所述的裝置，其特征在于，所述第二獲取模塊包括： 第四獲取單元，用于根據(jù)所述有效數(shù)據(jù)速率差，獲取所述第一時刻所述有效數(shù)據(jù)速率 差的積分值； 確定單元，用于若所述積分值小于或者等于零，則將零確定為在所述第一時刻的滯留 在所述被測設備的緩存中的有效數(shù)據(jù)量；若所述積分值大于零，則將所述積分值確定為在 所述第一時刻滯留在所述被測設備的緩存中的有效數(shù)據(jù)量。10. -種測試系統(tǒng)，包括被測設備和如權利要求5-9任一項所述的測試裝置。
【專利摘要】本發(fā)明實施例公開了一種丟包測試方法，裝置和系統(tǒng)，測試裝置獲取第一時刻的有效數(shù)據(jù)速率差，所述有效數(shù)據(jù)速率差表示在所述第一時刻所述測試裝置與被測設備發(fā)送有效數(shù)據(jù)的速率差值；所述測試裝置根據(jù)所述有效數(shù)據(jù)速率差，獲得在所述第一時刻滯留在所述被測設備的緩存中的有效數(shù)據(jù)量；若所述有效數(shù)據(jù)量大于預設閾值，則所述測試裝置確定所述被測設備因頻偏導致丟包。采用本發(fā)明，可以根據(jù)有效數(shù)據(jù)速率差測試出被測設備是否因頻偏導致丟包，丟包測試準確。
【IPC分類】H04L12/26
【公開號】CN105337784
【申請?zhí)枴緾N201410333791
【發(fā)明人】黃超
【申請人】華為技術有限公司
【公開日】2016年2月17日
【申請日】2014年7月14日