一種基于統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)和特征曲線的頻率偏移校準(zhǔn)方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及無(wú)線電子產(chǎn)品發(fā)射頻率的校準(zhǔn)，尤其涉及一種基于統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)和特征曲 線的頻率偏移校準(zhǔn)方法。
【背景技術(shù)】
[0002] 現(xiàn)在許多無(wú)線WiFi電子產(chǎn)品在生產(chǎn)過(guò)程中為了使其發(fā)射頻率更加精準(zhǔn)，需要在生 產(chǎn)過(guò)程中對(duì)頻率的偏移進(jìn)行校準(zhǔn)，使得他的頻率偏移在標(biāo)準(zhǔn)范圍以內(nèi)。目前許多的無(wú)線芯 片在其芯片內(nèi)部提供了壓控可編程電容陣列，通過(guò)芯片廠商預(yù)留的控制接口（寫(xiě)在非易失 隨機(jī)存取存儲(chǔ)器中的一個(gè)整數(shù)，以下簡(jiǎn)稱cap ID)可以控制這個(gè)壓控可編程電容陣列的電 容，從而改變發(fā)射信號(hào)的頻率。生產(chǎn)時(shí)通過(guò)調(diào)整cap ID來(lái)實(shí)現(xiàn)將頻率偏移調(diào)整到標(biāo)準(zhǔn)范圍 內(nèi)。
[0003] 我們將通過(guò)修改cap ID來(lái)調(diào)整頻率偏移的過(guò)程叫做頻率偏移校準(zhǔn)，簡(jiǎn)稱頻偏校 準(zhǔn)。
[0004] 目前比較通用的頻偏校準(zhǔn)方法（圖1)(即評(píng)估cap ID的方法)是：首先將一個(gè)固定 的基礎(chǔ)cap ID(命名為cap_id_baSe，這里的命名行為應(yīng)理解為僅是為了更清晰簡(jiǎn)潔地解釋 算法和繪制流程圖，但并不限定本專利，下同；這個(gè)值一般是通過(guò)測(cè)試幾個(gè)待測(cè)物樣品，找 出頻偏為〇時(shí)的cap ID，然后求平均值得到）當(dāng)做要使用的cap ID(命名為cap_id_using)開(kāi) 始進(jìn)行頻偏調(diào)整，先使用這個(gè)cap_id_using發(fā)射無(wú)線信號(hào)，得到頻偏值F，并檢查頻偏值F是 否在標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)容，如在則校準(zhǔn)完成，如果不在則根據(jù)此產(chǎn)品的cap ID與頻偏值的趨勢(shì)，使 用下面的算法之一：
[0005] 遞增趨勢(shì)，即cap ID值增加時(shí)，頻偏值增加（圖2):
[0006] 如果頻偏值F大于標(biāo)準(zhǔn)范圍的最大，則cap ID減小變化量6,如果頻 偏值F小于規(guī)定范圍的最小值?_1^]^61;[11，則cap ID增加變化量&從而得到新的cap ID(命 名為cap_id_new) 0
[0007] 遞減趨勢(shì)，即cap ID值增加時(shí)，頻偏值減?。▓D3):
[0008] 如果頻偏值F大于標(biāo)準(zhǔn)范圍的最大，則cap ID增加變化量&如果頻 偏值F小于規(guī)定范圍的最小，則cap ID減小變化量d。.從而得到新的cap ID(命 名為cap_id_new) 〇
[0009] cap ID增加或減小的變化量拆十算公式為：
[0010] 變化量0等于:頻偏值的絕對(duì)值再除以平均步長(zhǎng)，對(duì)得到的結(jié)果進(jìn)行四舍五入取 整。即：
[0011] S=Round((|F |)/Step)
[0012]其中F為使用cap ID(cap_id_using)發(fā)射信號(hào)得到的頻偏值
[0013] Step為頻率變化步長(zhǎng)，為cap ID增加或減小1時(shí)頻偏值增加或減小的值(此值由芯 片廠商提供）。
[0014] Round為對(duì)參數(shù)進(jìn)行四舍五入取得整數(shù)部分的函數(shù)。
[0015]然后使用這個(gè)新的cap ID(cap_id_new)再次發(fā)射無(wú)線信號(hào)，并檢查頻偏值是否在 標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)，按照上面的方法循環(huán)對(duì)頻偏值進(jìn)行調(diào)整，直到將頻偏值調(diào)整到標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)為 止，頻偏校準(zhǔn)完成，此時(shí)的cap ID值即為需要寫(xiě)入非易失隨機(jī)存取存儲(chǔ)器中的整數(shù)。
[0016]這種方法有兩個(gè)缺點(diǎn)：
[0017]由于cap ID與頻偏值不是線性關(guān)系，所以Step并不能代表整個(gè)頻偏曲線的步長(zhǎng)， 這就導(dǎo)致當(dāng)Step值與曲線斜率相差較大的時(shí)候需要進(jìn)行多次調(diào)整才能將頻偏值調(diào)整到標(biāo) 準(zhǔn)范圍內(nèi)，校準(zhǔn)時(shí)間較長(zhǎng)。
[0018] 由于不同的待測(cè)物的特性是有差異的，即使用相同的cap ID所測(cè)到的頻偏值是不 同的，例如圖4中所示，當(dāng)cap ID為60時(shí)，待測(cè)物1的頻偏值為11，待測(cè)物2的頻偏值為0，所以 從固定的默認(rèn)cap ID值開(kāi)始進(jìn)行調(diào)整時(shí)會(huì)有很多的待測(cè)物需要調(diào)整2次或更多次才能將頻 偏值調(diào)整到標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)，使得校準(zhǔn)時(shí)間較長(zhǎng)。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0019] 本發(fā)明的目的在于提供一種基于統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)和特征曲線的頻率偏移校準(zhǔn)方法，解決 目前對(duì)發(fā)射頻率的頻率偏移校準(zhǔn)方法中，頻偏值的調(diào)整不精確，適用范圍有限，并且校準(zhǔn)所 需時(shí)間過(guò)長(zhǎng)的問(wèn)題。
[0020] 為解決上述問(wèn)題，本發(fā)明所采取的技術(shù)方案是：
[0021] -種基于統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)和特征曲線的頻率偏移校準(zhǔn)方法，包括以下步驟：
[0022]步驟一，收集待測(cè)物的cap ID值和頻偏值的分布數(shù)據(jù)，組成一個(gè)cap ID值-頻偏值 對(duì)應(yīng)表;表中記錄同一個(gè)cap ID值對(duì)應(yīng)的不同待測(cè)物的頻偏值，繪制出偏頻特征曲線； [0023]步驟二，分析出頻偏值在標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)使用頻率最多的cap ID值作為基礎(chǔ)capID值； [0024]步驟三，將基礎(chǔ)capID值作為當(dāng)前使用的cap ID值發(fā)射信號(hào)得到的頻偏值F，參照 偏頻的特征曲線，如果頻偏值F在標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)則頻偏校準(zhǔn)完成，如果不在標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)則在特 征曲線中找出與頻偏值F最接近的頻偏值所對(duì)應(yīng)的cap ID差值；
[0025] 步驟四，在基礎(chǔ)capID值的基礎(chǔ)上減去cap ID差值得到新的cap ID;
[0026] 步驟五，將新的值cap ID作為當(dāng)前使用的cap ID值重復(fù)發(fā)射信號(hào)得到的頻偏值F， 直到將頻偏值F調(diào)整到標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)為止，頻偏校準(zhǔn)完成。
[0027] 進(jìn)一步的，所述偏頻特征曲線獲取方法是：
[0028] 隨機(jī)找出η片待測(cè)物樣品，設(shè)定為DUTl~DUTn;
[0029]對(duì)每一片樣品，使用cap ID的可用整數(shù)范圍內(nèi)的每一個(gè)整數(shù)作為cap ID進(jìn)行頻偏 量測(cè)，然后將數(shù)據(jù)整理成表格；
[0030]對(duì)每一片樣品的capID值-頻偏值數(shù)據(jù)進(jìn)行平移，找出頻偏值最接近0的cap ID，將 所有的capID都減去所述最接近0的cap ID，得到的值作為cap ID差值；
[0031]以cap ID差值和頻偏值構(gòu)成一個(gè)新的數(shù)據(jù)表格，以cap ID差值為橫坐標(biāo)，頻偏值 為縱坐標(biāo)，構(gòu)成一個(gè)待測(cè)物的特征曲線；
[0032]對(duì)每一個(gè)待測(cè)物都構(gòu)建其特征曲線；
[0033]對(duì)所有的特征曲線以cap ID差值為單位求取所有對(duì)應(yīng)頻偏值的平均值，將此平均 值作為所有樣本的特征曲線的頻偏值；
[0034]所有的cap ID差值及其對(duì)應(yīng)的頻偏平均值構(gòu)成了校準(zhǔn)所需的偏頻特征曲線。
[0035] 進(jìn)一步的，在分析頻偏值在標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)使用頻率最多的cap ID值作為基礎(chǔ)capID 值時(shí)，如果有多個(gè)cap ID值出現(xiàn)的次數(shù)相同，則選擇與這些cap ID值的平均值最接近的一 個(gè)。
[0036] 進(jìn)一步的，所述步驟三種，如果不在標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)則在特征曲線中找出與頻偏值F最 接近的頻偏值所對(duì)應(yīng)的cap ID差值，具體是找出與頻偏值F最接近的特征頻偏值Ft，在通過(guò) 特征頻偏值Ft得出對(duì)應(yīng)的cap ID差值。
[0037] 進(jìn)一步的，頻偏校準(zhǔn)完成后，將頻偏值F在標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)時(shí)，作為當(dāng)前使用的cap ID 值寫(xiě)入非易失隨機(jī)存取存儲(chǔ)器中，并將當(dāng)前使用的cap ID值和頻偏值F記錄到數(shù)據(jù)容器中。 [0038]采用上述技術(shù)方案所產(chǎn)生的有益效果在于:通過(guò)收集待測(cè)物測(cè)試過(guò)程中已經(jīng)校準(zhǔn) 完成時(shí)的cap ID值和頻偏值的分布數(shù)據(jù)來(lái)求取最常用的cap ID值作為基礎(chǔ)cap ID值，再根 據(jù)待測(cè)物樣品的特征曲線預(yù)測(cè)出將功率調(diào)整到標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)所需要的cap ID值，然后再在此 值的基礎(chǔ)上進(jìn)行進(jìn)一步調(diào)整，以此來(lái)達(dá)到減少調(diào)整次數(shù)，從而減少校準(zhǔn)時(shí)間，可以使那些特 性接近的待測(cè)物中數(shù)量最多的待測(cè)物只要量測(cè)一次頻偏值就實(shí)現(xiàn)頻偏校準(zhǔn)成功，大多數(shù)待 測(cè)物最多只要量測(cè)2次頻偏值就可以完成頻偏校準(zhǔn)。
【附圖說(shuō)明】
[0039] 圖1是現(xiàn)有技術(shù)中通用頻偏校準(zhǔn)方法流程圖。
[0040] 圖2是現(xiàn)有校準(zhǔn)方法中cap ID與頻偏值呈遞增趨勢(shì)關(guān)系圖。
[0041] 圖3是現(xiàn)有校準(zhǔn)方法中cap ID與頻偏值呈遞減趨勢(shì)關(guān)系圖。
[0042]圖4是現(xiàn)有校準(zhǔn)方法中待測(cè)物間cap ID值與頻偏值差異圖。
[0043]圖5基于統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)和特征曲線的頻偏校準(zhǔn)方法流程圖。
[0044]圖6是cap ID-頻偏值對(duì)應(yīng)表示例。
【具體實(shí)施方式】
[0045] 為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實(shí)施例，對(duì) 本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并 不用于限定本發(fā)明。
[0046] 圖5示出了發(fā)明一種基于統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)和特征曲線的頻率偏移校準(zhǔn)方法的一個(gè)實(shí)施