一 DTX檢測值與所述 第一 DTX檢測闊值進行比較，如小于所述第一 DTX檢測闊值，判定所述上行終端處于DTX狀 態(tài)；
[0041] 所述比特提取模塊包括原始比特提取子模塊、校驗比特提取子模塊和占位比特提 取子模塊時，所述判斷模塊包括第一判斷子模塊和第二判斷子模塊；所述第二判斷子模塊 用于將所述第二DTX檢測值與所述第二DTX檢測闊值進行比較，如小于所述第二DTX檢測 闊值，通知所述第一判斷子模塊將所述第一 DTX檢測值與所述第一 DTX檢測闊值進行比較， 如小于所述第一 DTX檢測闊值，判定所述上行終端處于DTX狀態(tài)；
[0042] 所述比特提取模塊包括編碼比特提取子模塊時，所述判斷模塊包括第Η判斷子模 塊，用于將所述第Η DTX檢測值與所述第Η DTX檢測闊值進行比較，如小于所述第Η DTX檢 測闊值，判定所述上行終端處于DTX狀態(tài)。
[0043] 在本發(fā)明的一種實施例中，所述第一 DTX檢測值為；所述原始比特和校驗比特的 正極性信息比特的能量和與負極性信息比特的能量和的比值，或為所述原始比特和校驗比 特的正極性信息比特的總幅值絕對值與負極性信息比特的總幅值絕對值的比值，或為所述 原始比特和校驗比特的正極性信息比特包含的總比特個數(shù)與負極性信息比特包含的總比 特個數(shù)的比值；對應的，所述第一 DTX檢測闊值為第一 DTX能量檢測闊值、第一 DTX幅值檢 測闊值或第一 DTX權重檢測闊值；
[0044] 所述第二DTX檢測值為；所述占位比特的正極性信息比特的能量和與負極性信息 比特的能量和的比值，或為所述占位比特的正極性信息比特的總幅值絕對值與負極性信息 比特的總幅值絕對值的比值，或為所述占位比特的正極性信息比特包含的總比特個數(shù)與負 極性信息比特包含的總比特個數(shù)的比值；對應的，所述第二DTX檢測闊值為第二DTX能量檢 測闊值、第二DTX幅值檢測闊值或第二DTX權重檢測闊值；
[0045] 所述第Η DTX檢測值為；所述編碼比特的正極性信息比特的能量和與負極性信息 比特的能量和的比值，或為所述編碼比特的正極性信息比特的總幅值絕對值與負極性信息 比特的總幅值絕對值的比值，或為所述編碼比特的正極性信息比特包含的總比特個數(shù)與負 極性信息比特包含的總比特個數(shù)的比值；對應的，所述第Η DTX檢測闊值為第Η DTX能量檢 測闊值、第Η DTX幅值檢測闊值或第Η DTX權重檢測闊值。
[0046] 為了解決上述問題，本發(fā)明還提供了一種基站，包括信號接收器、極性選擇器W 及處理器；所述信號接收器用于接收上行終端發(fā)送的反饋信號；
[0047] 所述極性選擇器用于提取所述反饋信號中用于進行DTX檢測的信息比特，將提取 的信息比特進行分極性處理；
[0048] 所述處理器用于根據(jù)不同極性的信息比特得到DTX檢測值，將所述DTX檢測值與 預設的DTX檢測闊值進行比較，根據(jù)比較結果確定所述上行終端是否處于DTX狀態(tài)。
[0049] 在本發(fā)明的一種實施例中，當所述反饋信號中包含的HARQ-ACK信息比特為小于 等于2比特時，所述用于進行DTX檢測的信息比特包括：所述反饋信號中HARQ-ACK信息比 特的原始比特、校驗比特，或所述反饋信號中HARQ-ACK信息比特的原始比特、校驗比特和 占位比特；當所述反饋信號中包含的HARQ-ACK信息比特為大于2比特時，所述用于進行 DTX檢測的信息比特包括編碼比特。
[0050] 在本發(fā)明的一種實施例中，所述用于進行DTX檢測的信息比特包括原始比特和校 驗比特時，所述DTX檢測值包括根據(jù)所述原始比特和校驗比特不同極性的信息比特得到的 第一 DTX檢測值，所述DTX檢測闊值包括第一 DTX檢測闊值；
[0051] 所述用于進行DTX檢測的信息比特包括原始比特、校驗比特和占位比特時，所述 DTX檢測值包括根據(jù)所述原始比特和校驗比特不同極性的信息比特得到的第一 DTX檢測 值，W及根據(jù)所述占位比特不同極性的信息比特得到的第二檢測值，所述DTX檢測闊值包 括第一 DTX檢測闊值和第二DTX檢測闊值；
[0052] 所述用于進行DTX檢測的信息比特包括編碼比特時，所述DTX檢測值包括根據(jù)所 述編碼比特不同極性的信息比特得到的第Η DTX檢測值，所述DTX檢測闊值包括第Η DTX 檢測闊值。
[0053] 在本發(fā)明的一種實施例中，所述用于進行DTX檢測的信息比特包括原始比特和校 驗比特時，所述處理器將所述DTX檢測值與所述DTX檢測闊值進行比較，根據(jù)比較結果確定 所述上行終端是否處于DTX狀態(tài)包括；將所述第一 DTX檢測值與所述第一 DTX檢測闊值進 行比較，如小于所述第一 DTX檢測闊值，判定所述上行終端處于DTX狀態(tài)；
[0054] 所述用于進行DTX檢測的信息比特包括原始比特、校驗比特和占位比特時，所述 處理器將所述DTX檢測值與所述DTX檢測闊值進行比較，根據(jù)比較結果確定所述上行終端 是否處于DTX狀態(tài)包括；將所述第二DTX檢測值與所述第二DTX檢測闊值進行比較，如小于 所述第二DTX檢測闊值，將所述第一 DTX檢測值與所述第一 DTX檢測闊值進行比較，如小于 所述第一 DTX檢測闊值，判定所述上行終端處于DTX狀態(tài)；
[00巧]所述用于進行DTX檢測的信息比特包括編碼比特時，所述處理器將所述DTX檢測 值與所述DTX檢測闊值進行比較，根據(jù)比較結果確定所述上行終端是否處于DTX狀態(tài)包括： 將所述第Η DTX檢測值與所述第Η DTX檢測闊值進行比較，如小于所述第Η DTX檢測闊值， 判定所述上行終端處于DTX狀態(tài)。
[0056] 在本發(fā)明的一種實施例中，所述第一 DTX檢測值為；所述原始比特和校驗比特的 正極性信息比特的能量和與負極性信息比特的能量和的比值，或為所述原始比特和校驗比 特的正極性信息比特的總幅值絕對值與負極性信息比特的總幅值絕對值的比值，或為所述 原始比特和校驗比特的正極性信息比特包含的總比特個數(shù)與負極性信息比特包含的總比 特個數(shù)的比值；對應的，所述第一 DTX檢測闊值為第一 DTX能量檢測闊值、第一 DTX幅值檢 測闊值或第一 DTX權重檢測闊值；
[0057] 所述第二DTX檢測值為；所述占位比特的正極性信息比特的能量和與負極性信息 比特的能量和的比值，或為所述占位比特的正極性信息比特的總幅值絕對值與負極性信息 比特的總幅值絕對值的比值，或為所述占位比特的正極性信息比特包含的總比特個數(shù)與負 極性信息比特包含的總比特個數(shù)的比值；對應的，所述第二DTX檢測闊值為第二DTX能量檢 測闊值、第二DTX幅值檢測闊值或第二DTX權重檢測闊值；
[0058] 所述第Η DTX檢測值為；所述編碼比特的正極性信息比特的能量和與負極性信息 比特的能量和的比值，或為所述編碼比特的正極性信息比特的總幅值絕對值與負極性信息 比特的總幅值絕對值的比值，或為所述編碼比特的正極性信息比特包含的總比特個數(shù)與負 極性信息比特包含的總比特個數(shù)的比值；對應的，所述第Η DTX檢測闊值為第Η DTX能量檢 測闊值、第Η DTX幅值檢測闊值或第Η DTX權重檢測闊值。
[0059] 本發(fā)明的有益效果是：
[0060] 本發(fā)明提供的DTX檢測方法、裝置及基站，從上行終端發(fā)送的反饋信號中提取用 于進行DTX檢測的信息比特，將提取的信息比特進行分極性處理；進而根據(jù)不同極性的信 息比特得到DTX檢測值；將該DTX檢測值與預設的DTX檢測闊值進行比較，根據(jù)比較結果確 定上行終端是否處于DTX狀態(tài)。也即，本發(fā)明提供的方案可利用信息比特的極性特點完成 DTX檢測，因此可大大降低誤檢和漏檢的可能性，提升DTX檢測的精度，尤其是在小TBSize 條件下。
【附圖說明】
[0061] 圖1為現(xiàn)有PUSCH上傳輸?shù)馁Y源映射圖；
[0062] 圖2為本發(fā)明實施例一中提供的DTX檢測方法流程示意圖；
[0063] 圖3為本發(fā)明實施例二中提供的DTX檢測裝置結構示意圖；
[0064] 圖4為本發(fā)明實施例二中提供的另一 DTX檢測裝置結構示意圖；
[0065] 圖5為本發(fā)明實施例Η中提供的基站結構示意圖；
[0066] 圖6為本發(fā)明實施例四中提供的復用1比特的HARQ-ACK檢測流程示意圖；
[0067] 圖7為本發(fā)明實施例四中提供的復用2比特的HARQ-ACK檢測流程示意圖；
[006引圖8為本發(fā)明實施例五中提供的綁定1比特的HARQ-ACK檢測流程示意圖；
[0069] 圖9為本發(fā)明實施例五中提供的綁定2比特的HARQ-ACK檢測流程示意圖。
【具體實施方式】
[0070] 下面通過【具體實施方式】結合附圖對本發(fā)明作進一步詳細說明。
[007 U 實施例一：
[007引請參見圖2所示，本實施例提供的DTX檢測方法包括W下步驟：
[0073] 步驟201 ;接收上行終端發(fā)送的反饋信號；
[0074] 步驟202 ;提取該反饋信號中用于進行DTX檢測的信息比特；
[00巧]步驟203 ;將提取的信息比特進行分極性處理；
[007引步驟204 ;根據(jù)不同極性的信息比特得到DTX檢測值；
[0077] 步驟205 ;將得到的DTX檢測值與預設的DTX檢測闊值進行比較，根據(jù)比較結果確 定該上行終端是否處于DTX狀態(tài)；也即確定該上行終端是否傳輸了 HARQ-ACK信息。
[0078] 在本實施例中，上述步驟202中提取反饋信號中用于進行DTX檢測的信息比特可 W采用的不同的方案，下面僅種提取方案作為示例行的說明：
[007引方案一；當反饋信號中包含的HARQ-ACK信息比特為小于等于2比特時，提取用于 進行DTX檢測的信息比特包括：提取該反饋信號中HARQ-ACK信息比特的原始比特、校驗比 特；
[0080] 此時的DTX檢測值包括根據(jù)提取的原始比特和校驗比特的不同極性的信息比特 得到的第一 DTX檢測值，DTX檢測闊值包括與該第一 DTX檢測值對應的第一 DTX檢測闊值； 此時將DTX檢測值與DTX檢測闊值進行比較，根據(jù)比較結果確定上行終端是否處于DTX狀 態(tài)包括：將得到的第一 DTX檢測值與預設的第一 DTX檢測闊值進行比較，如小于第一 DTX檢 測闊值，則判定該上行終端處于DTX狀態(tài)；如果第一 DTX檢測值大于預設的第一 DTX檢測闊 值，則判定該上行終端傳輸了 HARQ-ACK信息，此時DTX = 0,也即上行終端處于非DTX狀態(tài)。 [00引]方案二：當所述反饋信號中包含的HARQ-ACK信息比特為小于等于2比特時，提取 該反饋信號中HARQ-ACK信息比特的原始比特、校驗比特和占位比特。此時DTX檢測值包括 根據(jù)提取的原始比特和校驗比特不同極性的信息比特得到的第一 DTX檢測值，W及根據(jù)提 取的占位比特不同極性的信息比特得到的第二檢測值，DTX檢測闊值包括分別與第一 DTX 檢測值和第二DTX檢測值對應的第一 DTX檢測闊值和第二DTX檢測闊值。此時將DTX檢 測值與DTX檢測闊值進行比較，根據(jù)比較結果確定上行終端是否處于DTX狀態(tài)的過程包括： 先將第二DTX檢測值與第二DTX檢測闊值進行比較，如第二DTX檢測值大于第二DTX檢測 闊值，則表明上行終端傳輸了 HARQ-ACK信息，此時DTX = 0,也即上行終端處于非DTX狀態(tài)； 如第二DTX檢測值小于第二DTX檢測闊值，則再將第一 DTX檢測值與第一 DTX檢測闊值進 行比較，如第一 DTX檢測值小于第一 DTX檢測闊值，則判定上行終端處于DTX狀態(tài)；否則，判 定該上行終端傳輸了 HARQ-ACK信息，此時DTX = 0。
[008引方案S ;當所述反饋信號中包含的HARQ-ACK信息比特為大于2比特時，提取用于 進行DTX檢測的信息比特包括：提取該反饋信號中HARQ-ACK信息比特的編碼比特；
[0083] 此時的DTX檢測值包括根據(jù)提取的編碼比特的不同極性的信息比特得到的第Η DTX檢測值，DTX檢測闊值包括與該第Η DTX檢測值對應的第Η DTX檢測闊值；此時將DTX 檢測值與DTX檢測闊值進行比較，根據(jù)比較結果確定上行終端是否處于DTX狀態(tài)包括；將得 到的第Η DTX檢測值與預設的第Η DTX檢測闊值進行比較，如小于第Η DTX檢測闊值，則判 定該上行終端處于DTX狀態(tài)；如果第Η DTX檢測值大于預設的第Η DTX檢測闊值，則判定該 上行終端傳輸了 HARQ-ACK信息，此時DTX =