圖像轉換單元和具有該圖像轉換單元的顯示裝置的制造方法
【專利說明】圖像轉換單元和具有該圖像轉換單元的顯示裝置
[0001]對相關申請的引用
[0002]本申請要求2104年10月23日提交的韓國專利申請第10-2014-0144006號基于35U.S.C.§ 119(a)的優(yōu)先權，其全部內容通過引用合并于此。
技術領域
[0003]本申請涉及一種適用于顯示高質量圖像的顯示裝置。
【背景技術】
[0004]近來，可以取代陰極射線管(CRT)而使用的平板顯示裝置正在迅速發(fā)展中。平板顯示裝置包括液晶顯示器(IXD)裝置、等離子顯示面板(rop)、有機發(fā)光顯示器(OLED)裝置等。
[0005]另外，正積極地研究高質量HDR(高動態(tài)范圍)顯示裝置。HDR顯示裝置可以顯示具有尚位深和尚殼度的尚質量圖像。
[0006]這樣的HDR顯示裝置將低比特模式圖像轉換成高比特模式圖像，并且顯示高比特模式圖像。比特模式轉換簡單地通過將少量的比特添加到低比特模式圖像的最低比特來執(zhí)行。由于此，在顯示在屏幕上的圖像中必然產(chǎn)生輪廓。

【發(fā)明內容】

[0007]因此，本申請的實施例涉及一種圖像轉換單元和具有該圖像轉換單元的顯示裝置，其基本上避免了由于現(xiàn)有技術的限制和缺點而導致的一個或多個問題。
[0008]實施例涉及提供一種適于有效地顯示高比特圖像的圖像轉換單元和具有該圖像轉換單元的顯示裝置。
[0009]實施例的另外的特征和優(yōu)點將在隨后的描述中進行闡述，并且將部分地從描述中變得明顯，或者可通過實施例的實踐來學習。實施例的優(yōu)點將通過在所寫描述和所附權利要求以及附圖中具體指出的結構來實現(xiàn)和獲得。
[0010]根據(jù)本實施例的一般方面，一種圖像轉換單元包括:圖像收集器，被配置成收集第一比特模式圖像；比特模式轉換器，被配置成將第一比特模式圖像轉換成第二比特模式圖像；固定頻帶分量檢測器，被配置成檢測固定頻帶分量；以及圖像處理器，被配置成對與固定頻帶分量相對的第二比特模式圖像的區(qū)域施加濾波器掩模(filter mask)并且輸出內插后的第二比特模式圖像。
[0011]根據(jù)本實施例的一般方面的一種顯示裝置包括圖像轉換單元和顯示單元，該圖像轉換單元包括:圖像收集器，被配置成收集第一比特模式圖像；比特模式轉換器，被配置成將第一比特模式圖像轉換成第二比特模式圖像；固定頻帶分量檢測器，被配置成檢測固定頻帶分量；以及圖像處理器，被配置成對與固定頻帶分量相對的第二比特模式圖像的區(qū)域施加濾波器掩模并且輸出內插后的第二比特模式圖像，該顯示單元被配置成顯示來自圖像轉換單元的內插后的第二比特模式圖像。
[0012]在審閱了以下附圖和詳細描述時，其它系統(tǒng)、方法、特征和優(yōu)點將對于本領域技術人員將是明顯的或者將變得明顯。所有這樣的另外的系統(tǒng)、方法、特征和優(yōu)點旨在包括在該描述內，在本公開的范圍內，并且由所附權利要求來保護。該部分中的任何描述不應認為是這些權利要求的限制。以下結合實施例來討論另外的方面和優(yōu)點。應理解，本公開的以上一般描述和以下詳細描述是示例性的和說明性的，并且旨在提供所要求保護的本公開的進一步說明。
【附圖說明】
[0013]被包括用于提供實施例的進一步理解并且被并入本文且構成該申請的一部分的附圖示出了本公開的實施例，并且與描述一起用于說明本公開。在附圖中:
[0014]圖1是示出根據(jù)本公開的實施例的顯示裝置的框圖；
[0015]圖2是示出根據(jù)本公開的實施例的圖像轉換單元的比特模式轉換器的操作的數(shù)據(jù)表;
[0016]圖3是示出根據(jù)本公開的實施例的圖像轉換單元的高頻分量檢測器的操作的數(shù)據(jù)表;
[0017]圖4是示出根據(jù)本公開的實施例的圖像轉換單元的低頻分量檢測器的操作的數(shù)據(jù)表;
[0018]圖5是示出根據(jù)本公開的實施例的圖像轉換單元的圖像處理的操作的數(shù)據(jù)表；
[0019]圖6和圖7是以比較方式示出根據(jù)本公開和現(xiàn)有技術的圖像轉換單元的輸出特性的數(shù)據(jù)表；以及
[0020]圖8是示出根據(jù)本公開的實施例的圖像轉換單元的操作過程的流程圖。
【具體實施方式】
[0021]現(xiàn)在將詳細參考根據(jù)本公開的實施例的圖像轉換單元和具有該圖像轉換單元的顯示裝置，其中在附圖中示出了實施例的示例。在下文中介紹的這些實施例被提供作為示例以便將其精神傳達給本領域普通技術人員。因此，這些實施例可以以不同的形式來實施，因此不限于這里描述的這些實施例。在附圖中，裝置的大小、厚度等可以被放大以便于進行說明。在任何可能的地方，相同的附圖標記將在包括附圖的本公開中始終用于引用相同或相似的部分。
[0022]圖1是示出根據(jù)本公開的實施例的顯示裝置的框圖。圖2是示出根據(jù)本公開的實施例的圖像轉換單元的比特模式轉換器的操作的數(shù)據(jù)表。圖3是示出根據(jù)本公開的實施例的圖像轉換單元的高頻分量檢測器的操作的數(shù)據(jù)表。圖4是示出根據(jù)本公開的實施例的圖像轉換單元的低頻分量檢測器的操作的數(shù)據(jù)表。圖5是示出根據(jù)本公開的實施例的圖像轉換單元的圖像處理的操作的數(shù)據(jù)表。圖6和圖7是以比較方式示出根據(jù)本公開和現(xiàn)有技術的圖像轉換單元的輸出特性的數(shù)據(jù)表。圖8是示出根據(jù)本公開的實施例的圖像轉換單元的操作過程的流程圖。
[0023]參照圖1，顯示裝置包括圖像轉換單元1000和顯示單元2000。
[0024]圖像轉換單元1000可以包括:圖像收集器100，被配置成收集第一比特模式圖像(例如，8比特模式圖像)；比特模式轉換器，被配置成將第一比特模式圖像轉換成第二比特模式圖像(例如，10比特模式圖像)；高頻分量檢測器300，被配置成從第一比特模式圖像檢測高頻分量；以及低頻分量檢測器，被配置成從高頻分量檢測低頻分量并且提供作為固定頻帶分量。另外，圖像轉換單元1000可以包括圖像處理器500，該圖像處理器500被配置成對與固定頻帶分量相對的經(jīng)比特轉換后的第二比特模式圖像的區(qū)域施加掩模并且生成內插后的或過濾后的第二比特模式圖像。
[0025]圖像收集器100可以收集將顯示在屏幕上的第一比特模式圖像。將顯示在屏幕上的第一比特模式圖像可以是8比特模式圖像。
[0026]比特模式轉換器200可以對從圖像收集器100施加的第一比特模式圖像(下文中稱為“8比特模式圖像”)執(zhí)行比特模式轉換。
[0027]如圖2所示，圖像收集器100收集的圖像包括與第一比特模式分量對應的8比特分量210。比特模式轉換器200可以通過將值為“00”的兩個比特添加到8比特分量210的最低比特而將8比特分量210轉換成與第二比特模式分量對應的10比特分量220。換言之，比特模式轉換器200可以將8比特模式圖像轉換成10比特模式圖像。替選地，比特模式轉換器200可以通過將至少兩個比特添加到8比特分量210的最低比特而將8比特分量轉換成至少10比特的分量。這樣的比特模式轉換器200可以簡化用于將低比特模式圖像轉換成高比特模式圖像的復雜算數(shù)運算。
[0028]高頻分量檢測器300可以從自圖像收集器100施加的所收集的圖像中檢測高頻分量。高頻分量檢測器300檢測的高頻分量可以包括高頻紅色(下文中稱為“R”)、綠色(下文中稱為“G”)和藍色(下文中稱為“B”)分量。為了檢測高頻分量，高頻分量檢測器300可以采用掩模。具體地，高頻分量檢測器300可以使用高頻檢測掩模來有效地檢測高頻分量。
[0029]如圖3所示，當從圖像收集器100施加了 8比特模式圖像Pl時，高頻分量檢測器300可以使用高頻檢測掩模310而從R圖像P11、G圖像P12和B圖像P13中檢測高頻R分量H1、高頻G分量H2和高頻B分量H3。高頻檢測掩模310可以變?yōu)?X3掩模。高頻R分量、G分量和B分量可以包括分別具有通過施加高頻檢測掩模310而獲得的不為“O”的值(即，至少為“I”的值)的像素分量。
[0030]低頻分量檢測器400可以從高頻分量檢測器300檢測的高頻分量中檢測(或提取)低頻分量。為此，低頻分量檢測器400可以將高頻R分量、G分量和B分量進行比較，并且根據(jù)比較結果而選擇性地設置“ I ”和“O”中的任一個。如果高頻R分量、G分量和B分量中的任一個不是“0”，則低頻分量檢測器400可以設置“I”。相反，當高頻R分量、G分量和B分量中的至少一個是“O”時，低頻分量檢測器400可以設置“O”。
[0031]具體地，低頻分量檢測器400可以輸入圖4所示的高頻分量圖像P11、P12和P13。另外，低頻分量檢測器400以像素為單位將高頻分量圖像P11、P12和P13進行比較。如果高頻分量圖像P11、P12和P13上的相同像素中的任一個不是“0”，則低頻分量檢測器400設置“I”。相反，當高頻分量圖像上的相同像素中的至少一個是“O”時，低頻分量檢測器400設置“O”。以此方式，低頻分量檢測器400可以從高頻分量圖像P11、P12和P13獲得低頻分量圖像P2。
[0032]低頻分量檢測器檢測的頻率分量可以是固定頻帶分量。這是由于高頻分量檢測器300和低頻分量檢測器400利用在固定頻帶中彼此重疊的濾波頻率順序地對所收集的圖像進行濾波的事實而得到的。換言之，高頻分量檢測器300和低頻分量檢測器400的串聯(lián)電路可以用作固定頻帶分量檢測器。與從所收集的圖像直接檢測固定頻帶分量的方法相比，高頻分量檢測器300和低頻分量檢測器400的這樣的串聯(lián)電路可以大大減少計算時間。
[0033]圖像處理器500可