一種基于光漢明重量的密鑰分析方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及電子信息技術(shù)領(lǐng)域,尤其是一種基于光漢明重量的密鑰分析方法。
【背景技術(shù)】
[0002] 光旁路攻擊是利用密碼芯片運(yùn)行時(shí)的光輻射特性或者某種光(激光、紫外線等)對(duì) 密碼芯片運(yùn)行時(shí)的影響對(duì)其進(jìn)行被動(dòng)或者主動(dòng)攻擊的一種新型旁路攻擊方法,光旁路攻擊 可以分為光福射分析攻擊和光故障注入攻擊。自Kocher在1996和1999年發(fā)表具有開創(chuàng)性意 義的文章一一基于時(shí)間的旁路攻擊和基于功率的旁路攻擊以來,旁路攻擊成為密碼分析學(xué) 研究的一個(gè)重要領(lǐng)域。相關(guān)旁路攻擊手段(如功耗分析攻擊、電磁輻射攻擊、故障注入攻擊 等)及多種分析方法(如模板攻擊、差分分析等)相繼被研究。傳統(tǒng)的功耗、電磁等旁路攻擊 主要針對(duì)整個(gè)系統(tǒng)的信息泄漏進(jìn)行分析,隨著2008年光輻射分析攻擊首次被提出,其允許 選擇密碼芯片硬件的特定部分進(jìn)行光輻射分析,使得光輻射分析攻擊的選擇性要遠(yuǎn)勝于功 耗、電磁等分析攻擊。通過選取密碼芯片特定位置/區(qū)域進(jìn)行攻擊可以得到信噪比非常好的 光旁路信號(hào),這是由于光泄漏信號(hào)主要由我們所關(guān)心的密碼芯片的相關(guān)指令操作及其操作 數(shù)變化導(dǎo)致產(chǎn)生的。然而由于文獻(xiàn)中的皮秒成像電路分析系統(tǒng)(PICA)的巨大實(shí)驗(yàn)花費(fèi)和實(shí) 驗(yàn)的復(fù)雜性,使得光輻射分析攻擊在當(dāng)時(shí)沒有被視為現(xiàn)實(shí)的威脅。隨著半導(dǎo)體技術(shù)和適合 可見光、近紅外等波段的硅基、銦鎵砷、超導(dǎo)等單光子探測(cè)技術(shù)的快速發(fā)展,以及光輻射分 析攻擊新的研究(例如簡(jiǎn)單光福射分析、差分光福射分析等)的提出,使用中低成本設(shè)備開 展密碼芯片光輻射分析攻擊成為可能和現(xiàn)實(shí)。在這樣的技術(shù)背景下,提出并建立一種基于 漢明重量和光子泄漏數(shù)對(duì)應(yīng)關(guān)系的密碼芯片光輻射分析方法成為目前亟需開展的工作。
[0003] 相關(guān)【背景技術(shù)】資料可參考如下文獻(xiàn):
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【發(fā)明內(nèi)容】
[0024] 本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是提供一種基于中低成本設(shè)備的、首創(chuàng)的、光漢明重量 密鑰分析方法。
[0025] 為解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明所采取的技術(shù)方案如下。
[0026] -種基于光漢明重量的密鑰分析方法,適用于采用4X4字節(jié)的矩陣秘鑰k對(duì)4X4 字節(jié)的明文矩陣cU進(jìn)行字節(jié)替換、行移位、列混淆、輪密鑰加等操作的AES加密算法,該方法 包括如下步驟:
[0027] A、基礎(chǔ)分析
[0028] A-1、漢明重量分析:以明文分組di的第一個(gè)字節(jié)di,ο為例建立如下分析模型:
[0029] = HW(Xi a) ; HW(S(d0 Φ^)) = HW(Su0);
[0030] 其中Hff ()表示漢明重量,S ()