一種檢測驅(qū)動電源的設計缺陷方法
【技術領域】
[0001]本發(fā)明屬于驅(qū)動電源的測試領域，尤其涉及一種檢測驅(qū)動電源的設計缺陷方法。
【背景技術】
[0002]驅(qū)動電源在燈具領域已被廣泛應用，作為重要的電子部件，尤其在在各種LED燈具中起著關鍵性作用。
[0003]由于受工作環(huán)境、使用習慣等因素的影響，由于設計缺陷，驅(qū)動電源經(jīng)過長期使用后，可能出現(xiàn)其包含的電子元器件出現(xiàn)異常損壞，最終導致驅(qū)動電源無法正常工作。
[0004]在設計階段，如何將驅(qū)動電源可能潛在的設計缺陷暴露出來，并對該設計缺陷進行有效糾正，成為了提高驅(qū)動電源可靠性的主要任務。目前針對驅(qū)動電源的設計缺陷，僅通過常規(guī)的外觀檢測和電性檢測來查找；然而，采用外觀檢測和電性檢測，只能找出已存在設計缺陷的驅(qū)動電源；對于經(jīng)過長期使用后才可能暴漏設計缺陷的驅(qū)動電源，卻無能為力。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本發(fā)明實施例的目的在于提供一種檢測驅(qū)動電源的設計缺陷方法，旨在解決針對驅(qū)動電源，現(xiàn)有技術無法檢測出長期使用后可能暴漏的設計缺陷的問題。
[0006]一方面，一種檢測驅(qū)動電源的設計缺陷方法，所述檢測驅(qū)動電源的設計缺陷方法包括:
[0007]對所述驅(qū)動電源進行溫度沖擊測試，以檢測所述驅(qū)動電源是否具有設計缺陷；
[0008]對所述驅(qū)動電源進行高溫高濕測試，以檢測所述驅(qū)動電源是否具有設計缺陷。
[0009]本發(fā)明的有益效果是:對所述驅(qū)動電源進行溫度沖擊測試，以暴露出驅(qū)動電源在經(jīng)過長期使用后可能產(chǎn)生的設計缺陷；另外，可以進一步對所述驅(qū)動電源進行高溫高濕測試，以進一步暴露出驅(qū)動電源在經(jīng)過長期使用后可能產(chǎn)生的設計缺陷；篩選掉存在設計缺陷的驅(qū)動電源，保留不存在設計缺陷的驅(qū)動電源，進而保證經(jīng)過檢測后的驅(qū)動電源，能夠維持長期的正常工作。
【附圖說明】
[0010]為了更清楚地說明本發(fā)明實施例中的技術方案，下面將對實施例或現(xiàn)有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動性的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0011]圖1是本發(fā)明實施例提供的第一種檢測驅(qū)動電源的設計缺陷方法的實現(xiàn)流程圖；
[0012]圖2是本發(fā)明實施例提供的第二種檢測驅(qū)動電源的設計缺陷方法的實現(xiàn)流程圖；
[0013]圖3是本發(fā)明實施例提供的第三種檢測驅(qū)動電源的設計缺陷方法的實現(xiàn)流程圖；
[0014]圖4是本發(fā)明實施例提供的第四種檢測驅(qū)動電源的設計缺陷方法的實現(xiàn)流程圖。
【具體實施方式】
[0015]為了使本發(fā)明的目的、技術方案及優(yōu)點更加清楚明白，以下結合附圖及實施例，對本發(fā)明進行進一步詳細說明。應當理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。
[0016]為了說明本發(fā)明所述的技術方案，下面通過具體實施例來進行說明。
[0017]在本發(fā)明實施例中，該檢測驅(qū)動電源的設計缺陷方法可以適用于抽樣檢測。若是針對海量的驅(qū)動電源進行抽樣檢測，則在使用本發(fā)明實施例提供的檢測驅(qū)動電源的設計缺陷方法之前，從海量的驅(qū)動電源中抽取出部分數(shù)量的驅(qū)動電源。
[0018]下面結合優(yōu)選實施方式，對本發(fā)明實施例提供的驅(qū)動電源的檢測方法詳細說明。圖1示出了本實施例提供的第一種檢測驅(qū)動電源的設計缺陷方法的實現(xiàn)流程，為了便于描述，僅不出了與本發(fā)明實施例相關的部分。
[0019]一種檢測驅(qū)動電源的設計缺陷方法，所述檢測驅(qū)動電源的設計缺陷方法包括:
[0020]步驟S11，對所述驅(qū)動電源進行溫度沖擊測試，以檢測所述驅(qū)動電源是否具有設計缺陷；
[0021]步驟S12，對所述驅(qū)動電源進行高溫高濕測試，以檢測所述驅(qū)動電源是否具有設計缺陷。
[0022]值得說明的是，在檢測所述驅(qū)動電源是否具有設計缺陷之前，可以僅執(zhí)行步驟SI I，對對所述驅(qū)動電源進行高溫老化測試；或者，僅執(zhí)行步驟S12，對所述驅(qū)動電源進行震動測試；或者，不分先后順序地執(zhí)行步驟Sll和步驟S12。在本實施例中，僅針對先執(zhí)行步驟Sll (對所述驅(qū)動電源進行溫度沖擊測試)，后執(zhí)行步驟S12的情況(對所述驅(qū)動電源進行高溫高濕測試)，進行說明。
[0023]為了加速驅(qū)動電源包含的零部件缺陷以及設計缺陷的暴露，對驅(qū)動電源進行溫度沖擊測試；具體地，將溫度從低溫以一定的升溫速度升溫至高溫(該高溫略低于:驅(qū)動電源包含的電子元器件能夠承受的最高溫度)。
[0024]繼而，為了考察驅(qū)動電源所包含的電子元器件在高溫高濕環(huán)境下的適應性和耐久性，將驅(qū)動電源放置于恒溫恒濕箱內(nèi)，接上電源讓驅(qū)動電源處于工作狀態(tài)，設置第二測試條件，開啟機臺進行高溫高濕測試，以暴露驅(qū)動電源的設計缺陷，僅用即可篩選出可靠性設計余量過低的驅(qū)動電源。
[0025]需要說明的是，所述最低溫度閾值小于所述最高溫度閾值；所述最低溫度閾值大于所述驅(qū)動電源能夠承受的最低溫度；所述最高溫度閾值小于所述驅(qū)動電源能夠承受的最高溫度。在本實施例中，預先根據(jù)驅(qū)動電源所包含的電子元器件所能承受的最低溫度和最高溫度，在該最低溫度與最高溫度之間，根據(jù)溫度沖擊測試需要，分別設定第一測試條件包含的最低溫度閾值和最高溫度閾值。
[0026]同時，根據(jù)溫度沖擊測試需要，分別設定所述第一測試條件包括的溫度升降頻率、第一測試時間以及循環(huán)測試次數(shù)。優(yōu)選的是，所述溫度升降頻率大于或等于10攝氏度/分鐘。具體地，通常情況下，10攝氏度/分鐘能夠滿足溫度沖擊測試的測試需要。優(yōu)選的是，所述循環(huán)測試次數(shù)大于或等于50次。為了保證經(jīng)過溫度沖擊測試的驅(qū)動電源，能夠充分暴露設計缺陷，至少需要50次循環(huán)對驅(qū)動電源進行溫度沖擊測試。
[0027]在本實施例中，對驅(qū)動電源進行溫度沖擊測試之前，預先設定好第一測試條件；從而，通過溫度沖擊測試篩出暴漏出設計缺陷的驅(qū)動電源，保留不存在設計缺陷的驅(qū)動電源。
[0028]本實施例的其中一實施方式為:將驅(qū)動電源放置于冷熱沖擊機臺里面，設置第一測試條件為:從-40攝氏度升溫到80攝氏度，溫度升降頻率為10°攝氏度/分鐘(即，溫度上升時，溫度上升頻率為10攝氏度/分鐘；溫度下降時，溫度下降頻率為10°攝氏度/分鐘)，針對每一個測試溫度均測試30分鐘(第一測試時間)，一共進行50個溫度沖擊測試循環(huán)(一個溫度沖擊測試循環(huán)為:從-40攝氏度以10攝氏度/分鐘的升溫速度上升到80攝氏度，在從80攝氏度以10攝氏度/分鐘的降溫速度下降到-40攝氏度)；開始對驅(qū)動電源進行溫度沖擊測試。
[0029]需要說明的是，所述第二測試條件包括的溫度，根據(jù)驅(qū)動電源實際使用時的工作溫度而預先設定。同理，所述第二測試條件包括的濕度，也是根據(jù)驅(qū)動電源實際使用時的所處工作環(huán)境的濕度而預先設定。另外，所述第二測試時間，根據(jù)高溫高濕測試的需要而預先設定。在本實施例中，對驅(qū)動電源進行高溫高濕測試之前，預先設定好第二測試條件；從而，通過高溫高濕測試篩出暴漏出設計缺陷的驅(qū)動電源，保留不存在設計缺陷的驅(qū)動電源。
[0030]本實施例的其中一實施方式為:將驅(qū)動電源放置于恒溫恒濕箱內(nèi)，接上電源讓驅(qū)動電源處于工作狀態(tài)，設置第二測試條件為:60攝氏度90%相對濕度(單位:RH)，同時設置第二測試時間為96小時；開啟機臺進行高溫高濕測試。
[0031]作為本發(fā)明一實施例，圖2示出了本實施例提供的第二種檢測驅(qū)動電源的設計缺陷方法的實現(xiàn)流程，為了便于描述，僅示出了與本發(fā)明實施例相關的部分。需要說明的是，第二種檢測驅(qū)動電源的設計缺陷方法是基于第一種檢測驅(qū)動電源的設計缺陷方法進行的優(yōu)化。
[0032]在本實施例中，所述將驅(qū)動電源放置于冷熱沖擊機臺里面，為所述溫度沖擊測試設置第一測試條件，對所述驅(qū)動電源進行溫度沖擊測試的步驟之前，所述檢測驅(qū)動電源的設計缺陷方法還包括:
[0033]步驟S13，對所述驅(qū)動電源進行外觀檢測和/或電性檢測，以檢測所述驅(qū)動電源是否具有設計缺陷。
[0034]需要說明的是，所述外觀檢測為:根據(jù)肉眼，直接觀察所述驅(qū)動電源是否存儲設計缺陷。所述電性檢測為:通過儀器檢查驅(qū)動電源的內(nèi)部電路的導通性，以及基板線路的絕緣性。
[0035]在對所述驅(qū)動電源進行溫度沖擊測試之前，對所述驅(qū)動電源進行外觀檢測和/或電性檢測，篩除掉已存在設計缺陷的驅(qū)動電源。從而，避免浪費用于溫度沖擊測試的資源。
[0036]作為本發(fā)明一實施例，圖3示出了本實施例提供的第三種檢測驅(qū)動電源的設計缺陷方法的實現(xiàn)流程，為