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      一種砂質(zhì)沉積顆粒區(qū)分方法_3

      文檔序號:9885799閱讀:來源:國知局
      互碰撞就形成了圓形的 坑,而兩個或多個碟形坑相組合,便產(chǎn)生了 "8"字形坑。
      [0083] 掃描電鏡可以把對物質(zhì)表面形態(tài)的研究提升到微米級別,而且視覺上清晰,立體 感強烈。石英具有較大的硬度和較高的化學(xué)穩(wěn)定性,因而其顆粒表面特征可以很好地反映 沉積環(huán)境,不同沉積環(huán)境下的石英顆粒具有不同的特征。本發(fā)明重點觀察石英顆粒在風(fēng)與 水環(huán)境中的典型特征,通過統(tǒng)計分析具有該特征的石英顆粒數(shù)量所占掃描電鏡視域中顆粒 總數(shù)的比例來定量的區(qū)分風(fēng)成與浪成環(huán)境。
      [0084] 步驟3、利用線測法統(tǒng)計石英顆粒表面特征:
      [0085]線測法是指在掃描電鏡的最大視域下(即放大倍數(shù)最?。┑慕貓D中加入一條貫穿 全圖的直線,如圖1-圖4所示,統(tǒng)計直線經(jīng)過的所有顆粒中含有上述特征顆粒的數(shù)量。本研 究在統(tǒng)計石英顆粒表面特征時采用線測法,減少了統(tǒng)計的難度,提高了準確性。
      [0086] 步驟4、建立水成和風(fēng)成成因砂質(zhì)沉積顆粒的判別圖版:
      [0087] 石英顆粒表面在不同的沉積環(huán)境中,由于不同的撞擊方式,會表現(xiàn)出不同的顆粒 表面特征現(xiàn)象。對于風(fēng)成環(huán)境來說,普遍可見標(biāo)準的碟形撞擊坑、新月形撞擊坑,對于浪成 環(huán)境來說,普遍可見撞擊溝、"V"形撞擊坑,通過統(tǒng)計分析這些典型特征所占的比例定量化 的區(qū)分波浪環(huán)境和風(fēng)成環(huán)境。
      [0088] 圖5是利用具有撞擊溝和碟形坑的石英顆粒占線測法中直線經(jīng)過的所有石英顆粒 的比值做出的判別圖版。通過圖5可以看出浪成和風(fēng)成環(huán)境中的典型特征一一撞擊溝和碟 形坑所占總顆粒的比有明顯的差別。在浪成環(huán)境中撞擊溝所占的比值高,大于23%,碟形坑 占的比值低,小于33%,即浪成環(huán)境的石英顆粒在交會圖的右下部分。而在風(fēng)成環(huán)境中碟形 坑所占的比值高,大于33%,撞擊溝所占的比值低,小于23%,即風(fēng)成環(huán)境的石英顆粒在交 會圖的左上部分。據(jù)此可以定量的區(qū)分風(fēng)成和浪成環(huán)境。
      [0089] 圖6是利用具有新月形撞擊坑和"V"形撞擊坑的石英顆粒占線測法中直線經(jīng)過的 所有石英顆粒的比值做出的判別圖版。通過圖6可以看出浪成和風(fēng)成環(huán)境中的典型特 征一一"V"形撞擊坑和新月形撞擊坑所占總顆粒的比有明顯的差別。在浪成環(huán)境中"V"形撞 擊坑所占的比值高,大于35%,碟形坑占的比值低,小于36%,即浪成環(huán)境的石英顆粒在交 會圖的左上部分。而在風(fēng)成環(huán)境中新月形撞擊坑所占的比值高,大于36%,"V"形撞擊坑所 占的比值低,小于35%,即風(fēng)成環(huán)境的石英顆粒在交會圖的右下部分。據(jù)此可以定量的區(qū)分 風(fēng)成和浪成環(huán)境。
      [0090] 本發(fā)明把對物質(zhì)表面形態(tài)的研究提升到微米級別,而且視覺上清晰,立體感強烈。 本研究將水成和風(fēng)成環(huán)境的沉積物研究推進到微觀的尺度,利用掃描電鏡的方法,研究石 英顆粒的表面特征。石英具有較大的硬度和較高的化學(xué)穩(wěn)定性,因而其顆粒表面特征可以 很好地反映沉積環(huán)境,不同沉積環(huán)境下的石英顆粒具有不同的特征。本研究強調(diào)利用石英 表面的特征區(qū)分風(fēng)成和水成環(huán)境,并且給出了從沉積物中挑選出石英顆粒的詳細步驟。經(jīng) 實踐發(fā)現(xiàn)該步驟操作簡單、結(jié)果理想,是挑選石英顆粒的有效方法,在觀察掃描電鏡的過程 中發(fā)現(xiàn)了一些前人沒有注意到的現(xiàn)象,包括橢圓形坑、階梯狀斷口、"W"形坑、"8"字形坑。這 些現(xiàn)象對于判別水成和風(fēng)成環(huán)境是十分有利用價值的,在統(tǒng)計石英顆粒表面特征時利用線 測法,大大降低了統(tǒng)計難度,提高了統(tǒng)計的準確性。這種方法是前人沒有用過的。利用掃描 電鏡觀察石英顆粒表面特征、掃描電鏡圖像分析、石英顆粒表面特征結(jié)果統(tǒng)計、分析統(tǒng)計結(jié) 果這一些列方法綜合判斷沉積物的環(huán)境,將定性分析和定量統(tǒng)計相結(jié)合,得到具有撞擊坑 和碟形坑的石英顆粒占線測法中直線經(jīng)過的所有石英顆粒的比值,從而確定了區(qū)分風(fēng)成 和浪成環(huán)境的圖版。結(jié)果準確性高,可靠性強。
      [0091]本發(fā)明主要從石英顆粒表面的特征出發(fā),通過掃面電鏡實驗手段來觀察、利用線 測法來統(tǒng)計,將定性分析和定量統(tǒng)計相結(jié)合區(qū)分風(fēng)成和浪成環(huán)境。相比于粒度分析的手段, 適用范圍廣,結(jié)果沒有或極少存在多解性。相對于層理分析的手段,將研究尺度推進到微觀 尺度,理論依據(jù)較強、判定結(jié)果準確。
      [0092]以上顯示和描述了本發(fā)明的基本原理和主要特征和本發(fā)明的優(yōu)點。本行業(yè)的技術(shù) 人員應(yīng)該了解,本發(fā)明不受上述實施例的限制,上述實施例和說明書中描述的只是說明本 發(fā)明的原理,在不脫離本發(fā)明精神和范圍的前提下,本發(fā)明還會有各種變化和改進,這些變 化和改進都落入要求保護的本發(fā)明范圍內(nèi)。本發(fā)明要求保護范圍由所附的權(quán)利要求書及其 等效物界定。
      【主權(quán)項】
      1. 一種砂質(zhì)沉積顆粒區(qū)分方法,其特征在于,包括以下步驟: 步驟1、樣品的采集與處理: 1) 、樣品清洗:首先將野外采集回來的松散樣品置入的燒杯中,用自來水浸泡、沖洗,去 掉泥質(zhì); 2) 、樣品烘干:把剩余的碎肩顆粒烘干后過60-80目的篩,得到60-80目之間的顆粒; 3) 、挑出石英顆粒:通過雙目鏡挑選出具無色透明和油脂光澤的石英顆粒,同濃度為 20 %鹽酸混合,將其浸泡8h,然后用自來水清洗再烘干; 4) 、鍍金:將最后挑出的石英顆粒,用導(dǎo)電膠粘貼在樣品臺上,放進鍍金裝置中,進行5 分鐘的鍍金; 步驟2、通過掃描電鏡圖像分析石英顆粒表面的磨圓度、碟形撞擊坑、新月形撞擊坑、貝 殼狀斷口、V形撞擊坑、撞擊溝; 步驟3、利用線測法統(tǒng)計石英顆粒表面特征 在掃描電鏡的最大視域下的截圖中加入一條貫穿全圖的直線,統(tǒng)計直線經(jīng)過的所有顆 粒中含有上述特征顆粒的數(shù)量; 步驟4、利用具有撞擊溝和碟形撞擊坑的石英顆粒占線測法中直線經(jīng)過的所有石英顆 粒的比值做出判別圖版,利用具有新月形撞擊坑和"V"形撞擊坑的石英顆粒占線測法中直 線經(jīng)過的所有石英顆粒的比值做出判別圖版。2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種砂質(zhì)沉積顆粒區(qū)分方法,其特征在于:所述步驟1中的a操 作需反復(fù)進行,直到把碎肩顆粒表面的泥質(zhì)洗干凈。3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種砂質(zhì)沉積顆粒區(qū)分方法,其特征在于:所述步驟2中碟形 撞擊坑與新月形撞擊坑為風(fēng)成環(huán)境的沉積顆粒;所述步驟2中的貝殼狀斷口、V形撞擊坑與 撞擊溝為水成環(huán)境的沉積顆粒。4. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種砂質(zhì)沉積顆粒區(qū)分方法,其特征在于:所述步驟2中通過 掃描電鏡圖像分析石英顆粒表面上的橢圓形坑由短的撞擊溝演化;階梯狀斷口呈一些列平 行的細長形溝壑,由多個貝殼狀端口組合而成的;W形坑由兩個V形坑組合而成,為水成環(huán)境 的沉積顆粒;"8"字型坑在風(fēng)成環(huán)境出現(xiàn)的頻率高于水成環(huán)境。
      【專利摘要】本發(fā)明公開了一種砂質(zhì)沉積顆粒區(qū)分方法,屬于沉積學(xué)技術(shù)領(lǐng)域。本發(fā)明包括以下步驟:樣品的采集與處理,通過掃描電鏡圖像分析石英顆粒表面的磨圓度、碟形撞擊坑、新月形撞擊坑、貝殼狀斷口、V形撞擊坑、撞擊溝,利用線測法統(tǒng)計石英顆粒表面特征,利用具有撞擊溝和碟形撞擊坑的石英顆粒占線測法中直線經(jīng)過的所有石英顆粒的比值做出判別圖版,利用具有新月形撞擊坑和“V”形撞擊坑的石英顆粒占線測法中直線經(jīng)過的所有石英顆粒的比值做出判別圖版。本發(fā)明相比于粒度分析的手段,適用范圍廣,結(jié)果沒有或極少存在多解性。相對于層理分析的手段,將研究尺度推進到微觀尺度,理論依據(jù)較強、判定結(jié)果準確。
      【IPC分類】G01N21/84, G01N15/00
      【公開號】CN105651653
      【申請?zhí)枴?br>【發(fā)明人】張元福, 白一鳴, 胡晨林, 姜在興, 王敏
      【申請人】中國地質(zhì)大學(xué)(北京)
      【公開日】2016年6月8日
      【申請日】2015年11月13日
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