出振 蕩信號(hào)S0UT也可由所述處理器230進(jìn)行監(jiān)控。為了獲得準(zhǔn)確的輸出時(shí)鐘頻率，可基于所述 第一環(huán)形振蕩器120獲得的第一校準(zhǔn)數(shù)據(jù)來校準(zhǔn)所述輸出振蕩信號(hào)S0UT的頻率。通過選 擇性地截止和開啟所述第一環(huán)形振蕩器120來獲得所述第一校準(zhǔn)數(shù)據(jù)。在一些實(shí)施例中， 所述第一校準(zhǔn)數(shù)據(jù)包括第一頻率F1和第二頻率F2。當(dāng)所述第一環(huán)形振蕩器120被截止時(shí)， 記錄所述輸出振蕩信號(hào)S0UT的頻率作為所述第一頻率F1 ;當(dāng)所述第一環(huán)形振蕩器120被 開啟時(shí)，記錄所述輸出振蕩信號(hào)S0UT的頻率作為所述第二頻率F2。
[0018] 圖3為依據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的輸出振蕩信號(hào)S0UT的頻率與第一環(huán)形振蕩器 120的操作狀態(tài)之間的關(guān)系示意圖。所述主環(huán)形振蕩器110始終被開啟W產(chǎn)生所述輸出振 蕩信號(hào)S0UT。所述第一環(huán)形振蕩器120被選擇性地截止和開啟。當(dāng)所述第一環(huán)形振蕩器 120被截止（也即，橫軸上的操作狀態(tài)"EN")，所對(duì)應(yīng)的所述輸出振蕩信號(hào)S0UT的頻率為第 一頻率F1 ;當(dāng)所述第一環(huán)形振蕩器120被開啟（也即，所述橫軸上的操作狀態(tài)"DPI")，所 對(duì)應(yīng)的所述輸出振蕩信號(hào)S0UT的頻率為第二頻率F2。換言之，當(dāng)有更多的環(huán)形振蕩器被開 啟時(shí)，通過所述電力網(wǎng)105的電流將變高，運(yùn)可能導(dǎo)致嚴(yán)重的IR壓降W及較低的供電電壓 VDDM，W及較低的輸出時(shí)鐘頻率。由此，所述第二頻率F2必定低于所述第一頻率F1。
[0019] 對(duì)于特定的應(yīng)用，無論是否使用所述主環(huán)形振蕩器，所述IR壓降始終存在，因此， 傳統(tǒng)的環(huán)形振蕩器無法提供準(zhǔn)確的輸出時(shí)鐘頻率。本發(fā)明旨在加入所述第一環(huán)形振蕩器 120 W克服傳統(tǒng)設(shè)計(jì)的缺點(diǎn)。在一個(gè)較佳的實(shí)施例中，所述處理器230可控制所述第一環(huán)形 振蕩器120的操作狀態(tài)并執(zhí)行一個(gè)還原分析（regression analysis)，W便估計(jì)所述主環(huán) 形振蕩器110的輸出振蕩信號(hào)S0UT的正確的頻率（correct化equency)。該頻率校準(zhǔn)流程 將在后續(xù)進(jìn)行詳細(xì)描述。
[0020] 在圖2及圖3的實(shí)施例中，處理器230可對(duì)所述第一頻率F1和所述第二頻率F2 執(zhí)行還原分析W便計(jì)算所述輸出振蕩信號(hào)S0UT的正確的頻率FC。所述正確的頻率FC可表 示一種理想振蕩狀態(tài)（也即，橫軸上的操作狀態(tài)"Ideal")，在該理想振蕩狀態(tài)下不存在IR 壓降，并且所述主環(huán)形振蕩器110的輸出時(shí)鐘頻率是準(zhǔn)確的。所述第一振蕩頻率F1可表示 第一振蕩狀態(tài)，在該第一振蕩狀態(tài)下存在大量的IR壓降。所述第二振蕩頻率F2可表示第 二振蕩狀態(tài)，在該第二振蕩狀態(tài)下也存在大量的IR壓降。因此，依據(jù)還原分析，所述第一頻 率F1可為所述正確的頻率FC和所述第二頻率F2的平均值。所述第一頻率F1、所述第二頻 率F2, W及所述正確的頻率FC之間的關(guān)系可通過等式（1)來衡量：
[0021]
(1)
[0022] 進(jìn)一步，等式（1)可推出等式似：
[0023] FC = 2XF1-F2 (2)
[0024] 其中，F(xiàn)C表示所述正確的頻率，F(xiàn)1表示所述第一頻率，F(xiàn)2表示所述第二頻率。
[00巧]所述處理器230可控制所述第一環(huán)形振蕩器120的所述開啟和截止?fàn)顟B(tài)，記錄與 所述開啟和截止?fàn)顟B(tài)對(duì)應(yīng)的所述輸出振蕩信號(hào)S0UT的頻率，并最終計(jì)算所述主環(huán)形振蕩 器110的正確的時(shí)鐘頻率，W便完成前面提到的頻率校準(zhǔn)流程。可理解的是，上述的還原 分析采用直線進(jìn)行簡(jiǎn)單估計(jì)，然而，本發(fā)明不限于此。在可選的實(shí)施例中，對(duì)一個(gè)更高階 (hi曲er-order)的還原分析，可提取更多的頻率樣本，運(yùn)些可選的實(shí)施例接下來將在圖4 和圖5的實(shí)施例進(jìn)行描述。
[00%] 圖4為依據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的信號(hào)發(fā)生器400的示意圖。圖4與圖1類似。 運(yùn)兩個(gè)實(shí)施例的不同之處在于：信號(hào)發(fā)生器400還包括第二環(huán)形振蕩器130和第Ξ環(huán)形振 蕩器140中至少一個(gè)。環(huán)形振蕩器（包括所述主環(huán)形振蕩器110)的數(shù)量不受限定。作為 舉例，所述信號(hào)發(fā)生器400可包括兩個(gè)或更多的環(huán)形振蕩器（例如，2, 3,4, 5,6, 7個(gè)環(huán)形振 蕩器）。所述第二環(huán)形振蕩器130和所述第Ξ環(huán)形振蕩器140均通過所述電源電壓VDD供 電，并通過所述電力網(wǎng)105禪接于所述電源電壓VDD。所述第二環(huán)形振蕩器130和所述第Ξ 環(huán)形振蕩器140中的每一個(gè)均與所述主環(huán)形振蕩器110類似或相同。也即，所述第二環(huán)形 振蕩器130和所述第Ξ環(huán)形振蕩器140中的每一個(gè)均至少包括與非口、第一反相器，W及第 二反相器。在可選的的實(shí)施例中，可通過非口替代所述與非口。所述第二環(huán)形振蕩器130， 所述第Ξ環(huán)形振蕩器140與所述主環(huán)形振蕩器110的區(qū)別在于：所述第二環(huán)形振蕩器130 的與非口包括用于接收第二控制信號(hào)DP2的第一輸入端，所述第Ξ環(huán)形振蕩器140的與非 口包括用于接收第Ξ控制信號(hào)DP3的第一輸入端。相似地，為了獲得準(zhǔn)確的時(shí)鐘頻率，可根 據(jù)所述第一環(huán)形振蕩器120獲得的第一校準(zhǔn)數(shù)據(jù)，所述第二環(huán)形振蕩器130獲得的第二校 準(zhǔn)數(shù)據(jù)，所述第Ξ環(huán)形振蕩器140獲得的第Ξ校準(zhǔn)數(shù)據(jù)來校準(zhǔn)所述輸出振蕩信號(hào)S0UT的頻 率。根據(jù)如圖2和圖3所示的實(shí)施例的描述，所述第一校準(zhǔn)數(shù)據(jù)，所述第二校準(zhǔn)數(shù)據(jù)W及 所述第Ξ校準(zhǔn)數(shù)據(jù)中的每一個(gè)可分別通過截止和開啟所述第一環(huán)形振蕩器120,所述第二 環(huán)形振蕩器130, W及所述第Ξ環(huán)形振蕩器140來獲得。另外，在圖1、2、4中，各環(huán)形振蕩 器（所述主環(huán)形振蕩器、所述第一環(huán)形振蕩器、所述第二環(huán)形振蕩器、所述第Ξ環(huán)形振蕩器 等）還可通過導(dǎo)線禪接于接地電壓VSS。
[0027] 圖5為依據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的輸出振蕩信號(hào)S0UT的頻率與第一環(huán)形振蕩器 120,第二環(huán)形振蕩器130, W及第Ξ環(huán)形振蕩器140的操作狀態(tài)之間的關(guān)系。所述主環(huán)形振 蕩器110始終被開啟W產(chǎn)生所述輸出振蕩信號(hào)S0UT。所述第一環(huán)形振蕩器120,所述第二 環(huán)形振蕩器130, W及所述第Ξ環(huán)形振蕩器140選擇性地被開啟和截止。當(dāng)所述第一環(huán)形振 蕩器120、所述第二環(huán)形振蕩器130, W及所述第Ξ環(huán)形振蕩器140均被截止（也即，橫軸上 的操作狀態(tài)"EN")，所對(duì)應(yīng)的所述輸出振蕩信號(hào)S0UT的頻率為第一頻率F1 ;當(dāng)所述第一環(huán) 形振蕩器120被開啟，所述第二環(huán)形振蕩器130和所述第Ξ環(huán)形振蕩器140均被截止（也 良P，橫軸上的操作狀態(tài)"DPI")，所對(duì)應(yīng)的所述輸出振蕩信號(hào)S0UT的頻率為F2 ;當(dāng)所述第一 環(huán)形振蕩器120和所述第二環(huán)形振蕩器130被開啟，所述第Ξ環(huán)形振蕩器140被截止（也 良Ρ，橫軸上的操作狀態(tài)"DP2")，所對(duì)應(yīng)的所述輸出振蕩信號(hào)SOUT的頻率為F3 ;當(dāng)所述第一 環(huán)形振蕩器120、所述第二環(huán)形振蕩器130, W及所述第Ξ環(huán)形振蕩器140均被開啟（也即， 橫軸上的操作狀態(tài)"DP3")，所對(duì)應(yīng)的所述輸出振蕩信號(hào)SOUT的頻率為第一頻率F4。所述 信號(hào)發(fā)生器400的處理器（未圖示）可對(duì)所述第一頻率F1，所述第二頻率F2,所述第Ξ頻 率F3, W及所述第四頻率F4執(zhí)行還原分析，W便計(jì)算所述輸出振蕩信號(hào)SOUT的正確的頻率 (也即，橫軸上的操作狀態(tài)"Ideal"對(duì)應(yīng)的頻率FC)并完成所述頻率校準(zhǔn)流程。在一些實(shí) 施例中，所述還原分析使用曲線擬合（curve fitting)方法。例如，可將外插法應(yīng)用到上述 的四個(gè)頻率采樣值。除了采用直線進(jìn)行估算之外，二次曲線（qua化atic curve)、Ξ次曲線 (cubic curve)、或者其他更高階的曲線，均可根據(jù)所述第一頻率FI、所述第二頻率F2、所述 第Ξ頻率F3, W及所述第四頻率F4估算所述正確的頻率FC。通常情況下，獲得的頻率采樣 值越多，所估算的所述正確的頻率FC的準(zhǔn)確性可更為顯著地被改進(jìn)。
[0028] 圖6為依據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的校準(zhǔn)信號(hào)發(fā)生器的方法的流程圖。在步驟 S610,提供由電源電壓進(jìn)行供電的主環(huán)形振