405，用于接收所述L個(gè)測量對(duì)發(fā)送的測量結(jié)果，所述測量結(jié)果為所述L個(gè)測量對(duì)對(duì)所述待測網(wǎng)絡(luò)的性能進(jìn)行測量獲得的結(jié)果；
[0191]定位單元406，用于在所述接收單元接收的所述測量結(jié)果表示所述待測網(wǎng)絡(luò)中存在故障時(shí)，利用所述測量結(jié)果，進(jìn)行故障定位。
[0192]本發(fā)明實(shí)施例的故障定位裝置，可以集成在網(wǎng)絡(luò)設(shè)備中，應(yīng)用于上文圖2所示方法實(shí)施例中，實(shí)現(xiàn)其中網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的功能。在需要進(jìn)行故障定位時(shí)，可以將測量節(jié)點(diǎn)兩兩組合，生成第一測量對(duì)集合，再根據(jù)實(shí)際測量需求，從第一測量對(duì)集合中選取出第二測量對(duì)集合，并保證第二測量對(duì)集合對(duì)測量節(jié)點(diǎn)之間的鏈路覆蓋至少一次。然后再控制第二測量對(duì)集合中的每個(gè)測量對(duì)進(jìn)行網(wǎng)絡(luò)性能測量，并根據(jù)測量結(jié)果對(duì)網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行故障定位。如此方案，有助于提尚故障定位的效率。
[0193]可選地，所述選取單元包括:
[0194]第一選取子單元，用于從所述第一測量對(duì)集合中選取第一測量對(duì)，將所述第一測量對(duì)加入所述第二測量對(duì)集合；
[0195]第一剔除單元，用于獲得所述第一測量對(duì)對(duì)應(yīng)的第一路徑，并從第一鏈路集合中剔除所述第一路徑包括的鏈路，形成第二鏈路集合，所述第一鏈路集合包括所述N個(gè)測量節(jié)點(diǎn)之間的所有鏈路；
[0196]第一確定單元，用于確定所述第二鏈路集合是否為空集；
[0197]第一停止選取單元，用于在所述第一確定單元確定所述第二鏈路集合為空集時(shí)，停止選取所述第二測量對(duì)集合。
[0198]可選地，所述第一選取子單元包括:
[0199]數(shù)值獲得單元，用于獲得測量對(duì)i的測量代價(jià)值WjP測量對(duì)i對(duì)應(yīng)的路徑所包括的鏈路的數(shù)目E1, i = 1，2，…，M;
[0200]比值獲得單元，用于利用所述W1和所述E 獲得測量對(duì)i的比值R1= E ,/W1;
[0201]第一測量對(duì)選取單元，用于選取比值最大的測量對(duì)作為所述第一測量對(duì)。
[0202]可選地，所述裝置還包括:
[0203]第二選取子單元，用于在所述第一確定單元確定所述第二鏈路集合不是空集時(shí)，從所述第一測量對(duì)集合中選取第二測量對(duì)，將所述第二測量對(duì)加入所述第二測量對(duì)集合；
[0204]第二剔除單元，用于獲得所述第二測量對(duì)對(duì)應(yīng)的第二路徑，并從所述第二鏈路集合中剔除所述第二路徑包括的鏈路，形成第三鏈路集合；
[0205]第二確定單元，用于確定所述第三鏈路集合是否為空集；
[0206]第二停止選取單元，用于在所述第二確定單元確定所述第三鏈路集合為空集時(shí)，停止選取所述第二測量對(duì)集合。
[0207]可選地，所述第一鏈路集合中的第一鏈路的測量次數(shù)為P，所述第一剔除單元包括:
[0208]第三確定單元，用于確定所述第一鏈路是否屬于所述第一路徑包括的鏈路；
[0209]記錄單元，用于在所述第三確定單元確定所述第一鏈路屬于所述第一路徑包括的鏈路時(shí)，記錄所述第一鏈路的獲得次數(shù)；
[0210]第四確定單元，用于確定所述第一鏈路的獲得次數(shù)是否為所述P ;
[0211]第一剔除子單元，用于在所述第四確定單元確定所述第一鏈路的獲得次數(shù)為所述P時(shí)，從所述第一鏈路集合中剔除所述第一路徑包括的鏈路；
[0212]第二剔除子單元，用于在所述第四確定單元確定所述第一鏈路的獲得次數(shù)不為所述P時(shí)，從所述第一鏈路集合中剔除第二鏈路，所述第二鏈路為所述第一路徑包括的鏈路中除所述第一鏈路之外的剩余鏈路。
[0213]可選地，所述定位單元包括:
[0214]第五確定單元，用于利用所述測量結(jié)果確定存在故障的第三路徑，所述第三路徑屬于所述L個(gè)測量對(duì)對(duì)應(yīng)的路徑；
[0215]歷史故障概率獲得單元，用于在所述第五確定單元確定的所述第三路徑包括至少兩條鏈路時(shí)，獲得所述至少兩條鏈路中的每條鏈路的歷史故障概率；
[0216]定位子單元，用于根據(jù)所述歷史故障概率從所述第三路徑上定位故障鏈路和/或故障測量節(jié)點(diǎn)。
[0217]在上述可選方案中，本發(fā)明實(shí)施例故障定位裝置可以實(shí)現(xiàn)的附加功能，請(qǐng)參照方法實(shí)施例中對(duì)網(wǎng)絡(luò)設(shè)備附加功能的描述，這里不再贅述。
[0218]另外，上述實(shí)施例提供的故障定位裝置在進(jìn)行故障定位時(shí)，僅以上述各功能模塊的劃分進(jìn)行舉例說明，實(shí)際應(yīng)用中，可以根據(jù)需要而將上述功能分配由不同的功能模塊完成，即將裝置的內(nèi)部結(jié)構(gòu)劃分成不同的功能模塊，以完成以上描述的全部或者部分功能。
[0219]與圖2所示方法相對(duì)應(yīng)地，本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種故障定位設(shè)備500，參見圖6所示示意圖，所述設(shè)備可包括:處理器501、存儲(chǔ)器502、網(wǎng)絡(luò)接口 503、總線系統(tǒng)504。
[0220]所述總線系統(tǒng)504，用于連接上述處理器501、存儲(chǔ)器502和網(wǎng)絡(luò)接口 503。
[0221]所述網(wǎng)絡(luò)接口 503，用于實(shí)現(xiàn)設(shè)備與其它網(wǎng)絡(luò)設(shè)備之間的通信連接。所述網(wǎng)絡(luò)接口503可以由光收發(fā)器，電收發(fā)器，無線收發(fā)器或其任意組合實(shí)現(xiàn)。例如，光收發(fā)器可以是小封裝可插拔(英文:small form-factor pluggable transceiver，縮寫:SFP)收發(fā)器(英文:transceiver)，增強(qiáng)小封裝可插拔(英文:enhanced small form-factor pluggable，縮寫:SFP+)收發(fā)器或10吉比特小封裝可插拔(英文:10Gigabit small form-factorpluggable，縮寫:XFP)收發(fā)器。電收發(fā)器可以是以太網(wǎng)(英文-Ethernet)網(wǎng)絡(luò)接口控制器(英文:network interface controller，縮寫:NIC)。無線收發(fā)器可以是無線網(wǎng)絡(luò)接口控制器(英文:wireless network interface controller，縮寫:WNIC)。
[0222]所述存儲(chǔ)器502，用于存儲(chǔ)程序指令和數(shù)據(jù)。所述存儲(chǔ)器502可以包括易失性存儲(chǔ)器(英文:volatile memory)，例如隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(英文:random_access memory，縮寫:RAM);存儲(chǔ)器也可以包括非易失性存儲(chǔ)器(英文:non-volatile memory)，例如快閃存儲(chǔ)器(英文:flash memory)，硬盤(英文:hard disk drive，縮寫:HDD)或固態(tài)硬盤(英文:solid-state drive，縮寫:SSD);存儲(chǔ)器還可以包括上述種類的存儲(chǔ)器的組合。
[0223]所述處理器501是中央處理器(英文:central processing unit，縮寫:CPU)，也可以是CPU和硬件芯片的組合。上述硬件芯片可以是以下一種或多種的組合:專用集成電路(英文:applicat1n_specific integrated circuit，縮寫:ASIC)，現(xiàn)場可編程邏輯門陣列(英文:field-programmable gate array，縮寫:FPGA)，復(fù)雜可編程邏輯器件(英文:comp I ex programmable logic device，縮寫:CPLD)以及網(wǎng)絡(luò)處理器(英文:networkprocessor，縮寫:NP)。所述處理器501，用于讀取所述存儲(chǔ)器502中存儲(chǔ)的程序指令和數(shù)據(jù)，執(zhí)行以下操作:
[0224]所述處理器獲得節(jié)點(diǎn)集合，所述節(jié)點(diǎn)集合包括屬于待測網(wǎng)絡(luò)的N個(gè)測量節(jié)點(diǎn)，N為正整數(shù)；
[0225]所述處理器將所述N個(gè)測量節(jié)點(diǎn)兩兩組合，生成第一測量對(duì)集合，所述第一測量對(duì)集合包括M個(gè)測量對(duì)，所述M個(gè)測量對(duì)中的每個(gè)測量對(duì)對(duì)應(yīng)于所述待測網(wǎng)絡(luò)中的一條路徑，每條路徑包括至少一條鏈路，M為正整數(shù)；
[0226]所述處理器從所述第一測量對(duì)集合中選取第二測量對(duì)集合，所述第二測量對(duì)集合包括L個(gè)測量對(duì)，所述L個(gè)測量對(duì)對(duì)應(yīng)的路徑包括所述N個(gè)測量節(jié)點(diǎn)之間的所有鏈路，L為正整數(shù)，L〈M ;
[0227]所述處理器通過所述網(wǎng)絡(luò)接口向所述L個(gè)測量對(duì)發(fā)送第一測量報(bào)文，所述第一測量報(bào)文包括所述L個(gè)測量對(duì)中的每個(gè)測量對(duì)所包括的測量節(jié)點(diǎn)的身份標(biāo)識(shí)；
[0228]所述處理器通過所述網(wǎng)絡(luò)接口接收所述L個(gè)測量對(duì)發(fā)送的測量結(jié)果，所述測量結(jié)果為所述L個(gè)測量對(duì)對(duì)所述待測網(wǎng)絡(luò)的性能進(jìn)行測量獲得的結(jié)果；
[0229]如果所述測量結(jié)果表示所述待測網(wǎng)絡(luò)中存在故障，所述處理器利用所述測量結(jié)果，進(jìn)行故障定位。
[0230]可選地，所述處理器從所述第一測量對(duì)集合中選取第二測量對(duì)集合包括:
[0231]所述處理器從所述第一測量對(duì)集合中選取第一測量對(duì)，將所述第一測量對(duì)加入所述第二測量對(duì)集合；
[0232]所述處理器獲得所述第一測量對(duì)對(duì)應(yīng)的第一路徑，并從第一鏈路集合中剔除所述第一路徑包括的鏈路，形成第二鏈路集合，所述第一鏈路集合包括所述N個(gè)測量節(jié)點(diǎn)之間的所有鏈路；
[0233]所述處理器確定所述第二鏈路集合是否為空集；
[0234]如果確定所述第二鏈路集合為空集，所述處理器停止選取所述第二測量對(duì)集合。
[0235]可選地，所述處理器從所述第一測量對(duì)集合中選取第一測量對(duì)包括:
[0236]所述處理器獲得測量對(duì)i的測量代價(jià)值WJP測量對(duì)i對(duì)應(yīng)的路徑所包括的鏈路的數(shù)目E1, i = 1，2，…，M;
[0237]所述處理器獲得測量對(duì)i的比值R1 = E ,/W1 ；
[0238]所述處理器選取比值最大的測量對(duì)作為所述第一測量對(duì)。
[0239]可選地，所述處理器還用于執(zhí)行以下操作:
[0240]如果確定所述第二鏈路集合不是空集，所述處理器從所述第一測量對(duì)集合中選取第二測量對(duì)，將所述第二測量對(duì)加入所述第二測量對(duì)集合；
[0241]所述處理器獲得所述第二測量對(duì)對(duì)應(yīng)的第二路徑，并從所述第二鏈路集合中剔除所述第二路徑包括的鏈路，形成第三鏈路集合；
[0242]所述處理器確定所述第三鏈路集合是否為空集；
[0243]如果確定所述第三鏈路集合為空集，所述處理器停止選取所述第二測量對(duì)集合。
[0244]可選地，所述第一鏈路集合中的第一鏈路的測量次數(shù)為P，所述處理器從第一鏈路集合中剔除所述第一路徑包括的鏈路包括:
[0245]所述處理器確定所述第一鏈路是否屬于所述第一路徑包括的鏈路；
[0246]如果確定所述第一鏈路屬于所述第一路徑包括的鏈路，所述處理器記錄所述第一鏈路的獲得次數(shù)；
[0247]所述處理器確定所述第一鏈路的獲得次數(shù)是否為所述P ;
[0248]如果確定所述第一鏈路的獲得次數(shù)為所述P，所述處理器從所述第一鏈路集合中剔除所述第一路徑包括的鏈路；
[0249]如果確定所述第一鏈路的獲得次數(shù)不為所述P，所述處理器從所述第一鏈路集合中剔除第二鏈路，所述第二鏈路為所述第一路徑包括的鏈路中除所述第一鏈路之外的剩余鏈路。
[0250]可選地，所述處理器利用所述測量結(jié)