一種用于輻照食品檢測的前處理裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型屬于輻照食品技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種用于輻照食品檢測的前處理裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]食品輻照是第二次世界大戰(zhàn)后發(fā)展起來的一種食品加工和食品保藏技術(shù)。它利用電離輻射(60Co或137Cs放射源產(chǎn)生的射線、電子加速器產(chǎn)生的低于1MeV電子束或X射線)對食品進(jìn)行加工處理，以達(dá)到控制食源性病原體，減少微生物負(fù)載和蟲害，抑制生理過程和延長貨架期的目的。因其具有冷加工處理、無二次污染和化學(xué)殘留、能耗低等特點(diǎn)，在食品包裝材料、糧食、水果等殺蟲、滅菌等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。另據(jù)研究表明，輻照技術(shù)對真菌毒素、農(nóng)藥、漁藥等食品污染物也具有一定的抑制和降解作用。由于水產(chǎn)品具有容易腐敗、儲藏難等缺點(diǎn)，近年來，輻照技術(shù)被廣泛應(yīng)用于水產(chǎn)品加工、運(yùn)輸及儲存過程中的殺菌保鮮，成為世界上除了香辛料、根莖類植物外主要的輻照處理食品。
[0003]輻照食品的潛在安全性問題一直存在爭議，盡管在目前允許的食品種類，輻照劑量作用下的輻照食品是安全的，但不當(dāng)?shù)妮椪諘κ称返念伾?、味道、營養(yǎng)產(chǎn)生一些副作用，比如脫色、有臭味、破壞一些營養(yǎng)成分，輻照殘留也對人的健康存在安全隱患。目前，世界各國對輻照食品均持相當(dāng)嚴(yán)格和謹(jǐn)慎的態(tài)度，尤其是輻照食品管理中標(biāo)識的問題已得到歐盟各國及日、韓等國的重視。目前，美國、英國、德國等國家對食品輻照有比較詳細(xì)的要求，對于食品種類、輻照劑量、輻照設(shè)施、食品輻照的標(biāo)示都有明確的規(guī)定。歐盟有關(guān)食品輻照的指令即“離子照射處理的食品”的框架指令1999/2/EC規(guī)定，所有經(jīng)輻照的食品或含有輻照食品成分的必須在食品標(biāo)簽上標(biāo)明；執(zhí)行指令1999/3/EC規(guī)定在歐盟允許輻照的食品目前只允許輻照處理草藥、香料和植物調(diào)味料一類物質(zhì)。
[0004]熱釋光分析法(TL)可用來檢測能分離出礦物質(zhì)的食品是否經(jīng)過輻照處理。其原理是食品中如果含有或沾染硅酸鹽粒子(如塵埃)，在輻照過程中，硅酸鹽粒子吸收能量，分離出的硅酸鹽粒子在控制加熱的條件下釋放出其吸收的能量，從而放出光(熒光)，這樣可測得TL發(fā)光曲線。該法不僅可以檢測鈷源的輻照，還可以檢測電子束的輻照;且非常準(zhǔn)確和靈敏，檢測周期短，不需用參照物，準(zhǔn)確率高;發(fā)光信號經(jīng)數(shù)年不衰減，檢測結(jié)果不受貯藏條件和時間的限制。
[0005]熱釋光分析法(TL)可用來檢測能分離出礦物質(zhì)的食品是否經(jīng)過輻照處理。其原理是基于黏附在大多數(shù)食物上的礦物砂土的物理變化，接受輻照的礦物砂土都要貯存能量，受熱激發(fā)后又能釋放部分能量，并伴隨光發(fā)射，也就是熱釋光。一旦加熱激發(fā)了光發(fā)射，該材料就不會再次發(fā)射熱釋光，除非再次接受輻照。通過控制加熱，熱釋光計數(shù)器可以測定光的強(qiáng)度。簡單來講就是粘著在食品表面上的無機(jī)礦物質(zhì)(如硅酸鹽、石英、黏土等)接受電離輻射后產(chǎn)生的熱釋光強(qiáng)度與輻射劑量大小成正相關(guān)關(guān)系，熱釋光強(qiáng)度通過熱釋光儀記錄的發(fā)光曲線的面積積分值來表不，以G I表不被檢樣品的熱釋光發(fā)光曲線的面積積分值;樣品再以一個固定的校正劑量輻照，以G2表示校正劑量輻照后樣品的熱釋光發(fā)光曲線的面積積分值，以G1/G2值的大小判斷物料是否經(jīng)過輻照。
[0006]因此用熱釋光法檢測輻照食品時，基本的步驟是通過一系列浸泡、過濾、沉淀、清洗、去除水分等手段從待測樣品中提取出硅酸鹽礦物質(zhì)，并將其轉(zhuǎn)移并固定到專用的不銹鋼樣品盤。在熱釋光輻照檢測儀上測定其第一發(fā)光曲線Gl后，轉(zhuǎn)移至X光輻照儀上，接受一定劑量的輻照，然后再次轉(zhuǎn)移至儀器配置的專用不銹鋼樣品盤，在熱釋光檢測儀上讀取第二次發(fā)光曲線G2，通過G1/G2值的大小判斷物料是否經(jīng)過輻照。
[0007]中國專利文獻(xiàn)(公告日:2012年5月30日，公告號:CN202256336U)公開了一種樣品盤，它包括母盤、子盤和定位座，定位座從下至上依次設(shè)有母盤安裝平臺和子盤安裝平臺，母盤安裝在母盤安裝平臺上，子盤安裝在子盤安裝平臺上;子盤與定位座為可拆式連接。現(xiàn)有技術(shù)中用不銹鋼樣品盤來存置輻照食品，存在專用樣品盤因尺寸較小不易固定、容易發(fā)生倒翻，樣品盤不易標(biāo)示，樣品易發(fā)生混淆;不能避光處理;需進(jìn)行二次轉(zhuǎn)移，使本身不易提取到的硅酸鹽物質(zhì)又進(jìn)一步損失;不能直接二次輻照，使用不便等問題。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0008]本實(shí)用新型是為了克服現(xiàn)有技術(shù)檢測輻照食品時，樣品前處理過程中缺乏特定的前處理輻照樣品專用盤及儲備裝置的不足，提供了一種結(jié)構(gòu)合理，可解決輻照食品檢測的前處理問題，無需二次轉(zhuǎn)移，可直接放入X光輻照儀中進(jìn)行輻照，可避光保存、不易混淆;樣品間不易相互污染;清洗和保存方便的前處理裝置。
[0009]為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型采用以下技術(shù)方案:
[0010]—種用于輻照食品檢測的前處理裝置，其特征是，包括外箱體、與外箱體卡接的箱蓋，外箱體的一對外側(cè)壁上設(shè)有箱把手，所述的外箱體上設(shè)有若干開口于外箱體頂面的容盒槽，所述的容盒槽內(nèi)設(shè)有與容盒槽匹配的樣品輻照盒，所述的樣品輻照盒包括盒體、與盒體卡接的盒蓋，所述的盒蓋的頂面上設(shè)有蓋把手、標(biāo)簽槽，所述的樣品輻照盒呈圓柱狀，所述的樣品輻照盒底部與自身所處的容盒槽槽底相貼。
[0011 ]作為優(yōu)選，所述的盒體包括盒本體、環(huán)形盒頂緣，所述的盒蓋套設(shè)在環(huán)形盒頂緣夕卜，所述的盒蓋與環(huán)形盒頂緣互相卡緊。
[0012]作為優(yōu)選，所述的容盒槽直徑為100至120mm，深度為25至35mm，所述的外箱體長度為445至460mm，寬度為300至320mm。
[0013]作為優(yōu)選，所述的樣品輻照盒與外箱體之間設(shè)有保溫墊層，所述的保溫墊層呈圓筒狀，保溫墊層內(nèi)壁與樣品輻照盒外壁接觸。
[0014]作為優(yōu)選，所述的箱蓋一端與外箱體鉸接，另一端與與外箱體通過卡扣卡接。
[0015]作為優(yōu)選，所述的容盒槽數(shù)目為六個，相鄰容盒槽的間距相等。
[0016]作為優(yōu)選，所述的外箱體上設(shè)有若干對落位槽、若干開口于外箱體頂面且呈圓柱形的沉頭槽，各對落位槽分別對應(yīng)各容盒槽，各沉頭槽分別對應(yīng)各容盒槽，沉頭槽與對應(yīng)的容盒槽同軸，沉頭槽下端與對應(yīng)的容盒槽上端連通，沉頭槽直徑大于容盒槽直徑，容盒槽與對應(yīng)的一對落位槽連通，連通位置均處在容盒槽的槽側(cè)壁上，每對落位槽均以對應(yīng)容盒槽的軸線為中心互相對稱，所述的樣品輻照盒上設(shè)有一對與任意一對落位槽對應(yīng)的落位架導(dǎo)柱，落位架導(dǎo)柱外端的橫截面呈扇形，一對落位架導(dǎo)柱外端面間的最大距離等于任意一個沉頭槽的直徑。
[0017]本實(shí)用新型的有益效果是:結(jié)構(gòu)合理，可解決輻照食品檢測的前處理問題(樣品分置等)，無需二次轉(zhuǎn)移，可直接放入X光輻照儀中進(jìn)行輻照，可有效進(jìn)行避光保存，可對樣品進(jìn)行標(biāo)示，不易發(fā)生混淆;樣品輻照盒尺寸與儀器(X光輻照儀)相匹配，可避免超出輻照直徑之后，樣品未接受到相應(yīng)的輻照劑量，樣品盤采用平底設(shè)計，樣品均處于同一輻照距離(SID)，因此通過準(zhǔn)確控制輻照時間，即可準(zhǔn)確控制樣品接受的輻照劑量;樣品專用輻照盤直徑設(shè)計為定值，使置于其中的樣品均可處于同一福照直徑(Beam Diameter)內(nèi)；其平底的設(shè)計使樣品處于同一輻照距離(SID);放于輻照專用盤中的樣品同時接受輻照時，其接受輻照的時間也相同，因此接受輻照的劑量完全相同，確保了輻照后樣品的均勻性;可避免樣品間的相互污染;可一次性對多個樣品進(jìn)行保存以滿足檢測時所用標(biāo)準(zhǔn)曲線的陽性樣品的數(shù)量;便于清洗和保存;可操作性強(qiáng)，使用及移動方便。
【附圖說明】
[0018]圖1是本實(shí)用新型實(shí)施例1的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0019]圖2是圖1的局部放大圖；
[0020]圖3是本實(shí)用新型實(shí)施例1盒體的爆炸圖；
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