本發(fā)明涉及平板顯示技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種GIP信號測試電路、GIP信號測試方法和顯示裝置。

背景技術(shù)：

近年來，隨著信息技術(shù)、無線移動(dòng)通訊和信息家電的快速發(fā)展與應(yīng)用，人們對電子產(chǎn)品的依賴性與日俱增，更帶來各種顯示技術(shù)及顯示裝置的蓬勃發(fā)展。平板顯示裝置具有完全平面化、輕、薄、省電等特點(diǎn)，因此得到了廣泛的應(yīng)用。

目前，隨著平板顯示技術(shù)的發(fā)展，出現(xiàn)了一種將平板顯示裝置的柵極驅(qū)動(dòng)器通過掩模板鍍膜技術(shù)直接制作在玻璃基板上的新型技術(shù)—GIP(Gate in Panel，門面板)技術(shù)。目前，GIP技術(shù)是把掃描芯片集成在顯示面板上，達(dá)到節(jié)省掃描芯片，降低材料成本，減少工藝步驟并縮短工藝時(shí)間，從而降低面板成本、實(shí)現(xiàn)更窄邊框的目的。

但是，顯示面板在制造過程中存在許多不良，解析的時(shí)候就需要測試GIP信號是否正常，然而，隨著屏體分辨率越來越高，不可能每一級均用引線引出以供信號測量使用?，F(xiàn)有技術(shù)中，一般采用引線引出第一級GIP信號以及最后一級GIP信號進(jìn)行測量。請參考圖1，其為現(xiàn)有技術(shù)中GIP信號測試電路的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖1所示，柵極驅(qū)動(dòng)電路包括第一級級聯(lián)結(jié)構(gòu)、第二級級聯(lián)結(jié)構(gòu)…第n級級聯(lián)結(jié)構(gòu)(最后一級的級聯(lián)結(jié)構(gòu))，所述級聯(lián)結(jié)構(gòu)通常是移位寄存器。所述柵極驅(qū)動(dòng)電路根據(jù)外部電路輸入的信號sin，產(chǎn)生多級GIP信號，采用引線引出第1級GIP信號S1以及最后一極的GIP信號Sn，對第一級GIP信號S1以及最后一級GIP信號Sn進(jìn)行測試，其余級GIP信號均不能進(jìn)行測試。因此，即使其余各級GIP信號出現(xiàn)異常，也無法進(jìn)行確認(rèn)。

基于此，如何解決現(xiàn)有的平板顯示裝置無法在不增加走線的情況下對每一級GIP信號進(jìn)行測試的問題，成了本領(lǐng)域技術(shù)人員亟待解決的一個(gè)技術(shù)問題。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的在于提供一種GIP信號測試電路、GIP信號測試方法和顯示裝置，以解決現(xiàn)有技術(shù)中顯示裝置無法在不增加走線的情況下對每一級GIP信號進(jìn)行測試的問題。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供一種具有GIP信號測試電路，包括：一信號測試線、一時(shí)鐘信號線、一個(gè)第一晶體管、多個(gè)第二晶體管、多個(gè)第三晶體管、多個(gè)電容以及多級GIP信號；所述第二晶體管、第三晶體管、電容以及GIP信號一一對應(yīng)；所述第一晶體管連接在所述時(shí)鐘信號線與信號測試線之間；所述信號測試線通過多個(gè)第二晶體管、多個(gè)第三晶體管以及多個(gè)電容分別接收多級GIP信號，并根據(jù)所述多級GIP信號輸出測試信號。

可選的，所述第一晶體管的第一電極連接至所述時(shí)鐘信號線，所述第一晶體管的第二電極連接至所述信號測試線，所述第一晶體管的柵極連接至所述信號測試線。

可選的，所述第二晶體管的第一電極連接至所述信號測試線，所述第二晶體管的第二電極連接相對應(yīng)的所述GIP信號；所述第二晶體管的柵極連接至相對應(yīng)的第三晶體管的第二電極。

可選的，所述第三晶體管的第一電極連接至所述時(shí)鐘信號線，所述第三晶體管的第二電極與柵極均連接至相對應(yīng)的所述電容的一端，所述電容的另一端連接至相對應(yīng)的所述GIP信號。

可選的，所述第一電極為源極，所述第二電極為漏極；或者，所述第一電極為漏極，所述第二電極為源極；所述第一晶體管至第三晶體管均為薄膜場效應(yīng)晶體管。

相應(yīng)的，本發(fā)明還提供一種GIP信號測試方法，采用上述的GIP信號測試電路進(jìn)行測試,包括:

向所述GIP信號測試電路提供時(shí)鐘信號和多級GIP信號；以及

通過所述GIP信號測試電路輸出多級GIP信號的測試信號。

可選的，每一級GIP信號的下降沿較所述時(shí)鐘信號的下降沿延遲，每一級GIP信號的上升沿較所述時(shí)鐘信號的上升沿提前。

可選的，測試周期包括五個(gè)階段：

在第一時(shí)間段，所述時(shí)鐘信號與某一級GIP信號均為高電位，所述第一晶體管、第三晶體管打開，所述第二晶體管關(guān)閉，所述測試信號為高電位；

在第二時(shí)間段，所述GIP信號為高電位，所述時(shí)鐘信號為低電位，所述第一晶體管、第二晶體以及第三晶體管均關(guān)閉，所述測試信號維持高電位；

在第三時(shí)間段，所述GIP信號為低電位，所述時(shí)鐘信號為低電位，所述第一晶體管與第三晶體管關(guān)閉，所述第二晶體管打開，所述測試信號為低電位；

在第四時(shí)間段，所述GIP信號為高電位，所述時(shí)鐘信號為低電位，所述第一晶體管、第二晶體以及第三晶體管均關(guān)閉，所述測試信號為低電位；

在第五時(shí)間段，所述GIP信號為高電位，所述時(shí)鐘信號為高電位，所述第一晶體管與第三晶體管打開，所述第二晶體管關(guān)閉，所述測試信號為高電位。

可選的，所述測試信號的每個(gè)低電位對應(yīng)一級GIP信號。

可選的，本發(fā)明還提供一種顯示裝置，包括：GIP電路、多條掃描線以及上述的GIP信號測試電路；

所述GIP電路通過所述多條掃描線與所述GIP信號測試電路連接，用于向所述GIP信號測試電路提供多級GIP信號，所述GIP信號測試電路根據(jù)所述多級GIP信號輸出測試信號。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明提供的GIP信號測試電路、GIP信號測試方法和顯示裝置，采用新型的GIP信號測試電路，只需要一條信號測試線就能夠?qū)γ恳患塆IP信號進(jìn)行檢測，使得顯示裝置在基本不增加走線的基礎(chǔ)上確保了GIP電路的可靠性，同時(shí)提高了不良解析的效率。

附圖說明

圖1為現(xiàn)有技術(shù)中GIP信號測試電路的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖2為本發(fā)明一實(shí)施例提供的GIP信號測試電路的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖3為本發(fā)明一實(shí)施例提供的多級GIP信號、時(shí)鐘信號以及測試信號的波形圖。

具體實(shí)施方式

為使本發(fā)明的內(nèi)容更加清楚易懂，以下結(jié)合說明書附圖，對本發(fā)明的內(nèi)容做進(jìn)一步說明。當(dāng)然本發(fā)明并不局限于該具體實(shí)施例，本領(lǐng)域的技術(shù)人員所熟知的一般替換也涵蓋在本發(fā)明的保護(hù)范圍內(nèi)。

其次，本發(fā)明利用示意圖進(jìn)行了詳細(xì)的表述，在詳述本發(fā)明實(shí)例時(shí)，為了便于說明，示意圖不依照一般比例局部放大，不應(yīng)對此作為本發(fā)明的限定。

請參考圖2所示，其為本發(fā)明一實(shí)施例提供的GIP信號測試電路的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖2所示，GIP信號測試電路包括：一信號測試線Test Line、一時(shí)鐘信號線CK、一個(gè)第一晶體管T1和多個(gè)第二晶體管(T21至T2n)、多個(gè)第三晶體管(T31至T3n)、多個(gè)電容(C1至Cn)以及多級GIP信號。所述第二晶體管(T21至T2n)、第三晶體管(T31至T3n)、電容(C1至Cn)以及GIP信號一一對應(yīng)。所述第一晶體管T1連接在所述時(shí)鐘信號線CK與信號測試線Test Line之間；所述信號測試線Test Line通過多個(gè)第二晶體管(T21至T2n)、多個(gè)第三晶體管(T31至T3n)以及多個(gè)電容(C1至Cn)分別接收多級GIP信號，并根據(jù)所述多級GIP信號輸出測試信號。

所述多級GIP信號分別由第一掃描線S1至第n掃描線Sn提供；所述第二晶體管(T21至T2n)、第三晶體管(T31至T3n)、電容(C1至Cn)以及GIP信號一一對應(yīng)是指：所述第二晶體管(T21至T2n)、第三晶體管(T31至T3n)以及電容(C1至Cn)的數(shù)量相等，且與所述GIP信號的級數(shù)也相等，并且，一個(gè)第二晶體管對應(yīng)連接一個(gè)第三晶體管、一個(gè)電容以及一條掃描線。例如：第一掃描線S1提供第一級GIP信號，第一級GIP信號與所述第二晶體管T21、第三晶體管T31、電容C1相對應(yīng)，第二掃描線S2提供第二級GIP信號，第二級GIP信號與所述第二晶體管T22、第三晶體管T32、電容C2相對應(yīng)，以此類推，第n掃描線Sn提供第n級GIP信號，第n級GIP信號與所述第二晶體管T2n、第三晶體管T3n、電容Cn相對應(yīng)。所述信號測試線Test Line通過第二晶體管T21、第三晶體管T31以及電容C1接收第一級GIP信號，所述信號測試線Test Line通過第二晶體管T22、第三晶體管T32以及電容C2接收第二級GIP信號，以此類推，所述信號測試線Test Line通過第二晶體管T2n、第三晶體管T3n以及電容Cn接收第n級GIP信號，最終根據(jù)所述多級GIP信號輸出測試信號。

具體的，所述第一晶體管T1的第一電極連接至所述時(shí)鐘信號線CK，所述第一晶體管T1的第二電極連接至所述信號測試線Test Line，所述第一晶體管T1的柵極連接至所述信號測試線Test Line。

所述第二晶體管(T21至T2n)的第一電極連接至所述信號測試線Test Line，所述第二晶體管(T21至T2n)的第二電極連接相對應(yīng)的所述GIP信號；所述第二晶體管(T21至T2n)的柵極連接至相對應(yīng)的第三晶體管(T31至T3n)的第二電極。具體的，所述第二晶體管T21的第一電極連接至所述信號測試線Test Line，所述第二晶體管T21的第二電極連接相對應(yīng)的所述第一級GIP信號；所述第二晶體管T21的柵極連接至相對應(yīng)的第三晶體管T31的第二電極；所述第二晶體管T22的第一電極連接至所述信號測試線Test Line，所述第二晶體管T22的第二電極連接相對應(yīng)的所述第二級GIP信號；所述第二晶體管T22的柵極連接至相對應(yīng)的第三晶體管T32的第二電極；以此類推，所述第二晶體管T2n的第二電極連接相對應(yīng)的所述第n級GIP信號；所述第二晶體管T2n的柵極連接至相對應(yīng)的第三晶體管T3n的第二電極。

所述第三晶體管(T31至T3n)的第一電極連接至所述時(shí)鐘信號線CK，所述第三晶體管(T31至T3n)的第二電極與柵極均連接至相對應(yīng)的所述電容(C1至Cn)的一端，所述電容(C1至Cn)的另一端連接至相對應(yīng)的所述GIP信號。同樣的，所述第三晶體管T31的第一電極連接至所述時(shí)鐘信號線CK，所述第三晶體管T31的第二電極與柵極均連接至相對應(yīng)的所述電容C1的一端，所述電容C1的另一端連接至相對應(yīng)的所述第一級GIP信號；所述第三晶體管T32的第一電極連接至所述時(shí)鐘信號線CK，所述第三晶體管T32的第二電極與柵極均連接至相對應(yīng)的所述電容C2的一端，所述電容C2的另一端連接至相對應(yīng)的所述第二級GIP信號；以此類推，所述第三晶體管T3n的第一電極連接至所述時(shí)鐘信號線CK，所述第三晶體管T3n的第二電極與柵極均連接至相對應(yīng)的所述電容Cn的一端，所述電容Cn的另一端連接至相對應(yīng)的所述第n級GIP信號。

在本實(shí)施例中，所述第一電極為源極，所述第二電極為漏極；或者，所述第一電極為漏極，所述第二電極為源極。本發(fā)明實(shí)施例中采用的晶體管均可以為薄膜晶體管或場效應(yīng)管或其他特性相同的器件，優(yōu)選的，所述第一晶體管T1、第二晶體管(T21至T2n)以及第三晶體管(T31至T3n)均為薄膜場效應(yīng)晶體管。

本發(fā)明所提供的GIP信號測試電路，只需要一條信號測試線Test Line就能夠?qū)γ恳患塆IP信號進(jìn)行檢測，使得顯示裝置在基本不增加走線的基礎(chǔ)上確保了GIP電路的可靠性，同時(shí)也能夠及時(shí)發(fā)現(xiàn)GIP信號的異常，提高了不良解析的效率。

相應(yīng)的，本發(fā)明還提供一種GIP信號測試方法，采用上述的GIP信號測試電路進(jìn)行GIP信號測試。請參考圖3，其為本發(fā)明一實(shí)施例提供的多級GIP信號、時(shí)鐘信號以及測試信號的波形圖，如圖3所示，所述GIP信號測試方法包括：

步驟一：向所述GIP信號測試電路提供時(shí)鐘信號和多級GIP信號；

步驟二：通過所述GIP信號測試電路輸出多級GIP信號的測試信號。

具體的，首先，向所述GIP信號測試電路提供時(shí)鐘信號和多級GIP信號，所述多級GIP信號中每一級GIP信號下降沿較所述時(shí)鐘信號的下降沿延遲，每一級GIP信號的上升沿較所述時(shí)鐘信號的上升沿提前。在本實(shí)施例中，每一級GIP信號下降沿較所述時(shí)鐘信號的下降沿延遲T1時(shí)間段，每一級GIP信號的上升沿較所述時(shí)鐘信號的上升沿提前T3時(shí)間。

如圖3所示，所述測試周期包括五個(gè)階段，分別為第一時(shí)間段T0、第二時(shí)間段T1、第三時(shí)間段T2、第四時(shí)間段T3與第五時(shí)間段T4。在第一時(shí)間段T0：所述時(shí)鐘信號與某一級GIP信號均為高電位，所述第一晶體管、第三晶體管打開，所述第二晶體管關(guān)閉，所述測試信號為高電位；在第二時(shí)間段T1，所述GIP信號為高電位，所述時(shí)鐘信號為低電位，所述第一晶體管、第二晶體以及第三晶體管均關(guān)閉，所述測試信號維持高電位；在第三時(shí)間段T2，所述GIP信號為低電位，所述時(shí)鐘信號為低電位，所述第一晶體管與第三晶體管關(guān)閉，所述第二晶體管打開，所述測試信號為低電位；在第四時(shí)間段T3，所述GIP信號為高電位，所述時(shí)鐘信號為低電位，所述第一晶體管、第二晶體以及第三晶體管均關(guān)閉，所述測試信號為低電位；在第五時(shí)間段T4，所述GIP信號為高電位，所述時(shí)鐘信號為高電位，所述第一晶體管與第三晶體管打開，所述第二晶體管關(guān)閉，所述測試信號為高電位。

具體的，在第一時(shí)間段T0，由第一掃描線S1提供第一級GIP信號，所述時(shí)鐘信號CK與第一級GIP信號均為高電位，所述第一晶體管T1、第三晶體管T31打開，所述第二晶體管T21關(guān)閉，所述測試信號Test Line為高電位。

在第二時(shí)間段T1，所述第一級GIP信號為高電位，所述時(shí)鐘信號CK為低電位，所述第一晶體管T1、第二晶體T21以及第三晶體管T31均關(guān)閉，所述測試信號Test Line維持高電位。

在第三時(shí)間段T2，所述GIP信號跳至低電位，所述時(shí)鐘信號CK為低電位，所述第二晶體管T21由電容C21耦合，所述第二晶體管T21打開，所述第一晶體管T1與第三晶體管T31關(guān)閉，所述測試信號Test Line連接至第一級GIP信號跳至低電位。

在第四時(shí)間段T3，所述GIP信號跳至高電位，所述時(shí)鐘信號維持低電位，所述第一晶體管T1、第二晶體T21以及第三晶體管T31均關(guān)閉，所述測試信號Test Line維持低電位。

在第五時(shí)間段T4，所述GIP信號為高電位，所述時(shí)鐘信號CK為高電位，所述第一晶體管T1與第三晶體管T31打開，所述第二晶體管T21關(guān)閉，所述測試信號Test Line跳至高電位。

然后再從第一時(shí)間段T0進(jìn)行重復(fù)，從圖3中可以看出，在第二次重復(fù)時(shí)，由所述第二掃描線S2提供第二級GIP信號，在第一時(shí)間段T0，所述時(shí)鐘信號CK與第二級GIP信號均為高電位，所述第一晶體管T1、第三晶體管T32打開，所述第二晶體管T22關(guān)閉，所述測試信號Test Line為高電位。在第二時(shí)間段T1，所述第二級GIP信號為高電位，所述時(shí)鐘信號CK為低電位，所述第一晶體管T1、第二晶體T22以及第三晶體管T32均關(guān)閉，所述測試信號Test Line維持高電位。在第三時(shí)間段T2，所述GIP信號跳至低電位，所述時(shí)鐘信號CK為低電位，所述第二晶體管T22由電容C22耦合，所述第二晶體管T22打開，所述第一晶體管T1與第三晶體管T32關(guān)閉，所述測試信號Test Line連接至第二級GIP信號跳至低電位。在第四時(shí)間段T3，所述GIP信號跳至高電位，所述時(shí)鐘信號維持低電位，所述第一晶體管T1、第二晶體T22以及第三晶體管T32均關(guān)閉，所述測試信號Test Line維持低電位。在第五時(shí)間段T4，所述GIP信號為高電位，所述時(shí)鐘信號CK為高電位，所述第一晶體管T1與第三晶體管T32打開，所述第二晶體管T22關(guān)閉，所述測試信號Test Line跳至高電位。

以此重復(fù)，直至第n掃描線提供第n級GIP信號，最終得到測試信號Test Line，如圖3所示，所述測試信號Test Line的每個(gè)低電位對應(yīng)一級GIP信號。

每一級GIP信號均正常時(shí)，通過所述信號測試線Test Line輸出的測試信號如圖3所示，每一級GIP信號下降沿較所述時(shí)鐘信號的下降沿延遲T1時(shí)間段，每一級GIP信號的上升沿較所述時(shí)鐘信號的上升沿提前T3時(shí)間。因此，通過采集所述測試信號線Test Line輸出的測試信號能夠監(jiān)控每一級GIP信號。若某一級GIP信號出現(xiàn)異常，所述測試信號線Test Line輸出的測試信號就會(huì)不同于圖3所示的波形。

相應(yīng)的，本發(fā)明還提供一種顯示裝置，請繼續(xù)參考圖2，所述顯示面板包括：GIP電路(圖中未示出)、多條掃描線(S1至Sn)和如上所述的GIP信號檢測電路；所述GIP電路通過所述多條掃描線(S1至Sn)與所述GIP信號測試電路連接，用于向所述GIP信號測試電路提供多級GIP信號，所述GIP信號測試電路根據(jù)所述多級GIP信號輸出測試信號。

具體的，所述顯示裝置包括顯示區(qū)域和圍繞于所述顯示區(qū)域的非顯示區(qū)域(圖中未示出)，所述顯示區(qū)域中設(shè)置有多個(gè)呈矩陣排布的像素(圖中未示出)，所述GIP電路和GIP信號測試電路通常設(shè)置于所述顯示裝置的非顯示區(qū)域內(nèi)。其中，所述GIP電路通過所述多條掃描線(S1至Sn)分別提供多級GIP信號，所述GIP信號的每一級GIP信號用于導(dǎo)通一行像素。所述GIP信號測試電路的多個(gè)第二晶體管(T21至T2n)、第三晶體管T31至T3n)、電容(C1至Cn)與多條掃描線一一對應(yīng)并相互連接，所述信號測試線Test Line通過多個(gè)第二晶體管(T21至T2n)、多個(gè)第三晶體管(T31至T3n)以及多個(gè)電容(C1至Cn)分別接收多級GIP信號，并根據(jù)所述每一級GIP信號輸出測試信號。

傳統(tǒng)的顯示裝置只將第一級和最后一極(第n極)的GIP信號引出進(jìn)行測試，不但需要兩條走線，而且除了第一級和最后一極之外的其余各級GIP信號均無法進(jìn)行測試，因此無法確保其GIP電路的可靠性。而本發(fā)明提供的顯示裝置中，通過一條信號測試線Test Line就能夠檢測GIP電路輸出的每一級GIP信號。因此，具有上述GIP信號測試電路的顯示裝置能夠確保其GIP電路的可靠性。

其中，所述顯示裝置可以是液晶顯示裝置(LCD)、等離子體顯示裝置(PDP)、有機(jī)發(fā)光顯示裝置(OLED)、柔性顯示裝置或者其他類型的顯示裝置，具體類型在此不做限制。

綜上所述，本發(fā)明提供的GIP信號測試電路、GIP信號測試方法和顯示裝置，采用新型的GIP信號測試電路，只需要一條信號測試線就能夠?qū)γ恳患塆IP信號進(jìn)行檢測，使得顯示裝置在基本不增加走線的基礎(chǔ)上確保了GIP電路的可靠性，同時(shí)提高了不良解析的效率。

上述描述僅是對本發(fā)明較佳實(shí)施例的描述，并非對本發(fā)明范圍的任何限定，本發(fā)明領(lǐng)域的普通技術(shù)人員根據(jù)上述揭示內(nèi)容做的任何變更、修飾，均屬于權(quán)利要求書的保護(hù)范圍。