技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明提供了一種GIP信號(hào)測(cè)試電路、GIP信號(hào)測(cè)試方法和顯示裝置，其中GIP信號(hào)測(cè)試電路包括：一信號(hào)測(cè)試線、一時(shí)鐘信號(hào)線、一個(gè)第一晶體管、多個(gè)第二晶體管、多個(gè)第三晶體管、多個(gè)電容以及多級(jí)GIP信號(hào)；所述第二晶體管、第三晶體管、電容以及GIP信號(hào)一一對(duì)應(yīng)；所述第一晶體管連接在所述時(shí)鐘信號(hào)線與信號(hào)測(cè)試線之間；所述信號(hào)測(cè)試線通過多個(gè)第二晶體管、多個(gè)第三晶體管以及多個(gè)電容分別接收多級(jí)GIP信號(hào)，并根據(jù)所述多級(jí)GIP信號(hào)輸出測(cè)試信號(hào)，從而只需要一條信號(hào)測(cè)試線就能夠?qū)γ恳患?jí)GIP信號(hào)進(jìn)行檢測(cè)，使得顯示裝置在基本不增加走線的基礎(chǔ)上確保了GIP電路的可靠性，同時(shí)提高了不良解析的效率。

技術(shù)研發(fā)人員：胡小敘
受保護(hù)的技術(shù)使用者：昆山國(guó)顯光電有限公司
文檔號(hào)碼：201710007027
技術(shù)研發(fā)日：2017.01.05
技術(shù)公布日：2017.05.31