另一部分柵線的一端與測試線112連接，另一端通過晶體管與接收線122連接。晶體管14由控制電路13控制導(dǎo)通或斷開?？刂齐娐?3可以包括多個級聯(lián)的移位寄存器，每一級移位寄存器與一個晶體管的柵極連接，通過輸出的移位信號依次控制每一個晶體管導(dǎo)通。
[0034]請參考圖2，其示出了根據(jù)本申請另一個實施例的陣列基板的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖2所示，在本實施例中，陣列基板可以包括多條信號線和檢測電路，檢測電路可以包括控制電路23、多個晶體管24、多條測試線21以及多條接收線22。其中信號線可以包括柵線G1、G2、63^611以及數(shù)據(jù)線31、32、33、-5111，其中11，111為正整數(shù)。如圖2所示，每一條測試線21分別與至少一條作為信號線的數(shù)據(jù)線Si的一端連接(其中? = 1，2，3，...η)，數(shù)據(jù)線Si的另一端與一個晶體管24的第一極相連接。晶體管24的柵極與控制電路的一個輸出端連接，晶體管24的第二極與對應(yīng)于數(shù)據(jù)線Si的一條接收線22連接。
[0035]圖2所示陣列基板包括兩條測試線211、212及兩條與測試線對應(yīng)的接收線221、222。部分?jǐn)?shù)據(jù)線的一端與測試線211連接，另一端通過晶體管與接收線221連接。另一部分?jǐn)?shù)據(jù)線的一端與測試線212連接，另一端通過晶體管與接收線222連接。晶體管24由控制電路23控制導(dǎo)通或斷開?？刂齐娐?3可以包括多個級聯(lián)的移位寄存器，每一級移位寄存器與一個晶體管的柵極連接，通過控制晶體管的導(dǎo)通或斷開來依次掃描每一條數(shù)據(jù)線。
[0036]從圖2可以看出，與圖1所示實施例不同的是，圖2中數(shù)據(jù)線作為信號線，可以通過向控制電路施加啟動信號來對數(shù)據(jù)線進行掃描。
[0037]進一步參考圖3，其示出了根據(jù)本申請一個實施例的陣列基板的信號線檢測方法的示意圖。
[0038]如圖3所示，在步驟301中，通過測試線分別向多個信號線施加多個測試信號。
[0039]在本實施例中，每一條測試線可以與多個信號線相連接，可以向不同測試線施加不同的測試信號，例如可以向不同測試線分別施加正弦信號、方波信號、脈沖信號等不同類型的信號，也可以向不同測試線分別施加同一類型周期不同的信號，還可以向不同測試線分別施加同一類型同一周期的反相的信號。
[0040]在步驟302中，向控制電路施加啟動信號。
[0041]在本實施例中，可以通過控制電路來實現(xiàn)信號線的掃描。在如圖1所示的實施例中，可以通過向控制電路施加啟動信號來控制第一級移位寄存器輸入高電平信號，導(dǎo)通與第一條柵線Gl連接的晶體管，從而將輸入第一條柵線Gl的測試信號傳遞至對應(yīng)的輸出線。在圖2所示的實施例中，與圖1所示的實施例類似，可以通過向控制電路施加啟動信號來控制第一級移位寄存器輸出高電平信號，導(dǎo)通與第一條數(shù)據(jù)線SI連接的晶體管24，從而將輸入第一條數(shù)據(jù)線SI的測試信號傳遞至對應(yīng)的接收線?？蛇x地，啟動信號可以為高電平信號。
[0042]在步驟303中，逐級導(dǎo)通每一條信號線對應(yīng)的晶體管。
[0043]控制電路中的第一級移位寄存器可以在預(yù)定時間后向第二級移位寄存器施加啟動信號，導(dǎo)通與第二條柵線連接的晶體管；同時，第二級移位寄存器可以向第一級移位寄存器返回停止信號，使第一級移位寄存器輸出低電平信號，斷開與第一條柵線連接的晶體管?？刂齐娐钒凑丈鲜鲂盘杺鬟f規(guī)則逐級導(dǎo)通每一條柵線或數(shù)據(jù)線對應(yīng)的晶體管、斷開上一條柵線或數(shù)據(jù)線對應(yīng)的晶體管，即可以按照上述信號傳遞規(guī)則逐級導(dǎo)通每一條柵線或數(shù)據(jù)線、斷開上一條柵線或數(shù)據(jù)線。最后一條柵線或數(shù)據(jù)線可以由施加在控制電路的停止信號控制斷開，從而完成陣列基板的逐行或逐列掃描。
[0044]在步驟304中，通過接收線接收信號。
[0045]在本實施例中，可以通過接收線接收經(jīng)過柵線或數(shù)據(jù)線傳輸?shù)男盘枴Ｖ?，可以根?jù)接收到的信號與向信號線施加的測試信號間的關(guān)系來判斷信號線是否發(fā)生短路或斷路。
[0046]需要說明的是，雖然圖3中以特定的順序描述了陣列基板的信號線檢測方法的步驟，但在實際應(yīng)用中，可以根據(jù)實際情況以不同的順序執(zhí)行上述步驟，或者同時執(zhí)行圖3中的多個步驟，例如步驟301和302可以同時執(zhí)行。
[0047]在一些實施例中，信號線可以包括由所有奇數(shù)行的柵線組成的第一柵線組以及由所有偶數(shù)行的柵線組成的第二柵線組。進一步參考圖4，其示出了根據(jù)本申請實施例的奇數(shù)行柵線和偶數(shù)行柵線連接不同測試線的陣列基板的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0048]如圖4所示，在本實施例中，由所有奇數(shù)行柵線組成的第一柵線組的一端與測試線411連接，另一端與晶體管14的第一極連接。晶體管14的第二極與對應(yīng)于測試線411的接收線421連接。由所有偶數(shù)行柵線組成的第一柵線組的一端與測試線412連接，另一端與晶體管14的第一極連接。每一個晶體管14的第二極與對應(yīng)于測試線412的接收線422連接，柵極與控制電路13連接。控制電路13可以控制與柵線連接的晶體管依次導(dǎo)通。這樣，通過測試線施加在信號線上的測試信號經(jīng)過柵線傳輸?shù)浇邮站€端，接收線421可以接收通過測試線411輸入的測試信號，接收線422可以接收通過測試線412輸入的測試信號。
[0049]對于圖4所示實施例中的陣列基板，其信號線可以通過如圖3所示的方法檢測。向控制電路13施加啟動信號Stv，逐級導(dǎo)通每一條柵線對應(yīng)的晶體管，實現(xiàn)柵線的掃描，最后一條柵線掃描完成后，可以向控制電路13施加停止信號Rst，完成陣列基板的行掃描。當(dāng)接收線421接收到的信號與通過測試線411輸入的測試信號不一致時，可以確定第一柵線組中的柵線發(fā)生了短路或斷路。進一步地，如果測試信號為周期信號，還可以根據(jù)發(fā)生不一致的時序位置確定發(fā)生短路或斷路的柵線的位置。相應(yīng)地，當(dāng)接收線422接收到的信號與通過測試線412輸入的測試信號不一致時，可以確定第二柵線組中的柵線發(fā)生了短路或斷路。進一步地，如果測試信號為周期信號，還可以根據(jù)發(fā)生不一致的時序位置確定發(fā)生短路或斷路的柵線的位置。
[0050]圖5示出了圖4所示實施例的陣列基板的柵線檢測的一種信號的示意圖。如圖5所示，通過測試線411和412分別向由所有奇數(shù)行柵線組成的第一柵線組和由所有偶數(shù)行柵線組成的第二柵線組施加第一測試信號TGl和第二測試信號TG2。其中，第一測試信號TGl和第二測試信號TG2均為方波信號，且TG2相對于TGl具有四分之一周期的延時。每一個晶體管導(dǎo)通的時間為測試信號周期的四分之一，在圖5中，每一條柵線的時序信號61、62、63、64^"為高電平的時間表示對應(yīng)的晶體管的導(dǎo)通時間。圖5示出了所有柵線未發(fā)生短路和斷路時的接收信號與輸入信號的示意圖。從圖5中可以看出，當(dāng)柵線未發(fā)生短路或斷路時，第一信號線組的接收信號RGl與測試信號TGl在同一時序位置極性相同，信號的幅值也相同；第二信號線組的接收信號RG2與測試信號TG2在同一時序位置極性相同，信號的幅值也相同。
[0051]向圖4所示的陣列基板施加如圖5所示的測試信號TG1、TG