1、922、923接收到的信號RGl、RG2、RG3來判斷柵線是否發(fā)生短路、斷路。
[0064]進一步參考圖10，其示出了圖9所示實施例的陣列基板的柵線檢測的一種信號的示意圖。其中，61、62、63、64、65、66丨分別表示施加至每一條柵線的信號，1?1、1^2、1^3分別為第一條柵線Gl和第八條柵線G8斷路時接收線921、922、923接收到的信號，1?；1’為第一條柵線Gl與第二條柵線G2短路時接收線921接收到的信號，RG2’為第二條柵線G2與第三條柵線G3短路時接收線922接收到的信號，RG3 ’為第三條柵線G3與第四條柵線G4短路時接收線923接收到的信號。如圖10所示，以方波信號TGl、TG2和TG3作為輸入信號，且TG2與TGl有六分之一周期的延時，TG3與TGl有三分之一周期的延時。當(dāng)某一條柵線發(fā)生斷路時，對應(yīng)的接收線在該柵線對應(yīng)的時序位置處接收到的信號不發(fā)生與測試信號一致的翻轉(zhuǎn)；當(dāng)兩條相鄰柵線發(fā)生短路時，對應(yīng)的接收線在該柵線對應(yīng)的時序位置處接收到的信號幅值為測試信號幅值的二分之一。因此可以根據(jù)接收到的信號是否發(fā)生翻轉(zhuǎn)、幅值是否變化來判斷柵線是否短路或斷路，并根據(jù)接收到的信號與測試信號不一致的時序位置確定發(fā)生短路或斷路的柵線位置。
[0065]以上結(jié)合圖10描述了圖9所示實施例中陣列基板的檢測方法。同樣地，可以將數(shù)據(jù)線也按照與圖9中柵線類似的方法進行分組，并采用與圖10類似或相同的測試信號進行數(shù)據(jù)線短路或斷路的檢測。
[0066]上述實施例中以測試信號為方波信號為例，描述了陣列基板的檢測方法?？梢岳斫?，在實際應(yīng)用時，可以采用多種不同形式的信號作為測試信號，例如正弦信號、周期性的脈沖信號等。在檢測時，如果接收線接收到的信號與對應(yīng)的測試信號不一致，則可以確定被檢測的信號線發(fā)生了短路或斷路。進一步地，可以通過控制電路控制每一級移位寄存器向晶體管施加高電平的時間，與測試信號相配合，確定出發(fā)生短路或斷路的信號線位置，實現(xiàn)陣列基板走線的精確檢測。
[0067]本申請還提供了一種顯示面板，包括上述實施例所描述的陣列基板。
[0068]本申請還提供了一種顯示器，包括上述實施例所描述的顯示面板。
[0069]需要說明的是，上述實施例中所描述的晶體管的第一極可以為晶體管的源極和漏極中的一極，晶體管的第二極可以為晶體管的源極和漏極中的另一極。如果晶體管的源極為所述的第一極，則晶體管的漏極為所述的第二極;如果晶體管的漏極為所述的第一極，則晶體管的源極為所述的第二極。本申請對此沒有限定。
[0070]本申請上述實施例所提供的陣列基板、信號線檢測方法、顯示面板及顯示裝置，通過在陣列基板中設(shè)置測試線和接收線，向陣列基板中的信號線施加不同的測試信號，測試接收信號的相對關(guān)系，實現(xiàn)了陣列基板走線短路、斷路的檢測，降低了檢測成本、提升了檢測精度。
[0071]以上描述僅為本申請的較佳實施例以及對所運用技術(shù)原理的說明。本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，本申請中所涉及的發(fā)明范圍，并不限于上述技術(shù)特征的特定組合而成的技術(shù)方案，同時也應(yīng)涵蓋在不脫離所述發(fā)明構(gòu)思的情況下，由上述技術(shù)特征或其等同特征進行任意組合而形成的其它技術(shù)方案。例如上述特征與本申請中公開的(但不限于)具有類似功能的技術(shù)特征進行互相替換而形成的技術(shù)方案。
【主權(quán)項】
1.一種陣列基板，包括多條信號線和檢測電路，其特征在于，所述檢測電路包括控制電路、多個晶體管、多條測試線和多條接收線;每一條測試線分別與至少一條信號線的一端連接;每個晶體管的第一極分別與一條信號線的另一端連接，柵極分別與所述控制電路的一個輸出端連接，第二極分別與對應(yīng)于所述信號線的一條接收線連接。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的陣列基板，其特征在于，所述信號線包括: 由所有奇數(shù)行的柵線組成的第一柵線組以及由所有偶數(shù)行的柵線組成的第二柵線組；和/或 由所有奇數(shù)列的數(shù)據(jù)線組成的第一數(shù)據(jù)線組以及由所有偶數(shù)列的數(shù)據(jù)線組成的第二數(shù)據(jù)線組。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的陣列基板，其特征在于，所述控制電路包括多個級聯(lián)的移位寄存器。4.一種陣列基板的信號線檢測方法，用于檢測如權(quán)利要求1-3任一項所述的陣列基板，所述方法包括: 通過測試線分別向多個信號線施加多個測試信號； 向控制電路施加啟動信號； 逐級導(dǎo)通每一條信號線對應(yīng)的晶體管； 通過所述接收線接收信號。5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，所述啟動信號為高電平信號。6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，所述信號線包括: 由所有奇數(shù)行的柵線組成的第一柵線組以及由所有偶數(shù)行的柵線組成的第二柵線組；和/或 由所有奇數(shù)列的數(shù)據(jù)線組成的第一數(shù)據(jù)線組以及由所有偶數(shù)列的數(shù)據(jù)線組成的第二數(shù)據(jù)線組。7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，向第一柵線組施加周期性的第一柵線測試信號，向第二柵線組施加與第一柵線測試信號具有四分之一周期的延時的第二柵線測試信號;和/或 向第一數(shù)據(jù)線組施加周期性的第一數(shù)據(jù)線測試信號，向第二數(shù)據(jù)線組施加與第一數(shù)據(jù)線測試信號具有四分之一周期的延時的第二數(shù)據(jù)線測試信號。8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，每個晶體管導(dǎo)通的時間為所述測試信號的周期的四分之一。9.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，所述接收線接收到的信號與施加在與所述接收線連接的信號線上的測試信號不一致，確定所述信號線發(fā)生短路或斷路。10.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法，其特征在于，所述第一柵線測試信號和/或所述第一數(shù)據(jù)線測試信號為方波信號。11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的方法，其特征在于，所述接收線接收到的信號在某一時序位置未發(fā)生與對應(yīng)的測試信號一致的翻轉(zhuǎn)，確定該時序位置對應(yīng)的信號線發(fā)生斷路； 所述接收線接收到的信號在某一時序位置的幅值為測試信號幅值的二分之一，確定該時序位置對應(yīng)的信號線與下一條信號線發(fā)生短路。12.—種顯示面板，其特征在于，包括如權(quán)利要求1-3任一所述的陣列基板。13.—種顯示裝置，其特征在于，包括權(quán)利要求12所述的顯示面板。
【專利摘要】本申請公開了陣列基板、信號線檢測方法、顯示面板及顯示裝置。陣列基板包括多條信號線和檢測電路，其中，檢測電路包括控制電路、多個晶體管、多條測試線和多條接收線；每一條測試線分別與至少一條信號線的一端連接；每個晶體管的第一極分別與一條信號線的另一端連接，柵極分別與所述控制電路的一個輸出端連接，第二極分別與對應(yīng)于所述信號線的一條接收線連接。通過向陣列基板中的信號線施加不同的測試信號，測試接收信號與測試信號的對應(yīng)關(guān)系，可以實現(xiàn)陣列基板走線短路、斷路的檢測，降低了檢測成本、提升了陣列基板的檢測精度。
【IPC分類】G09G3/00
【公開號】CN105575301
【申請?zhí)枴緾N201510958046
【發(fā)明人】趙劍, 陳江川
【申請人】上海天馬微電子有限公司, 天馬微電子股份有限公司
【公開日】2016年5月11日
【申請日】2015年12月18日