液晶特性測試裝置和測試方法以及顯示面板及其制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及顯示器技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種液晶特性測試裝置和測試方法以及顯示面板及其制造方法。
【背景技術(shù)】
[0002]在液晶顯示器(英文全稱:Liquid Crystal Display,簡稱:IXD)的制造過程中,經(jīng)常會有因液晶原材料污染及制造工藝對液晶的污染造成的產(chǎn)品不良,及時對液晶特性的檢測可以準(zhǔn)確分析不良原因,并提出解決方案,所以液晶特性的檢測可以提高產(chǎn)品質(zhì)量、節(jié)約生產(chǎn)成本,對生產(chǎn)具有非常重要的意義。
[0003]評價液晶特性的主要參數(shù)有:電壓保持率(英文全稱:Voltage Holding Rad1,簡稱:VHR)、離子濃度(英文全稱:1n Density)和殘留直流電壓(英文全稱!ResidualDirect Current,簡稱:RDC)。目前對液晶特性的檢測方式為:在實驗室模擬生產(chǎn)線的生產(chǎn)條件制作小型液晶測試盒(英文名稱:Mini cell),對該小型液晶測試盒的液晶特性進(jìn)行測試,獲取VHR、離子濃度、RDC等參數(shù),最后根據(jù)這些參數(shù)對生產(chǎn)線上的液晶顯示設(shè)備內(nèi)的液晶特性進(jìn)行評價。但是,由于實驗室無法完全模擬生產(chǎn)線的環(huán)境機(jī)身產(chǎn)設(shè)備,且生產(chǎn)線上的人為污染在實驗室也無法模擬,所以用實驗室制作的小型液晶測試盒的內(nèi)液晶的特性參數(shù)評價生產(chǎn)線上的液晶顯示設(shè)備內(nèi)的液晶特性缺乏準(zhǔn)確性。綜上所述,如何使液晶顯示設(shè)備內(nèi)的液晶特性進(jìn)行測試更加準(zhǔn)確是本領(lǐng)域技術(shù)人員亟需解決的問題。
【發(fā)明內(nèi)容】
[0004]本發(fā)明的實施例提供一種液晶特性測試裝置和方法以及顯示面板和制造方法,用于接對液晶顯示設(shè)備內(nèi)的液晶特性進(jìn)行測試。
[0005]為達(dá)到上述目的,本發(fā)明的實施例采用如下技術(shù)方案:
[0006]第一方面,提供一種液晶特性測試裝置,用于對液晶顯示面板內(nèi)的液晶的特性進(jìn)行測試,所述液晶顯示面板的公共電極和像素電極位于液晶層的同一側(cè),包括:設(shè)置于所述液晶顯示面板的陣列基板上的測試電極、引線和測試元件組(英文全稱:Test ElementGroup,簡稱:TEG),所述測試電極設(shè)置于所述顯示面板的封框膠外側(cè),所述測試元件組設(shè)置于所述顯示面板的布線區(qū)域,所述引線穿過封框膠電連接所述測試電極和測試元件組;
[0007]所述測試電極包括:第一電極和第二電極;所述引線包括:第一引線和第二引線;所述測試元件組包括:第一透明電極圖案、第二透明電極圖案以及位于所述第一透明電極圖案和第二透明電極圖案之間的絕緣結(jié)構(gòu);
[0008]所述第一電極通過第一引線電連接所述第一透明電極圖案,用于通過第一引線對所述第一透明電極圖案加載電信號;
[0009]所述第二電極通過第二引線電連接所述第二透明電極圖案,用于通過第二引線對所述第二透明電極圖案加載電信號。
[0010]可選的,所述第一透明電極圖案為面狀透明電極圖案,所述第二透明電極圖案為梳齒狀透明電極圖案。
[0011]可選的,所述第一透明電極圖案的面積大于所述像素電極的面積,所述第二透明電極圖案的面積大于所述像素電極的面積。
[0012]可選的,所述第二透明電極圖案的梳齒寬度與所述像素電極的寬度相同,所述第二透明電極圖案的梳齒延伸方向與所述像素電極的延伸方向相同。
[0013]可選的,封框膠區(qū)域的所述第一引線和所述第二引線上設(shè)置有縫隙。
[0014]可選的,位于所述第一透明電極圖案和所述第二透明電極圖案之間的所述絕緣結(jié)構(gòu)包括:第一絕緣結(jié)構(gòu)和第二絕緣結(jié)構(gòu);
[0015]所述第一電極包括:第一金屬結(jié)構(gòu)和第三透明電極圖案,所述第一金屬結(jié)構(gòu)通過過孔與所述第三透明電極圖案電連接;
[0016]所述第二電極包括:第二金屬結(jié)構(gòu)和第四透明電極圖案,所述第二金屬結(jié)構(gòu)通過過孔與所述第四透明電極圖案電連接;
[0017]所述第一絕緣結(jié)構(gòu)與所述顯示面板的柵絕緣層同層制作,述第二絕緣結(jié)構(gòu)與所述顯示面板的源漏絕緣層同層制作,所述第一金屬結(jié)構(gòu)與所述第一引線同層制作,所述第二金屬結(jié)構(gòu)與所述第二引線同層制作,第三透明電極圖案、第四透明電極圖案與所述第二透明電極圖案同層制作。
[0018]可選的,所述第一透明電極圖案與所述公共電極同層制作,所述第一引線、所述第一金屬結(jié)構(gòu)與所述顯示面板的柵金屬層同層制作,所述第二引線、所述第二金屬結(jié)構(gòu)與所述顯示面板的源漏金屬層同層制作,所述第二透明電極圖案、所述第三透明電極圖案、所述第四透明電極圖案與所述像素電極同層制作。
[0019]第二方面,提供一種應(yīng)用于第一方面任一項所述的液晶特性測試裝置的液晶特性測試方法,包括:
[0020]通過第一電極對第一透明電極圖案加載第一電信號,通過第二電極對第二透明電極圖案加載第一電信號;所述第一電極與第一透明電極圖案通過第一引線電連接,所述第二電極與第二透明電極圖案通過第二引線電連接;
[0021]加載第一電信號的第一透明電極圖案和加載第二電信號的第二透明電極圖案之間產(chǎn)生電場;
[0022]所述電場使所述液晶層的液晶分子發(fā)生偏轉(zhuǎn);
[0023]通過檢測所述液晶分子的偏轉(zhuǎn)特性獲取液晶特性。
[0024]第三方面,提供一種液晶顯示面板,包括第一方面任一項所述的液晶特性測試裝置。
[0025]第四方面,提供一種液晶顯示面板的制造方法,包括:
[0026]在襯底基板上形成第一透明電極材料層,并通過構(gòu)圖工藝在所述第一透明電極材料層上形成公共電極和第一透明電極圖案;
[0027]在形成有公共電極的和第一透明電極圖案的襯底基板上形成第一金屬材料層,并通過構(gòu)圖工藝在所述第一金屬材料層上形成柵電極、柵線、第一引線和第一金屬結(jié)構(gòu),所述第一引線電連接所述第一透明電極圖案和第一金屬結(jié)構(gòu);
[0028]制作覆蓋所述柵電極、柵線、第一引線和第一金屬結(jié)構(gòu)的第一絕緣層;
[0029]在所述第一絕緣層上形成半導(dǎo)體有緣層;
[0030]在形成有半導(dǎo)體有緣層的襯底基板上形成第二金屬材料層,并通過構(gòu)圖工藝在所述第二金屬材料層上形成源電極、漏電極、數(shù)據(jù)線、第二引線和第二金屬結(jié)構(gòu),所述第二引線電連接所述第二金屬結(jié)構(gòu);
[0031]制作覆蓋所述源電極、漏電極、數(shù)據(jù)線、第二引線和第二金屬結(jié)構(gòu)的第二絕緣層;
[0032]制作第一過孔、第二過孔、第三過孔和第四過孔;
[0033]第二絕緣層上形成第二透明電極材料層,并通過構(gòu)圖工藝在所述第二透明電極材料層上形成像素電極、第二透明電極圖案、第二透明電極圖案、所述第三透明電極圖案、所述第四透明電極圖案;所述像素電極通過第一過孔與所述漏電極電連接,所述第二透明電極圖通過所述第二過孔與第二引線電連接,所述第一金屬結(jié)構(gòu)通過第三過孔與所述第三透明電極圖案電連接,所述第二金屬結(jié)構(gòu)通過第四過孔與所述第四透明電極圖案電連接。
[0034]本發(fā)明的實施例提供的液晶特性測試裝置包括設(shè)置于所述液晶顯示面板的陣列基板上的測試電極、引線和測試元件組,所述測試電極設(shè)置于所述顯示面板的封框膠外側(cè),所述測試元件組設(shè)置于所述顯示面板的布線區(qū)域,所述引線穿過封框膠電連接所述測試電極和測試元件組,測試元件組包括:第一透明電極圖案、第二透明電極圖案以及位于第一透明電極圖案和第二透明電極圖案之間的絕緣層;測試電極包括第一電極