中，所述凹部的內(nèi)面的表面粗 糖度比所述凹部W外的區(qū)域的表面粗糖度更大。
[0040] 利用該套管，能夠?qū)愇锸杖莸綀A周狀的凹部，從而抑制朝向套管的端面的中屯、 部移動(dòng)的異物的移動(dòng)。
[0041] 第15發(fā)明為一種套管，其特征在于，在第10發(fā)明中，所述異物移動(dòng)抑制部具有在 所述端面之中與所述其他的構(gòu)件不直接接觸的第1部分，所述第1部分的表面的平均高度 為0.305W上，所述第1部分的表面的失真度為-0.2W下。
[0042] 利用該套管，平均高度為0. 305W上、失真度為-0. 2W下的第1部分能夠捕捉異 物，從而抑制異物的移動(dòng)。
[0043] 第16的發(fā)明為一種套管，其特征在于，在第15發(fā)明中，所述第1部分之中的至少 一部分具有與所述其他的構(gòu)件的外周部相連接的錐狀。
[0044] 利用該套管，能夠容易地將套管壓入到例如適配器、套筒等。
[0045] 第17的發(fā)明為一種套管，其特征在于，在第15發(fā)明中，所述端面之中與所述其他 的構(gòu)件直接接觸的第2部分與所述第1部分相比更向與所述其他的構(gòu)件連接的一側(cè)突出。
[0046] 利用該套管，能夠更切實(shí)地抑制異物朝向套管的端面的中屯、部移動(dòng)。
[0047] 第18的發(fā)明為一種插頭套管，其特征在于，具備：套管，其為內(nèi)包有用于導(dǎo)通光 的光纖的套管，且在與其他的構(gòu)件連接一側(cè)的研磨成凸球面狀的端面上具有異物移動(dòng)抑制 部，所述異物移動(dòng)抑制部抑制因插拔而從外周部朝向所述端面的中屯、部移動(dòng)的異物的移 動(dòng)；及突緣，內(nèi)包有所述套管之中的至少一部分。
[0048] 根據(jù)該插頭套管，例如在將插頭套管反復(fù)插拔于適配器、套筒等時(shí)，能夠防止因套 管的外周部的異物向套管的端面的中屯、部移動(dòng)而導(dǎo)致產(chǎn)生損失。另外，即使反復(fù)進(jìn)行插頭 套管的插拔，也能夠抑制粉塵附著于被研磨后的端面上。
[0049] W下，參照附圖對(duì)本發(fā)明的實(shí)施方式進(jìn)行例示。此外，對(duì)各附圖中相同的構(gòu)成要素 標(biāo)注相同的符號(hào)并適當(dāng)省略詳細(xì)的說明。
[0050] 圖1是表示本發(fā)明的第1實(shí)施方式的光插座的模式剖視圖。 光插座1具備：短光纖插忍4,具有內(nèi)包有用于導(dǎo)通光的光纖2的套管3 ;保持件6,用 于保持短光纖插忍4 ;及套筒7,用其中一端保持短光纖插忍4的頂端，用另一端可保持插入 于光插座1的插頭套管（其他的構(gòu)件）。在套管3的與插頭套管連接一側(cè)的端面5上，設(shè)置 有凹部（異物移動(dòng)抑制部）8,所述凹部（異物移動(dòng)抑制部）8用于收容因插頭套管的插拔而 從套管3的外周部朝向中屯、部移動(dòng)的異物，且相連成圓周狀。此外，適當(dāng)省略插入于光插座 1的插頭套管。
[0051] 適合于套管3的材質(zhì)可列舉有陶瓷、玻璃等，但在本實(shí)施例中，使用了氧化錯(cuò)陶 瓷，并在形成于其中屯、部的通孔內(nèi)粘接固定光纖2,將與插頭套管光學(xué)連接的一端研磨成曲 率半徑R為R7~R25的凸球面而形成端面5。另外，在光插座I的組裝中，短光纖插忍4被 壓入固定到保持件6。
[0052] 適合于套筒7的材質(zhì)可列舉有樹脂、金屬、陶瓷等，但在本實(shí)施例中，使用了在全 長(zhǎng)方向上具有切縫的氧化錯(cuò)陶瓷制的開口套筒。套筒7構(gòu)成為用其中一端保持短光纖插忍 4的研磨成凸球面的頂端部，用另一端保持插入于光插座1的插頭套管。
[0053] 通常，為了防止因在插頭套管及光插座1內(nèi)的短光纖插忍4的光纖忍線上存在有 異物而或是導(dǎo)致產(chǎn)生損失，或是產(chǎn)生劃傷，而在初次將插頭套管插入于光插座1之前進(jìn)行 短光纖插忍4的凸球面狀的端面5的清掃。然而，由于短光纖插忍4的連接插頭套管的凸 球面狀的端面5存在于被套筒7、保持件6覆蓋且在深處的位置上，因此難W將存在于該端 面5的異物完全從光插座1內(nèi)去除，而是將其移動(dòng)到凸球面狀的端面5的外周部。
[0054] 另外，短光纖插忍4的與插頭套管連接的凸球面狀的端面5因在被清掃時(shí)與吹氣 的空氣的摩擦等而帶電。在此，當(dāng)將插頭套管與短光纖插忍4連接時(shí)，則由于在包含光纖2 的中屯、部上比該外周部更密合，因此在插頭套管和短光纖插忍4之間產(chǎn)生從外周部朝向中 屯、部的電場(chǎng)。 陽化5] 存在于短光纖插忍4的凸球面狀的端面5的外周部的異物此后也因清掃等而帶 電。因此，通過因插頭套管與短光纖插忍4的連接而產(chǎn)生的電場(chǎng)，前述的異物被從外周部朝 向中屯、部吸引，并進(jìn)行移動(dòng)。于是，因異物附著在處于短光纖插忍4的凸球面狀的端面5的 中屯、的光纖2的忍線上，而導(dǎo)致產(chǎn)生損失。
[0056] 對(duì)此，在圖1所示的本發(fā)明的第1實(shí)施方式中，由于在短光纖插忍4的與插頭套管 連接的凸球面狀的端面5上設(shè)置有用于收容異物的凹部8,因此能夠防止在將插頭套管反 復(fù)插拔于光插座1的過程中因附著于短光纖插忍4的外周部的異物向中央部5a移動(dòng)而產(chǎn) 生的損失。
[0057] 另外，在光插座1中插入有插頭套管的狀態(tài)下，當(dāng)在插頭套管上作用有橫向負(fù) 荷時(shí)，則因插頭套管的傾斜而在其與短光纖插忍4的中屯、軸上產(chǎn)生偏移，導(dǎo)致產(chǎn)生擺動(dòng) (Wiggle)損失。此時(shí)，在套筒7的其一端對(duì)短光纖插忍4進(jìn)行保持的長(zhǎng)度短的情況下，因插 頭套管的傾斜而產(chǎn)生的其與短光纖插忍4的中屯、軸的偏移變得更大，導(dǎo)致擺動(dòng)（Wiggle)損 失增大。
[0058] 對(duì)此，在圖1所示的本發(fā)明的第1實(shí)施方式中，由于充分地確保了套筒7對(duì)短光纖 插忍4進(jìn)行保持的長(zhǎng)度，因此能夠抑制擺動(dòng)（Wiggle)損失。
[0059] 由于凹部8相連成圓周狀，因此即使在異物從短光纖插忍4的外周部的任意方向 向中央部5a進(jìn)行移動(dòng)的情況下，也能夠切實(shí)地收容異物，從而防止損失的產(chǎn)生。 W60] 為了切實(shí)地收容異物，優(yōu)選凹部8的寬度及深度為0.ImmW上。
[0061] 圖2是本發(fā)明的第1實(shí)施方式中的在短光纖插忍的研磨成凸球面的端面上形成的 凹部的模式剖視圖。 如果凹部8具有一定W上的寬度及深度，則可W收容異物。然而為了在短光纖插忍4 的端面5上有效地、且經(jīng)濟(jì)地設(shè)置凹部8,優(yōu)選如圖2 (a)~圖2 (d)那樣使凹部8的剖視圖 成為四角形、V形狀、半圓、或隨著向底面前進(jìn)而寬度變細(xì)的各種形狀。
[0062]圖3是表示本發(fā)明的第2實(shí)施方式的光插座中的短光纖插忍的與插頭套管連接的 端面的模式圖。
[0063] 通常，插頭套管在被連接到光插座I時(shí)，通過在其后端設(shè)置的彈黃W-定的負(fù)荷 而被按壓于短光纖插忍4。將插頭套管按壓于短光纖插忍4的彈黃的負(fù)荷是根據(jù)IEC等國 際標(biāo)準(zhǔn)來確定的，如果插頭套管及短光纖插忍4的端面5同樣地滿足由國際標(biāo)準(zhǔn)確定的形 狀，則可W將兩者設(shè)定成切實(shí)地連接。 W64] 在本發(fā)明的第2實(shí)施方式中，相連成圓周狀的凹部8與區(qū)域9相比被形成在更外 側(cè)，所述區(qū)域9在將插頭套管插入于光插座1時(shí)存在有插頭套管與短光纖插忍4進(jìn)行接觸 的可能性。由此，在將插頭套管反復(fù)插拔于光插座1時(shí)，由于防止了短光纖插忍4的外周部 的異物移動(dòng)到短光纖插忍4的端面5的與插頭套管連接的區(qū)域9,因此插頭套管和短光纖插 忍4被切實(shí)地連接。 陽0化]在此，在將插頭套管插入于光插座1時(shí)存在有插頭套管與短光纖插忍4進(jìn)行接觸 的可能性的區(qū)域9是指從短光纖插忍4的中屯、部起9 250微米W內(nèi)的區(qū)域。
[0066] 圖4是本發(fā)明的第3實(shí)施方式中的形成于短光纖插忍端面的凹部的模式剖視圖。 由于通過使凹部8的內(nèi)面的表面粗糖度比套管3的端面5的凹部8W外的區(qū)域的表面 粗糖度更大，因而在將插頭套管反復(fù)插拔于光插座1的過程中，落下到凹部8的異物的整體 或一部分嵌入到在凹部8的內(nèi)面上形成的微小的凸凹8a，從而實(shí)現(xiàn)了錯(cuò)定效果，因此可W 更切實(shí)地將異物收容到凹部8內(nèi)。
[0067] 在此，當(dāng)考慮加工性時(shí)，則優(yōu)選凹部的內(nèi)面的表面粗糖度為算數(shù)平均粗糖度（Ra) 從0. 8微米到3. 2微米左右。當(dāng)算數(shù)平均粗糖度為3. 2微米W上時(shí)，則在W加工形成設(shè)置 于套管3的端面5的凹部（槽部）8時(shí)，在套管3上作用有較大的應(yīng)力，從而存在有W設(shè)置 于凹部8內(nèi)的微小的凸凹8a為基點(diǎn)而在套管3上產(chǎn)生裂紋的可能性。凹部8的表面粗糖 度可W用例如激光顯微鏡等來進(jìn)行測(cè)定。對(duì)凹部8的內(nèi)面的表面粗糖度的詳細(xì)內(nèi)容進(jìn)行后 述。
[0068] 作為在凹部8的內(nèi)面上形成微小的凸凹8a的方法，在通過加工來形成凹部8時(shí)， 認(rèn)為有使用表面粗糖的加工磨具的方法、或在形成后用噴砂等對(duì)凹部進(jìn)行粗糖化等的方 法。
[0069] 圖5是表示本發(fā)明的第4實(shí)施方式的表示短光纖插忍的與插頭套管連接一側(cè)的端 面的狀態(tài)的模式圖。 通過在短光纖插忍4的端面5上設(shè)置有多個(gè)相連成圓周狀的凹部，而在將插頭套管反 復(fù)插拔于光插座1的過程中，能夠更切實(shí)地收納從短光纖插忍4的外周部向中屯、部移動(dòng)的 異物。處于內(nèi)周側(cè)的第1凹部81、及處于外周側(cè)的第2凹部82的寬度、深度、及截面形狀不 需要是相同的。
[0070] 圖6是表示本發(fā)明的第5實(shí)施方式的光插座的模式剖視圖。 圖6(a)是表示本實(shí)施方式所設(shè)及的光插座的模式剖視圖。圖6(b)是表示本實(shí)施方式 的短光纖插忍的端面的模式剖視圖。
[0071]圖6(a)所示的光插座Ia所具備的構(gòu)件與第1實(shí)施方式相同。與插頭套管連接一 側(cè)的短光纖插忍4的端面5的中央部5a被研磨成凸球面狀。凸球面的曲率半徑為R7~ R25。在短光纖插忍的端面5上，在研磨成凸球面狀的中央部5a的外側(cè)上設(shè)置有外側(cè)部（異 物移動(dòng)抑制部：第1部分）11。外側(cè)部11的表面粗糖度被形成為比中央部5a的表面粗糖 度更大，W便抑制從外周部側(cè)朝向中央部5a移動(dòng)的異物的移動(dòng)。此外，適當(dāng)省略插入于光 插座的插頭套管。
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