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      金剛石電極及其制造方法

      文檔序號(hào):9519631閱讀:1722來(lái)源:國(guó)知局
      金剛石電極及其制造方法【
      技術(shù)領(lǐng)域
      】[0001]本發(fā)明涉及金剛石電極及其制造方法,更詳細(xì)而言,涉及利用化學(xué)氣相沉積(ChemicalVaporDeposition,CVD)的商用金剛石電極及其制造方法。【
      背景技術(shù)
      】[0002]作為利用化學(xué)氣相沉積(ChemicalVaporDeposition,CVD)工藝的導(dǎo)電性金剛石薄膜的形成方法,已知利用熱燈絲CVD、微波等離子體CVD等的方法。[0003]純金剛石作為具有5.2eV帶隙(bandgap)半導(dǎo)體,因幾乎沒(méi)有導(dǎo)電性而無(wú)法用作電極。然而,如果在形成金剛石薄膜時(shí)添加微量硼(B)或磷(P)等,則因形成導(dǎo)電性金剛石膜而能夠用作電極。近年來(lái),硼摻雜金剛石薄膜電極(BoronDopedDiamondElectrode,BDD電極)成為主流。[0004]BDD電極由于電位窗口寬,且與其他電極相比產(chǎn)生氧的過(guò)電壓高,因此在利用電化學(xué)方法來(lái)處理水的領(lǐng)域中非常有用。特別是當(dāng)將BDD電極與被稱為DSA(DimensionallyStableAnode,尺寸穩(wěn)定陽(yáng)極)電極的不溶性電極進(jìn)行比較時(shí),在電極表面氫氧自由基(0H)和臭氧(03)的產(chǎn)生量極高,從而作為水處理用電極非常有用。[0005]進(jìn)一步,在將BDD電極用于水處理用電極的情況下,產(chǎn)生氫氧自由基(0H)、臭氧(〇3)、過(guò)氧化氫(H202)等氧化劑,除此以外,在包含氯(Cl2)的電解液中,還產(chǎn)生像次氯酸離子(0C1-)-樣的強(qiáng)氧化劑,從而能夠有效應(yīng)用于電化學(xué)廢水處理、電化學(xué)凈水處理、船舶平衡水處理等領(lǐng)域。[0006]另一方面,大部分BDD電極與其他薄膜的形成過(guò)程一樣,存在如下缺點(diǎn):在成膜時(shí)會(huì)存在針孔,因形成后的薄膜的應(yīng)力而與基板的密合力降低,在形成無(wú)定形碳或石墨相的薄膜的情況下,在電解環(huán)境中的壽命差。此外,隨著電解工序進(jìn)行,由于電極自身產(chǎn)生的熱或電解液的溫度以及化學(xué)腐蝕等會(huì)使薄膜發(fā)生剝離等,因此可能更加縮短BDD電極的壽命。[0007]此外,以往為了彌補(bǔ)成膜后的BDD電極的針孔等缺陷,提出了對(duì)基板的表面進(jìn)行氟化處理的方法(專利文獻(xiàn)1),但由于追加所謂的氟化處理工序,因此整體上延長(zhǎng)BDD電極的制造時(shí)間而使生產(chǎn)性降低,產(chǎn)生額外費(fèi)用,從這些方面考慮,存在BDD電極的產(chǎn)業(yè)利用只能受限的缺點(diǎn)。[0008]此外,以往對(duì)于金剛石薄膜的形成,提出了如下方法:形成包含性質(zhì)不同的層的多個(gè)金剛石層,將最表層的金剛石層的厚度形成為20μm以上(專利文獻(xiàn)2)。據(jù)此,在涂布相對(duì)厚膜的金剛石層的情況下,有可能因拉伸應(yīng)力而產(chǎn)生薄膜剝離的問(wèn)題。為了解決這樣的問(wèn)題,提出了在基板的反面也進(jìn)行成膜的方案,但由于利用CVD法的BDD電極的成膜速度僅為0.1~0.7μπι/hr水平,因此存在如下問(wèn)題:如果欲形成20μπι以上的薄膜時(shí),則需要100小時(shí)左右的成膜工序。[0009]此外,為了解決上述問(wèn)題,以往提出了在初期成膜時(shí),形成低品質(zhì)的金剛石薄膜,僅在最表層形成高品質(zhì)的金剛石薄膜的方案。然而,由于利用常規(guī)CVD法的BDD電極的成膜速度為0.1~0.7μm/hr水平,因此成膜時(shí)間過(guò)長(zhǎng)而難以實(shí)際應(yīng)用。目前為止,雖然有成膜速度與投入的氣體的總量在一定程度上成比例的趨勢(shì),但仍然未知以每小時(shí)數(shù)μm水平進(jìn)行成膜的方法。這樣,僅在最表層成膜高品質(zhì)的金剛石薄膜的方法也仍然存在難以將其有效應(yīng)用于產(chǎn)業(yè)的問(wèn)題。[0010]現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)[0011]專利文獻(xiàn)[0012]專利文獻(xiàn)1:韓國(guó)公開(kāi)專利公報(bào)第10-2006-0051632號(hào)(2006.05.19)[0013]專利文獻(xiàn)2:韓國(guó)公開(kāi)專利公報(bào)第10-2011-0073461號(hào)(201L06.29)【
      發(fā)明內(nèi)容】[0014]所要解決的課題[0015]本發(fā)明為了解決上述問(wèn)題而做出的,其目的在于提供一種金剛石電極的制造方法,該制造方法利用化學(xué)氣相沉積(ChemicalVaporDeposition,CVD)工藝,通過(guò)控制在鈮(Nb)基板上形成導(dǎo)電性金剛石薄膜的工序,能夠制造具有優(yōu)異特性和長(zhǎng)壽命的金剛石電極。[0016]此外,本發(fā)明的另一目的在于提供一種金剛石電極,其利用上述制造方法來(lái)制造。[0017]解決課題的方法[0018]為了解決上述課題,本發(fā)明的一個(gè)方面涉及金剛石電極的制造方法,其特征在于,在形成導(dǎo)電性金剛石薄膜之前,首先向腔室內(nèi)注入碳源氣體而在基板的表面形成碳化物薄膜,之后,調(diào)節(jié)投入的氫氣、碳源氣體和硼源氣體的投入比率來(lái)調(diào)整金剛石晶體的大小,并且以既定厚度至少分2次以上形成導(dǎo)電性金剛石薄膜。[0019]本發(fā)明的另一方面涉及金剛石電極,其包含基板、基板上的碳化涂層、碳化涂層上的第1導(dǎo)電性金剛石薄膜以及與第1導(dǎo)電性金剛石薄膜具有相同性質(zhì)的第1導(dǎo)電性金剛石薄膜上的第2導(dǎo)電性金剛石薄膜。[0020]本發(fā)明的又另一方面涉及金剛石電極,其包含賦予粗糙度的鈮基板、基板上的碳化鈮涂層、碳化鈮涂層上的第1導(dǎo)電性金剛石薄膜、第1導(dǎo)電性金剛石薄膜內(nèi)的針孔以及第1導(dǎo)電性金剛石薄膜和針孔上的第2導(dǎo)電性金剛石薄膜。[0021]在一個(gè)實(shí)施方式中,第1導(dǎo)電性金剛石薄膜的厚度為2μπι以下,優(yōu)選為1~2μπι。[0022]發(fā)明效果[0023]根據(jù)本發(fā)明,在金剛石電極的制造中,能夠提供一種金剛石電極及其制造方法,所述金剛石電極無(wú)關(guān)針孔產(chǎn)生與否均能夠在將電極特性最大化的同時(shí)確保長(zhǎng)時(shí)間的壽命?!靖綀D說(shuō)明】[0024]圖1是根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方式的金剛石電極的制造方法的流程圖。[0025]圖2是利用圖1的金剛石電極的制造方法制造的金剛石電極的截面圖。[0026]附圖標(biāo)記說(shuō)明[0027]11:成為基板的鈮(Nb)板[0028]12:形成于基板的碳化銀(NbC)層[0029]13:在基板上1次成膜的導(dǎo)電性金剛石(BDD)層[0030]14:1次BDD層成膜時(shí)產(chǎn)生的針孔[0031]15:2次成膜的800層【具體實(shí)施方式】[0032]以下,參照附圖對(duì)根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施方式進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明。[0033]圖1是根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方式的金剛石電極的制造方法的流程圖。[0034]參照?qǐng)D1,根據(jù)本實(shí)施方式的金剛石電極的制造方法包括如下工序:賦予基板粗糙度的步驟S11;對(duì)基板進(jìn)行碳化處理的步驟S12;控制投入氣體的混合比率的步驟S13;和導(dǎo)電性金剛石薄膜的分次成膜步驟S14。[0035]以下,對(duì)各個(gè)工序進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明。[0036]賦予基板耜糙度的步驟S11[0037]-般而言,對(duì)基板實(shí)施打磨(sanding)處理或利用酸的蝕刻(etching)來(lái)向基板表面賦予粗糙度(roughness)作為提高基板與涂膜間的密合力的技術(shù)已得到廣泛利用,不僅目前提供的不溶性電極的情況,對(duì)所有基板表面均可賦予粗糙度。[0038]特別是在導(dǎo)電性金剛石(硼摻雜金剛石,BDD)電極的情況下,不僅提高基板與薄膜的密合力,而且在電解工序中確保電極的活性面積的方面也有效。[0039]依據(jù)現(xiàn)有研究,Ti/Pb02電極的活性面積是不考慮粗糙度的真實(shí)面積的85%水平,在BDD電極的情況下,為15~26%,相對(duì)于真實(shí)面積的諸如氫氧自由基(0H)和臭氧(03)之類的氧化劑的產(chǎn)生量存在差異。據(jù)報(bào)導(dǎo),這可能是由電極的活性面積引起的(SimSujin,首爾大學(xué)博士學(xué)位論文"電化學(xué)水處理工藝中影響氧化劑產(chǎn)生的二氧化鉛電極的特性",2013)〇[0040]在本實(shí)施方式中,以利用市售的#150氧化錯(cuò)(BrownAluminumOxide,粒度106~75μm)和#16氧化錯(cuò)(粒度(grainsize),1,400~1,180μm)進(jìn)行打磨處理的基板和未進(jìn)行打磨處理的基板作為對(duì)象制造BDD電極,并實(shí)施壽命評(píng)價(jià)。[0041]表1是本實(shí)施方式所提出的BDD制造工藝中未考慮其他變量而僅以是否打磨為基準(zhǔn)實(shí)施壽命評(píng)價(jià)的結(jié)果。[0042][表1][0044]在表1中,用于壽命評(píng)價(jià)的試驗(yàn)條件為:使用以1L:3L:27L的比率將99.5%乙腈(CH3CN)、98%硫酸(H2S04)、蒸餾水混合而得的電解液,電流密度ΙΟΟΑ/dm2,陽(yáng)極為#150打磨的BDD、#16打磨的BDD、未打磨的BDD,陰極使用鉑(Pt)電極,電極間距離保持3mm,使用電極的大小均為3mmX5mm的電極進(jìn)行試驗(yàn)。[0045]壽命判斷以電壓上升為基準(zhǔn)進(jìn)行,考慮到初期電壓為5.0~5.2V,電解中電壓達(dá)到7V時(shí)判斷為壽命結(jié)束。[0046]如表1所示,確認(rèn)到與未賦予粗糙度的情況相比,賦予基板粗糙度提高28%~69%的壽命,對(duì)于多種尺寸的打磨介質(zhì)的實(shí)驗(yàn)結(jié)果是,打磨介質(zhì)的粒度尺寸為75~200μm時(shí)為佳,更優(yōu)選為100~150μm左右的情況。[0047]對(duì)基板講行碳化處理的步驟S12[0048]就電極而言,在電解氛圍下,因化學(xué)侵蝕、劣化等原因會(huì)使基板發(fā)生腐蝕,并且因薄膜發(fā)生損傷或損耗而使壽命降低。此外,在形成薄膜的過(guò)程中,如果存在針孔,則會(huì)因基板直接暴露于電解液而使壽命降低現(xiàn)象加速,而且會(huì)使基板與薄膜間的密合力減弱而對(duì)電極壽命產(chǎn)生不良影響??紤]到這方面,在以往不溶性電極的情況下,嘗試過(guò)利用形成中間層的方法來(lái)抑制基板直接暴露于電解液的現(xiàn)象或提高基板與薄膜間的密合力(JP60-21232B,JP2761751B,US2009/0246410A1等)。但是,這種嘗試主要涉及鉑系金屬氧化物電極(諸如Ti/Ir02電極等的DSA電極),BDD電極成膜時(shí)難以應(yīng)用。[0049]另一方面,在根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施方式中,利用熱燈絲化學(xué)氣相沉積(HotFilamentChemicalVaporD印osition,HFCVD)工藝制造BDD電極,分別使用甲烷(CH4)作為碳源、使用TMB(三甲基硼,C3H9B)氣體作為硼源、使用氫氣(?)作為載氣(carriergas)來(lái)改善BDD電極的性能。[0050]在此,優(yōu)選上述TMB氣體是TMB與氫的混合氣體,在全體混合氣體中,TMP具有0·1%體積(0·1%C3H9B/H2bal)[0051]S卩,已知如果用于形成導(dǎo)電性金剛石薄膜的準(zhǔn)備結(jié)束,則進(jìn)行通過(guò)加熱燈絲使碳熱解而使其形成金剛石相晶體結(jié)構(gòu)的工序,此時(shí),將硼源氣體一同注入,使硼以1〇〇~10,OOOppm程度進(jìn)行摻雜,從而形成導(dǎo)電性金剛石薄膜。以此為基礎(chǔ),在本實(shí)施方式中插入如下工序:在燈絲被加熱至適當(dāng)?shù)臏囟榷_(dá)到能夠形成導(dǎo)電性金剛石薄膜的工藝條件的過(guò)程中,優(yōu)先投入氫氣和甲烷氣體,從而在鈮基板(圖2的11)的表面首先形成碳化鈮涂層。[0052]如果在基板上首先碳化物成膜或形成涂層,則具有能夠抑制基板與電解液直接接觸的現(xiàn)象的效果,同時(shí)因碳化物的作用,產(chǎn)生基板與金剛石薄膜間的密合力也提高的效果。[0053]在本實(shí)施方式中,進(jìn)行10~30分鐘的碳化涂層形成工序來(lái)形成100nm左右的碳化鈮涂層,但不限于此。此外,在本實(shí)施方式中,使用鈮基板作為基板,但不限于這種基板。即,不排除將其當(dāng)前第1頁(yè)1 2 
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