1.一種LED芯片老化測(cè)試裝置，包括：設(shè)置有多個(gè)LED芯片檢測(cè)工位的老化架，以及用于對(duì)所述檢測(cè)工位供電的電源線路，其特征在于，所述LED芯片老化測(cè)試裝置還包括：容置所述老化架的封閉式集熱腔，以及安裝于所述集熱腔內(nèi)部的抽真空系統(tǒng)。
2.如權(quán)利要求1所述的LED芯片老化測(cè)試裝置，其特征在于，所述LED芯片老化測(cè)試裝置還包括：設(shè)置于所述集熱腔中的溫度傳感器、通風(fēng)系統(tǒng)，以及分別與所述溫度傳感器及所述通風(fēng)系統(tǒng)相連以當(dāng)所述溫度傳感器感應(yīng)所得實(shí)時(shí)溫度大于預(yù)設(shè)安全溫度時(shí)開(kāi)啟所述通風(fēng)系統(tǒng)的控制器。
3.如權(quán)利要求2所述的LED芯片老化測(cè)試裝置，其特征在于，所述通風(fēng)系統(tǒng)為可活動(dòng)蓋合或打開(kāi)所述集熱腔側(cè)壁上的通風(fēng)孔的通風(fēng)蓋。
4.如權(quán)利要求1所述的LED芯片老化測(cè)試裝置，其特征在于，所述集熱腔中設(shè)置有與所述老化架對(duì)接安裝的支撐架。
5.如權(quán)利要求1所述的LED芯片老化測(cè)試裝置，其特征在于，所述抽真空系統(tǒng)為空氣泵。
6.如權(quán)利要求1所述的LED芯片老化測(cè)試裝置，其特征在于，所述電源線路為電源排線。