技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了一種用于測試集成電路的探針卡，包括探針座和檢測電路板，所述探針上成型有止擋部，止擋部的下端抵靠在一彈性袋殼上，所述彈性袋殼中填充有氣體，彈性袋殼上成型有出氣口，所述出氣口上鉸接有密封門，密封門一側(cè)的探針孔側(cè)壁上成型有通氣槽，通氣槽的側(cè)壁上設(shè)有氣推活塞塊，所述氣推活塞塊將通氣槽分隔為通氣區(qū)和復(fù)位區(qū)，所述復(fù)位區(qū)內(nèi)設(shè)有復(fù)位彈簧，所述復(fù)位彈簧的一端壓靠在氣推活塞塊上、另一端壓靠在通氣槽的端部內(nèi)側(cè)壁上；所述探針孔內(nèi)插接有豎直的導(dǎo)電片，所述導(dǎo)電片的上端活動連接在止擋部上、下端連接在檢測電路板上。本發(fā)明結(jié)構(gòu)簡單，制造及組裝方便，同時能避免傳統(tǒng)探針卡內(nèi)彈簧機(jī)械疲勞失效而造成接觸不良。

技術(shù)研發(fā)人員：王文慶
受保護(hù)的技術(shù)使用者：王文慶
文檔號碼：201610708292
技術(shù)研發(fā)日：2016.08.23
技術(shù)公布日：2017.02.15