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      芯片的無(wú)線測(cè)試電路及無(wú)線測(cè)試方法與流程

      文檔序號(hào):12592331閱讀:來源:國(guó)知局
      技術(shù)總結(jié)
      本發(fā)明提供一種芯片的無(wú)線測(cè)試電路,包括測(cè)試機(jī)臺(tái)電路和芯片內(nèi)電路;所述測(cè)試機(jī)臺(tái)電路包括機(jī)臺(tái)控制電路單元、機(jī)臺(tái)測(cè)試啟動(dòng)單元、機(jī)臺(tái)采樣電路單元、機(jī)臺(tái)端NFC控制電路單元以及機(jī)臺(tái)端NFC線圈;所述芯片內(nèi)電路包括芯片端NFC線圈、芯片端NFC控制電路單元、測(cè)試激勵(lì)產(chǎn)生電路單元、logic_scan_chain單元、存儲(chǔ)單元Memory、scan測(cè)試響應(yīng)判斷電路單元以及MBIST測(cè)試響應(yīng)判斷電路單元。測(cè)試時(shí),所述測(cè)試機(jī)臺(tái)電路發(fā)送測(cè)試啟動(dòng)命令給所述芯片內(nèi)電路;所述芯片內(nèi)電路產(chǎn)生測(cè)試激勵(lì)對(duì)芯片進(jìn)行測(cè)試,包括對(duì)芯片的邏輯電路進(jìn)行掃描和memory?bist測(cè)試;測(cè)試結(jié)果再通過NFC無(wú)線發(fā)送至所述測(cè)試機(jī)臺(tái)電路。本發(fā)明可以在不需要物理連接的情況下進(jìn)行芯片驗(yàn)證和測(cè)試。

      技術(shù)研發(fā)人員:廖裕民
      受保護(hù)的技術(shù)使用者:福州瑞芯微電子股份有限公司
      文檔號(hào)碼:201610769377
      技術(shù)研發(fā)日:2016.08.30
      技術(shù)公布日:2017.01.11

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