1.一種過壓檢測電路，其特征在于，所述過壓檢測電路包括一端與電壓輸出端連接的第一電阻以及與所述第一電阻串聯(lián)的第二電阻，且所述第二電阻的另一端接地；
所述過壓檢測電路還包括第三電阻以及可控精密穩(wěn)壓源，所述第三電阻的一端與所述電壓輸出端連接，所述第三電阻的另一端與所述可控精密穩(wěn)壓源的陰極連接，且所述可控精密穩(wěn)壓源的陽極接地，所述可控精密穩(wěn)壓源的參考極與所述第一電阻和所述第二電阻的連接端連接；
所述過壓檢測電路還包括輸入端與所述第三電阻并聯(lián)的光耦，所述光耦的陰極與所述可控精密穩(wěn)壓源的陰極連接，所述光耦的發(fā)射極接地，所述光耦的集電極與電源管理芯片的Latch端口連接。
2.如權(quán)利要求1所述的過壓檢測電路，其特征在于，所述過壓檢測電路還包括與所述第三電阻串聯(lián)的第四電阻，所述第四電阻的另一端與所述電壓輸出端連接。
3.如權(quán)利要求1所述的過壓檢測電路，其特征在于，所述過壓檢測電路還包括一端與所述光耦的集電極連接的第五電阻，所述第五電阻的另一端與所述電源管理芯片的Latch端口連接。
4.如權(quán)利要求1所述的過壓檢測電路，其特征在于，所述過壓檢測電路還包括陰極與所述光耦的集電極連接的穩(wěn)壓二極管，所述穩(wěn)壓二極管的陽極接地。
5.如權(quán)利要求1所述的過壓檢測電路，其特征在于，所述可控精密穩(wěn)壓源為TL432芯片。
6.一種過壓檢測電路，其特征在于，所述過壓檢測電路包括一端與電壓輸出端連接的第一電阻以及與所述第一電阻串聯(lián)的第二電阻，且所述第二電阻的另一端接地；
所述過壓檢測電路還包括第三電阻以及可控精密穩(wěn)壓源，所述第三電阻一端與所述電壓輸出端連接，所述第三電阻的另一端與所述可控精密穩(wěn)壓源的陰極連接，且所述可控精密穩(wěn)壓源的陽極接地，所述可控精密穩(wěn)壓源的參考極與所述第一電阻和所述第二電阻的連接端連接；
所述過壓檢測電路還包括輸入端線圈與所述第三電阻并聯(lián)的繼電器，所述繼電器的負(fù)極與所述可控精密穩(wěn)壓源的陰極連接，所述繼電器常開觸點的一端接地，所述繼電器常開觸點的另一端與電源管理芯片的Latch端口連接。
7.如權(quán)利要求6所述的過壓檢測電路，其特征在于，所述過壓檢測電路還包括與所述第三電阻串聯(lián)的第四電阻，所述第四電阻的另一端與所述電壓輸出端連接。
8.如權(quán)利要求6所述的過壓檢測電路，其特征在于，所述過壓檢測電路還包括一端與所述繼電器常開觸點的一端連接的第五電阻，所述第五電阻的另一端與所述電源管理芯片的Latch端口連接。
9.如權(quán)利要求6所述的過壓檢測電路，其特征在于，所述過壓檢測電路還包括陰極與所述繼電器常開觸點的一端連接的穩(wěn)壓二極管，所述穩(wěn)壓二極管的陽極接地。
10.如權(quán)利要求6所述的過壓檢測電路，其特征在于，所述可控精密穩(wěn)壓源為TL432芯片。
11.一種電子裝置，其特征在于，所述電子裝置包括反激式開關(guān)電源電路及負(fù)載，以及與所述反激式開關(guān)電源負(fù)載并聯(lián)的過壓檢測電路，所述過壓檢測電路的一端與所述反激式開關(guān)電源的電壓輸出端連接，所述過壓檢測電路的另一端與所述反激式開關(guān)電源中的電源管理芯片的Latch端口連接。
12.一種過壓檢測電路的方法，所述過壓檢測電路的方法基于前述權(quán)利要求1至11任一項的過壓檢測電路，其特征在于，所述方法包括：
將待檢測的電壓輸出端和電源管理芯片的Latch端口接入所述過壓檢測電路；
在所述電壓輸出端的電壓高于與所述過壓檢測電路的可控精密穩(wěn)壓源的導(dǎo)通電壓對應(yīng)的門限值時，所述過壓檢測電路的可控精密穩(wěn)壓源的陽極和陰極導(dǎo)通；
第三電阻上有電流通過，與所述第三電阻并聯(lián)的光耦/繼電器導(dǎo)通，通過第五電阻向所述電源管理芯片的Latch端口傳遞電信號；
所述電源管理芯片根據(jù)所述Latch端口接收到的電信號判定所述電壓輸出端過壓。