1.一種粒子輻照試樣電導(dǎo)率的測試方法，其特征在于，包括以下步驟：
1)提供粒子輻照試樣，粒子輻照試樣包括已經(jīng)受輻照的輻照層和未經(jīng)輻照的基體層；
2)將粒子輻照試樣的輻照層固定于絕緣基座中；
3)自粒子輻照試樣的基體層一側(cè)開始逐層打磨去除基體層，直至僅保留粒子輻照試樣的輻照層；以及
4)測試輻照層的電導(dǎo)率，獲得粒子輻照試樣的電導(dǎo)率。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試方法，其特征在于，步驟2)中，所述絕緣基座為環(huán)氧樹脂基座，所述粒子輻照試樣的輻照層通過低溫熔融固定于環(huán)氧樹脂基座上。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試方法，其特征在于，步驟2)中，所述環(huán)氧樹脂含有磷苯二甲酸二丁脂和雙酚A型環(huán)樹脂。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試方法，其特征在于，步驟2)中，所述環(huán)氧樹脂在不超過300℃的溫度下融化。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試方法，其特征在于，步驟3)中，打磨去除基體層時(shí)，逐漸更換高目數(shù)的砂紙并采用精細(xì)打磨方式打磨。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試方法，其特征在于，步驟3)中，打磨至接近輻照層時(shí)，更換的砂紙為至少1000目，最好為2000目。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試方法，其特征在于，步驟4)中，通過四引線法測試粒子輻照試樣的電導(dǎo)率。
8.根據(jù)權(quán)利要求1至7中任一項(xiàng)所述的測試方法，其特征在于，所述粒子輻照試樣為離子輻照試樣或質(zhì)子輻照試樣。
9.一種粒子輻照試樣電阻率的測試方法，其特征在于，在權(quán)利要求8所述的測試方法的步驟4)之后，將獲得的電導(dǎo)率的倒數(shù)作為粒子輻照試樣的電阻率。