1.一種IGBT及FRD芯片動態(tài)測試夾具，其特征是：在殼體（20）內(nèi)固定有隔板（19），在隔板（19）上開設(shè)有抽氣口，在隔板（19）上設(shè)有芯片吸腔（4），在芯片吸腔（4）的上腔板上開設(shè)有負(fù)壓吸口，隔板（19）上方的殼體（20）上安裝有惰性氣體輸入接口（11）、惰性氣體輸出接口（12）與負(fù)母排端口（15），在芯片吸腔（4）上方設(shè)有可插拔測試探針（5）與柵極測試探針（7），可插拔測試探針（5）的連接線從負(fù)母排端口（15）接出，在隔板（19）下方的殼體（20）上安裝有抽氣管（18）、正母排端口（14）與通訊控制保護(hù)接口（13），正母排端口（14）的連接線接在芯片吸腔（4）的上腔板上，抽氣管（18）通過抽氣口與芯片吸腔（4）相連，在隔板（19）下方的殼體（20）內(nèi)設(shè)有驅(qū)動板（3），驅(qū)動板（3）與柵極測試探針（7）相連，由驅(qū)動板（3）的平移帶動?xùn)艠O測試探針（7）的平移，在隔板（19）下方設(shè)有陪測功率器件（2），在陪測功率器件（2）上安裝有第一負(fù)載電感插孔（16.1）與第二負(fù)載電感插孔（16.2）。
2.如權(quán)利要求1所述的IGBT及FRD芯片動態(tài)測試夾具，其特征是：在所述芯片吸腔4上方設(shè)有第一可調(diào)刻度盤（9）、長度可調(diào)刻度桿（8）與連接桿（17），長度可調(diào)刻度桿（8）的上端部安裝在第一可調(diào)刻度盤（9）上，連接桿（17）轉(zhuǎn)動安裝在長度可調(diào)刻度桿（8）的下端部，可插拔測試探針（5）安裝在連接桿（17）的下端部。
3.如權(quán)利要求1所述的IGBT及FRD芯片動態(tài)測試夾具，其特征是：在所述隔板（19）上方的殼體（20）內(nèi)設(shè)有第二可調(diào)刻度盤（10），柵極測試探針（7）與第二可調(diào)刻度盤（10）相連，第二可調(diào)刻度盤（10）與驅(qū)動板（3）相連。