本實(shí)用新型涉及一種電路測(cè)試裝置,尤其涉及一種適用于QFP封裝集成電路的測(cè)試裝置。
背景技術(shù):
QFP(Quad Flat Package)為四側(cè)引腳扁平封裝,是表面貼裝型封裝之一,引腳從四個(gè)側(cè)面引出呈海鷗翼(L)型。具有QFP封裝的集成電路芯片在出廠前需要進(jìn)行測(cè)試,而現(xiàn)有對(duì)QFP封裝集成電路的測(cè)試裝置要么結(jié)構(gòu)較為復(fù)雜,要么操作起來(lái)不是很方便,而且成本也較高,因此有必要研發(fā)一種新型的適用于QFP封裝集成電路的測(cè)試裝置,以對(duì)QFP封裝集成電路進(jìn)行有效地測(cè)試。
有鑒于上述的缺陷,本設(shè)計(jì)人,積極加以研究創(chuàng)新,以期創(chuàng)設(shè)一種新型結(jié)構(gòu)的適用于QFP封裝集成電路的測(cè)試裝置。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
為解決上述技術(shù)問(wèn)題,本實(shí)用新型的目的是提供一種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、成本較小且操作簡(jiǎn)便的適用于QFP封裝集成電路的測(cè)試裝置。
本實(shí)用新型的適用于QFP封裝集成電路的測(cè)試裝置,包括底板和蓋板,所述蓋板的一側(cè)鉸接在底板上,所述底板的上表面上開(kāi)設(shè)有矩形的第一容置槽,并且底板的上表面上沿所述第一容置槽的四條邊依次開(kāi)設(shè)有四個(gè)矩形的第二容置槽,所述第一容置槽與第二容置槽相通,所述第二容置槽內(nèi)設(shè)有支撐板,所述支撐板與第二容置槽底面之間設(shè)有第一彈性裝置,所述第一彈性裝置的頂端與支撐板的下表面接觸,第一彈性裝置的底端與第二容置槽的底面接觸,所述第一容置槽的底面上設(shè)有矩形的支撐臺(tái),所述蓋板下表面對(duì)應(yīng)第二容置槽處設(shè)有壓板,所述壓板的頂端固定設(shè)置在蓋板的下面上,壓板的底端設(shè)有與QFP封裝集成電路引腳相適配的金屬電極,所述蓋板的側(cè)面上設(shè)有與所述金屬電極電連接的接口,所述接口用于與外部測(cè)試主機(jī)連接。
進(jìn)一步的,本實(shí)用新型的適用于QFP封裝集成電路的測(cè)試裝置,所述蓋板的右側(cè)面上開(kāi)設(shè)有第三容置槽,所述第三容置槽內(nèi)設(shè)有第二彈性裝置,所述第二彈性裝置的一端與蓋板連接,第二彈性裝置的另一端與固定板連接,所述固定板的上部鉸接在蓋板上,固定板底端突伸出蓋板的下表面,并且固定板底端的內(nèi)側(cè)面上設(shè)有限位塊,所述底板右側(cè)面上對(duì)應(yīng)限位塊處開(kāi)設(shè)有與所述限位塊適配的限位槽。
進(jìn)一步的,本實(shí)用新型的適用于QFP封裝集成電路的測(cè)試裝置,所述第一彈性裝置和第二彈性裝置分別為彈簧。
進(jìn)一步的,本實(shí)用新型的適用于QFP封裝集成電路的測(cè)試裝置,所述蓋板的上表面上設(shè)有把手。
進(jìn)一步的,本實(shí)用新型的適用于QFP封裝集成電路的測(cè)試裝置,所述底板和蓋板分別由塑料制成。
借由上述方案,本實(shí)用新型至少具有以下優(yōu)點(diǎn):本實(shí)用新型的適用于QFP封裝集成電路的測(cè)試裝置,蓋板鉸接在底板上,并通過(guò)限位塊與限位槽可開(kāi)合地與底板連接,底板表面設(shè)有矩形的第一容置槽,其四周設(shè)有矩形的第二容置槽,第一容置槽內(nèi)設(shè)有支撐臺(tái),第二容置槽內(nèi)設(shè)有支撐板,支撐板與第二容置槽之間設(shè)有第一彈性裝置,蓋板的下表面設(shè)有壓板,壓板的底端設(shè)置有與接口連接的呈梳狀分部的多個(gè)金屬電極,具體使用時(shí),操作人員將具有QFP封裝的集成電路芯片放置在第一容置槽的支撐臺(tái)上,并使得其引腳與位于第二容置槽內(nèi)的支撐板接觸,然后操作人員合上蓋板,蓋板底面上的壓板便與第二容置槽內(nèi)的引腳接觸,同時(shí)將支撐臺(tái)向下壓,從而將集成電路芯片的引腳固定設(shè)置在壓板與支撐板之間,此時(shí)壓板底端的金屬電極與集成電路芯片引腳緊密接觸,接著操作人員將外部的測(cè)試主機(jī)通過(guò)接口與集成電路連接,從而實(shí)現(xiàn)對(duì)QFP封裝集成電路芯片的測(cè)試,與現(xiàn)有的測(cè)試裝置相比,本實(shí)用新型的適用于QFP封裝集成電路的測(cè)試裝置其結(jié)構(gòu)更簡(jiǎn)單、成本更較小且操作簡(jiǎn)便。
上述說(shuō)明僅是本實(shí)用新型技術(shù)方案的概述,為了能夠更清楚了解本實(shí)用新型的技術(shù)手段,并可依照說(shuō)明書(shū)的內(nèi)容予以實(shí)施,以下以本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例并配合附圖詳細(xì)說(shuō)明如后。
附圖說(shuō)明
圖1是本實(shí)用新型適用于QFP封裝集成電路的測(cè)試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2是圖1中A部的局部放大圖;
圖3是用于QFP封裝集成電路的測(cè)試裝置的底板的俯視圖。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合附圖和實(shí)施例,對(duì)本實(shí)用新型的具體實(shí)施方式作進(jìn)一步詳細(xì)描述。以下實(shí)施例用于說(shuō)明本實(shí)用新型,但不用來(lái)限制本實(shí)用新型的范圍。
參見(jiàn)圖1至圖3,本實(shí)用新型一較佳實(shí)施例的一種適用于QFP封裝集成電路的測(cè)試裝置,包括底板1和蓋板2,蓋板的一側(cè)鉸接在底板上,底板的上表面上開(kāi)設(shè)有矩形的第一容置槽3,并且底板的上表面上沿第一容置槽的四條邊依次開(kāi)設(shè)有四個(gè)矩形的第二容置槽4,第一容置槽與第二容置槽相通,第二容置槽內(nèi)設(shè)有支撐板5,支撐板與第二容置槽底面之間設(shè)有第一彈性裝置6,第一彈性裝置的頂端與支撐板的下表面接觸,第一彈性裝置的底端與第二容置槽的底面接觸,第一容置槽的底面上設(shè)有矩形的支撐臺(tái)7,蓋板下表面對(duì)應(yīng)第二容置槽處設(shè)有壓板8,壓板的頂端固定設(shè)置在蓋板的下面上,壓板的底端設(shè)有與QFP封裝集成電路引腳相適配的金屬電極9,蓋板的側(cè)面上設(shè)有與金屬電極電連接的接口10,接口用于與外部測(cè)試主機(jī)連接。
具體使用時(shí),操作人員將具有QFP封裝的集成電路芯片放置在第一容置槽的支撐臺(tái)上,并使得其引腳與位于第二容置槽內(nèi)的支撐板接觸,然后操作人員合上蓋板,蓋板底面上的壓板便與第二容置槽內(nèi)的引腳接觸,同時(shí)將支撐臺(tái)向下壓,從而將集成電路芯片的引腳固定設(shè)置在壓板與支撐板之間,此時(shí)壓板底端的金屬電極與集成電路芯片引腳緊密接觸,接著操作人員將外部的測(cè)試主機(jī)通過(guò)接口與集成電路連接,從而實(shí)現(xiàn)對(duì)QFP封裝集成電路芯片的測(cè)試,與現(xiàn)有的測(cè)試裝置相比,本實(shí)用新型的適用于QFP封裝集成電路的測(cè)試裝置其結(jié)構(gòu)更簡(jiǎn)單、成本更較小且操作簡(jiǎn)便。
作為優(yōu)選,本實(shí)用新型的適用于QFP封裝集成電路的測(cè)試裝置,蓋板的右側(cè)面上開(kāi)設(shè)有第三容置槽11,第三容置槽內(nèi)設(shè)有第二彈性裝置12,第二彈性裝置的一端與蓋板連接,第二彈性裝置的另一端與固定板13連接,固定板的上部鉸接在蓋板上,固定板底端突伸出蓋板的下表面,并且固定板底端的內(nèi)側(cè)面上設(shè)有限位塊14,底板右側(cè)面上對(duì)應(yīng)限位塊處開(kāi)設(shè)有與限位塊適配的限位槽15。
限位塊和限位槽的設(shè)置,使得操作人員能夠通過(guò)限位塊將蓋板可閉合地連接在底板上,具體使用時(shí),操作人員在固定板的頂端施加向內(nèi)的壓力,使得固定板克服第二彈性裝置的作用力相外側(cè)移動(dòng),然后操作人員將蓋板與底板合上并釋放固定板的頂端,使得限位塊設(shè)置在限位槽內(nèi),從而將集成電路芯片固定在底板內(nèi)。
作為優(yōu)選,本實(shí)用新型的適用于QFP封裝集成電路的測(cè)試裝置,第一彈性裝置和第二彈性裝置分別為彈簧。
作為優(yōu)選,本實(shí)用新型的適用于QFP封裝集成電路的測(cè)試裝置,蓋板的上表面上設(shè)有把手16。
作為優(yōu)選,本實(shí)用新型的適用于QFP封裝集成電路的測(cè)試裝置,底板和蓋板分別由塑料制成。
以上僅是本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施方式,并不用于限制本實(shí)用新型,應(yīng)當(dāng)指出,對(duì)于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō),在不脫離本實(shí)用新型技術(shù)原理的前提下,還可以做出若干改進(jìn)和變型,這些改進(jìn)和變型也應(yīng)視為本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。