1.一種多通道電路測試裝置，包括主測試電路，其特征在于，還包括被測通道切換電路，所述被測通道切換電路包括主處理器和至少兩個由所述主處理器控制通斷的可控開關(guān)，所述可控開關(guān)分別串聯(lián)在所述主測試電路與各待測通道電極組成的電路回路中。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述可控開關(guān)為固態(tài)繼電器，所述固態(tài)繼電器的兩個輸入端分別與所述主處理器連接，其中一路輸出的兩端分別與所述主測試電路供壓電路的一端、待測通道的其中一個電極連接，另一路輸出的兩端分別與所述主測試電路供壓電路的另一端、待測通道的另一個電極連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述主測試電路包括用于采集被測通道兩端電壓的電壓采集電路，所述電壓采集電路的輸出端與所述主處理器連接。
4.根據(jù)權(quán)利要求1-3中任一項所述的裝置，其特征在于，還包括用于顯示測試參數(shù)和測試狀態(tài)的顯示電路，所述顯示電路包括顯示器件和連接器，所述顯示器件通過所述連接器與所述主處理器連接。
5.根據(jù)權(quán)利要求1-3中任一項所述的裝置，其特征在于，還包括至少一路按鍵電路，所述按鍵電路分別與所述主處理器連接，用于控制測試流程的啟動和停止、設(shè)定測試的起始通道和結(jié)束通道以及選擇不同的測試參數(shù)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1-3中任一項所述的裝置，其特征在于，還包括電源管理電路和儲能模塊，所述電源管理電路包括充放電管理電路和電壓轉(zhuǎn)換電路，所述充放電管理電路用于控制所述儲能模塊的充放電過程，所述電壓轉(zhuǎn)換電路用于將所述儲能模塊的輸出電壓轉(zhuǎn)換為待供電電路所需的電壓。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，所述充放電管理電路包括充電管理芯片，所述充電管理芯片的狀態(tài)指示輸出端與所述主處理器連接。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，還包括用于檢測所述儲能模塊電壓的電壓檢測電路，所述電壓檢測電路與所述主處理器連接。
9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，所述電壓轉(zhuǎn)換電路包括電壓轉(zhuǎn)換芯片，所述電壓轉(zhuǎn)換芯片的電能輸入端與所述儲能模塊連接、電能輸出端與待供電電路連接。
10.一種腦深部電極測試方法，采用如權(quán)利要求1-9任一項所述的裝置，其特征在于，包括以下步驟：
對任意兩個電極觸點進行耐壓測試；
耐壓測試完畢后，從頂端開始的腦深部電極上的第一個與第二個電極觸點和/或第二個與第三個電極觸點使用電阻連接，電阻的電阻值為300-500歐姆，之后，向從頂端開始的腦深部電極上的第二個電極觸點通入50-150V的電壓，調(diào)節(jié)電壓值到電極觸點處溫度升高至80-90℃，保持2s；
經(jīng)過上述測試后，腦深部電極仍然完好則為良品，否則為廢品。