本發(fā)明涉及液晶屏檢測，尤其涉及一種基于機器視覺的液晶屏缺陷檢測方法、系統(tǒng)及存儲介質(zhì)。

背景技術(shù)：

1、隨著液晶顯示技術(shù)的快速發(fā)展，液晶屏幕被廣泛應(yīng)用于各種顯示設(shè)備中。然而，液晶屏的制造過程復(fù)雜且精密，容易產(chǎn)生各種類型的缺陷，如亮點、暗點、色差、漏光等。這些缺陷可能對產(chǎn)品的最終顯示質(zhì)量產(chǎn)生嚴重影響，尤其是在高分辨率、大尺寸和高刷新率的顯示需求下，傳統(tǒng)的檢測方法難以快速、精確地識別出這些缺陷。

2、傳統(tǒng)的液晶屏缺陷檢測方法往往存在以下問題：生產(chǎn)線要求快速檢測，但這可能會影響檢測的精度，例如，大尺寸lcd面板(如65寸以上)需要在幾秒內(nèi)完成全面檢測，高刷新率顯示器(如240hz)需要在多個刷新狀態(tài)下進行檢測。假陽性和假陰性的處理：完全消除誤檢(假陽性)和漏檢(假陰性)是極其困難的；灰塵或臨時污漬可能被誤判為永久性缺陷；在某些特定顯示內(nèi)容下，真實缺陷可能被系統(tǒng)忽略。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、基于此，本發(fā)明有必要提供一種基于機器視覺的液晶屏缺陷檢測方法、系統(tǒng)及存儲介質(zhì)，以解決至少一個上述技術(shù)問題。

2、為實現(xiàn)上述目的，一種基于機器視覺的液晶屏缺陷檢測方法，包括以下步驟：

3、步驟s1：獲取液晶屏的面板結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù)，包括面板尺寸數(shù)據(jù)、像素排列數(shù)據(jù)、背光模組數(shù)據(jù)以及表面處理信息數(shù)據(jù)；根據(jù)面板結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù)對液晶屏進行基于光波干涉的光學(xué)特性分析，并根據(jù)預(yù)設(shè)的圖像數(shù)據(jù)集進行對不同顯示狀態(tài)、顯示內(nèi)容以及視角下的正常顯示狀態(tài)進行映射，從而得到標準顯示特性圖數(shù)據(jù)；

4、步驟s2：采集液晶屏面板的多區(qū)域圖像數(shù)據(jù)；對多區(qū)域圖像數(shù)據(jù)進行圖像預(yù)處理，并根據(jù)標準顯示特性圖數(shù)據(jù)進行差異分析，識別潛在缺陷區(qū)域，從而得到初步缺陷檢測數(shù)據(jù)；

5、步驟s3：通過多幀圖像疊加技術(shù)對不同刷新頻率下的初步缺陷檢測數(shù)據(jù)進行缺陷變化追蹤，從而得到動態(tài)缺陷檢測數(shù)據(jù)；根據(jù)動態(tài)缺陷檢測數(shù)據(jù)對缺陷點進行基于暫時性以及永久性的缺陷分類，從而得到缺陷點分類數(shù)據(jù)；

6、步驟s4：根據(jù)缺陷點分類數(shù)據(jù)獲取缺陷區(qū)域數(shù)據(jù)；對缺陷區(qū)域數(shù)據(jù)進行不同光源下的液晶屏圖像光譜特征獲取，從而得到缺陷區(qū)域光譜特征數(shù)據(jù)，其中不同光源包括可見光、近紅外以及紫外光；對缺陷區(qū)域光譜特征數(shù)據(jù)進行多光譜對比，并進行不同光譜存在的差異提取，從而得到光譜差異數(shù)據(jù)；

7、步驟s5：根據(jù)光譜差異數(shù)據(jù)對缺陷區(qū)域數(shù)據(jù)進行假陽性以及假陰性識別，并進行缺陷點精度優(yōu)化，從而得到精確缺陷點數(shù)據(jù)。

8、本發(fā)明通過獲取面板尺寸、像素排列、背光模組和表面處理信息等面板結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù)，系統(tǒng)能夠全面了解液晶屏的物理構(gòu)造，這為后續(xù)的光學(xué)特性分析和缺陷檢測提供了準確的基礎(chǔ)數(shù)據(jù)；利用光波干涉技術(shù)進行光學(xué)特性分析，可以高精度分析液晶屏在不同視角、顯示內(nèi)容和顯示狀態(tài)下的光學(xué)表現(xiàn)。這種分析手段能更加敏感地捕捉到液晶屏的微小光學(xué)變化，尤其是一些肉眼難以發(fā)現(xiàn)的輕微缺陷。將液晶屏的正常顯示狀態(tài)映射為標準顯示特性圖數(shù)據(jù)，為后續(xù)的缺陷檢測提供一個精確的參照基準，有助于后續(xù)步驟中的差異分析。多區(qū)域圖像數(shù)據(jù)采集確保了液晶屏各個區(qū)域的完整覆蓋，能夠細致地捕捉屏幕的每一個顯示單元，從而避免遺漏缺陷；通過圖像預(yù)處理(如去噪、增強對比度等)，可以提高數(shù)據(jù)的可用性和清晰度，為后續(xù)的缺陷識別和分析提供更可靠的數(shù)據(jù)基礎(chǔ)。與步驟s1中得到的標準顯示特性圖進行差異分析，可以有效識別出潛在缺陷區(qū)域，這種差異分析方法極大地提高了缺陷檢測的準確性，能夠發(fā)現(xiàn)人眼難以察覺的小型或隱性缺陷。多幀圖像疊加技術(shù)通過分析不同刷新頻率下的缺陷變化情況，可以捕捉到液晶屏在動態(tài)顯示中(例如快速場景切換或亮度變化時)出現(xiàn)的缺陷，解決了傳統(tǒng)靜態(tài)檢測方法難以發(fā)現(xiàn)動態(tài)缺陷的問題。動態(tài)缺陷檢測數(shù)據(jù)能夠區(qū)分暫時性和永久性缺陷，避免了僅根據(jù)某一時刻數(shù)據(jù)做出誤判，這有助于準確判斷液晶屏的實際缺陷情況，提升了檢測結(jié)果的可靠性。通過在可見光、近紅外、紫外等不同光源下對缺陷區(qū)域進行成像分析，能夠從多個光譜維度捕捉缺陷區(qū)域的表現(xiàn)。這種多光譜分析手段更為全面，可以識別單一光譜下難以發(fā)現(xiàn)的隱藏缺陷。對缺陷區(qū)域的光譜差異進行提取，可以識別出不同光譜下缺陷的表現(xiàn)差異，幫助分析缺陷的性質(zhì)。這為后續(xù)步驟中的假陽性和假陰性識別提供了更準確的依據(jù)。通過基于光譜差異數(shù)據(jù)對缺陷區(qū)域進行假陽性和假陰性識別，有效減少了由于光學(xué)誤差或環(huán)境光影響而造成的誤判。這種方法能夠在檢測結(jié)果中剔除虛假的缺陷點，提高了缺陷檢測的準確性。對缺陷點進行精度優(yōu)化，可以進一步精確定位和描述缺陷的具體位置和性質(zhì)，這對于生產(chǎn)過程中進行缺陷修復(fù)和質(zhì)量控制有極大的幫助，有助于提升最終產(chǎn)品的質(zhì)量。這些步驟的實施不僅提升了液晶屏缺陷檢測的自動化水平，還顯著提高了檢測精度和效率。通過多光譜分析、動態(tài)缺陷追蹤等技術(shù)手段，該方法能夠捕捉到傳統(tǒng)方法難以發(fā)現(xiàn)的缺陷，降低誤報率，并為生產(chǎn)中的質(zhì)量控制提供了更為精確的數(shù)據(jù)支持。

9、本發(fā)明還提供一種基于機器視覺的液晶屏缺陷檢測系統(tǒng)，用于執(zhí)行如上述的基于機器視覺的液晶屏缺陷檢測方法，所述基于機器視覺的液晶屏缺陷檢測系統(tǒng)包括：

10、面板特性建模模塊，用于獲取液晶屏的面板結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù)，包括面板尺寸數(shù)據(jù)、像素排列數(shù)據(jù)、背光模組數(shù)據(jù)以及表面處理信息數(shù)據(jù)；根據(jù)面板結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù)對液晶屏進行基于光波干涉的光學(xué)特性分析，并根據(jù)預(yù)設(shè)的圖像數(shù)據(jù)集進行對不同顯示狀態(tài)、顯示內(nèi)容以及視角下的正常顯示狀態(tài)進行映射，從而得到標準顯示特性圖數(shù)據(jù)；

11、初始缺陷識別模塊，用于采集液晶屏面板的多區(qū)域圖像數(shù)據(jù)；對多區(qū)域圖像數(shù)據(jù)進行圖像預(yù)處理，并根據(jù)標準顯示特性圖數(shù)據(jù)進行差異分析，識別潛在缺陷區(qū)域，從而得到初步缺陷檢測數(shù)據(jù)；

12、動態(tài)缺陷分類模塊，用于通過多幀圖像疊加技術(shù)對不同刷新頻率下的初步缺陷檢測數(shù)據(jù)進行缺陷變化追蹤，從而得到動態(tài)缺陷檢測數(shù)據(jù)；根據(jù)動態(tài)缺陷檢測數(shù)據(jù)對缺陷點進行基于暫時性以及永久性的缺陷分類，從而得到缺陷點分類數(shù)據(jù)；

13、多光譜特征提取模塊，用于根據(jù)缺陷點分類數(shù)據(jù)獲取缺陷區(qū)域數(shù)據(jù)；對缺陷區(qū)域數(shù)據(jù)進行不同光源下的液晶屏圖像光譜特征獲取，從而得到缺陷區(qū)域光譜特征數(shù)據(jù)，其中不同光源包括可見光、近紅外以及紫外光；對缺陷區(qū)域光譜特征數(shù)據(jù)進行多光譜對比，并進行不同光譜存在的差異提取，從而得到光譜差異數(shù)據(jù)；

14、精確缺陷優(yōu)化模塊，用于根據(jù)光譜差異數(shù)據(jù)對缺陷區(qū)域數(shù)據(jù)進行假陽性以及假陰性識別，并進行缺陷點精度優(yōu)化，從而得到精確缺陷點數(shù)據(jù)。

15、本發(fā)明通過獲取面板的尺寸、像素排列、背光模組和表面處理信息等數(shù)據(jù)，能夠全面了解液晶屏的物理結(jié)構(gòu)，這些數(shù)據(jù)為后續(xù)的光學(xué)分析提供了可靠的基礎(chǔ)；基于光波干涉的光學(xué)特性分析能夠捕捉液晶分子排列、偏光片、背光等多方面的光學(xué)響應(yīng)，提供精確的光學(xué)特性數(shù)據(jù)，使得液晶屏的顯示性能能夠在不同狀態(tài)、視角下進行細致的建模和模擬；通過將液晶屏的物理特性與預(yù)設(shè)圖像數(shù)據(jù)集映射，可以生成不同狀態(tài)下的標準顯示特性圖數(shù)據(jù)，為后續(xù)缺陷檢測提供參考基準，確保檢測過程有明確的對比標準。通過對液晶屏面板進行多區(qū)域成像，包括中心區(qū)域、邊緣和四角，確保液晶屏的各個區(qū)域都得到檢測，避免因局部缺陷被忽略導(dǎo)致的檢測盲區(qū)；圖像預(yù)處理步驟包括幾何校正、亮度均衡和噪聲抑制，能夠有效消除成像過程中由于設(shè)備或環(huán)境引起的誤差，使得后續(xù)的缺陷識別更加準確；將經(jīng)過預(yù)處理的圖像與標準顯示特性圖數(shù)據(jù)進行對比分析，能夠快速識別潛在缺陷區(qū)域，并生成初步缺陷檢測數(shù)據(jù)。此步驟為后續(xù)的動態(tài)分析打下了堅實的基礎(chǔ)。通過多幀圖像疊加技術(shù)對不同刷新頻率下的缺陷檢測數(shù)據(jù)進行整合，能夠提高檢測的魯棒性，避免單一幀圖像可能遺漏或誤判的缺陷。對缺陷在時間和刷新頻率上的表現(xiàn)進行追蹤，能夠識別出隨時間變化或在不同刷新頻率下表現(xiàn)不同的動態(tài)缺陷，這種方法特別適用于檢測液晶屏上的不穩(wěn)定缺陷；將缺陷根據(jù)其持續(xù)時間進行分類，能夠區(qū)分暫時性缺陷(如暫時的像素閃爍)與永久性缺陷(如永久性亮點或暗點)，為后續(xù)的修復(fù)或判斷提供有價值的信息。通過在可見光、近紅外光和紫外光等多光源下采集圖像，能夠使液晶屏缺陷區(qū)域在不同光譜下展現(xiàn)不同的光學(xué)特性，某些缺陷在可見光下可能不明顯，但在紅外或紫外光下會表現(xiàn)出明顯特征，增加檢測的全面性。通過對不同光源下的圖像進行光譜分解，提取每個像素點的光譜特征數(shù)據(jù)(如反射率、吸收率)，能夠為每個缺陷生成獨特的光譜指紋，這為精細化的缺陷描述和分類提供了依據(jù)。通過分析不同光譜波段下的差異，能夠揭示某些缺陷在特定波段下的特殊表現(xiàn)，提供更豐富的缺陷分析數(shù)據(jù)?；诠庾V差異數(shù)據(jù)，系統(tǒng)能夠有效消除誤檢或漏檢，減少因設(shè)備或環(huán)境因素導(dǎo)致的假陽性或假陰性現(xiàn)象，從而提升缺陷檢測的可靠性。通過精細化的光譜分析和差異提取，對初步識別的缺陷進行進一步的精度優(yōu)化，確保最終得到的缺陷點數(shù)據(jù)具有更高的準確性和精確性，減少誤判的可能。通過將多光譜對比、光譜差異提取等技術(shù)相結(jié)合，對缺陷點進行優(yōu)化，確保最終輸出的缺陷檢測結(jié)果更為精確，減少生產(chǎn)中的不良品風(fēng)險。這一整套基于光學(xué)、光譜、動態(tài)分析的液晶屏缺陷檢測方法能夠全面提升液晶屏缺陷檢測的精準度和可靠性。它通過多步驟的圖像處理、多光譜分析、動態(tài)缺陷追蹤，能夠更精確地識別、分類和優(yōu)化缺陷，為生產(chǎn)質(zhì)量控制提供了有力的支持。

16、本發(fā)明還提供一種計算機可讀存儲介質(zhì)，存儲有計算機程序，所述計算機程序被執(zhí)行實現(xiàn)如上述任意一項所述的基于機器視覺的液晶屏缺陷檢測方法。