技術(shù)特征：

1.一種基于機(jī)器視覺的液晶屏缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，包括以下步驟：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于機(jī)器視覺的液晶屏缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，步驟s1包括以下步驟：

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的基于機(jī)器視覺的液晶屏缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，步驟s16包括以下步驟：

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的基于機(jī)器視覺的液晶屏缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，步驟s2包括以下步驟：

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的基于機(jī)器視覺的液晶屏缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，步驟s26包括以下步驟：

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的基于機(jī)器視覺的液晶屏缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，步驟s3包括以下步驟：

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的基于機(jī)器視覺的液晶屏缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，步驟s4包括以下步驟：

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的基于機(jī)器視覺的液晶屏缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，步驟s5包括以下步驟：

9.一種基于機(jī)器視覺的液晶屏缺陷檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，用于執(zhí)行如權(quán)利要求1所述的基于機(jī)器視覺的液晶屏缺陷檢測(cè)方法，所述基于機(jī)器視覺的液晶屏缺陷檢測(cè)系統(tǒng)包括：

10.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)程序被執(zhí)行實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至8中任意一項(xiàng)所述的基于機(jī)器視覺的液晶屏缺陷檢測(cè)方法。

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明涉及液晶屏檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種基于機(jī)器視覺的液晶屏缺陷檢測(cè)方法、系統(tǒng)及存儲(chǔ)介質(zhì)。該方法包括以下步驟：獲取液晶屏的面板結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù)，包括面板尺寸數(shù)據(jù)、像素排列數(shù)據(jù)、背光模組數(shù)據(jù)以及表面處理信息數(shù)據(jù)；根據(jù)面板結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù)對(duì)液晶屏進(jìn)行基于光波干涉的光學(xué)特性分析，并根據(jù)預(yù)設(shè)的圖像數(shù)據(jù)集進(jìn)行對(duì)不同顯示狀態(tài)、顯示內(nèi)容以及視角下的正常顯示狀態(tài)進(jìn)行映射，從而得到標(biāo)準(zhǔn)顯示特性圖數(shù)據(jù)；采集液晶屏面板的多區(qū)域圖像數(shù)據(jù)。本發(fā)明對(duì)液晶屏在不同刷新頻率下的缺陷進(jìn)行動(dòng)態(tài)追蹤，尤其是捕捉在不同顯示狀態(tài)下的缺陷表現(xiàn)，提供更全面的缺陷分析。

技術(shù)研發(fā)人員：王柳清
受保護(hù)的技術(shù)使用者：深圳華和信科技發(fā)展有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2024/12/10