的集成電路之類的集成電路。方法200可以由具有測試裝置110的一些或所有特征的電路邏輯執(zhí)行。
[0027]在實施例中，方法200包括:在210處，執(zhí)行針對包括每一個包括相應發(fā)射路徑和相應接收路徑的I/O緩沖器電路的設備的測試循環(huán)。每一個測試循環(huán)可以包括針對每一個I/O緩沖器電路的相應回送測試，和/或，每一個測試循環(huán)可以對應于第一時鐘信號與第二時鐘信號之間的不同相應延遲。在實施例中，第一時鐘信號調(diào)節(jié)沿每一個I/O緩沖器電路的相應發(fā)射路徑的通信，并且第二時鐘信號調(diào)節(jié)沿每一個I/O緩沖器電路的相應接收路徑的通信。
[0028]作為說明而非限制，在210處執(zhí)行的測試循環(huán)可以針對設備120—一例如其中第一測試循環(huán)包括針對1B電路122a，122b，……，122η中的每一個的相應回送測試。這樣的第一測試循環(huán)可以包括針對1B電路122a，122b，……，122η中的每一個的附加相應回送測試，盡管某些實施例在這方面不受限。例如，測試循環(huán)可以包括針對特定1B電路的多個回送測試，其中這樣的多個回送測試每一個向該1B電路提供各種相應數(shù)據(jù)值并從該1B電路接收各種相應輸出數(shù)據(jù)。
[0029]在210處執(zhí)行測試循環(huán)可以包括控制邏輯一一例如測試控制邏輯102—一向每一個對應于I/o緩沖器電路中的相應一個的一系列掃描鏈模塊發(fā)送測試數(shù)據(jù)。該一系列掃描鏈模塊可以并入到被評估的設備中，盡管某些實施例在這方面不受限。在實施例中，該一系列掃描鏈模塊包括操作為線性反饋移位寄存器(LFSR)的機構。
[0030]方法200還可以包括:在220處，確定在210處執(zhí)行的測試循環(huán)中的第一測試循環(huán)指示針對I/o緩沖器電路中的至少一個I/O緩沖器電路的失效條件。例如，第一測試循環(huán)可以包括針對第一 I/o緩沖器電路的第一組回送測試。在實施例中，確定第一測試循環(huán)指示針對該至少一個I/o緩沖器電路的失效條件包括檢測邏輯一一例如失敗檢測邏輯104—一確定第一測試循環(huán)指示針對第一組回送測試中的每一個回送測試的失效。在這樣的實施例中，確定第一測試循環(huán)指示針對該至少一個I/o緩沖器電路的失效條件可以包括這樣的檢測邏輯進一步確定至少一個其它I/o緩沖器電路尚且沒有未能通過針對第一測試循環(huán)的其相應回送測試中的每一個。
[0031]在可替換實施例中，確定第一測試循環(huán)指示針對該至少一個I/O緩沖器電路的失效條件包括確定第一測試循環(huán)指示第一組回送測試中的至少一個回送測試的失效。在這樣的實施例中，確定第一測試循環(huán)指示針對該至少一個I/o緩沖器電路的失效條件可以包括進一步確定至少一個其它I/o緩沖器電路尚且沒有未能通過第一測試循環(huán)的其相應回送測試中的任一個。
[0032]對于給定測試循環(huán)中的針對特定I/O緩沖器電路的給定回送測試，回送測試的失效可以包括I/o緩沖器電路未能提供正確地對應于一一例如等于一一由用于該回送測試的I/O緩沖器電路接收的輸入數(shù)據(jù)信號的輸出數(shù)據(jù)信號。這樣的失效可以包括I/O緩沖器電路提供不正確的輸出數(shù)據(jù)信號和/或I/o緩沖器電路在不正確的時間(例如，諸如在不可接受的延遲之后)提供正確的輸出數(shù)據(jù)信號。
[0033]方法200還可以包括:在230處，確定測試循環(huán)中的第二測試循環(huán)指示針對每一個I/O緩沖器電路的失效條件。例如，230處的確定可以包括檢測邏輯一一例如失敗檢測邏輯104一一確定每一個I/O緩沖器電路已經(jīng)未能通過第二測試循環(huán)的其相應回送測試中的每一個。在另一實施例中，230處的確定包括確定每一個I/O緩沖器電路已經(jīng)未能通過第二測試循環(huán)的至少一個相應回送測試。
[0034]方法200還可以包括:在240處，計算對應于第一測試循環(huán)的延遲與對應于第二測試循環(huán)的延遲之間的差異。作為說明而非限制，失敗檢測邏輯104可以響應于220處的確定而向評估邏輯106提供與第一測試循環(huán)相關聯(lián)的信息，且還響應于230處的確定而向評估邏輯106提供與第二測試循環(huán)相關聯(lián)的信息。這樣的信息可以例如標識第一測試循環(huán)和第二測試循環(huán)和/或針對第一測試循環(huán)和第二測試循環(huán)中的每一個的相應時鐘延遲信息。基于這樣的信息，評估邏輯106可以直接或間接地針對第一測試循環(huán)和第二測試循環(huán)中的每一個確定第一時鐘信號與第二時鐘信號之間的相應延遲，并計算這樣的相應延遲之間的差異。
[0035]基于在240處計算的差異，方法200可以在250處生成指示設備是否滿足測試準則的信號。例如，250處的生成可以包括訪問描述第一時鐘信號與第二時鐘信號之間的閾值差異的參考信息。閾值差異可以基于對已知良好的集成電路的先前評估。基于所訪問的參考信息，方法200可以在250處基于在240處計算的差異與閾值差異的比較來生成信號。
[0036]圖3圖示了根據(jù)實施例的回送測試300的元素?；厮蜏y試300可以是用于IC的評估的測試循環(huán)的一個或許多回送測試?；厮蜏y試300可以特定于IC的多個I/O緩沖器電路中的一個I/O緩沖器電路——例如，其中回送測試300特定于1B電路122a，122b，……，122η中的一個。
[0037]在實施例中，回送測試300操作包括觸發(fā)器(flip-flop)FF1、FF2和數(shù)據(jù)線DQ 344的1B電路。FFl可以沿1B電路的發(fā)射路徑定位一一例如，其中發(fā)射路徑向DQ 344提供數(shù)據(jù)?？商鎿Q地或此外，F(xiàn)F2可以沿1B電路的接收路徑定位一一例如，其中接收路徑從DQ344輸出數(shù)據(jù)。對于上下文，在圖3中示出1B電路的一些其它特征。例如，1B電路還可以包括線Addr/Cmd以交換地址和/或命令信號CA以用于經(jīng)由DQ 344協(xié)調(diào)數(shù)據(jù)交換。然而，可以不關于1B電路的這樣的其它特征來限制某些實施例。
[0038]在實施例中，回送測試300包括向觸發(fā)器FFl提供輸入數(shù)據(jù)信號RdData 340。為了輸出RdData 340的值而對FFl的激活可以被發(fā)射時鐘320調(diào)節(jié)——例如，其中向FFl的時鐘輸入提供發(fā)射時鐘320。例如，還可以向來自Addr/Cmd的時鐘輸出信號CA提供發(fā)射時鐘320。響應于發(fā)射時鐘320，F(xiàn)F1可以向DQ 344輸出RdData 340的值，所述DQ 344還耦合到觸發(fā)器FF2的輸入。從FFl向FF2的輸出來輸出RdData 340的值可以導致回送330，其中這樣的值準備好作為輸出數(shù)據(jù)信號WrData 342的值而從FF2輸出。為了輸出WrData342的值而對FF2的激活可以被接收時鐘310調(diào)節(jié)。
[0039]在實施例中，電路邏輯(未示出)——例如包括并入到被測試IC中和/或駐留在與IC分離的測試硬件上的電路--可以基于RdData 340和WrData 342與彼此的比較來評估1B電路的性能。例如，電路邏輯可以確定WrData 342的輸出值是否正確地對應于——
例如等于--RdData 340的關聯(lián)輸入值。可替換地或此外，電路邏輯可以確定WrData 342
的任何這樣的正確對應值是否及時被接收一一例如在某無法容忍的長延遲期滿之前。
[0040]在實施例中，RdData 340向FFl提供一個值以用于回送測試300并向FFl提供另一值以用于不同的回送測試。這兩個回送測試可以針對相同測試循環(huán)一一例如，其中回送測試每一個都在發(fā)射時鐘320與接收時鐘310之間的相同延遲期間執(zhí)行?？商鎿Q地或此外，回送測試300和另一回送測試可以針對不同測試循環(huán)，每一個對應于發(fā)射時鐘320與接收時鐘310之間的不同的相應延遲。
[0041]圖4圖示了根據(jù)實施例的用于IC的評估的時鐘信號的集合400的元素。利用時鐘信號的集合400進行的IC評估可以由例如提供測試裝置110的一些或所有功能性的電路執(zhí)行。在實施例中，這樣的評估可以根據(jù)方法200。
[0042]時鐘信號的集合400包括針對發(fā)射時鐘的信號TxClk 410，所述發(fā)射時鐘例如可以被提供以用于執(zhí)行針對包括多個I/o緩沖器電路的設備的測試循環(huán)。在實施例中，該多個I/O緩沖器電路每一個包括相應發(fā)射路徑和相應接收路徑。TxClk 410可以調(diào)節(jié)沿這樣的多個I/O緩沖器電路中的每一個的相應發(fā)射路徑的通信。作為說明而非限制，TxClk 410可以至少部分地實現(xiàn)功能性——諸如被提供有發(fā)射時鐘320的功能性——以鎖存、計時或以其它方式沿發(fā)射路徑的某部分移動輸入數(shù)據(jù)。為了避免模糊各種實施例的某些元素，在時鐘信號的集合400中僅示出TxClk 410的一個周期的一部分。
[0043]此外或可替換地，可以以各種方式提供接收時鐘以用于執(zhí)行測試循環(huán)。這樣的接收時鐘可以至少部分地實現(xiàn)功能性——諸如被提供有接收時鐘310的功能性——以鎖存、計時或以其它方式沿接收路徑的某部分移動輸出數(shù)據(jù)。在實施例中，每一個測試循環(huán)對應于下述內(nèi)容——例如在下述內(nèi)容期間被執(zhí)行:這樣的接收時鐘和TxClk 410之間的不同相應差異。
[0044]根據(jù)實施例，信號的集合400表示評估，其中接收時鐘的相位和發(fā)射時鐘的相位相對于彼此接連被改變，每一次改變設定針對相應測試循環(huán)的時鐘延遲。測試循環(huán)可以在序列中執(zhí)行，所述序列例如從每一個導致全通過測試循環(huán)結(jié)果的一個或多個時鐘延遲轉(zhuǎn)變到導致非零失效(至少一個失效)測試循環(huán)結(jié)果的第一時鐘延遲，并最終轉(zhuǎn)變到導致全失敗測試循環(huán)結(jié)果的時鐘延遲。這樣的搜索可以例如利用測試軟件回路實現(xiàn)，該測試軟件回路在評估的多個測試運行之上對接收(和/或發(fā)射)時鐘邊緣定時進行接連重編程。在實施例中，時鐘延遲的步長改變是測試儀的最小邊緣安置分辨率。
[0045]時鐘信號的集合400包括針對這樣的接收時鐘的各種時鐘信號，其中各種時鐘信號中的每一個針對接收時鐘與TxClk 410之間的不同的相應延遲(也稱為偏斜、相位差等)。作為說明而非限制，時鐘信號的集合400包括針對接收時鐘和TxClk 410的相應信號之間的延遲DO的接收時鐘信號RxClk 420?為了避免模糊各種實施例的某些元素，在時鐘信號的集合400中僅示出RxClk 420的一個周期的一部分。
[0046]時鐘信號的集合400還包括接收時鐘信號RxClk 430a和接收時鐘信號RxClk430b以針對接收時鐘和TxClk 410的相應信號之間各自的延遲D1、D2。為了避免模糊各種實施例的某些元素，在時鐘信號的集合400中僅示出RxClk 430a和RxClk 430b中的每一個的一部分。RxClk 430a和RxClk 430b可以可替換于彼此——例如，其中RxClk 430a和RxClk 430b針對用于多個I/O緩沖器電路的評估的不同場景。例如，時鐘信號的集合400可以包括在其中該多個I/O緩沖器電路滿足測試準則的場景中的RxClk 430a?？商鎿Q地，時鐘信號的集合400可以包括在其中該多個I/O緩沖器電路不滿足這樣的測試準則的場景中的 RxClk 430bο
[0047]在實施例中，執(zhí)行測試循環(huán)之一，而同時接收時鐘的信號和TxClk 410從彼此偏移延遲DO——例如，其中接收時鐘信號為RxClk 420。對應于延遲DO的測試循環(huán)可以例如生成指示針對該多個I/O緩沖器電路中的每一個的失效條件的相應實例的結(jié)果。為了簡潔起見，這樣的測試循環(huán)在本文中被稱為全失敗條件測試循環(huán)。相比之下，測試循環(huán)中的另一個一一為了簡潔起見，在本