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      一種使用雙頻激光和衍射光柵的三維位移測量裝置的制造方法_2

      文檔序號:8253775閱讀:來源:國知局
      光光柵的柵線方向與標(biāo)尺光 柵的柵線方向成45°、標(biāo)尺光柵周期為掃描分光光柵周期的1/^/5、標(biāo)尺光柵具有后向零級 衍射光的設(shè)置,可同時為X向、Y向和Z向提供測量信號,進(jìn)而同時測量讀數(shù)頭相對于標(biāo)尺 光柵在X向、Y向和Z向=個方向的位移,并實現(xiàn)了光學(xué)2細(xì)分,搭配合適的電學(xué)細(xì)分卡,可 W實現(xiàn)納米精度測量。
      [0017] 2.掃描分光光柵為組合光柵,其結(jié)構(gòu)特征為;包括位于掃描分光光柵中間區(qū)域的 二維正交光柵W及位于二維正交光柵兩側(cè)的一維光柵A和一維光柵B,二維正交光柵、一維 光柵A和一維光柵B的柵線共面,一維光柵A和一維光柵B的柵線方向相互垂直,且分別平 行于二維正交光柵的兩個柵線方向,二維正交光柵、一維光柵A和一維光柵B的光柵周期相 等;該樣的結(jié)構(gòu)特征使得中間區(qū)域的二維正交光柵僅用于分光,一維光柵A和一維光柵B分 別實現(xiàn)X向與Y向移相合光,提高能量利用效率,并減少雜散光。
      [0018] 3. Z向測量采用雙頻激光的光學(xué)拍頻原理,對標(biāo)尺光柵后向零級衍射強度要求降 低,降低了對激光器的功率要求,同時也增強了信號的抗干擾能力,可實現(xiàn)Z向高精度測 量。
      [0019] 4.由于X向和Y向的位移測量利用了掃描分光光柵和標(biāo)尺光柵自身的分光特性實 現(xiàn)相干疊加與光學(xué)移相,因此不需要額外的移相合光器件,既減小了結(jié)構(gòu)尺寸,又避免了移 相合光器件帶來的誤差。
      [0020] 5.通過將標(biāo)尺光柵和掃描分光光柵平行放置,W及標(biāo)尺光柵周期為掃描分光光柵 周期的1/為的設(shè)置,可使得讀數(shù)頭相對于標(biāo)尺光柵在Z向運動時,不影響X向和Y向測量干 設(shè)區(qū)域的范圍,故而夠提供較大的Z向測量范圍。
      [0021] 6.在檢測位移量時,X向、Y向和Z向的測量信號之間不存在禪合關(guān)系,簡化了后 續(xù)的信號處理方式,減少了信號處理引入的誤差。
      [0022] 7. X向、Y向測量與Z向測量信號可W通過光纖導(dǎo)出,能進(jìn)一步減小讀數(shù)頭的體積, 特別是設(shè)計光柵的周期為微米量級時,該=維位移測量裝置同時具有結(jié)構(gòu)緊湊、體積小、質(zhì) 量輕的優(yōu)點,方便應(yīng)用。
      【附圖說明】
      [0023] 圖1為本發(fā)明的一種使用雙頻激光和衍射光柵的=維位移測量裝置的結(jié)構(gòu)示意 圖。
      [0024] 圖2為本發(fā)明應(yīng)用的掃描分光光柵的結(jié)構(gòu)示意圖。
      [0025] 圖3為本發(fā)明掃描分光光柵與標(biāo)尺光柵放置方式示意圖。
      [0026] 圖4a為本發(fā)明應(yīng)用的一維矩形光柵的結(jié)構(gòu)示意圖。
      [0027] 圖4b為本發(fā)明應(yīng)用的二維矩形光柵的結(jié)構(gòu)示意圖。
      [002引圖5為本發(fā)明的一種使用雙頻激光和衍射光柵的=維位移測量裝置實施例的光 路傳輸方向示意圖。
      [0029] 圖中件號說明;1-雙頻激光光源,2-Z向干設(shè)部件,3-掃描分光光柵部件,4-標(biāo)尺 光柵,5-X向探測部件,6-Y向探測部件,7-Z向探測部件,8-信號處理部件,11-雙頻激光器, 12-分光棱鏡,13-偏振片A,21-偏振分光棱鏡,22-1/4波片A,23-反射部件,24-1/4波片 B,25-偏振片B,31-掃描分光光柵,32-光闊,311- -維光柵A,312-二維正交光柵,313- - 維光柵B。
      【具體實施方式】
      [0030] 下面結(jié)合附圖對本發(fā)明的【具體實施方式】作進(jìn)一步詳細(xì)介紹。
      [0031] 一種使用雙頻激光和衍射光柵的=維位移測量裝置,包括標(biāo)尺光柵4和讀數(shù)頭, 讀數(shù)頭包括雙頻激光光源1、Z向干設(shè)部件2、掃描分光光柵部件3、X向探測部件5、Y向探 測部件6、Z向探測部件7、信號處理部件8 ;雙頻激光光源1包括雙頻激光器11、分光棱鏡 12、偏振片A13 ;Z向干設(shè)部件2包括偏振分光棱鏡21、1/4波片A22、反射部件23、1/4波片 B24、偏振片B25 ;掃描分光光柵部件3包括掃描分光光柵31、光闊32 ;掃描分光光柵31的 柵線所在平面和標(biāo)尺光柵4的柵線所在平面平行;掃描分光光柵31為組合光柵,包括位于 掃描分光光柵31中間區(qū)域的二維正交光柵312 W及位于二維正交光柵312兩側(cè)的一維光 柵A311和一維光柵B313,二維正交光柵312、一維光柵A311和一維光柵B313的柵線共面, 一維光柵A311和一維光柵B313的柵線方向相互垂直,且分別平行于二維正交光柵312的 兩個柵線方向,二維正交光柵312、一維光柵A311和一維光柵B313的光柵周期相等;掃描 分光光柵31在放置時,其柵線方向與標(biāo)尺光柵4的柵線方向成45° ;標(biāo)尺光柵4為二維正 交光柵,具有后向零級衍射光,其周期為掃描分光光柵周期的1/7^; X方向是與掃描分光光 柵31的柵線所在平面平行,且垂直于一維光柵A311柵線的方向;Y方向是與掃描分光光柵 31的柵線所在平面平行,且垂直于一維光柵B313柵線的方向;Z方向是與掃描分光光柵31 的柵線所在平面垂直的方向;雙頻激光器11出射的雙頻正交偏振光入射到分光棱鏡12,其 反射光透過偏振片A13后入射到Z向探測部件7,形成的拍頻信號作為Z向測量的一路參考 信號,其透射光入射到偏振分光棱鏡21后分為參考光和測量光;參考光透過1/4波片A22, 并由反射部件23反射后,依次透過1/4波片A22、偏振分光棱鏡21、偏振片B25入射到Z向 探測部件7 ;測量光透過1/4波片B24后沿Z方向入射到掃描分光光柵31中間區(qū)域的二維 正交光柵312,經(jīng)二維正交光柵312衍射后衍射光束入射到標(biāo)尺光柵4并發(fā)生反向衍射,得 到九束測量光束與其他雜散光束;九束測量光束中,其中四束在掃描分光光柵31的一維光 柵A311上兩兩相交并衍射入射到X向探測部件5形成四組干設(shè)信號,通過信號處理單元8 解算后得到讀數(shù)頭相對于標(biāo)尺光柵4在X向發(fā)生的位移;九束測量光束中,另外四束在掃描 分光光柵31的一維光柵B313上兩兩相交并衍射入射到Y(jié)向探測部件6形成另外四組干設(shè) 信號,通過信號處理單元8解算后得到讀數(shù)頭相對于標(biāo)尺光柵4在Y向發(fā)生的位移;九束測 量光束中的另一沿入射方向返回的測量光束依次透過掃描分光光柵31中間區(qū)域的二維正 交光柵312、1/4波片B24,并由偏振分光棱鏡21反射后透過偏振片B25入射到Z向探測部 件7 ;入射到Z向探測部件7的參考光和測量光相遇形成的拍頻信號作為Z向測量的一路 測量信號,Z向測量的參考信號和測量信號通過信號處理單元8解算后得到讀數(shù)頭相對于 標(biāo)尺光柵4在Z向發(fā)生的位移。
      [0032] 本發(fā)明的一種使用雙頻激光和衍射光柵的=維位移測量裝置,在掃描分光光柵部 件3中增設(shè)了光闊32,并且光闊32位于掃描分光光柵31與X向探測部件5之間,光闊32 同時位于掃描分光光柵31與Y向探測部件6之間。
      [0033] 本發(fā)明的一種使用雙頻激光和衍射光柵的=維位移測量裝置,在雙頻激光器11 出射的透過掃描分光光柵31的測量光的波長A = 632. 8nm時,掃描分光光柵31采用矩形 光柵,一組優(yōu)選參數(shù)為二維正交光柵312兩個柵線方向的光柵周期di=d2= 10 ym、光柵臺 階高度h = 159nm、兩個柵線方向的光柵臺階寬度ai= 32= 5. 67 y m,一維光柵A311和一維 光柵B313的光柵周期d = 10 ym、光柵臺階高度h = 488皿、光柵臺階寬度a = 3. 567 ym, 標(biāo)尺光柵4采用二維矩形光柵,其一組優(yōu)選參數(shù)為兩個柵線方向的光柵周期di= d 2 = 7. 07 ym、光柵臺階高度h = 159皿、兩個柵線方向光柵臺階寬度ai= 32= 4.01 ym。
      [0034] 本發(fā)明的一種使用雙頻激光和衍射光柵的=維位移測量裝置在具體實施時,如附 圖5所示,雙頻激光器11出射的包含波長A 1和A 2雙頻正交偏振光OP入射到分光棱鏡12 后,其反射光透過偏振片A13后入射到Z向探測部件7,形成的拍頻信號作為Z向測量的一 路參考信號,其透射光OP1入射到偏振分光棱鏡21上,偏振分光棱鏡21設(shè)置為使得透射光 OP1入射到偏振分光棱鏡21后分為振動方向平行于Y-Z平面(P波)且波長為A 1的測量 光束OP2-2和振動方向垂直于Y-Z平面(S波)且波長為^2的參考光束0?2-1。
      [0035] 測量光OP2-2透過1/4波片B24入射到掃描分光光柵31上,在掃描分光光柵31中 間區(qū)域的二維正交光柵312處衍射分光,產(chǎn)生(0,0)級0P3-0、(+1,0)級OP3-1、(-1,0)級 OP3-3、(0,-1)級OP3-4四束測量光束和其他雜散光束;四束測量光束0P3-0、0P3-l、0P3-3 和0P3-4入射到標(biāo)尺光柵4后發(fā)生反向衍射,得到九束測量光束[0,0, +1,0]級0P3-01與 [+1,0,0,+1]級 0P3-12、[0,0,0,+1]級 0P3-02 與[-1,0,+1,0]級 0P3-31、[0,0,-1,0]級 0P3-03 與[0, -1,0, +1]級 0P3-42、[0,0,0, -1]級 0P3-04 與[0, -1,+1,0]級 0P3-41、[0, 0,0,0]級0P3-00和其他雜散光束;該九束測量光束入射到掃描分光光柵31上,其中[0, 0, +1,0]級 0P3-01 與[+1,0,0, +1]級 OP3-12、[0,0,0, +1]級 0P3-02 與[-1,0, +1,0]級 OP3-31在一維光柵A311上分別兩兩相遇并再次衍射,形成的四組干設(shè)信號被X向探測部件 5 接收,[0,0,-1,0]級 0P3-03 與[0,-1,0,+1]級 0P3-42、[0,0,0,-l]級
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