，從圖2中俯視角度來看，可以將位于結構光光源21的光軸左側的稱為左圖像數(shù)據(jù)采集裝置，且將位于結構光光源21的光軸右側的稱為右圖像數(shù)據(jù)采集裝置，那么參見圖5和圖6，分別為左圖像數(shù)據(jù)采集裝置和右圖像數(shù)據(jù)采集裝置采集到的檢測圖像。圖5和圖6中分別有一排條紋，這些條紋就是結構光光源21照射在受電弓滑板200上的條紋的圖像。
[0095]在本發(fā)明實施例中，圖像數(shù)據(jù)采集裝置22可以為面陣相機，也可以為線陣相機基本領域技術人員所熟知的其他能夠采集到視頻圖像的相機或攝像機；此外，上述圖像數(shù)據(jù)采集裝置還可以為非可見光圖像數(shù)據(jù)采集裝置。
[0096]圖2中兩個圖像數(shù)據(jù)采集裝置在工作時，首先需要預先對圖像數(shù)據(jù)采集裝置的相機內的一些內部參數(shù)進行標定，需要標定的內部參數(shù)可以包括:相機的焦距、成像原點和畸變參數(shù)等。另外，對于不同圖像數(shù)據(jù)采集裝置而言，還需要了解相鄰圖像數(shù)據(jù)采集裝置的相機之間的相對位置，即外部參數(shù)，外部參數(shù)是相鄰圖像數(shù)據(jù)采集裝置的相機之間的空間參數(shù)，具體可以包括:相鄰圖像數(shù)據(jù)采集裝置的相機的旋轉矩陣參數(shù)和平移矩陣參數(shù)。
[0097]在本發(fā)明實施例中，如圖7所示，上述步驟S103還可以包括以下步驟:
[0098]步驟S10311:獲取各個圖像數(shù)據(jù)采集裝置從不同位置同步采集的圖像數(shù)據(jù)信息。
[0099]步驟S10312:獲取至少兩個圖像數(shù)據(jù)采集裝置的標定信息。
[0100]步驟S10313:結合標定信息對各個圖像數(shù)據(jù)信息進行特征點提取、圖像匹配及三維恢復，構建受電弓三維尺寸信息模型。
[0101]步驟S10314:根據(jù)受電弓三維尺寸模型，提取受電弓的尺寸信息。
[0102]本實施例中，可以根據(jù)受電弓三維尺寸模型，確認各水平坐標位置所對應的一系列的最高點與最低點的差值信息即可確認為受電弓滑板的厚度信息，上述受電弓滑板的厚度信息能夠進一步對受電弓滑板在與接觸網接觸過程中的磨耗量進行實時監(jiān)測。
[0103]另外，當結構光光源21投射在受電弓上的結構光為光柵圖像信息時。
[0104]如圖8所示，該步驟S103還可以包括以下步驟:
[0105]步驟S10321:獲取各個圖像數(shù)據(jù)采集裝置從不同位置同步采集的光柵圖像信息；
[0106]步驟S10322:獲取至少兩個圖像數(shù)據(jù)采集裝置的標定信息；
[0107]步驟S10323:結合標定信息對各個光柵圖像信息進行條紋圖像匹配、條紋特征點提取及二維恢復；
[0108]參見圖5和圖6，在每個結構光光源21照射時，都會在照射的條紋中形成一個最亮的條紋，如圖5和圖6中中心部分的亮條紋，該亮條紋的位置通常位于結構光光源21的中心位置，這樣當該結構光光源21的條紋照射在受電弓滑板200上時，這個最亮的條紋將會位于受電弓滑板200的中心位置。
[0109]通?？梢詫D5或圖6中心部分的亮條紋作為參考條紋，進而可以將不同檢測圖像中位于參考條紋同一側、且與參考條紋之間間隔的條紋數(shù)量相等的條紋確定為位置相對應的條紋。
[0110]當在步驟S10323中將每個檢測圖像中最亮的條紋確定為參考條紋后，可見不同檢測圖像中的參考條紋都將位于受電弓滑板200的中心位置，那么就可以通過步驟S1052就可以在圖6中查找到那些與圖5中每個條紋位置相對應的條紋。這樣做的目的，可以將結構光光源21照射在受電弓滑板200上的同一條紋，在兩個檢測圖像中都找到對應的條紋圖像，完成條紋圖像匹配過程。
[0111]在進行特征點提取時，首先根據(jù)標定信息確定參考坐標系。在具體應用中，可以根據(jù)三維信息采集模塊的相機的標定信息確定一個絕對坐標系，作為參考坐標系，參考坐標系可以為自然坐標系。然后在參考坐標系中確定每個檢測圖像中每個條紋中的特征點(例如:條紋兩端的端點)的坐標值。
[0112]如圖9所示，圖中O1是左三維信息采集模塊的光心，O2是右三維信息采集模塊的光心，P為目標點，在本發(fā)明實施例中，條紋兩端的端點為特征點，那么點P和點Q分別為某一個條紋的上下兩個端點，11是左三維信息采集模塊所成的圖像的平面，M2是右三維信息采集模塊所成的圖像的平面。參見圖9所示，可見，點P1和點Q 以及點P2和點Q 2就是需要計算的坐標值。
[0113]在特征點提取后，就可以根據(jù)提取到的特征點的坐標對條紋進行三維恢復，即可得到條紋的三維圖像。如圖10所示，圖中，101為參考條紋，102為條紋。
[0114]步驟S10324:根據(jù)所有三維恢復結果擬合得到兩條包絡所有條紋兩個端點的平滑曲線，平滑曲線之間的位置信息構成受電弓的厚度信息。
[0115]當通過三維恢復得到每個條紋的三維圖像后，將所有條紋的上下兩側同一側的端點進行連線，擬合得到兩條平滑曲線，如圖10所示，圖中位于條紋上方的平滑曲線為103。
[0116]從圖10中可以看到，擬合得到的兩條平滑曲線，由于兩條平滑曲線之間的距離均為每個條紋的寬度，所以，擬合得到的兩條平滑曲線也可以看作是受電弓滑板200的厚度曲線，從這些曲線之間的距離變化可以反映出受電弓滑板200的厚度變化，所以，在該步驟中，可以將這兩條平滑曲線之間的位置信息作為受電弓的厚度信息。
[0117]本發(fā)明實施例提供的該方法，在列車運行時，當檢測到受電弓隨列車進入到預設檢測區(qū)域，就啟動三維信息采集模塊對受電弓進行圖像數(shù)據(jù)采集，然后將三維信息采集模塊所采集的圖像數(shù)據(jù)進行分析處理，構建受電弓三維尺寸模型，提取受電弓的尺寸信息，需要指出的是，上述電弓的尺寸信息包含但不限于受電弓滑板厚度信息。
[0118]在進行圖像數(shù)據(jù)采集時，利用受電弓探測觸發(fā)模塊的檢測信號觸發(fā)結構光光源的結構光照射受電弓側面，在受電弓側面上照射形成多個條紋，并且觸發(fā)至少兩個圖像數(shù)據(jù)采集裝置從不同位置同時獲取受電弓上結構光所照射的側面的檢測圖像，這樣在檢測圖像中就會包含有這些照射形成的條紋，然后利用至少兩個圖像數(shù)據(jù)采集裝置的標定信息以及每個圖像數(shù)據(jù)采集裝置獲取到的檢測圖像中的條紋，就可以準確確定出受電弓滑板的厚度信息。
[0119]該方法在檢測受電弓滑板的厚度信息時，結構光光源照射形成的條紋可以密布在受電弓滑板上，這樣通過條紋就可以清楚反映出受電弓滑板的形狀，然后可以利用條紋對受電弓滑板每一小段的厚度都可以進行準確計算，這使得最終得到的受電弓的厚度信息非常精確，提尚了檢測的精度。
[0120]因此，該方法可以在沿途路線上設置有一個或多個檢測位置對受電弓的厚度信息進行提取，上述受電弓的厚度信息能夠進一步對受電弓滑板在與接觸網接觸過程中的磨耗量進行實時監(jiān)測，從而確保受電弓處于正常運行狀態(tài)，極大地提高了受電弓故障的檢測效率，避免由于受電弓故障而導致弓網事故的發(fā)生。
[0121]圖11為本發(fā)明實施例提供的一種受電弓運行狀態(tài)監(jiān)測裝置的結構示意圖。
[0122]如圖11所示，該裝置可以包括:受電弓探測觸發(fā)模塊1、三維信息采集模塊2和分析處理模塊3，其中，
[0123]受電弓探測觸發(fā)模塊1，用于在預設檢測區(qū)域內判斷是否檢測到受電弓。
[0124]三維信息采集模塊2，用于對受電弓進行圖像數(shù)據(jù)采集。
[0125]分析處理模塊3，用于將三維信息采集模塊所采集的圖像數(shù)據(jù)進行分析處理，構建受電弓三維尺寸模型，提取受電弓的尺寸信息。
[0126]并且受電弓探測觸發(fā)模塊1、三維信息采集模塊2及分析處理模塊3之間依次電性連接，關于受電弓探測觸發(fā)模塊I和三維信息采集模塊2的詳細結構可以參見上述圖2中所示。
[0127]另外，參見圖2所示，三維信息采集模塊2包括至少兩個圖像數(shù)據(jù)采集裝置22，其中，至少兩個圖像數(shù)據(jù)采集裝置22，用于從不同位置采集同一受電弓的圖像數(shù)據(jù)信息，其中，各個圖像數(shù)據(jù)采集裝置于受電弓的成像區(qū)域均覆蓋預設檢測區(qū)域。
[0128]此外，為了提高三維信息采集模塊2的測量精度，其還可以包括用于產生投射于受電弓的結構光的結構光光源21，