數(shù)據(jù)。
[0101](2-7.編碼器的制造方法)
[0102]接著，對本實施方式的編碼器100的制造方法的一例進(jìn)行說明。這里，主要對被檢測體170的磁化以及被檢測體170、盤110和輪轂160的固定等進(jìn)行說明。
[0103]在編碼器100的制造方法中，通過磁化裝置200，如上所述，在磁軛220與背軛210之間對被檢測體170進(jìn)行磁化，制造磁化部172。然后，通過固定部件將被磁化后的被檢測體170固定在盤110的表面IlOA上，以使磁軛220側(cè)的表面成為上側(cè)，背軛210側(cè)的表面成為下側(cè)。此時，進(jìn)行位置調(diào)整以進(jìn)行盤110和被檢測體170的定心。并且，通過固定部件在盤110的貫通孔111中嵌合輪轂160的螺栓緊固部163，并且在盤110的表面IlOB上固定輪轂160的盤固定部162的表面162A。此時，進(jìn)行位置調(diào)整以進(jìn)行盤110和輪轂160的定心。如上所述，將被檢測體170、盤110和輪轂160組裝成一體。另外，也可以在通過固定裝置將被檢測體170、盤110和輪轂160組裝成一體后，通過磁化裝置對被檢測體170進(jìn)行磁化。
[0104]然后，在組裝成一體的被檢測體170、盤110和輪轂160中的貫通孔161中貫穿插入軸SH，將螺栓14貫穿插入到貫通孔171、111、161中并與軸SH的螺栓孔13螺合。由此，將組裝成一體的被檢測體170、盤110和輪轂160固定到軸SH上。另外，在這些處理的同時或前后，進(jìn)行以固定或能夠旋轉(zhuǎn)的方式支承各結(jié)構(gòu)的處理、進(jìn)行磁檢測部120或光學(xué)模塊130等的位置調(diào)整的處理、連結(jié)磁檢測部120或光學(xué)模塊130等與位置數(shù)據(jù)生成部140的處理等，從而完成編碼器100。但是，這里省略這些處理的詳細(xì)說明。
[0105]<3.本實施方式的效果例>
[0106]以上對一個實施方式的編碼器100等進(jìn)行了說明。接著，對該編碼器100等的效果例進(jìn)行說明。
[0107](3-1.基于盤的內(nèi)徑大于被檢測體的內(nèi)徑等的效果例)
[0108]在本實施方式的編碼器100中，被檢測體170在上下方向上與盤110抵接并用粘接劑固定，由此保持在旋轉(zhuǎn)體R上。此時，當(dāng)從被檢測體170與盤110之間的間隙溢出的粘接劑附著于安裝在基板16上的磁阻元件121、磁場檢測元件122、光學(xué)模塊130 (光源131或受光元件等)，或者附著于用于將旋轉(zhuǎn)體R固定在軸SH上的螺栓14的座面14A等時，可能導(dǎo)致檢測精度的降低或緊固的不良情況等，導(dǎo)致編碼器100的可靠性降低。
[0109]因此，在本實施方式中，形成為盤110的貫通孔111的內(nèi)徑尺寸L3大于被檢測體170的貫通孔171的內(nèi)徑尺寸L4。此時的尺寸差是即使分別考慮盤110的貫通孔111和被檢測體170的貫通孔171的公差，盤110的貫通孔111的內(nèi)徑尺寸L3也必須大于被檢測體170的貫通孔171的內(nèi)徑尺寸L4的尺寸差。即，成為被檢測體170的內(nèi)周面170C比盤110的內(nèi)周面IlOC更向內(nèi)側(cè)伸出的構(gòu)造。由此，能夠借助表面張力的作用引導(dǎo)從被檢測體170與盤110之間的間隙溢出的粘接劑，使其沿著盤110的內(nèi)周面IlOC向下側(cè)流動。其結(jié)果是，由于能夠抑制粘接劑附著于基板16或螺栓14等，因此，能夠提高編碼器100的可靠性。
[0110]并且，被檢測體170的外徑尺寸受到一定的制約，以避免(特別是如本實施方式那樣編碼器100為“反射式”編碼器的情況下)與光學(xué)模塊130產(chǎn)生干涉。在本實施方式中，通過使被檢測體170的貫通孔171的內(nèi)徑尺寸L4小于盤110的貫通孔111的內(nèi)徑尺寸L3，能夠增大被檢測體170的磁化部172的體積而不會增大外徑尺寸。因此，能夠提高磁檢測部120的檢測精度。
[0111]并且，在本實施方式中，特別是旋轉(zhuǎn)體R具有形成在盤110的內(nèi)周側(cè)端部的槽190。由此，能夠使從被檢測體170與盤110之間的間隙溢出并借助表面張力的作用沿著盤110的內(nèi)周面IlOC向下側(cè)流動的粘接劑流入到槽內(nèi)，能夠滯留粘接劑。其結(jié)果是，能夠進(jìn)一步抑制粘接劑附著于基板16或螺檢14等。
[0112]并且，在本實施方式中，特別是旋轉(zhuǎn)體R具有輪轂160和盤110。這樣，通過不使旋轉(zhuǎn)體R —體化而利用分開的輪轂160和盤110構(gòu)成旋轉(zhuǎn)體R，如輪轂160為金屬，盤110為玻璃那樣，彼此能夠成為不同的材質(zhì)，能夠提高設(shè)計的自由度。并且，當(dāng)在輪轂160上固定盤110時，能夠一邊調(diào)整盤110的旋轉(zhuǎn)中心一邊進(jìn)行固定，因此，能夠容易地進(jìn)行高精度的位置對齊。
[0113]并且，在本實施方式中，特別是在盤110的貫通孔111中嵌合輪轂160的螺栓緊固部163，并且，盤110通過粘接固定在輪轂160的盤固定部162上。此時，由于進(jìn)行位置調(diào)整以進(jìn)行盤110和輪轂160的定心，因此，作為其調(diào)整富余，在輪轂160的階梯差部164與盤110的內(nèi)周面IlOC之間預(yù)先形成有規(guī)定間隙。在本實施方式中，由于利用該間隙作為發(fā)揮粘接劑的滯留槽功能的槽190，因此，不需要重新在輪轂160上形成槽。因此，能夠簡化制造步驟，能夠削減成本。
[0114]并且，在本實施方式中，特別是能夠得到如下效果。即，在盤110和輪轂160的位置調(diào)整時，輪轂160的階梯差部164作為與盤110的內(nèi)周面IlOC抵靠來限制盤110移動的止擋件發(fā)揮功能，但是，當(dāng)其高度過高時，螺栓緊固部163相對于盤固定部162的突出量增大，螺栓14的頭部14B可能與磁檢測部120等元件產(chǎn)生干涉。在本實施方式中，通過使階梯差部164的高度尺寸LI成為盤110的厚度尺寸L2的大致一半，能夠充分具有作為上述止擋件的功能，并且能夠避免螺栓14與元件產(chǎn)生干涉。
[0115]并且，在本實施方式中，特別是編碼器100是具有對盤110照射光的光源131以及接收來自盤110上形成的反射縫的反射光的受光元件的所謂的“反射式”編碼器。與所謂的“透射式”編碼器相比，“反射式”編碼器能夠增大光源131和受光元件與盤110之間的間隙。由此，能夠減少由于制造誤差等引起的伴隨盤110旋轉(zhuǎn)而產(chǎn)生的間隙變動的影響。但是，由于設(shè)置在與光源131和受光元件相同的基板上的磁檢測部120的磁阻元件121和磁場檢測元件122等各元件與被檢測體170之間的間隙也增大，因此，需要增大被檢測體170的磁化部172的高度方向(軸向)尺寸，以準(zhǔn)確檢測磁場。進(jìn)而，通過將光源131和受光元件作為一個光學(xué)模塊130而成為一個部件，與其它元件相比，該光學(xué)模塊130的厚度增大。其結(jié)果是，在被檢測體170和光學(xué)模塊130的設(shè)置位置在半徑方向上重合的情況下，彼此可能在高度方向上產(chǎn)生干涉。在本實施方式中，如上所述，形成為被檢測體170的貫通孔171的內(nèi)徑尺寸L4小于盤110的貫通孔111的內(nèi)徑尺寸L3，設(shè)置成使被檢測體170比盤110更向內(nèi)周側(cè)溢出。由此，能夠減小被檢測體170的外徑尺寸而不會減小被檢測體170的磁化部172的體積，因此，能夠避免與光學(xué)模塊130產(chǎn)生干涉。因此，能夠?qū)崿F(xiàn)能夠高精度地檢測多旋轉(zhuǎn)量的“反射式”編碼器。
[0116]另外，為了得到例如該(3-1)中說明的基于盤110的內(nèi)徑尺寸L3大于被檢測體170的內(nèi)徑尺寸L4等的效果，磁化部172不限于本實施方式中說明的上表面170A的磁通密度大于下表面170B的磁通密度的情況。例如，磁化部172也可以構(gòu)成為上表面170A的磁通密度和下表面170B的磁通密度相等?；蛘?，磁化部172也可以構(gòu)成為上表面170A的磁通密度小于下表面170B的磁通密度。
[0117]并且，為了得到例如該(3-1)中說明的基于盤110的內(nèi)徑尺寸L3大于被檢測體170的內(nèi)徑尺寸L4等的效果，被檢測體170不限于本實施方式中說明的以磁化部172的磁軛220側(cè)的表面成為上側(cè)、背軛210側(cè)的表面成為下側(cè)的方式固定在盤110上的情況。例如，被檢測體170也可以以磁軛220側(cè)的表面成為下側(cè)、背軛210側(cè)的表面成為上側(cè)的方式固定在盤110上。
[0118]并且，為了得到例如該(3-1)中說明的基于盤110的內(nèi)徑尺寸L3大于被檢測體170的內(nèi)徑尺寸L4等的效果，盤110不限于本實施方式中說明的由玻璃形成的情況。例如，盤110也可以由玻璃以外的材質(zhì)(例如金屬或樹脂等)形成。此時，例如，在使用反射率較高的金屬作為盤110的情況下，也可以針對不反射光的部分，通過濺射等使其成為粗糙面或涂布反射率較低的材質(zhì)來降低反射率，從而形成反射縫。但是，反射縫的形成方法不限于該例子。
[0119]并且，為了得到例如該(3-1)中說明的基于盤110的內(nèi)徑尺寸L3大于被檢測體170的內(nèi)徑尺寸L4等的效果，被檢測體170不限于本實施方式中說明的使磁化部172在大致180度的旋轉(zhuǎn)角度范圍內(nèi)產(chǎn)生磁場的情況。例如，被檢測體170也可以構(gòu)成為，使磁化部在小于180度的旋轉(zhuǎn)角度范圍內(nèi)產(chǎn)生磁場，在其余的旋轉(zhuǎn)角度范圍內(nèi)不產(chǎn)生磁場?；蛘?，被檢測體170也可以構(gòu)成為，使磁化部在大于180度的旋轉(zhuǎn)角度范圍內(nèi)產(chǎn)生磁場，在其余的旋轉(zhuǎn)角度范圍內(nèi)不產(chǎn)生磁場。
[0120]并且，為了得到例如該(3-1)中說明的基于盤110的內(nèi)徑尺寸L3大于被檢測體170的內(nèi)徑尺寸L4等的效果，磁阻元件121和磁場檢測元件122不限于本實施方式中說明的在被檢測體170的旋轉(zhuǎn)方向上相互隔開大致90度進(jìn)行配置的情況。例如，磁阻元件121和磁場檢測元件122也可以在被檢測體170的旋轉(zhuǎn)方向上相互隔開小于90度的角度進(jìn)行配置，或者以該旋轉(zhuǎn)方向的位置相互一致的方式進(jìn)行配置。或者，磁阻元件121和磁場檢測元件122也可以在被檢測體170的旋轉(zhuǎn)方向上相互隔開大于90度的角度進(jìn)行配置。
[0121]并且，為了得到例如該(3-1)中說明的基于盤110的內(nèi)徑尺寸L3大于被檢測體170的內(nèi)徑尺寸L4等的效果，磁檢測部120不限于本實施方式中說明的磁阻元件121和磁場檢測元件122各具有一個的情況。例如，磁檢測部120也可以具有2個以上的磁阻元件，具有一個磁場檢測元件或不具有磁場檢測元件?；蛘?，磁檢測部120也可以具有2個以上的磁場檢測元件，具有一個磁阻元件或不具有磁阻元件。
[0122](3-2.基于磁化部的上表面的磁通密度大于下表面的磁通密度等的效果例)
[0123]并且，在本實施方式中，被檢測體170的磁化部172構(gòu)成為其上表面170A的磁通密度大于其下表面170B的磁通密度。由此，即使在由于馬達(dá)M等的軸SH發(fā)熱或外部溫度上升等而使磁化部172整體退磁的情況下，也能夠抑制磁檢測部120在多旋轉(zhuǎn)的檢測中無法得到充分的磁通。因此，能夠抑制由于磁化部172的退磁而導(dǎo)致的檢測精度的降低。并且，特別是在本實施方式中，在大致180度的旋轉(zhuǎn)角度范圍內(nèi)產(chǎn)生磁場，在其余的大致180度的旋轉(zhuǎn)角度范圍內(nèi)不產(chǎn)生磁場。因此，即使在由于該結(jié)構(gòu)而發(fā)生從被檢測體170產(chǎn)生的磁通減少的情況下，通過使被檢測體170的磁化部172構(gòu)成為其上表面170A的磁通密度大于其下表面170B的磁通密度，也能夠?qū)ι鲜龃磐p少進(jìn)行補(bǔ)償。
[0124]并且，在本實施方式中，特別是在磁化裝置200中，在磁軛220與背軛210之間對作為磁鐵原料的未磁化的被檢測體170進(jìn)行磁化，制造磁化部172。在這樣制造出的磁化部172中，磁軛220側(cè)的表面的磁通密度大于背軛210側(cè)的表面的磁通密度。因此，以使磁化部172的磁軛220側(cè)的表面成為上側(cè)、背軛210側(cè)的表面成為下側(cè)的方式將被檢測體170固定在盤110上。由此，能夠以使上表面170A的磁通密度大于下表面170B的磁通密度的方式構(gòu)成磁化部172。因此，能夠抑制由于磁化部172的退磁而導(dǎo)致的檢測精度的降低。
[0125]并且，在本實施方式中，特別是旋轉(zhuǎn)體R具有輪轂160和盤110。盤110為玻璃制，在其表面IlOA上固定有被檢測體170，在表面IlOB上固定有輪轂160。由于要求強(qiáng)度，因此輪轂160在該例子中為金屬制，與軸SH連結(jié)。通過這種結(jié)構(gòu)，能夠在輪轂160與被檢測體170之間插裝導(dǎo)熱率小于金屬的玻璃制的盤110。其結(jié)果是，能夠抑制馬達(dá)M等的軸SH中產(chǎn)生的熱從輪轂160傳遞到被檢測體170的磁化部172，因此，能夠減少磁化部172的退磁，能夠進(jìn)一步抑制檢測精度的降低。
[0126]并且，在本實施方式中，特別是