一體式定量采樣加試劑裝置檢測儀的多光路試劑檢測裝置的制造方法
【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及多光路檢測試劑裝置，具體為一體式定量采樣加試劑裝置檢測儀的多光路試劑檢測裝置。
【背景技術】
[0002]現(xiàn)階段，對試劑的測試多停留在單臺機器完成單一類型測試的階段，一機不能多用，例如對吸光度檢測、散射比濁檢測、免疫熒光檢測等等每一種檢測需要不同的一種檢測儀，檢測人員對采樣試劑進行檢測時，需要將裝有采樣試劑的一體式定量采樣加試劑裝置放置相應的檢測儀中，在使用和攜帶時均非常不便，費時費力；同時，對所放入的采樣試劑沒有核對機制，如果一旦發(fā)生檢測人員放錯檢測儀，不僅會造成檢測結果不準確、采樣試劑浪費，更嚴重的可能造成重要采樣試劑不可逆的損失。目前市場上，針對專利名稱為《一種一體化定量采樣加試劑裝置》(其專利號為:201010539091.8)的專利中所描述的盛有采樣試劑的裝置，沒有能實現(xiàn)針對其內(nèi)部試劑類型進行多種不同光路選擇并檢測的設備，給使用帶來極大不便，實際操作中，每次針對不同的試劑，都需要更換檢測儀，大大降低了試驗檢測的效率，現(xiàn)階段，往往需要反復的多步驟的操作，這也增大了試劑變質(zhì)或污染的概率。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明所要解決的技術問題是提供一種使用方便、檢測精準、一機多用的用于一體式定量采樣加試劑裝置檢測儀的多光路試劑檢測裝置。
[0004]本發(fā)明采用如下技術方案:
一體式定量采樣加試劑裝置檢測儀的多光路試劑檢測裝置，其包括檢測接收電路板、用于放置一體式定量采樣加試劑裝置的托架、用于驅(qū)動托架繞軸擺動的驅(qū)動裝置、二維碼掃描器、發(fā)射光源、與發(fā)射光源相匹配的透鏡通道和光電轉(zhuǎn)換器Dl ;所述驅(qū)動裝置包括混勻電機；所述發(fā)射光源的數(shù)量大于或等于2個，所述透鏡通道的數(shù)量和發(fā)射光源的數(shù)量相同；所述發(fā)射光源、驅(qū)動裝置和透鏡通道均設置在機架上；
所述混勻電機的輸出軸固定連接所述托架，所述托架兩側(cè)設有耳軸，所述耳軸與混勻電機的輸出軸連接；所述混勻電機的輸出軸方向與發(fā)射光源的光線方向一致；所述托架位于發(fā)射光源和透鏡通道之間，所述發(fā)射光源的光線經(jīng)透鏡通道傳至光電轉(zhuǎn)換器Dl的輸入端，所述光電轉(zhuǎn)換器Dl的輸出端接對應檢測接收電路板的輸入端；所述一體式定量采樣加試劑裝置上設有用于唯一標識被測試劑的二維碼，所述二維碼掃描器與一體式定量采樣加試劑裝置上二維碼位置相對應。
[0005]所述二維碼掃描器的掃描鏡頭前設置有透鏡。所述二維碼掃描器的型號可以使基恩士二維碼讀取器R-610。
[0006]所述發(fā)射光源為全波長光源和/或激光管，所述全波長光源對應的檢測接收電路板為光柵接收傳感器，所述激光管對應的檢測接收電路板為可調(diào)增益光強信號接收放大電路； 所述可調(diào)增益光強信號接收放大電路包括運算放大芯片IC1、數(shù)字電位器芯片IC2、反饋電阻R1~R2、電容C1~C6 ;所述光電轉(zhuǎn)換器Dl接在運算放大芯片ICl的2腳和地之間；所述電阻Rl和電容C3并聯(lián)后接在運算放大芯片ICl的2腳和數(shù)字電位器芯片IC2的6腳之間；所述電容Cl和C2并聯(lián)后接在運算放大芯片IC的4腳和地之間；所述運算放大芯片ICl的6腳和7腳分別對應接數(shù)字電位器芯片IC2的7腳和電源VDD ;所述電容C4和C5并聯(lián)后接在運算放大芯片ICl的7腳和地之間；所述電容C6并聯(lián)在數(shù)字電位器芯片IC2的8腳與地之間，所述數(shù)字電位器芯片IC2的8腳接電源VCC ;所述數(shù)字電位器芯片IC2的5腳經(jīng)電阻R2接地；所述數(shù)字電位器芯片IC2的1、2、3腳分別接MCU控制腳；所述運算放大芯片ICl的型號為0TA121，所述數(shù)字電位器芯片IC2的型號為MCT41050。
[0007]進一步的，所述全波長光源可以為燈泡。
[0008]當所述透鏡通道為三個，其中一個需要對應激光管，另外兩個需要對應全波長光源時，發(fā)射光源為一個激光管和一個全波長光源，兩個透鏡通道共用一個全波長光源，其中全波長光源放置在燈罩中，通過連接在燈罩上的光纖傳導光線至發(fā)光處。
[0009]作為本發(fā)明的進一步改進，還包括用于確定托架擺動到位的磁體，所述磁體安裝于托架上，用于識別磁體位置的磁感應器安裝在擺動到位處，用于識別磁體位置的各個磁感應器安裝于擺動到位處，所述擺動到位處為沿托架擺動的圓弧軌跡上對應的每個發(fā)射光源處。
[0010]所述用于識別磁體位置的磁感應器為霍爾傳感器。
[0011]作為本發(fā)明的進一步改進，所述機架為高度可調(diào)的支架。
[0012]所述托架為側(cè)面設有豎直開口的上、下不封口管狀腔體，所述管狀腔體上設有貫通腔體的透光孔；所述透光孔的位置與發(fā)射光源和透鏡通道在同一水平線上，且所述透光孔的方向與發(fā)射光源的光線相對應。
[0013]本發(fā)明的有益效果是:
本發(fā)明結構合理，使用方便，能夠?qū)崿F(xiàn)一機多用，通過電機驅(qū)動托架轉(zhuǎn)動到相應位置，對準相應的透鏡通道，由于一體式定量采樣加試劑裝置中不同的采樣試劑需要采用不同光路檢測，本發(fā)明可在不更換儀器的情況下，實現(xiàn)對不同采樣試劑在同一機體內(nèi)自動檢測。
[0014]根據(jù)二維碼掃描器掃描位于一體式定量采樣加試劑裝置上的二維碼標簽上的信息，可判斷所需的檢測類型，自動旋轉(zhuǎn)匹配至相應透鏡通道完成檢測，并且根據(jù)二維碼內(nèi)的信息對通過檢測接收電路板的信號采取不同的判斷方法，將多光路試劑檢測集成一體，降低了成本，提高了效率，節(jié)約了檢測人員和患者的時間，同時避免了人為誤差，還可根據(jù)二維碼信息將患者的檢測結果分類處理，為后續(xù)工作提供方便。
[0015]另外，在所述二維碼掃描器的掃描鏡頭前設置有透鏡，根據(jù)需要調(diào)節(jié)二維碼掃描器的焦距，使用方便，且縮短二維碼掃描器與采樣器之間距離，有利于縮小整體設備的體積，提高整體集成度。
[0016]托架上設有用于識別擺動位置的磁體，有利于準確定位，提高托架轉(zhuǎn)動的準確度。
[0017]托架設計為側(cè)面設有豎直開口的上、下不封口管狀腔體，有助于后續(xù)設計的裝置沿該條形豎直開口上下移動，將托架內(nèi)的采樣器托送到指定位置，實用性強，使用方便。
[0018]本裝置中設有用于固定發(fā)射光源、驅(qū)動裝置和透鏡通道的機架，對其上安裝的設備具有減震效果，且上述機架高度可調(diào)，方便校準各部件高度水平。
【附圖說明】
[0019]圖1為本發(fā)明的結構示意圖。
[0020]圖2為本發(fā)明除去驅(qū)動裝置后的結構示意圖。
[0021]圖3為本發(fā)明發(fā)射光源和透鏡通道的位置關系示意圖。
[0022]圖4為本發(fā)明中托架的結構示意圖。
[0023]圖5為本發(fā)明中檢測接收電路板實施例的電路原理圖。
[0024]圖6為一體式定量采樣加試劑裝置檢測儀整體結構示意圖。
[0025]圖7為本發(fā)明混勻結構的結構示意圖。
[0026]圖8為本發(fā)明固定板的結構示意圖。
[0027]圖9本發(fā)明固定板定位組件的結構示意圖。
[0028]圖10為本發(fā)明的槽口和凸起的連動關系不意圖。
[0029]圖11為本發(fā)明的下壓齒條與水平滑架的連接關系示意圖。
[0030]圖12為本發(fā)明的艙門板的結構示意圖。
[0031]圖13為本發(fā)明中托架擺動到某一工位處的狀態(tài)示意圖。
[0032]其中，I透鏡、2混勻電機、3輸出軸、4發(fā)射光源、5透鏡通道、6檢測接收電路板、7二維碼掃描器、8透光孔、9機架、10耳軸、11豎直開口、12 一體式定量采樣加試劑裝置、13磁體、14送風管、15加熱片、16檢測儀殼體、17驅(qū)動電機，18驅(qū)動齒輪、19光纖、20全波長光源、21燈罩、22光柵接收傳感器、23觸發(fā)開關、1-3顯示器、1-5固定孔、1-6防濺槽、2_1下壓齒條、2-4導桿、2-6備用導軌、2-7水平滑架、2-8導軌、2_9下壓連動齒輪、2_10下壓從動齒輪、2-11槽口、2-13導向滑軌、2-15缺齒、2_16凸起、2_17定位卡、2_18壓板、2_19嚙合齒、
2-21從驅(qū)動齒輪、2-22階梯孔、3-2托架、3_3卡位簧片、3_4支撐架、3_8固定板、3_9定位凸臺、3-10定位卡槽、3-11升