>[0062]進(jìn)一步的改進(jìn)是，在接下來(lái)是一體式定量采樣加試劑裝置12固定過(guò)程和混勻過(guò)程中，從驅(qū)動(dòng)齒輪2-21的轉(zhuǎn)動(dòng)軸的一端固定設(shè)置有徑向充磁磁鐵，機(jī)架9上設(shè)置有與徑向充磁磁鐵對(duì)應(yīng)的磁力傳感器，通過(guò)磁力傳感器的信息對(duì)驅(qū)動(dòng)電機(jī)17的停止進(jìn)行控制。
[0063]或者改進(jìn)成，所述托架3-2的擺動(dòng)末端安裝有磁體13，用于識(shí)別磁體13位置的磁感應(yīng)器安裝在擺動(dòng)到位處，用于識(shí)別磁體13位置的各個(gè)磁感應(yīng)器安裝于擺動(dòng)到位處，所述擺動(dòng)到位處為沿托架3-2擺動(dòng)的圓弧軌跡上對(duì)應(yīng)的每個(gè)發(fā)射光源4處，總之在需要托架3-2帶動(dòng)其內(nèi)的一體式定量采樣加試劑裝置12擺動(dòng)到何處停止，就在何處安裝磁感應(yīng)器，使得托架3-2擺動(dòng)到和磁感應(yīng)器感應(yīng)上的位置處時(shí)，給混勻電機(jī)2 —個(gè)信號(hào)，停止轉(zhuǎn)動(dòng)并鎖定該位置，確保此刻托架3-2上的透光孔8對(duì)準(zhǔn)發(fā)射光源4，透光孔8的另一側(cè)對(duì)準(zhǔn)的是對(duì)應(yīng)的透鏡通道5，形成暢通光路，為光路檢測(cè)做準(zhǔn)備。
[0064]所述固定板3-8上設(shè)置有定位凸臺(tái)3-9，所述定位凸臺(tái)3_9置于升降齒條架3_11的讓位槽內(nèi)，所述定位凸臺(tái)3-9兩側(cè)設(shè)置有定位卡槽3-10，所述讓位槽內(nèi)兩側(cè)壁設(shè)置有與定位卡槽3-10相適配的定位卡勾3-13，所述定位卡槽3-10位于兩個(gè)相鄰的脊型凸起3-18之間。
[0065]所述水平滑架2-7為門型結(jié)構(gòu)，在所述水平滑架2-7上設(shè)置有下壓齒條架2_1 ;所述下壓齒條架2-1為框型結(jié)構(gòu)，在其上部設(shè)有壓板2-18，所述下壓齒條架2-1 —側(cè)設(shè)有嚙合齒2-19，其另一側(cè)設(shè)有用于導(dǎo)向的導(dǎo)向滑軌2-13 ;所述水平滑架2-7的一側(cè)設(shè)有與所述導(dǎo)向滑軌2-13相配合的凸沿，使得下壓齒條架2-1能依靠導(dǎo)向滑軌2-13沿水平滑架2-7上下移動(dòng)，所述水平滑架2-7的下部為機(jī)架9。
[0066]接下來(lái)是檢測(cè)過(guò)程:
混勻完成后的一體式定量采樣加試劑裝置12回到混勻前的豎直位置，此時(shí)光檢的發(fā)射光源4發(fā)出檢測(cè)光線，穿過(guò)待檢測(cè)試劑后到達(dá)檢測(cè)接收電路板6，檢測(cè)接收電路板6將光信息轉(zhuǎn)換為電信號(hào)回傳至信號(hào)處理電路，信號(hào)處理電路將分析結(jié)果傳遞到控制單元，控制單元將檢測(cè)結(jié)果與儲(chǔ)存?zhèn)溆玫脑噭┕苄畔⒄虾髠鬟f到顯示器1-3、無(wú)線發(fā)射模塊和打印機(jī)。
[0067]最后是驅(qū)動(dòng)電機(jī)17反向轉(zhuǎn)動(dòng)，打開機(jī)體艙門4-1，將一體式定量采樣加試劑裝置12送回到出艙位置，出艙位置是托盤5-9將一體式定量采樣加試劑裝置12托舉至最高位置，儀器給出檢驗(yàn)結(jié)束的提示，操作人員取走一體式定量采樣加試劑裝置12，控制單元檢測(cè)到儀器內(nèi)沒(méi)有一體式定量采樣加試劑裝置12，儀器回到待機(jī)狀態(tài)。
[0068]本發(fā)明僅是為了保護(hù)自動(dòng)識(shí)別多光路試劑檢測(cè)裝置，其他說(shuō)明是為了體現(xiàn)其工作方式和過(guò)程，不屬于本發(fā)明的保護(hù)內(nèi)容。
[0069]以上實(shí)施例僅用以說(shuō)明本發(fā)明的技術(shù)方案，而非對(duì)其限制；盡管參照前述實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行了詳細(xì)的說(shuō)明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解:其依然可以對(duì)前述實(shí)施例所記載的技術(shù)方案進(jìn)行修改，或者對(duì)其中部分技術(shù)特征進(jìn)行等同替換；而這些修改或者替換，并不使相應(yīng)技術(shù)方案的本質(zhì)脫離本發(fā)明實(shí)施例技術(shù)方案的精神和范圍。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一體式定量采樣加試劑裝置檢測(cè)儀的多光路試劑檢測(cè)裝置，其特征在于:其包括用于放置一體式定量采樣加試劑裝置(12)的托架(3-2)、用于驅(qū)動(dòng)托架(3-2)繞軸擺動(dòng)的驅(qū)動(dòng)裝置、發(fā)射光源(4)和與發(fā)射光源(4)相匹配的光信號(hào)接收檢測(cè)裝置；所述發(fā)射光源(4)的數(shù)量大于或等于2個(gè)，所述發(fā)射光源(4)和對(duì)應(yīng)的光信號(hào)接收檢測(cè)裝置分別位于所述托架(3-2)擺動(dòng)平面的兩側(cè)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一體式定量采樣加試劑裝置檢測(cè)儀的多光路試劑檢測(cè)裝置，其特征在于:其還包括二維碼掃描器(7)，所述一體式定量采樣加試劑裝置(12)上設(shè)有用于唯一標(biāo)識(shí)被測(cè)試劑的二維碼，所述二維碼掃描器(7)與一體式定量采樣加試劑裝置(12)上二維碼位置相對(duì)應(yīng)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的一體式定量采樣加試劑裝置檢測(cè)儀的多光路試劑檢測(cè)裝置，其特征在于:所述光信號(hào)接收檢測(cè)裝置包括光電轉(zhuǎn)換器Dl和檢測(cè)接收電路板(6)，所述發(fā)射光源(4)和光電轉(zhuǎn)換器Dl之間設(shè)有透鏡通道(5)，所述發(fā)射光源(4)的光線依次經(jīng)一體式定量采樣加試劑裝置(12)中的試劑、透鏡通道(5)傳至光電轉(zhuǎn)換器Dl的輸入端，所述光電轉(zhuǎn)換器Dl的輸出端接對(duì)應(yīng)檢測(cè)接收電路板(6)的輸入端。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的一體式定量采樣加試劑裝置檢測(cè)儀的多光路試劑檢測(cè)裝置，其特征在于:所述驅(qū)動(dòng)裝置包括混勻電機(jī)(2);所述混勻電機(jī)(2)的輸出軸(3)固定連接所述托架(3-2)，所述混勻電機(jī)(2)的輸出軸(3)方向與發(fā)射光源(4)的光線方向一致；所述托架(3-2)位于發(fā)射光源(4)和相對(duì)應(yīng)的光信號(hào)接收檢測(cè)裝置之間。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一體式定量采樣加試劑裝置檢測(cè)儀的多光路試劑檢測(cè)裝置，其特征在于:所述檢測(cè)接收電路板(6)為可調(diào)增益光強(qiáng)信號(hào)接收放大電路。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一體式定量采樣加試劑裝置檢測(cè)儀的多光路試劑檢測(cè)裝置，其特征在于:所述可調(diào)增益光強(qiáng)信號(hào)接收放大電路包括運(yùn)算放大芯片IC1、數(shù)字電位器芯片IC2、反饋電阻R1~R2、電容C1~C6 ;所述光電轉(zhuǎn)換器Dl接在運(yùn)算放大芯片ICl的2腳和地之間；所述電阻Rl和電容C3并聯(lián)后接在運(yùn)算放大芯片ICl的2腳和數(shù)字電位器芯片IC2的6腳之間；所述電容Cl和C2并聯(lián)后接在運(yùn)算放大芯片ICl的4腳和地之間；所述運(yùn)算放大芯片ICl的6腳和7腳分別對(duì)應(yīng)接數(shù)字電位器芯片IC2的7腳和電源VDD ;所述電容C4和C5并聯(lián)后接在運(yùn)算放大芯片ICl的7腳和地之間；所述電容C6并聯(lián)在數(shù)字電位器芯片IC2的8腳與地之間，所述數(shù)字電位器芯片IC2的8腳接電源VCC ;所述數(shù)字電位器芯片IC2的5腳經(jīng)電阻R2接地；所述數(shù)字電位器芯片IC2的1、2、3腳分別接MCU控制腳；所述運(yùn)算放大芯片ICl的型號(hào)為0TA121，所述數(shù)字電位器芯片IC2的型號(hào)為MCT41050。
7.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的一體式定量采樣加試劑裝置檢測(cè)儀的多光路試劑檢測(cè)裝置，其特征在于:其還包括用于確定托架(3-2)擺動(dòng)到位的磁體(13)，所述磁體(13)安裝于托架(3-2)上，用于識(shí)別磁體(13)位置的各個(gè)磁感應(yīng)器安裝于擺動(dòng)到位處，所述擺動(dòng)到位處為沿托架(3-2)擺動(dòng)的圓弧軌跡上對(duì)應(yīng)的每個(gè)發(fā)射光源(4)處。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的一體式定量采樣加試劑裝置檢測(cè)儀的多光路試劑檢測(cè)裝置，其特征在于:用于識(shí)別所述磁體(13)位置的磁感應(yīng)器為霍爾傳感器。
9.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的一體式定量采樣加試劑裝置檢測(cè)儀的多光路試劑檢測(cè)裝置，其特征在于:所述托架(3-2 )為側(cè)面設(shè)有豎直開口( 11)的管狀腔體，所述管狀腔體上設(shè)有貫通腔體的透光孔(8);所述透光孔(8)的位置與發(fā)射光源(4)相對(duì)應(yīng)。
10.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一體式定量采樣加試劑裝置檢測(cè)儀的多光路試劑檢測(cè)裝置，其特征在于:所述二維碼掃描器(7)的掃描鏡頭前設(shè)置有透鏡(I)。
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種一體式定量采樣加試劑裝置檢測(cè)儀的多光路試劑檢測(cè)裝置，其包括檢測(cè)接收電路板、用于放置一體式定量采樣加試劑裝置的托架、用于驅(qū)動(dòng)托架繞軸擺動(dòng)的驅(qū)動(dòng)裝置、二維碼掃描器、發(fā)射光源、與發(fā)射光源相匹配的透鏡通道和光電轉(zhuǎn)換器D1；驅(qū)動(dòng)裝置包括混勻電機(jī)；發(fā)射光源的數(shù)量大于或等于2個(gè)；發(fā)射光源、驅(qū)動(dòng)裝置和透鏡通道均設(shè)置在機(jī)架上；混勻電機(jī)的輸出軸固定連接托架，托架兩側(cè)設(shè)有耳軸，耳軸與混勻電機(jī)的輸出軸連接；托架位于發(fā)射光源和透鏡通道之間，發(fā)射光源的光線經(jīng)透鏡通道傳至光電轉(zhuǎn)換器D1的輸入端，光電轉(zhuǎn)換器D1的輸出端接對(duì)應(yīng)檢測(cè)接收電路板的輸入端。本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)是使用方便、檢測(cè)精準(zhǔn)、能實(shí)現(xiàn)在一機(jī)體內(nèi)的多光路檢測(cè)。
【IPC分類】G06K7-10, G01N35-00, G01N21-84
【公開號(hào)】CN104678115
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201510082659
【發(fā)明人】郝書順
【申請(qǐng)人】石家莊禾柏生物技術(shù)股份有限公司
【公開日】2015年6月3日
【申請(qǐng)日】2015年2月15日