在連接器上方具有液體容納室的測試系統(tǒng)的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本專利申請整體涉及在連接器上方具有液體容納室的測試系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]測試儀包括用于測試器件的電子器件。通常對電子器件進行冷卻以減少過熱?？墒褂美鋮s劑諸如氫氟醚(HFE)來進行冷卻。通常使用外部固定組件(可包括貯存器、熱交換器和泵)來進行液體冷卻。通常將這種組件連接到測試儀。
[0003]直接在儀器上使用液體冷卻的當代測試儀不一定總是需要雙重抑制。這是因為所用的冷卻劑(即HFE-7100)是不導(dǎo)電的。HFE-7100具有若干其他有用的性質(zhì)，例如不促進生物生長、溢出后不留下殘余物、不腐蝕鋁或其他金屬。
[0004]使用水或其他液體作為冷卻劑有一些好處，但也有一些缺點。例如，由于水具有導(dǎo)電性，水促進生物生長、腐蝕金屬，并且會損壞設(shè)備。現(xiàn)有的水冷測試儀通過材料選擇和包含殺生物劑和抗蝕劑的經(jīng)預(yù)處理的水來解決這些問題。例如，可通過采用“硬管連接”的可靠流體連接來解決滲漏問題。換句話講，不存在常規(guī)的配接/非配接流體連接，因為不存在對可拆卸儀表卡的直接冷卻。
[0005]水冷測試儀可采用直接冷卻和冷卻板來實現(xiàn)冷卻。安裝和拆卸儀表卡時，此類測試儀可采用速斷件(QD)。雖然QD允許快速形成和斷開到儀表卡的液體連接，但許多QD采用O形環(huán)進行密封。如在QD上采用的O形環(huán)密封件一樣，O形環(huán)密封件易于因搬運受損、流體中的污染或過度循環(huán)導(dǎo)致的磨損而發(fā)生泄露。鑒于在一些測試儀中使用了大量的QD，因此可能發(fā)生滲漏。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]一個示例性測試系統(tǒng)可包括下列特征中的一個或多個:包括流體通道的歧管，其中流體通道用于盛裝冷卻劑；機械聯(lián)接到歧管的速斷件，其中速斷件包括用于在流體通道和測試板之間輸送冷卻劑的通道；機械聯(lián)接到歧管的容納板；位于速斷件的至少一部分上的覆蓋件，其中覆蓋件氣密封到速斷件和容納板，從而形成容納室。該示例性測試系統(tǒng)也可包括下列特征中的一個或多個(單獨地或組合地)。
[0007]速斷件可為第一速斷件；覆蓋件可為第一覆蓋件；并且容納室可為第一容納室。該測試系統(tǒng)可包括第二速斷件，其中第二速斷件機械聯(lián)接到歧管，并且其中第二速斷件包括用于在流體通道和測試板之間輸送冷卻劑的通道。第二覆蓋件可位于第二速斷件的至少一部分上。第二覆蓋件可氣密封到第二速斷件和容納板上，從而形成第二容納室。容納板可包括連接第一容納室和第二容納室的一條或多條通道，從而形成容納區(qū)。歧管可包括來自容納區(qū)的輸出通道。
[0008]該示例性測試系統(tǒng)可包括與輸出通道流體連通的分離器，其中輸出通道用于輸送來自容納區(qū)的冷卻劑和氣體，并且其中分離器用于將冷卻劑與氣體分離。分離器可為螺旋插入管。管可機械聯(lián)接到分離器，以接納冷卻劑；傳感器可感測管中的冷卻劑；排放閥可排放管中的冷卻劑。真空發(fā)生器可被配置為通過抽氣降低容納區(qū)中的氣壓。真空發(fā)生器可機械聯(lián)接到分離器，以便使氣體能夠從分離器流動到真空發(fā)生器?？杉尤雺毫ΡO(jiān)視器，以監(jiān)視容納區(qū)內(nèi)的氣壓。
[0009]該測試系統(tǒng)可包括壓板，用于在第一覆蓋件與容納板之間以及在第二覆蓋件與容納板之間形成氣密封。第一覆蓋件的至少一部分和第二覆蓋件的至少一部分可位于壓板和容納板之間。壓板可包括連接到容納板的機械連接裝置，用于將壓板抵靠容納板緊固。覆蓋件可包含有機硅，冷卻劑可包含水。
[0010]另一個示例性測試系統(tǒng)可包括下列特征中的一個或多個:包括回流通道和供應(yīng)通道的結(jié)構(gòu)，其中供應(yīng)通道用于將液體冷卻劑提供到測試板，回流通道用于接納來自測試板的液體冷卻劑；與供應(yīng)通道流體連通的第一速斷件；位于第一速斷件的至少一部分上方的第一覆蓋件，其中第一覆蓋件氣密封到第一速斷件和所述結(jié)構(gòu)，從而形成第一容納室；與回流通道流體連通的第二速斷件；位于第二速斷件的至少一部分上方的第二覆蓋件，其中第二覆蓋件氣密封到第二速斷件和所述結(jié)構(gòu)，從而形成第二容納室。所述結(jié)構(gòu)可包括與第一容納室和第二容納室兩者流體連通的輸出通道。該示例性測試系統(tǒng)也可包括下列特征中的一個或多個(單獨地或組合地)。
[0011]所述結(jié)構(gòu)可包括歧管和機械聯(lián)接到歧管的容納板，其中歧管包括回流通道和供應(yīng)通道，并且其中容納板包括圍繞第一速斷件和第二速斷件的流體密封件。
[0012]該示例性測試系統(tǒng)可包括壓板，用于在第一覆蓋件與容納板之間以及在第二覆蓋件與容納板之間形成氣密封。第一覆蓋件的至少一部分和第二覆蓋件的至少一部分可位于壓板和容納板之間。壓板可包括連接到容納板的機械連接裝置，用于將壓板抵靠容納板緊固。容納板可包括連接第一容納室和第二容納室的一條或多條通道。
[0013]該示例性測試系統(tǒng)可包括與輸出通道流體連通的分離器，其中輸出通道用于輸送來自第一容納室和第二容納室中的至少一者的液體冷卻劑和氣體，并且其中分離器用于將液體冷卻劑與氣體分離。分離器可包括螺旋插入管。管可機械聯(lián)接到分離器，以接納液體冷卻劑；傳感器可用于感測管中的液體冷卻劑；排放閥可用于排放管中的液體冷卻劑。真空發(fā)生器可被配置為通過抽氣降低第一容納室和第二容納室中的氣壓。真空發(fā)生器可機械聯(lián)接到分離器，以便使氣體能夠從分離器流動到真空發(fā)生器?？杉尤雺毫ΡO(jiān)視器，以監(jiān)視容納區(qū)內(nèi)的氣壓。第一覆蓋件和第二覆蓋件各自可包含有機硅，冷卻劑可為水。
[0014]本文所述(包括在此
【發(fā)明內(nèi)容】
部分中)特征中的任何兩個或更多個可組合形成本文未具體描述的實施例。
[0015]上述部分內(nèi)容可被實現(xiàn)為由指令構(gòu)成的計算機程序產(chǎn)品，所述指令存儲在一個或多個非暫態(tài)機器可讀存儲介質(zhì)上，并可在一個或多個處理裝置上執(zhí)行。上述全部或部分內(nèi)容可被實現(xiàn)為設(shè)備、方法或系統(tǒng)，其可包括一個或多個處理裝置以及存儲用于實現(xiàn)功能的可執(zhí)行指令的存儲器。
[0016]附圖和以下【具體實施方式】闡述了一個或多個例子的細節(jié)。根據(jù)說明書、附圖和權(quán)利要求書，其他特征、方面和優(yōu)點將變得顯而易見。
【附圖說明】
[0017]圖1為用于測試頭的冷卻系統(tǒng)的圖表。
[0018]圖2為連接到歧管的速斷件(QD)的橫截面。
[0019]圖3為連接到歧管的速斷件(QD)的等尺寸拼合橫截面圖。
[0020]圖4為QD及其覆蓋件的透視圖。
[0021]圖5為示出QD及其覆蓋件如何連接到歧管的分解圖。
[0022]圖6為水分離器的側(cè)視圖。
[0023]圖7為水分離器和管的側(cè)視圖。
[0024]圖8為管的螺旋插入件的側(cè)視圖。
【具體實施方式】
[0025]本文描述的是冷卻劑分配歧管，其被構(gòu)造成減少液體冷卻劑在自動測試設(shè)備的測試頭(也可互換地稱為“測試儀”)內(nèi)的滲漏的可能性。在一些示例中，冷卻劑分配歧管包括用于將液體冷卻劑提供到儀表板的流體供應(yīng)通道，以及用于將液體冷卻劑從冷卻的儀表板輸送返回的回