一種電阻自動化測試系統(tǒng)的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種電子器件的測試系統(tǒng)，具體涉及一種電阻自動化測試系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]電子產(chǎn)品的可靠性從根本上由元器件的質(zhì)量來決定，電阻器是使用最廣泛的元器件之一，其測試工作開始規(guī)范化，《GB/T 5729-2003電子設(shè)備用固定電阻器》與《Q/GDW11179.3電能表用元器件技術(shù)規(guī)范第3部分:電阻器》元器件標(biāo)準(zhǔn)都對電阻器測試方法進(jìn)行了明確規(guī)定。隨著表面貼裝技術(shù)的發(fā)展貼片電阻器逐漸取代引線電阻器，而貼片電阻器由于體積太小導(dǎo)致了測試的不便，具體為:
[0003]1、分組及編號困難且易丟失
[0004]貼片電阻器由于體積太小，無法在電阻器上直接編號分組且電阻器容易丟失，這給電阻器分組試驗測試帶來了極大的不便，試驗人員經(jīng)常因找尋貼片電阻器而浪費(fèi)大量的時間和精力。
[0005]2、電阻器測量易受引線及接觸電阻的影響
[0006]電阻器測量電路中總是存在接觸電阻和導(dǎo)線電阻，其數(shù)量級有時和被測電阻相同，甚至可能高于被測電阻，所以會對測量結(jié)果造成很大影響，甚至使測量結(jié)果完全失去正確性。導(dǎo)線電阻是可控的，而接觸電阻的隨意性非常大，同一個電阻放置在夾具的不同位置接觸電阻不同，不同的測試人員測試時用力的差別也可能帶來接觸電阻的不同。
[0007]3、電阻環(huán)境試驗難以開展
[0008]環(huán)境對元器件性能的影響一直是評價元器件性能的關(guān)鍵指標(biāo)，《GB/T 5729-2003電子設(shè)備用固定電阻器》與《Q/GDW 11179.3電能表用元器件技術(shù)規(guī)范第3部分:電阻器》對電阻器的環(huán)境試驗要求作了明確規(guī)定，其中溫度系數(shù)實(shí)驗需要測試_55°C與125°C時的電阻值，此時的溫度值測試顯然需要將電阻測試用導(dǎo)線引到溫箱外進(jìn)行測試，而且測試過程中需要更換測試電阻。在常規(guī)方法下，引線引入的電阻是難以去除的，不利于精密測量，另外不便在高低溫環(huán)境下更換測試電阻。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0009]針對現(xiàn)有技術(shù)的不足，本發(fā)明提供一種電阻自動化測試系統(tǒng)，能夠通過測量模塊采用四線法測量待測電阻并通過控制模塊自動化控制對待測電阻的測量，即能排除引線電阻和接觸電阻對電阻值測量的影響，又能有效的提高電阻器的測量效率。
[0010]本發(fā)明的目的是采用下述技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)的:
[0011]一種電阻自動化測試系統(tǒng)，其改進(jìn)之處在于，包括:
[0012]測量模塊、底座、控制模塊和數(shù)字測試模塊；
[0013]所述控制模塊包括:繼電器列陣單元、MCU單元、鍵盤和LED單元；
[0014]在所述控制模塊中，所述鍵盤與MCU單元連接；所述MCU單元又分別與所述繼電器列陣單元、LED單元連接；
[0015]所述測量模塊、底座、控制模塊中的繼電器列陣單元、數(shù)字測試模塊依次連接；
[0016]所述測量模塊，由nXm個Cnxn矩陣式排列并具有標(biāo)號k的四線法測試夾具組成，用于放置所述待測電阻器，k為所述四線法測試夾具的標(biāo)號，k ( nXm ;n為所述矩陣的行數(shù)，m為所述矩陣的列數(shù)；
[0017]所述控制模塊，用于根據(jù)用戶指令通過所述底座采集所述測量模塊的待測電阻數(shù)據(jù)并控制所述電阻數(shù)據(jù)的輸出。
[0018]優(yōu)選的，所述四線法測試夾具包括:1+導(dǎo)線、I _導(dǎo)線、U.導(dǎo)線和U _導(dǎo)線；所述I +導(dǎo)線和1-導(dǎo)線，用于測量所述待測電阻電流，所述U +導(dǎo)線和U _導(dǎo)線，用于測量所述待測電阻電壓。
[0019]優(yōu)選的，底座用于建立測量模塊與控制模塊的通信連接，包括:可插拔接口和與可插拔接口連接的四線法測試夾具的導(dǎo)線；所述底座還用于將所述四線法測試夾具的導(dǎo)線分為四組，第一組包括Ik+導(dǎo)線、第二組包括I k-導(dǎo)線、第三組包括Uk+導(dǎo)線和第四組包括UkJl線。
[0020]優(yōu)選的，所述繼電器列陣單元，用于分別將所述四線法測試夾具的四組導(dǎo)線的多路輸入轉(zhuǎn)換為單路輸出。
[0021]優(yōu)選的，所述控制模塊，用于根據(jù)用戶指令通過所述底座采集所述測量模塊的待測電阻數(shù)據(jù)并控制所述電阻數(shù)據(jù)的輸出包括:
[0022]用戶通過所述鍵盤輸入用戶指令，所述MCU單元能夠根據(jù)所述用戶指令控制所述繼電器列陣單元選擇標(biāo)號為k+Ι或k-Ι的四線法測試夾具的導(dǎo)線導(dǎo)通并將所述四線法測試夾具對應(yīng)的待測電阻的電阻數(shù)據(jù)輸出至所述數(shù)字測試模塊；或者所述MCU單元根據(jù)所述用戶指令控制所述繼電器列陣單元依次將所述四線法測試夾具的導(dǎo)線導(dǎo)通并將所述四線法測試夾具對應(yīng)的待測電阻的電阻數(shù)據(jù)輸出至所述數(shù)字測試模塊。
[0023]優(yōu)選的，所述數(shù)字測試模塊，用于根據(jù)所述控制模塊的所述待測電阻數(shù)據(jù)通過四線法測量所述待測電阻的阻值并通過接口輸出至計算機(jī)。
[0024]優(yōu)選的，所述LED單元，用于顯示所述系統(tǒng)正在測量的所述待測電阻對應(yīng)的四線法測試夾具的標(biāo)號。
[0025]優(yōu)選的，所述控制模塊通過開關(guān)電源供電。
[0026]與最接近的現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明具有的有益效果:
[0027]1、通過測量模塊的導(dǎo)線連接，采用四線法測量待測電阻，能夠有效的排除引線電阻和接觸電阻對電阻值測量的影響；
[0028]2、通過將電阻放置于四線法測試夾具上并對四線法測試夾具進(jìn)行標(biāo)號，解決了貼片電阻器由于體積太小，無法在電阻器上直接編號分組且電阻器容易丟失的問題；
[0029]3、通過控制模塊自動化控制待測電阻的測量，解決了高低溫環(huán)境下更換測試電阻困難的問題，同時能夠有效的提高電阻器的測量效率。
【附圖說明】
[0030]圖1是本發(fā)明提供的一種電阻自動化測試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖；
[0031]圖2是本發(fā)明提供的一種電阻自動化測試系統(tǒng)的四線法測試夾具結(jié)構(gòu)示意圖；
[0032]圖3是四線法測量電阻原理圖；
[0033]圖4是本發(fā)明提供的一種電阻自動化測試系統(tǒng)的底座結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0034]下面結(jié)合附圖對本發(fā)明的【具體實(shí)施方式】作進(jìn)一步的詳細(xì)說明。
[0035]為使本發(fā)明實(shí)施例的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例。基于本發(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其它實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。
[0036]本發(fā)明提供的一種電阻自動化測試系統(tǒng)，如圖1所示，包括:
[0037]測量模塊、底座、控制模塊和數(shù)字測試模塊；
[0038]所述控制模塊包括:繼電器列陣單元、MCU單元、鍵盤和LED單元；
[0039]在所述控制模塊中，所述鍵盤與MCU單元連接；所述MCU單元又分別與所述繼電器列陣單元、LED單元連接；
[0040]所述測量模塊、底座、控制模塊中的繼電器列陣單元、數(shù)字測試模塊依次連接；
[0041]所述測量模塊，由n