Xm個Cnxn矩陣式排列并具有標號k的四線法測試夾具組成，用于放置所述待測電阻器，k為所述四線法測試夾具的標號，k ( nXm ;n為所述矩陣的行數(shù)，m為所述矩陣的列數(shù)；
[0042]所述控制模塊，用于根據用戶指令通過所述底座采集所述測量模塊的待測電阻數(shù)據并控制所述電阻數(shù)據的輸出。
[0043]例如，如圖2所示，一個PCB板上，安裝2X4個C2x4矩陣式排列且標號為1-8的四線法測試夾具，其中，四線法測量電阻原理，如圖3所示，由待測電阻兩個端點分別引出測量所述待測電阻器電流的端點1+和I _，并由所述端點1+和I —引出I +導線和I —導線，電流源經1+導線和I —導線供給待測電阻；由所述端點I +與所述待測電阻器的端點之間的連接點引出測量所述待測電阻電壓的U+導線，由所述端點I _與所述待測電阻器的端點之間的連接點引出測量所述待測電阻電壓的U_導線，根據I +導線和I _導線測量待測電阻的電流及U+導線和U _導線測量待測電阻的電壓計算待測電阻的阻值，有效的排除引線電阻和接觸電阻對電阻值測量的影響。
[0044]所述控制模塊，用于根據用戶指令通過所述底座采集所述測量模塊的待測電阻數(shù)據并控制所述電阻數(shù)據的輸出；
[0045]具體的，用戶通過所述鍵盤輸入用戶指令，所述MCU單元能夠根據所述用戶指令控制所述繼電器列陣單元選擇標號為k+Ι或k-Ι的四線法測試夾具的導線導通并將所述四線法測試夾具對應的待測電阻的電阻數(shù)據輸出至所述數(shù)字測試模塊；或者所述MCU單元根據所述用戶指令控制所述繼電器列陣單元依次將所述四線法測試夾具的導線導通并將所述四線法測試夾具對應的待測電阻的電阻數(shù)據輸出至所述數(shù)字測試模塊。
[0046]底座用于建立測量模塊與控制模塊的通信連接，包括:可插拔接口和與可插拔接口連接的四線法測試夾具的導線；所述底座還用于將所述四線法測試夾具的導線分為四組，第一組包括Ik+導線、第二組包括I k_導線、第三組包括U k+導線和第四組包括U k_導線，其中，k為所述四線法測試夾具的標號，k ( nXm。
[0047]例如，如圖4所示，所述底座與如圖2所示的測量模塊連接，可插拔接口連接所述四線法測試夾具的導線并將所述四線法測試夾具的導線分為四組，第一組包括Ik+導線、第二組包括Ik-導線、第三組包括U k+導線和第四組包括U k_導線，k e [I, 8]。
[0048]所述繼電器列陣單元，用于分別將所述四線法測試夾具的四組導線的多路輸入轉換為單路輸出。
[0049]所述控制模塊，用于根據用戶指令通過所述底座采集并控制所述測量模塊的待測電阻數(shù)據包括:
[0050]所述數(shù)字測試模塊，用于根據所述控制模塊的所述待測電阻數(shù)據通過四線法測量所述待測電阻的阻值并通過接口輸出至計算機。
[0051]所述數(shù)字測試模塊為安捷倫3458A數(shù)字多用表。
[0052]所述LED單元，用于顯示所述系統(tǒng)正在測量的所述待測電阻對應的四線法測試夾具的標號。
[0053]所述控制模塊通過開關電源供電。
[0054]最后應當說明的是:以上實施例僅用以說明本發(fā)明的技術方案而非對其限制，盡管參照上述實施例對本發(fā)明進行了詳細的說明，所屬領域的普通技術人員應當理解:依然可以對本發(fā)明的【具體實施方式】進行修改或者等同替換，而未脫離本發(fā)明精神和范圍的任何修改或者等同替換，其均應涵蓋在本發(fā)明的權利要求保護范圍之內。
【主權項】
1.一種電阻自動化測試系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)包括: 測量模塊、底座、控制模塊和數(shù)字測試模塊； 所述控制模塊包括:繼電器列陣單元、MCU單元、鍵盤和LED單元； 在所述控制模塊中，所述鍵盤與MCU單元連接；所述MCU單元又分別與所述繼電器列陣單元、LED單元連接； 所述測量模塊、底座、控制模塊中的繼電器列陣單元、數(shù)字測試模塊依次連接； 所述測量模塊，由nXmf Cnxn矩陣式排列并具有標號k的四線法測試夾具組成，用于放置待測電阻器，k為所述四線法測試夾具的標號，k^nXm;n為所述矩陣的行數(shù)，m為所述矩陣的列數(shù)； 所述控制模塊，用于根據用戶指令通過所述底座采集所述測量模塊的待測電阻數(shù)據并控制所述電阻數(shù)據的輸出。2.如權利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述四線法測試夾具的導線包括+導線、1-導線、U.導線和U _導線；所述I +導線和I _導線，用于測量所述待測電阻電流，所述U.導線和U_導線，用于測量所述待測電阻電壓。3.如權利要求1或2所述的系統(tǒng)，其特征在于，底座用于建立測量模塊與控制模塊的通信連接，包括:可插拔接口和與可插拔接口連接的四線法測試夾具的導線；所述底座還用于將所述四線法測試夾具的導線分為四組，第一組包括Ik+導線、第二組包括I k-導線、第三組包括Uk+導線和第四組包括U k_導線。4.如權利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述繼電器列陣單元，用于分別將所述四線法測試夾具的四組導線的多路輸入轉換為單路輸出。5.如權利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述控制模塊，用于根據用戶指令通過所述底座采集所述測量模塊的待測電阻數(shù)據并控制所述電阻數(shù)據的輸出包括: 用戶通過所述鍵盤輸入用戶指令，所述MCU單元能夠根據所述用戶指令控制所述繼電器列陣單元選擇標號為k+Ι或k-Ι的四線法測試夾具的導線導通并將所述四線法測試夾具對應的待測電阻的電阻數(shù)據輸出至所述數(shù)字測試模塊；或者所述MCU單元根據所述用戶指令控制所述繼電器列陣單元依次將所述四線法測試夾具的導線導通并將所述四線法測試夾具對應的待測電阻的電阻數(shù)據輸出至所述數(shù)字測試模塊。6.如權利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述數(shù)字測試模塊，用于根據所述控制模塊的所述待測電阻數(shù)據通過四線法測量所述待測電阻的阻值并通過接口輸出至計算機。7.如權利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述LED單元，用于顯示所述系統(tǒng)正在測量的待測電阻對應的四線法測試夾具的標號。8.如權利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述控制模塊通過開關電源供電。
【專利摘要】本發(fā)明涉及一種電阻自動化測試系統(tǒng)，包括：測量模塊、底座、控制模塊和數(shù)字測試模塊；所述控制模塊包括：繼電器列陣單元、MCU單元、鍵盤和LED單元；所述測量模塊、所述底座、所述繼電器列陣單元、所述數(shù)字測試模塊依次連接；所述鍵盤、所述MCU單元、所述繼電器列陣單元依次連接；所述MCU單元與所述LED單元連接；本發(fā)明提供的一種電阻自動化測試系統(tǒng)能夠通過測量模塊采用四線法測量待測電阻并通過控制模塊自動化控制對待測電阻的測量，即能排除引線電阻和接觸電阻對電阻值測量的影響，又能有效的提高電阻器的測量效率。
【IPC分類】G01R27/08
【公開號】CN104897965
【申請?zhí)枴緾N201510316999
【發(fā)明人】成達, 張蓬鶴, 薛陽, 徐英輝, 郜波, 譚琛, 趙越, 石二微, 王雅濤, 秦程林, 陳盛
【申請人】中國電力科學研究院, 國家電網公司
【公開日】2015年9月9日
【申請日】2015年6月10日