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      泄漏試驗方法_2

      文檔序號:8926834閱讀:來源:國知局
      施方式中,例示了泄漏試驗設(shè)備中所用的流體為空氣的情況,但本發(fā) 明的泄漏試驗方法所用的泄漏試驗設(shè)備的規(guī)格不限定于此,例如,也可以是采用使用氦氣、 其他惰性氣體等的泄漏試驗設(shè)備的結(jié)構(gòu)。
      [0038] 運算裝置4是用于根據(jù)泄漏試驗設(shè)備2的測定結(jié)果通過運算計算各空間有無泄 漏、自各空間泄漏的泄漏量的裝置,該運算裝置4與泄漏試驗設(shè)備2相連接。
      [0039] 另外,運算裝置4包括運算部件(CPU)、存儲部件(ROM、RAM)、外部存儲部件(HDD) 等,可以使用安裝了規(guī)定的運算程序的通用的個人計算機。
      [0040] 接著,用圖1~圖5說明利用本發(fā)明的第一實施方式的泄漏試驗方法進行泄漏試 驗的實施狀況。
      [0041] 在本發(fā)明的第一實施方式中,例舉使用檢查裝置1對圖1所示那樣的工件10進行 泄漏試驗的情況來進行說明。
      [0042] 另外,圖1所示的工件10示意性地體現(xiàn)了用于構(gòu)成發(fā)動機的缸體。
      [0043] 在此所例示的工件10包括作為第一空間的由曲軸箱、缸筒及傳動鏈室形成的一 系列空間(下稱C/C)、作為第二空間的發(fā)動機油的循環(huán)路徑(下稱0/H)以及作為第三空間 的冷卻水的循環(huán)路徑(下稱W/J)。
      [0044] 而且,在工件10中,可能由于鑄件氣孔等缺陷而形成連通C/C和外部的第一路徑 札、連通0/H和外部的第二路徑R2、連通W/J和外部的第三路徑R3。
      [0045] 另外,在工件10中,可能由于鑄件氣孔等而形成連通C/C和0/H的第四路徑R4、連 通0/H和W/J的第五路徑R5、連通W/J和C/C的第六路徑R6。
      [0046]而且,以下如圖1所示那樣,將自第一路徑&泄漏的泄漏量定義為外泄漏量Qi,將 自第二路徑R2泄漏的泄漏量定義為外泄漏量Q2,將自第三路徑r3泄漏的泄漏量定義為外泄 漏量q3。
      [0047] 此外,以下如圖1所示那樣,將自第四路徑&泄漏的泄漏量定義為內(nèi)泄漏量q1,將 自第五路徑R5泄漏的泄漏量定義為內(nèi)泄漏量q2,將自第六路徑R6泄漏的泄漏量定義為內(nèi)泄 漏量q3。
      [0048] 如圖2所示,在本發(fā)明的第一實施方式的泄漏試驗方法中,首先,用規(guī)定的密封治 具(未圖示)封閉用于供給泄漏試驗所需的氣體的連接口以外的開口部(步驟一 101)。
      [0049] 由此,預(yù)先準備工件10,使得泄漏試驗所用的氣體不會自用密封治具堵住的開口 部漏出。
      [0050] 然后,將工件10連接至泄漏試驗設(shè)備2。
      [0051] 此時,將與泄漏試驗設(shè)備2相連接的配管7分支為3個系統(tǒng),在分支后的各系統(tǒng)的 配管7上分別預(yù)先設(shè)置閥。
      [0052] 如圖1所示,在W/J上連接有具有第一閥(以下,記作VL1)的系統(tǒng)的配管7,在C/ C上連接有具有第二閥(以下,記作VL2)的系統(tǒng)的配管7,在0/H上連接有具有第三閥(以 下,記作VL3)的系統(tǒng)的配管7。
      [0053] 接著,在本發(fā)明的第一實施方式的泄漏試驗方法中,如圖2和圖3的(a)所示,僅 使VL2為"打開",使VL1和VL3為"關(guān)閉"(步驟一 102)。
      [0054] 然后,在該狀態(tài)下,以規(guī)定的壓力P向C/C供給氣體,利用泄漏試驗設(shè)備2測量自 C/C泄漏的空氣的總泄漏量1\(步驟一 103)。
      [0055] 然后,此時測定到的總泄漏量1\的信息被送往運算裝置4,并存儲于該運算裝置 4〇
      [0056] 另外,此時測定的總泄漏量1\是由以下的公式1所表示的量,是通過路徑Ri自C/ C泄漏到外部的外泄漏量%、通過路徑&自C/C泄漏到0/H的內(nèi)泄漏量qi以及通過路徑R6 自C/C泄漏到W/J的內(nèi)泄漏量q3的合計量。
      [0057] [式 1]
      [0058] T1=Q1+q1+q3
      [0059] 接著,在本發(fā)明的第一實施方式的泄漏試驗方法中,如圖2和圖3的(b)所示,僅 使VL3為"打開",使VL1和VL2為"關(guān)閉"(步驟一 104)。
      [0060] 然后,在該狀態(tài)下,以規(guī)定的壓力P向0/H供給氣體,利用泄漏試驗設(shè)備2測量自 0/H泄漏的空氣的總泄漏量!^步驟一 105)。
      [0061] 然后,此時測定到的總泄漏量1~2的信息被送往運算裝置4,并存儲于該運算裝置 4〇
      [0062] 另外,此時測定的總泄漏量1~2是由以下的公式2所表示的量,是通過路徑1? 2自0/ H泄漏到外部的外泄漏量Q2、通過路徑R4自0/H泄漏到C/C的內(nèi)泄漏量qi和通過路徑R5自 0/H泄漏到W/J的內(nèi)泄漏量q2的合計量。
      [0063] [式 2]
      [0064] T2=Q2+q1+q2
      [0065] 接著,在本發(fā)明的第一實施方式的泄漏試驗方法中,如圖2和圖4的(a)所示,僅 使VL1為"打開",使VL2和VL3為"關(guān)閉"(步驟一 106)。
      [0066] 然后,在該狀態(tài)下,以規(guī)定的壓力P向W/J供給氣體,利用泄漏試驗設(shè)備2測量自 W/J泄漏的空氣的總泄漏量T3(步驟一 107)。
      [0067] 然后,此時測定到的總泄漏量1~3的信息被送往運算裝置4,并存儲于該運算裝置 4〇
      [0068] 另外,此時測定的總泄漏量1~3是由以下的公式3所表示的量,是通過路徑1? 3自W/ J泄漏到外部的外泄漏量Q3、通過路徑R5自W/J泄漏到0/H的內(nèi)泄漏量q2和通過路徑R6自 W/J泄漏到C/C的內(nèi)泄漏量q3的合計量。
      [0069] [式 3]
      [0070] T3=Q3+q2+q3
      [0071] 而且,在本發(fā)明的第一實施方式的泄漏試驗方法中,利用運算裝置4基于此前測 定的各總泄漏量I\~T3判定工件10是合格品還是非合格品(步驟一 108)。
      [0072] 在此,若各總泄漏量I\~T3全部為閾值以下,則判定為工件10是合格品,至此結(jié) 束泄漏試驗。
      [0073] 另一方面,若各總泄漏量!^~!^中出現(xiàn)超出閾值的項,則還要繼續(xù)進行泄漏試驗。
      [0074] 接著,在本發(fā)明的第一實施方式的泄漏試驗方法中,當在上述(步驟一 108)中 未判定為工件10是合格品時,如圖2和圖4的(b)所示,使所有的閥(VL1~VL3)為"打 開"(步驟一109)。
      [0075] 然后,在該狀態(tài)下,以規(guī)定的壓力P向各空間(C/C、0/H、W/J)供給氣體,利用泄漏 試驗設(shè)備2測量自工件10泄漏的空氣的總泄漏量T4(步驟一 110)。
      [0076] 然后,此時測定到的總泄漏量1\的信息被送往運算裝置4,并存儲于該運算裝置 4〇
      [0077] 另外,此時測定的總泄漏量1\是由以下的公式4所表示的量,是通過路徑Ri自C/ C泄漏到工件10的外部的外泄漏量%、通過路徑馬自0/H泄漏到工件10的外部的外泄漏 量Q2和通過路徑R3自W/J泄漏到工件10的外部的外泄漏量Q3的合計量。
      [0078] [式 4]
      [0079] T4=Qi+Q2+Q3
      [0080] 接著,在本發(fā)明的第一實施方式的泄漏試驗方法中,如圖2和圖5的(a)所示,僅 使VL3為"關(guān)閉",使VL1和VL2為"打開"(步驟一 111)。
      [0081] 然后,在該狀態(tài)下,以規(guī)定的壓力P向C/C和W/J供給氣體,利用泄漏試驗設(shè)備2 測量總泄漏量T5(步驟一 112)。
      [0082] 然后,此時測定到的總泄漏量1~5的信息被送往運算裝置4,并存儲于該運算裝置 4〇
      [0083] 另外,此時測定的總泄漏量1~5是由以下的公式5所表示的量,是通過路徑Ri自C/ C泄漏到工件10的外部的外泄漏量Qi、通過路徑馬自W/J泄漏到工件10的外部的外泄漏 量Q3、通過路徑&自C/C泄漏到0/H的內(nèi)泄漏量qi和通過路徑R5自W/J泄漏到0/H的內(nèi) 泄漏量q2的合計量。
      [0084] [式 5]
      [0085] T5=Q1+Q3+q1+q2
      [0086] 接著,在本發(fā)明的第一實施方式的泄漏試驗方法中,如圖2和圖5的(b)所示,僅 使VL1為"關(guān)閉",使VL2和VL3為"打開"(步驟一 113)。
      [0087] 然后,在該狀態(tài)下,以規(guī)定的壓力P向C/C和0/H供給氣體,利用泄漏試驗設(shè)備2 測量總泄漏量T6(步驟一 114)。
      [0088] 然后,此時測定到的總泄漏量^的信息被送往運算裝置4,并存儲于該運算裝置 4〇
      [0089] 另外,此時測定的總泄漏量^是由以下的公式6所表示的量,是通過路徑Ri自C/ C泄漏到工件10的外部的外泄漏量%、通過路徑馬自0/H泄漏到工件10的外部的外泄漏 量Q2、通過路徑1?5自0/H泄漏到W/J的內(nèi)泄漏量q2和通過路徑R6自C/C泄漏到W/J的內(nèi) 泄漏量q3的合計量。
      [0090] [式 6]
      [0091] T6=Q1+Q2+q2+q3
      [0092] 然后,在本發(fā)明的第一實施方式的泄漏試驗方法中,如圖2所示,基于此前測定的 各總泄漏量I\~T6,利用運算裝置4進行基于以下的分離算法的運算,計算各泄漏量QpQ2、 03、91、92、9 3(步驟一115)。
      [0093] 在此,說明本發(fā)明的第一實施方式的泄漏試驗方法中采用的各泄漏量(QpQ2、Q3、 q2、q3)的分離算法。
      [0094] 運算裝置4中預(yù)先導(dǎo)入有后述的分離算法,利用運算裝置4基于泄漏試驗設(shè)備2 的測定結(jié)果(即,各總泄漏星T\~T6)分尚計算各泄漏星似、Q2、Q3、q2、q3)。
      [0095] 在本發(fā)明的第一實施方式的泄漏試驗方法的分離算法中,如以下的公式7所示那 樣,將測定的總泄漏量T3的總和定義為SQq,利用運算裝置4計算各總泄漏量I\~T3 的總和SQq。
      [0096] [式 7]
      [0098] 此外,在本發(fā)明的第一實施方式的泄漏試驗方法的分離算法中,如以下的公式8 所示那樣,將內(nèi)泄漏量的總和(即,qi+q2+q3)定義為Sq,利用運算裝置4計算內(nèi)泄漏量的總 和Sq。
      [0099] [式 8]
      [0101] 接著,利用運算裝置4基于以下的公式9計算自路徑&泄漏的內(nèi)泄漏量q3。
      [0102][式 9]
      [0104] 接著,利用運算裝置4基于以下的公式10計算自路徑&泄漏的內(nèi)泄漏量q:。
      [0105] [式 10]
      [0107]
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