一種信號測試方法、被測設備和信號測試系統(tǒng)的制作方法
【技術領域】
[0001] 本發(fā)明涉及通信技術領域，特別是一種信號測試方法、被測設備和信號測試系統(tǒng)。
【背景技術】
[0002] 隨著高速數(shù)據(jù)傳輸技術的普遍應用，國際標準中對于被測設備（比如單板）的高 速接口輸出點的電信號參數(shù)范圍已經(jīng)給出明確的定義。測試高速接口輸出點的電信號參數(shù) 是為了驗證被測設備設計是否與標準一致，這也是高速接口電信號一致性測試的由來。
[0003] 如果不同廠家的設備都能滿足相應的測試參數(shù)要求，那么這些設備之間可以進行 可靠的互連互通。反之，如果有設備不能滿足相應的測試參數(shù)要求，可能出現(xiàn)設備間的互連 互通問題。
[0004] 在現(xiàn)有技術中，當被測設備的接口芯片支持測試項目的測試碼型信號時，接口芯 片自身產(chǎn)生并通過被測接口輸出測試碼型信號到測試設備，以由測試設備完成測試項目。 然而，當接口芯片不支持測試項目的測試碼型信號時，接口芯片無法產(chǎn)生測試碼型信號，因 此也就無法完成測試項目。不能完成測試項目的被測設備具有不滿足標準要求的可能性， 跟其他設備對接時可能出現(xiàn)互連互通的問題。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005] 有鑒于此，本發(fā)明提出一種信號測試方法、被測設備和信號測試系統(tǒng)，從而實現(xiàn)測 試。
[0006] 本發(fā)明實施方式的技術方案如下：
[0007] 根據(jù)本發(fā)明實施方式的一方面，提出一種信號測試方法，該方法應用于包含被測 接口和接口芯片的被測設備，該方法包括：
[0008] 接收測試碼型信號；
[0009] 在所述接口芯片環(huán)回所述測試碼型信號，并通過所述被測接口輸出環(huán)回后測試碼 型信號；
[0010] 其中輸出的所述環(huán)回后測試碼型信號被執(zhí)行對應于所述測試碼型信號的測試項 目。
[0011] 優(yōu)選地，在接收測試碼型信號之后，該方法還包括：確定所述接口芯片是否支持所 述測試碼型信號；其中：
[0012] 當所述接口芯片支持所述測試碼型信號時，發(fā)出告警提示，并由所述接口芯片生 成所述測試碼型信號，通過所述被測接口輸出接口芯片生成的所述測試碼型信號，其中接 口芯片生成的所述測試碼型信號被執(zhí)行對應于所述測試碼型信號的測試項目，結束本流 程。
[0013] 優(yōu)選地，所述確定接口芯片是否支持所述測試碼型信號包括：
[0014] 訪問所述接口芯片的配置寄存器以獲取所述接口芯片支持的測試碼型信號列 表；
[0015] 判斷所述測試碼型信號是否屬于所述接口芯片支持的測試碼型信號列表，以確定 接口芯片是否支持所述測試碼型信號。
[0016] 根據(jù)本發(fā)明實施方式的另一方面，提出一種被測設備，該被測設備包含被測接口 和接口芯片，所述被測接口包括接收端和發(fā)送端，其中：
[0017] 接收端，用于接收測試碼型信號，并將所述測試碼型信號傳輸給接口芯片；
[0018] 接口芯片，用于環(huán)回所述測試碼型信號，并將環(huán)回后測試碼型信號傳輸?shù)桨l(fā)送 端；
[0019] 發(fā)送端，用于輸出環(huán)回后測試碼型信號；
[0020] 其中輸出的所述環(huán)回后測試碼型信號被執(zhí)行對應于所述測試碼型信號的測試項 目。
[0021] 優(yōu)選地，所述被測接口包括：小封裝可插拔（SFP)接口、SFP+接口或快速小封裝可 插拔（QSFP)接口。
[0022] 優(yōu)選地，接口芯片為媒體訪問控制（MAC)芯片或物理層（PHY)芯片。
[0023] 根據(jù)本發(fā)明實施方式的另一方面，提出一種信號測試系統(tǒng)，包括：
[0024] 信號提供裝置，用于提供測試碼型信號；
[0025] 包含被測接口和接口芯片的被測設備，用于接收測試碼型信號，在所述接口芯片 環(huán)回所述測試碼型信號，并通過被測接口輸出環(huán)回后測試碼型信號；
[0026] 測試設備，用于對環(huán)回后測試碼型信號執(zhí)行對應于所述測試碼型信號的測試項 目；
[0027] 所述信號提供裝置與所述被測設備連接，所述被測設備與所述測試設備連接。
[0028] 優(yōu)選地，在信號提供裝置與被測設備之間還包括夾具；
[0029] 所述夾具，用于將信號提供裝置提供的測試碼型信號引入到所述被測設備。
[0030] 優(yōu)選地，被測設備，用于訪問接口芯片的配置寄存器以獲取接口芯片支持的測試 碼型信號列表；將預定測試項目所包含的測試碼型信號列表與接口芯片支持的測試碼型信 號列表進行對比，以確定接口芯片不支持的測試碼型信號，并將被測接口不支持的測試碼 型信號的標識發(fā)送到信號提供裝置；
[0031] 信號提供裝置，用于基于標識提供被測接口不支持的測試碼型信號。
[0032] 優(yōu)選地，所述測試設備為示波器。
[0033] 在本發(fā)明中，被測設備接收測試碼型信號；在被測設備的接口芯片環(huán)回測試碼型 信號，并通過被測接口輸出環(huán)回后的測試碼型信號；其中環(huán)回后的測試碼型信號被執(zhí)行對 應于測試碼型信號的測試項目。由此可見，即使被測設備的接口芯片不支持測試項目的測 試碼型信號，本發(fā)明實施方式仍然能夠執(zhí)行測試項目。
【附圖說明】
[0034] 圖1為根據(jù)本發(fā)明的信號測試方法流程圖；
[0035] 圖2為根據(jù)本發(fā)明實施方式的信號測試方法流程圖；
[0036] 圖3為本發(fā)明信號實施方式的測試系統(tǒng)結構圖；
[0037] 圖4為本發(fā)明實施方式的被測設備的結構圖。
【具體實施方式】
[0038] 為使本發(fā)明的目的、技術方案和優(yōu)點更加清楚，下面結合附圖對本發(fā)明作進一步 的詳細描述。
[0039] 被測設備的接口芯片（如MAC芯片或PHY芯片，等等）基本支持環(huán)回功能。本發(fā) 明實施方式利用被測設備的接口芯片支持環(huán)回功能這一特性提出一種信號測試實施方案。 在本發(fā)明實施方式中，被測設備的接口芯片無需主動產(chǎn)生測試項目所對應的測試碼型信號 即可完成測試項目。被測設備接收測試碼型信號源發(fā)出的測試碼型信號，然后在被測設備 的接口芯片環(huán)回該測試碼型信號，并且通過被測接口輸出環(huán)回后測試碼型信號以完成測試 項目。可見，即使被測設備的接口芯片不支持測試項目的測試碼型信號，本發(fā)明實施方式仍 然能夠完成測試項目。
[0040] 圖1為根據(jù)本發(fā)明的信號測試方法流程圖。
[0041 ] 如圖1所示，該方法包括：
[0042] 步驟101 :被測設備接收測試碼型信號。
[0043] 被測設備通常包含被測接口和接口芯片。
[0044] 在一個實施方式中，測試碼型信號源發(fā)出測試項目所對應的測試碼型信號，被測 設備通過被測接口接收測試碼型信號源發(fā)出的測試碼型信號?？蛇x地，被測設備還可以通 過不同于被測接口的其它接口從測試碼型信號源接收測試碼型信號。
[0045] 步驟102 :被測設備在接口芯片環(huán)回測試碼型信號，并通過被測接口發(fā)送環(huán)回后 測試碼型信號。
[0046] 在這里，被測設備在接口芯片環(huán)回接收到的測試碼型信號，并經(jīng)由被測接口將環(huán) 回后測試碼型信號發(fā)送到測試設備。優(yōu)選地，測試設備可以具體實施為示波器，比如高帶寬 不波器，等等。
[0047] 步驟103 :測試設備對環(huán)回后測試碼型信號執(zhí)行對應于測試碼型信號的測試項 目。
[0048] 測試設備從被測設備接收到環(huán)回后測試碼型信號后，可以執(zhí)行對應于測試碼型信 號的測試項目。
[0049] 基于一致性測試標準的相應規(guī)定，測試項目可能有多種，而且每種測試項目可以 對應于有一或多種測試碼型信號。針對對應于多種測試碼型信號的測試項目，可以任意選 擇一種相對應的測試碼型信