05及結(jié)束本流程。
[0078] 由圖2所示流程可見(jiàn)，對(duì)于接口芯片所支持的測(cè)試碼型信號(hào)，可以由接口芯片產(chǎn) 生測(cè)試碼型信號(hào)，通過(guò)被測(cè)接口輸出該產(chǎn)生的測(cè)試碼型信號(hào)，并在測(cè)試設(shè)備完成測(cè)試。對(duì)于 接口芯片不支持的測(cè)試碼型信號(hào)，可以從信號(hào)提供裝置接收測(cè)試碼型信號(hào)并在接口芯片環(huán) 回測(cè)試碼型信號(hào)，然后由被測(cè)接口輸出環(huán)回后測(cè)試碼型信號(hào)，并在測(cè)試設(shè)備完成測(cè)試。
[0079] 基于上述詳細(xì)分析，本發(fā)明實(shí)施方式還提出了一種測(cè)試系統(tǒng)。
[0080] 圖3為本發(fā)明信號(hào)實(shí)施方式的測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖。如圖3所示，該測(cè)試系統(tǒng)包括：
[0081] 信號(hào)提供裝置1，用于提供測(cè)試碼型信號(hào)；
[0082] 包含被測(cè)接口 21和接口芯片22的被測(cè)設(shè)備2,被測(cè)接口 21包括接收端Rx和發(fā)送 端Tx ;接收端Rx從信號(hào)提供裝置1接收測(cè)試碼型信號(hào)，在被測(cè)接口 22環(huán)回測(cè)試碼型信號(hào)， 并通過(guò)發(fā)送端Tx輸出環(huán)回后測(cè)試碼型信號(hào)到示波器4 ;
[0083] 測(cè)試設(shè)備4,用于對(duì)環(huán)回后測(cè)試碼型信號(hào)執(zhí)行對(duì)應(yīng)于測(cè)試碼型信號(hào)的測(cè)試項(xiàng)目；
[0084] 信號(hào)提供裝置1與被測(cè)設(shè)備2連接，被測(cè)設(shè)備2與測(cè)試設(shè)備4連接。
[0085] 在一個(gè)實(shí)施方式中，在信號(hào)提供裝置1與被測(cè)設(shè)備2之間還包括夾具3 ;
[0086] 夾具3,用于通過(guò)接口 C將信號(hào)提供裝置1提供的測(cè)試碼型信號(hào)引入到被測(cè)設(shè)備 2,還用于通過(guò)接口 Β將被測(cè)設(shè)備2輸出的環(huán)回后測(cè)試碼型信號(hào)引入到測(cè)試設(shè)備4。
[0087] 在一個(gè)實(shí)施方式中，被測(cè)設(shè)備2,用于訪問(wèn)接口芯片22的配置寄存器以獲取接口 芯片22支持的測(cè)試碼型信號(hào)列表；將預(yù)定測(cè)試項(xiàng)目所包含的測(cè)試碼型信號(hào)列表與接口芯 片22支持的測(cè)試碼型信號(hào)列表進(jìn)行對(duì)比，以確定接口芯片22不支持的測(cè)試碼型信號(hào)，并將 被測(cè)接口 22不支持的測(cè)試碼型信號(hào)的標(biāo)識(shí)發(fā)送到信號(hào)提供裝置1 ;
[0088] 信號(hào)提供裝置1，用于基于標(biāo)識(shí)提供接口芯片22不支持的測(cè)試碼型信號(hào)。
[0089] 在一個(gè)實(shí)施方式中，接口芯片22為MAC芯片或PHY芯片。實(shí)際上，接口芯片22還 可以實(shí)施為其它類型的高速總線接口芯片。測(cè)試設(shè)備4具體可以實(shí)施為示波器。
[0090] 基于上述分析，本發(fā)明實(shí)施方式還提出了一種被測(cè)設(shè)備。
[0091] 圖4為本發(fā)明實(shí)施方式的被測(cè)設(shè)備的結(jié)構(gòu)圖。
[0092] 如圖4所示，該設(shè)備400包含被測(cè)接口 401和接口芯片402,被測(cè)接口包括接收端 4010和發(fā)送端4011，其中：
[0093] 接收端4010,用于接收測(cè)試碼型信號(hào)，并將測(cè)試碼型信號(hào)傳輸給接口芯片；
[0094] 接口芯片402,用于環(huán)回測(cè)試碼型信號(hào)，并將環(huán)回后測(cè)試碼型信號(hào)傳輸?shù)桨l(fā)送端；
[0095] 發(fā)送端4011，用于輸出環(huán)回后測(cè)試碼型信號(hào)；
[0096] 其中環(huán)回后測(cè)試碼型信號(hào)被執(zhí)行對(duì)應(yīng)于測(cè)試碼型信號(hào)的測(cè)試項(xiàng)目。
[0097] 在一個(gè)實(shí)施方式中，被測(cè)接口 401具體實(shí)施為SFP接口、SFP+接口或QSFP接口。 在一個(gè)實(shí)施方式中，接口芯片402為MAC芯片或PHY芯片。
[0098] 以上示范性描述了被測(cè)接口 401和接口芯片402的【具體實(shí)施方式】，本領(lǐng)域技術(shù)人 員可以意識(shí)到，這并不用于限定本發(fā)明實(shí)施方式的保護(hù)范圍。實(shí)際上，本發(fā)明的被測(cè)接口 401和接口芯片402還可以具有其它的實(shí)施方式。
[0099] 綜上所述，在本發(fā)明實(shí)施方式中，被測(cè)設(shè)備接收測(cè)試碼型信號(hào)；在被測(cè)設(shè)備的接口 芯片環(huán)回測(cè)試碼型信號(hào)，并通過(guò)被測(cè)接口輸出環(huán)回后的測(cè)試碼型信號(hào)；其中環(huán)回后的測(cè)試 碼型信號(hào)被執(zhí)行對(duì)應(yīng)于測(cè)試碼型信號(hào)的測(cè)試項(xiàng)目?？梢?jiàn)，即使被測(cè)設(shè)備的接口芯片不支持 測(cè)試項(xiàng)目的測(cè)試碼型信號(hào)，本發(fā)明實(shí)施方式仍然能夠執(zhí)行測(cè)試項(xiàng)目。
[0100] 以上所述，僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已，并非用于限定本發(fā)明的保護(hù)范圍。凡在 本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修改、等同替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù) 范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1. 一種信號(hào)測(cè)試方法，其特征在于，該方法應(yīng)用于包含被測(cè)接口和接口芯片的被測(cè)設(shè) 備，該方法包括： 接收測(cè)試碼型信號(hào)； 在所述接口芯片環(huán)回所述測(cè)試碼型信號(hào)，并通過(guò)所述被測(cè)接口輸出環(huán)回后測(cè)試碼型信 號(hào)； 其中輸出的所述環(huán)回后測(cè)試碼型信號(hào)被執(zhí)行對(duì)應(yīng)于所述測(cè)試碼型信號(hào)的測(cè)試項(xiàng)目。2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的信號(hào)測(cè)試方法，其特征在于， 在接收測(cè)試碼型信號(hào)之后，該方法還包括：確定所述接口芯片是否支持所述測(cè)試碼型 ig號(hào)；其中： 當(dāng)所述接口芯片支持所述測(cè)試碼型信號(hào)時(shí)，發(fā)出告警提示，并由所述接口芯片生成所 述測(cè)試碼型信號(hào)，通過(guò)所述被測(cè)接口輸出接口芯片生成的所述測(cè)試碼型信號(hào)，其中接口芯 片生成的所述測(cè)試碼型信號(hào)被執(zhí)行對(duì)應(yīng)于所述測(cè)試碼型信號(hào)的測(cè)試項(xiàng)目，結(jié)束本流程。3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的信號(hào)測(cè)試方法，其特征在于，所述確定接口芯片是否支持所 述測(cè)試碼型信號(hào)包括： 訪問(wèn)所述接口芯片的配置寄存器以獲取所述接口芯片支持的測(cè)試碼型信號(hào)列表； 判斷所述測(cè)試碼型信號(hào)是否屬于所述接口芯片支持的測(cè)試碼型信號(hào)列表，以確定接口 芯片是否支持所述測(cè)試碼型信號(hào)。4. 一種被測(cè)設(shè)備，其特征在于，該被測(cè)設(shè)備包含被測(cè)接口和接口芯片，所述被測(cè)接口包 括接收端和發(fā)送端，其中： 接收端，用于接收測(cè)試碼型信號(hào)，并將所述測(cè)試碼型信號(hào)傳輸?shù)浇涌谛酒? 接口芯片，用于環(huán)回所述測(cè)試碼型信號(hào)，并將環(huán)回后測(cè)試碼型信號(hào)傳輸?shù)桨l(fā)送端； 發(fā)送端，用于輸出環(huán)回后測(cè)試碼型信號(hào)； 其中輸出的所述環(huán)回后測(cè)試碼型信號(hào)被執(zhí)行對(duì)應(yīng)于所述測(cè)試碼型信號(hào)的測(cè)試項(xiàng)目。5. 根據(jù)權(quán)利要求4所述的被測(cè)設(shè)備，其特征在于，所述被測(cè)接口包括：小封裝可插拔 SFP接口、SFP+接口或快速小封裝可插拔QSFP接口。6. 根據(jù)權(quán)利要求4所述的被測(cè)設(shè)備，其特征在于，所述接口芯片為媒體訪問(wèn)控制MAC芯 片或物理層PHY芯片。7. -種信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，包括： 信號(hào)提供裝置，用于提供測(cè)試碼型信號(hào)； 包含被測(cè)接口和接口芯片的被測(cè)設(shè)備，用于接收測(cè)試碼型信號(hào)，在所述接口芯片環(huán)回 所述測(cè)試碼型信號(hào)，并通過(guò)被測(cè)接口輸出環(huán)回后測(cè)試碼型信號(hào)； 測(cè)試設(shè)備，用于對(duì)環(huán)回后測(cè)試碼型信號(hào)執(zhí)行對(duì)應(yīng)于所述測(cè)試碼型信號(hào)的測(cè)試項(xiàng)目； 所述信號(hào)提供裝置與所述被測(cè)設(shè)備連接，所述被測(cè)設(shè)備與所述測(cè)試設(shè)備連接。8. 根據(jù)權(quán)利要求7所述的系統(tǒng)，其特征在于，在信號(hào)提供裝置與被測(cè)設(shè)備之間還包括 夾具； 所述夾具，用于將信號(hào)提供裝置提供的測(cè)試碼型信號(hào)引入到所述被測(cè)設(shè)備。9. 根據(jù)權(quán)利要求7所述的系統(tǒng)，其特征在于， 被測(cè)設(shè)備，用于訪問(wèn)所述接口芯片的配置寄存器以獲取所述接口芯片支持的測(cè)試碼型 信號(hào)列表；將預(yù)定測(cè)試項(xiàng)目所包含的測(cè)試碼型信號(hào)列表與所述接口芯片支持的測(cè)試碼型信 號(hào)列表進(jìn)行對(duì)比，以確定所述接口芯片不支持的測(cè)試碼型信號(hào)，并將所述被測(cè)接口不支持 的測(cè)試碼型信號(hào)的標(biāo)識(shí)發(fā)送到信號(hào)提供裝置； 信號(hào)提供裝置，用于基于所述標(biāo)識(shí)提供所述被測(cè)接口不支持的測(cè)試碼型信號(hào)。10.根據(jù)權(quán)利要求7-9中任一項(xiàng)所述的系統(tǒng)，其特征在于， 所述測(cè)試設(shè)備為示波器。
【專利摘要】本發(fā)明提出一種信號(hào)測(cè)試方法、被測(cè)設(shè)備和信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)。方法包括：接收測(cè)試碼型信號(hào)；在接口芯片環(huán)回所述測(cè)試碼型信號(hào)，并通過(guò)被測(cè)接口輸出環(huán)回后測(cè)試碼型信號(hào)；其中輸出的所述環(huán)回后測(cè)試碼型信號(hào)被執(zhí)行對(duì)應(yīng)于測(cè)試碼型信號(hào)的測(cè)試項(xiàng)目。
【IPC分類】G01R31/00
【公開(kāi)號(hào)】CN105588993
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201510507158
【發(fā)明人】徐濤, 武廣
【申請(qǐng)人】杭州華三通信技術(shù)有限公司
【公開(kāi)日】2016年5月18日
【申請(qǐng)日】2015年8月18日