[0131] 1、調(diào)節(jié)所施加的壓力和電壓，W便優(yōu)化對應(yīng)于每一個樣本的阻滯輪廓。運可W通 過向用戶給出反饋W作出系統(tǒng)調(diào)節(jié)來實現(xiàn)，或者通過完全自動化的方式實現(xiàn)。經(jīng)過優(yōu)化的 系統(tǒng)將W具有峰值區(qū)域附近的一定數(shù)目的樣本點的阻滯為目標，但是即使是帶電最少的顆 粒也必須仍然在與校準顆粒相同的方向上行經(jīng)孔隙。
[0132] 2、即使當系統(tǒng)設(shè)定已被優(yōu)化時，樣本內(nèi)的尺寸和表面電荷仍然會有變化，因此對 提取自更快的并且更小的阻滯的信息進行優(yōu)化仍然是至關(guān)重要的：
[0133] a、使用來自校準顆粒測量的阻滯的已知輪廓并且從阻滯的進一步向下的點進行 外插，可W更加準確地計算峰值dR max和時間1100
[0134] b、在阻滯的后端使用類似的外插將減少噪聲對所測量的電阻的影響。
[0135] 3、通過計算整個阻滯上的定時誤差和噪聲誤差，識別出每一項阻滯的將給出最優(yōu) 信息質(zhì)量的節(jié)段。
[0136] 4、例如通過W下步驟來實施信噪比改進：
[0137] a、修改系統(tǒng)電子裝置W允許對于給定的孔隙尺寸施加更大的電壓。
[0138] b、實施允許從噪聲基底內(nèi)提取出信號信息的算法。運樣的算法在本領(lǐng)域內(nèi)是眾所 周知的。
[0139] 將所述方法應(yīng)用于替換的幾何結(jié)構(gòu)
[0140] 所述方法的原理可W被應(yīng)用于具有任何幾何結(jié)構(gòu)的孔隙，運是通過識別出阻滯輪 廓中的一項或更多項顯著特征從而允許計算不同顆粒的相對速度。圖2中的實例示出了具 有不同輪廓的孔隙。
[0141] 對于圖2中的孔隙形狀，存在可W被用來計算相對時間化的四項顯著特征。舉例來 說，可W使用兩個最大值之間的時間差：
[0142] 等式 Mih = Tc-Tb
[0143] 實例 1
[0144] 該例示出了使用校準顆粒來建立v/和V/。對于校準顆粒的測量是在=個不同的 所施加的電壓下進行的:0.4V、0.5V和0.6V。其結(jié)果在圖3和圖4中示出。巧慢細節(jié)為如下：
[0145] 納米孔隙--Izon NP200
[0146] -簇化聚苯乙締校準顆粒CPC200
[0147] -電解液--IzonS徑甲基氨基甲燒緩沖液(Tris Buffer)0.1 M KCl [014引-所施加的電壓(V):0.4V、0.5V和0.6V
[0149] -所施加的壓力（Pap) :0mm出0
[0150] -固有壓力（Pin) :4.7mm 出0
[0151] -顆粒計數(shù)--在V = O. 4V下是369,在V = O. 5V下是619,在V = O. 6V下是596
[0152] 在V = OV下沒有電力，因此(Vx)tot= (Vx)C:
[015；3] ? (Vx)c4〇 = 2806s_iW 及 v/4〇=(2806/4.7) = 597s_i
[0154] ? (Vx)c3〇=1672s-iW 及 v/3〇=(1672/4.7) = 356s-i
[015引.（Vx)c20=1131s_iW及VxP20=(1131/4.7) = 241s_i
[0156] ? (Vx)cio = 626s_iW 及 VxPio=(626/4.7) = 84s_i
[0157] 可W在任何所施加的電壓下計算對應(yīng)于校準顆粒的(vx)。，例如下面在所有=個電 壓下計算(Vx)C 40:
[0159] 實例2
[0160] 該例示范了在多個壓力下測量樣本。該例說明了 W下事實，也就是可W在對于分 析結(jié)果沒有任何實質(zhì)影響的情況下改變系統(tǒng)壓力，正如可W在圖5中看到的那樣。測量細節(jié) 如下：
[0161] -校準(和樣本)顆粒一一簇化聚苯乙締"CPC200"
[0162] -納米孔隙--Izon NP200
[0163] -電解液--IzonS徑甲基氨基甲燒緩沖液0.1 M KCl
[0164] -所施加的電壓(V) :0.8V
[01化]-所施加的壓力。曰口）：0臟也0到8臟也0，步長為2111111('申滬到'中穿'）
[0166] -固有壓力(Pin) :4.7mm 也0
[0167] -利用零施加壓力對系統(tǒng)進行了校準
[0168] 從圖5可W看到，所測量的平均C電位不會隨著所施加的壓力發(fā)生顯著改變。運一 結(jié)果是針對在零施加壓力下測量的校準顆粒使用v/而獲得的。隨著所施加的壓力增大，脈 沖高度被略微截斷，從而導(dǎo)致減小的平均直徑數(shù)值。
[0169] 實例3
[0170] 該例示范了在多個偏置電壓下測量樣本。該例說明了 W下事實，也就是可W在對 于分析結(jié)果沒有任何實質(zhì)影響的情況下改變所施加的偏置，正如可W在圖6中看到的那樣。 測量細節(jié)如下：
[0171] -校準(和樣本)顆粒一一簇化聚苯乙締"CPC200"
[0172] -納米孔隙--Izon"NP20(T
[0173] -電解液--IzonS徑甲基氨基甲燒緩沖液0.1 M KCl
[0174] -所施加的壓力（Pap) :0mm出0
[0175] -固有壓力(Pin) :4.7mm 出0
[0176] -所施加的電壓(V) :0.8V用于校準
[0177] -利用零施加壓力對系統(tǒng)進行了校準
[0178] 從圖6可W看到，所測量的平均C電位不會隨著所施加的電壓發(fā)生顯著改變。運一 結(jié)果是針對在0.8V和零施加壓力下測量的校準顆粒使用V/而獲得的。
[0179] 實例4
[0180] 該例示范了測量不同直徑的帶電和不帶電顆粒。測量細節(jié)如下：
[0181] -校準顆粒一一簇化聚苯乙締，平均直徑IlSnm
[0182] -納米孔隙--Izon"NP10(T
[0183] -電解液--PBS 0.25M
[0184] -所施加的壓力(Pap) :0mm出0校準 [01化]-固有壓力（Pin) :4.7mm出0
[0186] -所施加的電壓(V):0.66V--校準和樣本
[0187] 從圖7可W看到，普通NIST可追蹤聚苯乙締顆粒(CPN100和CPN150)與簇化聚苯乙 締CPC70、Bangs 6569和CPClOO顆?？蒞被清楚地區(qū)分。
[018引 實例5
[0189] 該例示范了在故意的表面修改之后測量顆粒C電位，W便示范對于特定表面目標 的檢測。該例示出了蛋白質(zhì)(CD63)到被修改來結(jié)合CD63的脂質(zhì)體的結(jié)合。圖8示出了 CD63的 結(jié)合之前和之后的脂質(zhì)體。在蛋白質(zhì)結(jié)合之后觀察到C電位朝向更大正值的偏移，運是符合 預(yù)期的，因為蛋白質(zhì)在實驗條件中略微帶正電。在圖8中可W看到，蛋白質(zhì)結(jié)合之前的脂質(zhì) 體形成與具有表面結(jié)合蛋白質(zhì)的脂質(zhì)體不同的一組。運說明了可W使用分析來檢測樣本中 的特定目標。圖8還示出了具有已知的負電荷的對照顆粒集合，其驗證了所述結(jié)果。
[0190] 實例6
[0191] 該例示范了運行其中將校準顆粒(其具有已知的C電位)添加到樣本流體的分析。 圖9示出了對于卵憐脂脂質(zhì)體的測量，其中添加了校準顆粒W作為樣本集合內(nèi)的樣本加標 運行。所述兩個尺寸類似的顆粒集合(脂質(zhì)體和校準顆粒)可W基于其表面電荷被清楚地區(qū) 分，并且可W把對應(yīng)于校準顆粒的C電位結(jié)果(其在該電解液中具有已知的-20mV的平均C電 位)作為基準來衡量數(shù)據(jù)的準確性。
[0192] 總論
[0193] 正如在本說明書中所闡述的那樣，根據(jù)本發(fā)明的實施例，測量、確定、計算或者通 過其他方式導(dǎo)出W及處理、繪制曲線圖、存儲或者通過其他方式使用一定數(shù)目的數(shù)值(比如 壓力、時間、電壓、電流等等）。應(yīng)當理解的是，在適當?shù)那闆r下(不管是否具體提到），在提到 運樣的"數(shù)值"時可W包括提到從中導(dǎo)出的數(shù)值。
[0194] 雖然通過前面所闡述的優(yōu)選實施例描述了本發(fā)明，但是應(yīng)當理解的是，運些實施 例僅僅是說明性的，并且權(quán)利要求書不限于運些實施例。根據(jù)本公開內(nèi)容，本領(lǐng)域技術(shù)人員 將能夠作出被設(shè)想到落在所附權(quán)利要求書的范圍內(nèi)的修改和替換方案。在本說明書中所公 開或說明的每一項特征可W被合并在本發(fā)明中，不管是被單獨合并還是按照與運里所公開 或說明的任何其他特征的任何適當組合被合并。
【主權(quán)項】
1. 一種確定至少一個測試顆粒(如這里所定義)的電荷的方法，其包括： 在連接兩個腔室的孔徑上施加電流或電壓的其中之一，從而使得所述腔室至少部分地 填充有電解液，并且使得所述至少一個測試顆粒懸浮在至少其中一個腔室的電解液中； 測量表明孔徑上的電流或電壓當中的另一項的數(shù)值； 確定第一和第二時間點之間的時間間隔，第二時間點對應(yīng)于所測量的電流或電壓達到 在第一時間點測量的電流或電壓的特定比例時的時間點；以及 通過以下步驟確定所述至少一個測試顆粒的電荷： 確定表明具有已知電荷的至少一個校準顆粒的總速度的電速度分量的數(shù)值，其中考慮 到所述至少一個校準顆粒的總速度包括非零對流速度分量和電速度分量； 確定表明所述至少一個測試顆粒的總速度的電速度分量的數(shù)值，其中考慮到所述至少 一個測試顆粒的總速度包括非零對流速度分量和電速度分量;以及 利用表明測試顆粒和校準顆粒的電速度分量的所確定的數(shù)值來校準所述至少一個測 試顆粒的電荷與所確定的時間間隔之間的量化關(guān)系。2. 權(quán)利要求1的方法，其中，確定表明所述至少一個校準顆粒的總速度的電速度分量的 數(shù)值包括確定表明所述至少一個校準顆粒的總速度的數(shù)值以及表明所述至少一個校準顆 粒的對流速度分量的數(shù)值，以及從表明總速度的數(shù)值中減去表明對流速度分量的數(shù)值。3. 權(quán)利要求2的方法，其還包括確定對應(yīng)于所述至少一個校準顆粒的另一個時間間隔， 其中所述另一個時間間隔是第三和第四時間點之間的時間間隔，第四時間點對應(yīng)于所述至 少一個校準顆粒的所測量的電流或電壓達到在第三時間點測量的電流或電壓的特定比例 時的時間點。4. 權(quán)利要求1的方法，其中，表明所述至少一個校準顆粒的電速度分量的數(shù)值和表明