技術(shù)特征：

1.一種基于鄰域特征空間鑒別分析的雷達(dá)目標(biāo)識(shí)別方法，其特征在于，該方法包括以下步驟：

步驟S1：將每類雷達(dá)目標(biāo)的數(shù)據(jù)劃分為訓(xùn)練樣本和測(cè)試樣本；

步驟S2：構(gòu)建每個(gè)訓(xùn)練樣本的類內(nèi)鄰域特征空間和類間鄰域特征空間，并計(jì)算每個(gè)樣本點(diǎn)到其類內(nèi)和類間鄰域特征空間的垂直矢量；

步驟S3：根據(jù)每個(gè)樣本點(diǎn)到其類內(nèi)和類間鄰域特征空間的垂直矢量，計(jì)算該樣本點(diǎn)的加權(quán)值；

步驟S4：構(gòu)建所有訓(xùn)練樣本的類內(nèi)散射矩陣和類間散射矩陣；

步驟S5：根據(jù)構(gòu)建的類內(nèi)和類間散射矩陣，求解高維雷達(dá)目標(biāo)數(shù)據(jù)空間到低維特征子空間的變換矩陣，使得低維特征空間上類內(nèi)的點(diǎn)到空間距離之和達(dá)到最小，同時(shí)類間的點(diǎn)到空間距離之和達(dá)到最大；

步驟S6：根據(jù)得到的變換矩陣，將所有的訓(xùn)練樣本和測(cè)試樣本從高維雷達(dá)目標(biāo)數(shù)據(jù)空間變換到低維特征子空間中的特征點(diǎn)，完成特征提??；

步驟S7：采用最近鄰法對(duì)每一個(gè)測(cè)試樣本的特征點(diǎn)進(jìn)行分類，完成雷達(dá)目標(biāo)識(shí)別。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于鄰域特征空間鑒別分析的雷達(dá)目標(biāo)識(shí)別方法，其特征在于，步驟S1中，所述的訓(xùn)練樣本是用來(lái)進(jìn)行子空間學(xué)習(xí)，以獲得從高維數(shù)據(jù)空間到低維特征子空間的變換矩陣，所述的測(cè)試樣本是用來(lái)進(jìn)行目標(biāo)分類，以測(cè)試所提供方法的識(shí)別性能；

每類目標(biāo)的前Ntr個(gè)數(shù)據(jù)用于組成訓(xùn)練樣本，后(N-Ntr)個(gè)數(shù)據(jù)用于組成測(cè)試樣本，其中，N為每類目標(biāo)的總樣本個(gè)數(shù)，Ntr為每類目標(biāo)訓(xùn)練樣本的個(gè)數(shù)，(N-Ntr)為每類目標(biāo)測(cè)試樣本的個(gè)數(shù)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于鄰域特征空間鑒別分析的雷達(dá)目標(biāo)識(shí)別方法，其特征在于，步驟S2中，對(duì)于每個(gè)訓(xùn)練樣本點(diǎn)x_i，找到K₁個(gè)與它距離最近且來(lái)自同一個(gè)目標(biāo)類別的樣本點(diǎn)，記為這些樣本點(diǎn)張成x_i的類內(nèi)鄰域特征空間F_w，計(jì)算x_i在空間F_w上的投影點(diǎn)：

對(duì)于每個(gè)訓(xùn)練樣本點(diǎn)x_i，找到K₂個(gè)與它距離最近且來(lái)自不同目標(biāo)類別的樣本點(diǎn)，記為這些樣本點(diǎn)張成x_i的類間鄰域特征空間F_b，計(jì)算x_i在空間F_b上的投影點(diǎn)：

樣本點(diǎn)x_i到其類內(nèi)鄰域特征空間的垂直矢量為：

樣本點(diǎn)x_i到其類間鄰域特征空間的垂直矢量為：

所述的K₁和K₂應(yīng)小于每類目標(biāo)訓(xùn)練樣本的個(gè)數(shù)。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的基于鄰域特征空間鑒別分析的雷達(dá)目標(biāo)識(shí)別方法，其特征在于，步驟S3中，樣本點(diǎn)x_i的加權(quán)值為：

其中，||·||表示矢量的二范數(shù)。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的基于鄰域特征空間鑒別分析的雷達(dá)目標(biāo)識(shí)別方法，其特征在于，步驟S4中，類內(nèi)散射矩陣為：

類間散射矩陣為：

其中，N是所有訓(xùn)練樣本的總數(shù)。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的基于鄰域特征空間鑒別分析的雷達(dá)目標(biāo)識(shí)別方法，其特征在于，步驟S5中，變換矩陣通過(guò)求解如下最優(yōu)化問(wèn)題而得到：

約束條件：V^TV＝I

其中，V表示所要求解的變換矩陣，tr表示矩陣的跡，約束條件V^TV＝I是為了保證求解結(jié)果的唯一性；

將上述優(yōu)化問(wèn)題轉(zhuǎn)化為對(duì)矩陣(S_b S_w)進(jìn)行特征分解，并取其前d個(gè)最大的特征值對(duì)應(yīng)的特征向量v₁,…,v_d構(gòu)成所要求解的變換矩陣：V＝[v₁,…,v_d]；其中，d為低維特征子空間的維數(shù)，d應(yīng)小于高維雷達(dá)目標(biāo)數(shù)據(jù)空間的維數(shù)。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的基于鄰域特征空間鑒別分析的雷達(dá)目標(biāo)識(shí)別方法，其特征在于，步驟S6中，低維特征子空間中與x對(duì)應(yīng)的特征點(diǎn)為：

y＝V^Tx

其中，x表示高維雷達(dá)目標(biāo)數(shù)據(jù)空間中的任一樣本點(diǎn)，y表示低維特征子空間與x對(duì)應(yīng)的特征點(diǎn)。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于鄰域特征空間鑒別分析的雷達(dá)目標(biāo)識(shí)別方法，其特征在于，步驟S7中，所述的最近鄰法是指將待識(shí)別的測(cè)試樣本的特征點(diǎn)劃歸到與它距離最近的訓(xùn)練樣本的特征點(diǎn)所屬的目標(biāo)類別中。