技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開一種OLED器件衰減分析裝置及衰減分析方法，涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域，以判斷OLED器件中發(fā)光層的發(fā)光材料是否發(fā)生本征衰減。該OLED器件衰減分析裝置通過獲取OLED器件老化前后，第一、二發(fā)光約束條件下OLED器件發(fā)光亮度；根據(jù)OLED器件老化前后，第一、二發(fā)光約束條件下OLED器件發(fā)光亮度的差值，構(gòu)建老化前后發(fā)光亮度差值函數(shù)，并對該函數(shù)進行積分，對比老化前后積分結(jié)果，根據(jù)對比結(jié)構(gòu)判斷OLED器件的發(fā)光層的發(fā)光材料是否發(fā)生本征衰減。該OLED器件衰減分析方法包括上述OLED器件衰減分析裝置。該OLED器件衰減分析裝置用于OLED器件衰減分析。

技術(shù)研發(fā)人員：許凱;彭銳;葉志杰;胡月
受保護的技術(shù)使用者：京東方科技集團股份有限公司;合肥鑫晟光電科技有限公司
文檔號碼：201610634740
技術(shù)研發(fā)日：2016.08.04
技術(shù)公布日：2016.12.21