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      一種用于芯片操作系統(tǒng)的測(cè)試方法與流程

      文檔序號(hào):12270947閱讀:664來(lái)源:國(guó)知局

      本發(fā)明屬于硬件開(kāi)發(fā)技術(shù)領(lǐng)域,特別是涉及一種用于芯片操作系統(tǒng)的測(cè)試方法。



      背景技術(shù):

      隨著智能卡在各個(gè)領(lǐng)域的應(yīng)用迅速增長(zhǎng),對(duì)其芯片操作系統(tǒng)質(zhì)量的要求也越來(lái)越高。軟件測(cè)試是軟件生命周期中極為重要的一環(huán),是軟件質(zhì)量保證的關(guān)鍵階段。是對(duì)軟件設(shè)計(jì)和編碼的最終檢査。由于軟件產(chǎn)品本身無(wú)形態(tài),它是復(fù)雜的、知識(shí)高度密集的邏輯產(chǎn)品,沒(méi)有一種軟件方法可以保證在軟件的設(shè)計(jì)和實(shí)現(xiàn)過(guò)程中沒(méi)有錯(cuò)誤,據(jù)統(tǒng)計(jì),目前在軟件開(kāi)發(fā)總成本中,用在測(cè)試上的花銷(xiāo)要占到30%-40%。



      技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

      本發(fā)明的目的在于提供一種用于芯片操作系統(tǒng)的測(cè)試方法,通過(guò)提供的芯片測(cè)試方法保證了軟件在開(kāi)發(fā)過(guò)程中的質(zhì)量,目的在于發(fā)現(xiàn)程序執(zhí)行過(guò)程中出現(xiàn)的錯(cuò)誤、保證用戶(hù)需求開(kāi)發(fā)過(guò)程中的高質(zhì)量,提高軟件開(kāi)發(fā)的效率,降低開(kāi)發(fā)周期。

      本發(fā)明是通過(guò)以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)的:

      本發(fā)明為一種用于芯片操作系統(tǒng)的測(cè)試方法,包括如下步驟:

      步驟一,用戶(hù)需求:通過(guò)對(duì)需求評(píng)審,進(jìn)行驗(yàn)收測(cè)試設(shè)計(jì),進(jìn)行驗(yàn)收測(cè)試;若驗(yàn)收測(cè)試出現(xiàn)錯(cuò)誤進(jìn)行回歸測(cè)試,回歸步驟四重復(fù)測(cè)試;

      步驟二,需求分析與設(shè)計(jì):通過(guò)測(cè)試需求分析,系統(tǒng)測(cè)試設(shè)計(jì),進(jìn)行系統(tǒng)測(cè)試;若系統(tǒng)測(cè)試出現(xiàn)錯(cuò)誤進(jìn)行回歸測(cè)試,回歸步驟四重復(fù)測(cè)試;

      步驟三,概要設(shè)計(jì):集成測(cè)試準(zhǔn)備,進(jìn)行集成測(cè)試;若集成測(cè)試出現(xiàn)錯(cuò)誤進(jìn)行回歸測(cè)試,回歸步驟四重復(fù)測(cè)試;

      步驟四,詳細(xì)設(shè)計(jì):?jiǎn)卧獪y(cè)試準(zhǔn)備,進(jìn)行單元測(cè)試;

      步驟五,得到編碼。

      優(yōu)選地,所述系統(tǒng)測(cè)試采用COS測(cè)試,所述COS測(cè)試包括COS的基本功能測(cè)試、恢復(fù)性測(cè)試、耐久性測(cè)試、性能測(cè)試和互操作性測(cè)試。

      優(yōu)選地,所述COS的基本功能測(cè)試包括命令功能測(cè)試、文件管理測(cè)試、命令響應(yīng)測(cè)試和安全管理測(cè)試。

      優(yōu)選地,所述恢復(fù)性測(cè)試用于測(cè)試終端與智能卡在通信中止時(shí),驗(yàn)證系統(tǒng)的自我恢復(fù)能力。

      本發(fā)明具有以下有益效果:

      本發(fā)明提供的芯片測(cè)試方法保證了軟件在開(kāi)發(fā)過(guò)程中的質(zhì)量,目的在于發(fā)現(xiàn)程序執(zhí)行過(guò)程中出現(xiàn)的錯(cuò)誤、保證用戶(hù)需求開(kāi)發(fā)過(guò)程中的高質(zhì)量,提高軟件開(kāi)發(fā)的效率,降低開(kāi)發(fā)周期。

      當(dāng)然,實(shí)施本發(fā)明的任一產(chǎn)品并不一定需要同時(shí)達(dá)到以上所述的所有優(yōu)點(diǎn)。

      附圖說(shuō)明

      為了更清楚地說(shuō)明本發(fā)明實(shí)施例的技術(shù)方案,下面將對(duì)實(shí)施例描述所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹,顯而易見(jiàn)地,下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例,對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)講,在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。

      圖1為本發(fā)明的一種用于芯片操作系統(tǒng)的測(cè)試方法的流程圖。

      具體實(shí)施方式

      下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖,對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例,而不是全部的實(shí)施例?;诒景l(fā)明中的實(shí)施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒(méi)有作出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其它實(shí)施例,都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。

      請(qǐng)參閱圖1所示,本發(fā)明為一種用于芯片操作系統(tǒng)的測(cè)試方法,包括如下步驟:

      步驟一,用戶(hù)需求:通過(guò)對(duì)需求評(píng)審,進(jìn)行驗(yàn)收測(cè)試設(shè)計(jì),進(jìn)行驗(yàn)收測(cè)試;若驗(yàn)收測(cè)試出現(xiàn)錯(cuò)誤進(jìn)行回歸測(cè)試,回歸步驟四重復(fù)測(cè)試;

      步驟二,需求分析與設(shè)計(jì):通過(guò)測(cè)試需求分析,系統(tǒng)測(cè)試設(shè)計(jì),進(jìn)行系統(tǒng)測(cè)試;若系統(tǒng)測(cè)試出現(xiàn)錯(cuò)誤進(jìn)行回歸測(cè)試,回歸步驟四重復(fù)測(cè)試;

      步驟三,概要設(shè)計(jì):集成測(cè)試準(zhǔn)備,進(jìn)行集成測(cè)試;若集成測(cè)試出現(xiàn)錯(cuò)誤進(jìn)行回歸測(cè)試,回歸步驟四重復(fù)測(cè)試;

      步驟四,詳細(xì)設(shè)計(jì):?jiǎn)卧獪y(cè)試準(zhǔn)備,進(jìn)行單元測(cè)試;

      步驟五,得到編碼。

      其中,系統(tǒng)測(cè)試采用COS測(cè)試,所述COS測(cè)試包括COS的基本功能測(cè)試、恢復(fù)性測(cè)試、耐久性測(cè)試、性能測(cè)試和互操作性測(cè)試。

      其中,COS的基本功能測(cè)試包括命令功能測(cè)試、文件管理測(cè)試、命令響應(yīng)測(cè)試和安全管理測(cè)試。命令功能測(cè)試的對(duì)象是IS07816所定義的基本命令以及與行業(yè)相關(guān)的命令,驗(yàn)證命令的功能能否滿(mǎn)足需求。文件管理測(cè)試包括了文件選擇方法測(cè)試、文件表示測(cè)試、專(zhuān)有文件測(cè)試、基本文件以及基本文件的性測(cè)試。命令響應(yīng)測(cè)試由對(duì)錯(cuò)誤命令的吶應(yīng)測(cè)試、卡返回的狀態(tài)字節(jié)測(cè)試兩方面構(gòu)成。安全管理測(cè)試的主要內(nèi)容有鑒權(quán)功能以及安全訪(fǎng)問(wèn)機(jī)制測(cè)試。

      其中,恢復(fù)性測(cè)試用于測(cè)試終端與智能卡在通信中止時(shí),驗(yàn)證系統(tǒng)的自我恢復(fù)能力。

      若cos對(duì)指令的處理時(shí)間過(guò)長(zhǎng),則容易會(huì)導(dǎo)致其交易功能出現(xiàn)非預(yù)期錯(cuò)誤,cos的性能測(cè)試主要關(guān)注的是cos對(duì)終端所發(fā)出指令的響應(yīng)時(shí)間。

      互操作性測(cè)試,也稱(chēng)兼容性測(cè)試,主要檢測(cè)智能卡與不同終銷(xiāo)的互操作能力,以常用的S1M卡為例,互操作性指的就是SIM卡在不同品牌的手機(jī)中能否正常使用。

      對(duì)芯片的物理結(jié)構(gòu)進(jìn)行性能檢測(cè)后再進(jìn)行系統(tǒng)檢測(cè)。

      物體特性測(cè)試主要是指在不同工作環(huán)境下卡的工作狀態(tài)是否能和相關(guān)協(xié)議保持一致性,主要包括以下幾個(gè)方面:

      物理特性:包括卡外觀(guān)(如卡的大小,觸點(diǎn)尺寸等)、紫外線(xiàn)輻射、X射線(xiàn)輻射、觸電表面斷面、卡與芯片以及芯片與觸點(diǎn)的機(jī)械強(qiáng)度、觸點(diǎn)電阻、電磁場(chǎng)、靜電、熱耗、卡加電次數(shù)等是否滿(mǎn)足1S07816對(duì)其的規(guī)定。

      電氣特性:芯片正常工作的Vcc值及Icc值、正常工作狀態(tài)下,對(duì)Vcc、I/O、CLK、RST測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試、在空閑、全頻率空閑、時(shí)鐘停等狀態(tài)下,對(duì)Icc的測(cè)試。

      操作過(guò)程:接口設(shè)備連接和觸點(diǎn)激活、卡復(fù)位、觸點(diǎn)的釋放是否滿(mǎn)足相關(guān)協(xié)議。

      復(fù)位應(yīng)答:異步傳輸中的S位應(yīng)答ATR是否與相應(yīng)協(xié)議一致。

      傳輸協(xié)議:智能卡與終端進(jìn)循相同的協(xié)議是保證兩者進(jìn)行正常通信的前提。傳輸協(xié)議測(cè)試也是必不可少的。

      值得注意的是,上述系統(tǒng)實(shí)施例中,所包括的各個(gè)單元只是按照功能邏輯進(jìn)行劃分的,但并不局限于上述的劃分,只要能夠?qū)崿F(xiàn)相應(yīng)的功能即可;另外,各功能單元的具體名稱(chēng)也只是為了便于相互區(qū)分,并不用于限制本發(fā)明的保護(hù)范圍。

      另外,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解實(shí)現(xiàn)上述各實(shí)施例方法中的全部或部分步驟是可以通過(guò)程序來(lái)指令相關(guān)的硬件來(lái)完成,相應(yīng)的程序可以存儲(chǔ)于一計(jì)算機(jī)可讀取存儲(chǔ)介質(zhì)中,所述的存儲(chǔ)介質(zhì),如ROM/RAM、磁盤(pán)或光盤(pán)等。

      以上公開(kāi)的本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例只是用于幫助闡述本發(fā)明。優(yōu)選實(shí)施例并沒(méi)有詳盡敘述所有的細(xì)節(jié),也不限制該發(fā)明僅為所述的具體實(shí)施方式。顯然,根據(jù)本說(shuō)明書(shū)的內(nèi)容,可作很多的修改和變化。本說(shuō)明書(shū)選取并具體描述這些實(shí)施例,是為了更好地解釋本發(fā)明的原理和實(shí)際應(yīng)用,從而使所屬技術(shù)領(lǐng)域技術(shù)人員能很好地理解和利用本發(fā)明。本發(fā)明僅受權(quán)利要求書(shū)及其全部范圍和等效物的限制。

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