技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了一種用于芯片操作系統(tǒng)的測試方法。包括如下步驟：步驟一，通過對需求評審，進(jìn)行驗(yàn)收測試設(shè)計(jì)，進(jìn)行驗(yàn)收測試；若驗(yàn)收測試出現(xiàn)錯(cuò)誤進(jìn)行回歸測試，回歸步驟四重復(fù)測試；步驟二，通過測試需求分析，系統(tǒng)測試設(shè)計(jì)，進(jìn)行系統(tǒng)測試；若系統(tǒng)測試出現(xiàn)錯(cuò)誤進(jìn)行回歸測試，回歸步驟四重復(fù)測試；步驟三，集成測試準(zhǔn)備，進(jìn)行集成測試；若集成測試出現(xiàn)錯(cuò)誤進(jìn)行回歸測試，回歸步驟四重復(fù)測試；詳細(xì)設(shè)計(jì)：單元測試準(zhǔn)備，進(jìn)行單元測試；步驟五，得到編碼。本發(fā)明提供的芯片測試方法保證了軟件在開發(fā)過程中的質(zhì)量，目的在于發(fā)現(xiàn)程序執(zhí)行過程中出現(xiàn)的錯(cuò)誤、保證用戶需求開發(fā)過程中的高質(zhì)量，提高軟件開發(fā)的效率，降低開發(fā)周期。

技術(shù)研發(fā)人員：張介飛
受保護(hù)的技術(shù)使用者：合肥微匠信息科技有限公司
文檔號碼：201610925050
技術(shù)研發(fā)日：2016.10.30
技術(shù)公布日：2017.02.22