本發(fā)明屬于光學(xué)領(lǐng)域和微納系統(tǒng)領(lǐng)域,具體為一種“三明治”型超快光電探測(cè)金屬超結(jié)構(gòu)的制作方法。
背景技術(shù):
隨著海陸空一體化戰(zhàn)略的迅速發(fā)展,“高超”武器的突破性進(jìn)展,使得目標(biāo)運(yùn)動(dòng)速度大大加快,大量航空航海裝備對(duì)跟蹤系統(tǒng)的跟蹤動(dòng)態(tài)性能、快速紅外成像識(shí)別技術(shù)提出了更高的要求。在越來(lái)越激烈的海洋爭(zhēng)端中,實(shí)現(xiàn)對(duì)特定光信號(hào)的探測(cè)與響應(yīng)、快速成像顯示至關(guān)重要,快速響應(yīng)光電探測(cè)器是實(shí)現(xiàn)艦船預(yù)警跟蹤、軌跡預(yù)測(cè)、近程監(jiān)視、艦船識(shí)別、海岸成像、夜間導(dǎo)航、精確定位的關(guān)鍵。針對(duì)海上復(fù)雜的氣候條件,中波紅外(3-5μm)和長(zhǎng)波紅外(8-12μm)波段的波被大氣中的水蒸氣和二氧化碳吸收最少,但是,各自波段紅外探測(cè)的性能都有一定的缺陷。8-12μm窗口比3-5μm窗口對(duì)目標(biāo)和背景間的微小溫度差更加敏感,能實(shí)現(xiàn)長(zhǎng)距探測(cè),但是在潮濕條件下其性能下降極其嚴(yán)重。而3-5μm窗口對(duì)潮濕環(huán)境敏感性要低很多,但是在溫度低于20度是性能變差且易受陽(yáng)光閃爍的影響。所以,必須實(shí)現(xiàn)對(duì)中波紅外和長(zhǎng)波紅外協(xié)作探測(cè)的快速探測(cè),以適應(yīng)瞬息萬(wàn)變的海上作戰(zhàn)環(huán)境。
石墨烯-硅異質(zhì)結(jié)已經(jīng)被證明具有獨(dú)特的結(jié)構(gòu)與優(yōu)異的光電性能,以及優(yōu)異的光伏特性,可以被應(yīng)用在光電探測(cè)領(lǐng)域。以往的研究中,石墨烯-硅異質(zhì)結(jié)由于存在較高的暗電流,從而影響了其作為光電探測(cè)器的探測(cè)能力。石墨烯光電轉(zhuǎn)換結(jié)構(gòu)是突破超快光電探測(cè)技術(shù)的瓶頸所在,石墨烯薄膜產(chǎn)生的光生載流子壽命太短(1ps),未能解決石墨烯產(chǎn)生的光生載流子在其壽命內(nèi)有效收集的關(guān)鍵問(wèn)題。因此,急需采用新材料、新理論、新技術(shù)來(lái)開(kāi)發(fā)制造新一代的慣性導(dǎo)航器件的高精度部件。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
針對(duì)目前采用石墨烯制作的光電探測(cè)器由于光生載流子較少使得靈敏度受限、傳輸速度較慢等問(wèn)題,本發(fā)明提出了基于表面生長(zhǎng)一層二氧化硅的硅基片的石墨烯薄膜-貴金屬超材料結(jié)構(gòu)-石墨烯薄膜的“三明治”型超快光電探測(cè)金屬超結(jié)構(gòu)的制作方法。
本發(fā)明是采用如下的技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)的:“三明治”型超快光電探測(cè)金屬超結(jié)構(gòu)的制作方法,包括以下步驟:
第一步:將第一層石墨烯薄膜轉(zhuǎn)移到表面生長(zhǎng)一層二氧化硅的硅基片上;
第二步:在第一層石墨烯薄膜上勻一層負(fù)光刻膠;
第三步:采用電子束曝光系統(tǒng)對(duì)第一層石墨烯薄膜上的負(fù)光刻膠進(jìn)行曝光,并進(jìn)行顯影、定影處理,在負(fù)光刻膠層上得到由若干間隔距離為納米量級(jí)的方形凹槽組成的槽陣列;
第四步:利用電子束熱蒸發(fā)技術(shù)向方形凹槽內(nèi)沉積金屬Ag;
第五步:采用剝離工藝將負(fù)光刻膠去除,則在石墨烯薄膜上得到由若干間隔距離為納米量級(jí)的金屬Ag組成的金屬Ag陣列結(jié)構(gòu);
第六步:利用磁控濺射薄膜沉積系統(tǒng)向第一層石墨烯薄膜上沉積電介質(zhì)層TiO,電介質(zhì)層TiO將金屬Ag陣列結(jié)構(gòu)覆蓋(金屬Ag的頂面裸露);
第七步:在電介質(zhì)層和第一層石墨烯薄膜上位于電介質(zhì)層兩側(cè)的位置勻一層正光刻膠;
第八步:采用套刻工藝對(duì)正光刻膠曝光,顯影、定影,將第一層石墨烯薄膜上電介質(zhì)層TiO兩側(cè)的正光刻膠去除;
第九步:利用納米團(tuán)生長(zhǎng)工藝在第一層石墨烯薄膜上生長(zhǎng)一層金屬Au作為電極薄膜,該電極薄膜位于電介質(zhì)層TiO的兩側(cè);
第十步:利用剝離工藝將正光刻膠去除;
第十一步:將第二層石墨烯薄膜轉(zhuǎn)移至電介質(zhì)層TiO上,最終得到石墨烯薄膜-貴金屬超材料結(jié)構(gòu)-石墨烯薄膜的“三明治”型金屬超結(jié)構(gòu)。
本發(fā)明制得的金屬超結(jié)構(gòu)中夾心層的貴金屬超材料結(jié)構(gòu)具有的納米級(jí)間隙使得光生載流子在電極間的傳輸時(shí)間壓縮到亞皮秒量級(jí),故貴金屬超材料結(jié)構(gòu)的加入能夠使得石墨烯產(chǎn)生的光生載流子在其壽命內(nèi)得到有效的收集,其光響應(yīng)時(shí)間達(dá)到納秒量級(jí),從而實(shí)現(xiàn)了超快速的光電探測(cè)。金屬超結(jié)構(gòu)實(shí)現(xiàn)高靈敏的原理一方面是貴金屬超材料結(jié)構(gòu)的表面等離激元共振(SPR)效應(yīng)能夠有效增強(qiáng)石墨烯薄膜的吸光性能,使得石墨烯薄膜產(chǎn)生有效應(yīng)的光生載流子,另一方面,貴金屬超結(jié)構(gòu)的SPR效應(yīng)能夠進(jìn)一步增強(qiáng)石墨烯薄膜光生載流子的產(chǎn)生。這兩方面導(dǎo)致光生載流子增加的機(jī)理使得該光電探測(cè)器能夠?qū)崿F(xiàn)高靈敏的探測(cè)性能。
因此,本發(fā)明開(kāi)展表面等離激元共振效應(yīng)實(shí)現(xiàn)超快、高靈敏超快光電探測(cè)的研究工作具有非常重要的研究意義和潛在應(yīng)用價(jià)值,將墨烯薄膜-貴金屬超材料結(jié)構(gòu)-石墨烯薄膜的“三明治”型結(jié)構(gòu)應(yīng)用于光電探測(cè)技術(shù)中具有很好的創(chuàng)新性。
附圖說(shuō)明
圖1為本發(fā)明原理示意圖。
圖2為“三明治”型金屬超結(jié)構(gòu)制備工藝流程圖。
具體實(shí)施方式
“三明治”型超快光電探測(cè)金屬超結(jié)構(gòu)的制作方法,包括以下步驟:
第一步:將第一層石墨烯薄膜轉(zhuǎn)移到表面生長(zhǎng)一層二氧化硅的硅基片上;
第二步:在第一層石墨烯薄膜上勻一層負(fù)光刻膠;
第三步:采用電子束曝光系統(tǒng)對(duì)第一層石墨烯薄膜上的負(fù)光刻膠進(jìn)行曝光,并進(jìn)行顯影、定影處理,在負(fù)光刻膠層上得到由若干間隔距離為納米量級(jí)的方形凹槽組成的槽陣列;
第四步:利用電子束熱蒸發(fā)技術(shù)向方形凹槽內(nèi)沉積金屬Ag;
第五步:采用剝離工藝將負(fù)光刻膠去除,則在石墨烯薄膜上得到由若干間隔距離為納米量級(jí)的金屬Ag組成的金屬Ag陣列結(jié)構(gòu);
第六步:利用磁控濺射薄膜沉積系統(tǒng)向第一層石墨烯薄膜上沉積電介質(zhì)層TiO,電介質(zhì)層TiO將金屬Ag陣列結(jié)構(gòu)覆蓋;
第七步:在電介質(zhì)層和第一層石墨烯薄膜上位于電介質(zhì)層兩側(cè)的位置勻一層正光刻膠;
第八步:采用套刻工藝對(duì)正光刻膠曝光,顯影、定影,將第一層石墨烯薄膜上電介質(zhì)層TiO兩側(cè)的正光刻膠去除;
第九步:利用納米團(tuán)生長(zhǎng)工藝在第一層石墨烯薄膜上生長(zhǎng)一層金屬Au作為電極薄膜,該電極薄膜位于電介質(zhì)層TiO的兩側(cè);
第十步:利用剝離工藝將正光刻膠去除;
第十一步:將第二層石墨烯薄膜轉(zhuǎn)移至電介質(zhì)層TiO上,最終得到石墨烯薄膜-貴金屬超材料結(jié)構(gòu)-石墨烯薄膜的“三明治”型金屬超結(jié)構(gòu)。