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      電子裝置的制造方法_2

      文檔序號(hào):9671054閱讀:來源:國(guó)知局
      行的計(jì)算機(jī)程序(即,用于控制電子裝置100的計(jì)算機(jī)程序)的存儲(chǔ)介質(zhì)。用于用戶接口的信息(菜單畫面等)也存儲(chǔ)在第二存儲(chǔ)器113中。第三存儲(chǔ)器114是臨時(shí)存儲(chǔ)各種數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)介質(zhì)。例如,第三存儲(chǔ)器114被用作CPU 118的工作存儲(chǔ)器。
      [0042]開關(guān)108是用于指示電子裝置100進(jìn)行攝像的開關(guān)。攝像傳感器105是將經(jīng)由鏡頭單元120入射的光轉(zhuǎn)換為電信號(hào),并且由電信號(hào)生成拍攝圖像數(shù)據(jù)的攝像傳感器。根據(jù)來自CPU 118的指令來驅(qū)動(dòng)攝像傳感器105。作為攝像傳感器105,例如,可以使用(XD或CMOS傳感器。快門機(jī)構(gòu)106根據(jù)來自CPU 118的指令,控制快門的打開和關(guān)閉。例如,快門機(jī)構(gòu)106控制快門的打開和關(guān)閉,以使得在攝像期間的預(yù)定定時(shí),使光入射到攝像傳感器105。鏡機(jī)構(gòu)107根據(jù)來自CPU 118的指令控制鏡的方向。例如,鏡機(jī)構(gòu)107控制鏡的方向,以將經(jīng)由鏡頭單元120入射的光的路徑設(shè)置為期望的路徑。具體而言,鏡機(jī)構(gòu)107控制鏡的方向,以在非攝像期間將光導(dǎo)向至取景器側(cè),而在攝像期間將光導(dǎo)向至快門機(jī)構(gòu)106和攝像傳感器105側(cè)。閃光燈單元117是發(fā)射光的發(fā)光單元。由CPU 118控制閃光燈單元117的發(fā)光。例如,控制閃光燈單元117的發(fā)光,使得在攝像期間根據(jù)需要進(jìn)行發(fā)光。
      [0043]在第一至第三實(shí)施例中,通過用戶操作開關(guān)108,進(jìn)行攝像。在CPU 118檢測(cè)操作了開關(guān)108的情況下,CPU 118指示鏡頭微計(jì)算機(jī)104執(zhí)行AF和AE。鏡頭微計(jì)算機(jī)104根據(jù)AF和AE的執(zhí)行的指令,控制聚焦單元101、變焦單元102、光圈單元103等,由此自動(dòng)地調(diào)整聚焦和曝光(AF處理和AE處理)。之后,CPU 118控制鏡機(jī)構(gòu)107、快門機(jī)構(gòu)106以及攝像傳感器105,以使得攝像傳感器105生成拍攝圖像數(shù)據(jù)。在AF處理和AE處理之后,在確定攝像目標(biāo)區(qū)域暗的情況下,CPU 118進(jìn)行閃光燈單元117的充電控制,并使閃光燈單元117在驅(qū)動(dòng)攝像傳感器105的定時(shí)發(fā)光。
      [0044]磁傳感器116進(jìn)行用于檢測(cè)地磁的處理(第一檢測(cè)處理)。加速度傳感器115進(jìn)行用于檢測(cè)施加到加速度傳感器115上的加速度的處理(第二檢測(cè)處理)。在第一至第三實(shí)施例中,磁傳感器116與加速度傳感器115被布置在第一電池室110附近。
      [0045]當(dāng)檢測(cè)電子裝置100的預(yù)定面(例如,攝像面)指向的方位時(shí),CPU 118驅(qū)動(dòng)磁傳感器116和加速度傳感器115,從磁傳感器116獲取檢測(cè)值,并且還從加速度傳感器115獲取檢測(cè)值。在下面的說明中,將磁傳感器116的檢測(cè)值稱為磁檢測(cè)值,并且將加速度傳感器115的檢測(cè)值稱為加速度檢測(cè)值。
      [0046]在向CPU 118輸入用于啟動(dòng)電子裝置100的指令的情況下,第一電池室110檢測(cè)連接到第一電池室110的電源的類型,并且將檢測(cè)的結(jié)果通知給電源檢測(cè)單元118a。在向CPU 118輸入用于啟動(dòng)電子裝置100的指令的情況下,第二電池室121也檢測(cè)連接到第二電池室121的電源的類型,并且將檢測(cè)的結(jié)果通知給電源檢測(cè)單元118a。在向CPU 118輸入用于啟動(dòng)電子裝置100的指令的情況下,第三電池室122也檢測(cè)連接到第三電池室122的電源的類型,并且將檢測(cè)的結(jié)果通知給電源檢測(cè)單元118a。例如,在按下了電子裝置100的電源開關(guān)的情況下,電子裝置100向CPU 118輸入用于啟動(dòng)電子裝置100的指令。然而,電源檢測(cè)單元118a分別從第一電池室110、第二電池室121以及第三電池室122獲取檢測(cè)結(jié)果的定時(shí)不限于上述定時(shí)。
      [0047]電源檢測(cè)單元118a基于分別從第一電池室110、第二電池室121以及第三電池室122通知的檢測(cè)結(jié)果,來確定連接到第一電池室110的電源的類型。當(dāng)然,基于分別從第一電池室110、第二電池室121以及第三電池室122通知的檢測(cè)結(jié)果,電源檢測(cè)單元118a還能夠確定把持單元130是否連接到電子裝置100。
      [0048]注意,第一電池室110能夠使用各種方法作為檢測(cè)連接到第一電池室110的電源的類型的方法。第二電池室121也可以使用各種方法作為檢測(cè)連接到第二電池室121的電源的類型的方法。第三電池室122也可以使用各種方法作為檢測(cè)連接到第三電池室122的電源的類型的方法。例如,可以通過諸如開關(guān)的機(jī)械方法來檢測(cè)電源的類型。針對(duì)各電源,可以根據(jù)不同的電阻值來檢測(cè)電源的類型。也可以通過訪問電源中包括的存儲(chǔ)器來檢測(cè)電源的類型。也可以通過與電源通信來檢測(cè)電源的類型。
      [0049]在第一實(shí)施例中,電子裝置100具有操作模式。操作模式中的一者例如是用于拍攝靜止圖像的靜止圖像拍攝模式。操作模式中的一者例如是用于拍攝運(yùn)動(dòng)圖像的運(yùn)動(dòng)圖像拍攝模式。操作模式中的一者是將顯示單元119用作電子取景器的實(shí)時(shí)查看模式(下文中稱為L(zhǎng)V模式)。操作模式中的一者是用于在顯示單元119上顯示拍攝圖像數(shù)據(jù)的TFT ON模式。
      [0050]CPU 118基于選擇的操作模式與連接到第一電池室110的電源的類型的組合,來校正磁傳感器116的磁檢測(cè)值。由此,校正磁檢測(cè)值,以使得減少因連接到第一電池室110的電源而引起的磁檢測(cè)值的改變。使用校正值確定單元118b和檢測(cè)值校正單元118c來進(jìn)行該校正處理。稍后將說明校正值確定單元118b和檢測(cè)值校正單元118c的詳情。注意,可以基于連接到第一電池室110的電源的類型,而不考慮選擇的操作模式,來校正磁傳感器116的磁檢測(cè)值。
      [0051]方位確定單元118d基于校正后的磁檢測(cè)值和加速度傳感器115的加速度檢測(cè)值,來確定電子裝置100的預(yù)定面(例如,攝像面)指向的方位。在第一實(shí)施例中,將攝像傳感器105的光接收面稱為攝像面,并且將攝像面指向的方位稱為攝像方位。注意,可以根據(jù)任意方法來確定攝像方位,只要能夠使用校正后的磁檢測(cè)值精確地確定攝像方位即可。例如,可以根據(jù)使用校正后的磁檢測(cè)值和除加速度檢測(cè)值之外的檢測(cè)值能夠精確地確定攝像方位的方法,來確定攝像方位。
      [0052]圖2是示出攝像方位的確定方法的示例的示意圖。
      [0053]磁傳感器116能夠三維地檢測(cè)磁場(chǎng)。加速度傳感器115能夠三維地檢測(cè)加速度。磁傳感器116的磁檢測(cè)值包括與三個(gè)軸方向相對(duì)應(yīng)的三個(gè)值(X值、y值以及z值)的組合(三維矢量)。X值是與X軸方向相對(duì)應(yīng)的值。y值是與y軸方向相對(duì)應(yīng)的值,并且z值是與z軸方向相對(duì)應(yīng)的值。加速度傳感器115的加速度檢測(cè)值也包括與三個(gè)軸方向相對(duì)應(yīng)的三個(gè)值(X值、y值以及z值)的組合(三維矢量)。加速度傳感器115的加速度檢測(cè)值中包括的三個(gè)方向的值分別是帶有符號(hào)的多位值。
      [0054]在第一實(shí)施例中,由加速度傳感器115的加速度檢測(cè)值表示的加速度的方向被檢測(cè)作為重力加速度的方向。通過將由校正后的磁檢測(cè)值表示的磁場(chǎng)的方向投影在與重力加速度的方向垂直的平面(與地面平行的平面)上而獲得的方向被檢測(cè)為地磁的磁北的方向。具體而言,由校正后的磁檢測(cè)值表示的矢量被劃分為在重力加速度方向上的矢量(第一矢量),以及在與重力加速度的方向垂直的方向上的矢量(第二矢量)。第二矢量的方向被檢測(cè)為地磁的磁北的方向。
      [0055]通過將鏡頭單元120的光軸的方向(等同于攝像面指向的方向)投影在與重力加速度的方向垂直的平面上而獲得的方向被檢測(cè)為攝像方向。具體而言,表示光軸的方向的矢量被劃分為重力加速度的方向上的矢量(第三矢量),以及在與重力加速度的方向垂直的方向上的矢量(第四矢量)。第四矢量的方向被檢測(cè)為攝像方向。
      [0056]基于磁北的方向和攝像方向來確定攝像方位。磁北的方向與攝像方向之間的關(guān)系能夠由例如磁北的方向與攝像方向之間的角度來表示。具體而言,磁北的方向與攝像方向之間的關(guān)系能夠由第二矢量與第四矢量之間的角度來表示。
      [0057]注意,能夠在任意定時(shí)檢測(cè)攝像方位。例如,可以在攝像期間檢測(cè)攝像方位。指示拍攝的圖像數(shù)據(jù)的攝像方位的信息可以與拍攝的圖像數(shù)據(jù)一起被存儲(chǔ)在第一存儲(chǔ)器112中。在顯示與拍攝的圖像數(shù)據(jù)相對(duì)應(yīng)的圖像的情況下,能夠與圖像一起顯示指示該拍攝的圖像數(shù)據(jù)的攝像方位的信息。由此,能夠告知用戶拍攝的圖像數(shù)據(jù)的攝像方位。拍攝的圖像數(shù)據(jù)可以是靜止圖像,也可以是運(yùn)動(dòng)圖像。在拍攝運(yùn)動(dòng)圖像的情況下,期望針對(duì)N(N是等于或大于1的整數(shù))幀的各個(gè)檢測(cè)攝像方位。由此,針對(duì)N幀的各個(gè),能夠向用戶通知指示攝像方位的信息??梢钥偸侵貜?fù)執(zhí)行用于檢測(cè)攝像方位的處理??梢詫?shí)時(shí)地在顯示單元119上顯示指示最新攝像方位的信息。由此,能夠?qū)崟r(shí)向用戶通知指示最新攝像方位的信息。
      [0058]在不進(jìn)行攝像的時(shí)間段中,也可以在顯示單元119上顯示指示最新攝像范圍(被攝體)的圖像。即,在不進(jìn)行攝像的時(shí)間段,顯示單元119可以被用作電子取景器。
      [0059]在使用GPS等檢測(cè)攝像位置(電子裝置100的位置)的情況下,磁北的方向可以被用作正北(due north)的方向。
      [0060]將說明校正值確定單元118b和檢測(cè)值校正單元118c。
      [0061 ] 作為磁傳感器116的磁檢測(cè)值,期望獲得表示地磁的磁檢測(cè)值。然而,由磁傳感器116檢測(cè)的磁場(chǎng)根據(jù)各種因素改變。在磁傳感器116中,獲得根據(jù)各種因素而改變的磁檢測(cè)值。因各種因素引起的磁檢測(cè)值的改變可以被稱為“磁檢測(cè)值的噪聲”或“磁檢測(cè)值的誤差”。
      [0062]例如,在電子裝置100的內(nèi)部配設(shè)用于驅(qū)動(dòng)快門機(jī)構(gòu)106和鏡機(jī)構(gòu)107的電機(jī)。在電機(jī)的內(nèi)部配設(shè)總是生成磁力線的永磁體。永磁體的磁場(chǎng)改變磁傳感器116的磁檢測(cè)值。即,永磁體的磁場(chǎng)對(duì)磁傳感器116的磁檢測(cè)值有不利影響。在電子裝置100內(nèi)生成與電子裝置100的操作電流相對(duì)應(yīng)的電流磁場(chǎng)。該電流磁場(chǎng)也對(duì)磁傳感器116的磁檢測(cè)值有不利影響。磁傳感器116的磁檢測(cè)值有時(shí)根據(jù)選擇的操作模式的改變而改變。具體而言,在操作模式之間,操作電流有時(shí)不同。因此,通過將選擇的操作模式切換為其他操作模式,流到電子裝置100的操作電流有時(shí)改變。由操作電流生成的電流磁場(chǎng)有時(shí)也改變。該磁場(chǎng)使由磁傳感器116檢測(cè)到的磁場(chǎng)位移,并且對(duì)磁傳感器116的磁檢測(cè)值有不利影響。
      [0063]因此,在第一至第三實(shí)施例中,使用校正值確定單元118b和檢測(cè)值校正單元118c來校正磁檢測(cè)值,以減少因磁場(chǎng)的位移而引起的磁檢測(cè)值的改變(第一改變)。具體而言,從磁傳感器116的磁檢測(cè)值中減去與對(duì)磁傳感器116的磁檢測(cè)值有不利影響的磁場(chǎng)相等的位移量(第一校正值)。由此,能夠減少由部件生成的磁場(chǎng)引起的、磁傳感器116的磁檢測(cè)值的改變。
      [0064]圖3A是用于例示電子裝置100的外觀的示例的外觀圖。圖3B是用于例示圖3A示出的電子裝置100的內(nèi)部結(jié)構(gòu)的示例的圖。在圖3A和圖3B示出的示例中,第一電池室110配設(shè)在把持部分。電池201連接到第一電池室110。
      [0065]主基板200是布置有電子裝置100的大量功能單元的主基板。主基板200被配設(shè)為占有電子裝置100的背面的大部分。在主基板200的中央部分配設(shè)有CPU 118、攝像傳感器105、用于攝像傳感器105的驅(qū)動(dòng)電路等。攝像傳感器105以及用于攝像傳感器105的驅(qū)動(dòng)電路等很有可能對(duì)磁傳感器116的磁檢測(cè)值有不利影響。因此,為了減
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