為與壞像素B3的坐標和壞像素B4的坐標對應的52比特。該容量基本上比第一種情況CASEl下的容量高100%。
[0104]隨著最近對圖像傳感器的小型化的需求，像素陣列的集成度會提高。因此，可以使用多個像素彼此共享晶體管的結(jié)構(gòu)，并且壞像素可能彼此相鄰地生成。此外，隨著對圖像傳感器或應用處理器的小型化的需求，用于壞像素處理的存儲器的容量可以減小。
[0105]因此，根據(jù)本發(fā)明構(gòu)思的實施例，圖像傳感器100或應用處理器500僅將代表相鄰壞像素的代表性像素的坐標存儲在存儲器中，并且利用該坐標來執(zhí)行壞像素處理，因此，可以使用于壞像素處理的存儲器的容量最小化。此外，圖像傳感器100或應用處理器500對不包括代表性像素的核不執(zhí)行壞像素檢測或壞像素補償，因此，壞像素處理所需的計算量和功耗可以最小化。
[0106]圖8是根據(jù)本發(fā)明構(gòu)思的實施例的圖3中示出的壞像素處理單元200的操作的流程圖。參照圖1至圖8，在操作SlO中，傳感器測試器600可以生成代表性像素信息RPI并且將代表性像素信息RPI存儲在壞像素存儲器210中，其中，代表性像素信息RPI包括代表性像素的坐標和關(guān)于與代表性像素相鄰的壞像素的數(shù)量的信息。
[0107]在操作Sll中，壞像素處理單元200可以從圖像傳感器100或圖像傳感器565的圖像生成單元105接收像素圖像PI。在操作S12中，壞像素檢測單元220可以確定代表性像素是否被包括在使目標像素作為中心像素的核。壞像素檢測單元220可以將目標像素的坐標與代表性像素的坐標進行比較來計算水平偏移和豎直偏移，并且可以通過確定水平偏移和豎直偏移的絕對值是否等于或小于與核的大小對應的預定值，來確定代表性像素是否被包括在核中。例如，當核的大小為η X η時，預定值可以為n/2。
[0108]在操作S12中，當代表性像素不被包括在核中時(例如，在“否”的情況下)，在操作S16中壞像素檢測單元220可以將目標像素輸出為補償后的像素圖像CPI。在操作S12中，當代表性像素被包括在核中時(例如，在“是”的情況下)，在操作S13中壞像素檢測單元220可以確定并且調(diào)整核的正常像素范圍NPR。在本發(fā)明構(gòu)思的實施例中，當與代表性像素相鄰的壞像素的數(shù)量大于預定數(shù)量(例如，2)時，在操作S13中，壞像素檢測單元220可以確定并且調(diào)整核的正常像素范圍NPR。在本發(fā)明構(gòu)思的實施例中，可以省略操作S13。
[0109]在操作S14中，壞像素檢測單元220可以確定目標像素是否為壞像素。當在操作S14中目標像素不是壞像素時(例如，在“否”的情況下)，在操作S16中壞像素檢測單元220可以將目標像素輸出為補償后的像素圖像CPI。當在操作S14中目標像素是壞像素時(例如，在“是”的情況下)，在操作S15中，壞像素補償單元230可以使用核中包括的像素來補償目標像素。
[0110]在操作S16，壞像素補償單元230可以將已經(jīng)補償?shù)哪繕讼袼剌敵鰹檠a償后的像素圖像CPI。在補償后的像素圖像CPI輸出之后，可以重復壞像素處理單元200的操作，直到針對所有像素(例如，與單幀對應的像素)完成壞像素處理。例如，當在操作S17中沒有完成壞像素處理(例如，在“否”的情況下)時，可以重復壞像素處理單元200的操作，當在操作S17中針對所有像素完成壞像素處理時(例如，在“否”的情況下)，可以結(jié)束壞像素處理單元200的操作。
[0111]此外，本發(fā)明構(gòu)思可以實施為計算機可讀記錄介質(zhì)上的計算機可讀編碼。計算機可讀記錄介質(zhì)是可以存儲其后可以被計算機系統(tǒng)讀取的數(shù)據(jù)的任何數(shù)據(jù)存儲設(shè)備。例如，計算機可讀記錄介質(zhì)包括ROM、RAM、CD-ROM、磁帶、軟盤或光學數(shù)據(jù)存儲設(shè)備等。此外，計算機可讀記錄介質(zhì)可以分布在結(jié)合網(wǎng)絡的計算機系統(tǒng)上，使得計算機可讀編碼以分布形式存儲和執(zhí)行。另外，本發(fā)明構(gòu)思所屬領(lǐng)域的技術(shù)人員可以容易地理解和導出用于完成本發(fā)明構(gòu)思的功能性程序、代碼和代碼段。
[0112]如上所述，根據(jù)本發(fā)明構(gòu)思的實施例，僅代表相鄰壞像素的代表性像素的坐標存儲在存儲器中，并且使用該坐標執(zhí)行壞像素處理，使得用于壞像素處理的存儲器容量最小化。此外，當代表性像素不被包括在核中時，不對核執(zhí)行壞像素檢測和壞像素補償，使得壞像素處理所需的計算量和功耗最小化。
[0113]雖然已經(jīng)參照本發(fā)明構(gòu)思的示例性實施例具體示出并且描述了本發(fā)明構(gòu)思，但是將理解，在不脫離由權(quán)利要求限定的本發(fā)明構(gòu)思的精神和范圍的情況下，可以在其中進行形式和細節(jié)的各種改變。
【主權(quán)項】
1.一種圖像傳感器，包括: 圖像生成單元，被配置為生成與入射光的強度對應的像素圖像；以及 壞像素處理單元，被配置為檢測壞像素，并且輸出補償后的像素圖像， 其中，壞像素處理單元包括: 壞像素檢測單元，被配置為確定代表至少一個壞像素的代表性像素是否被包括在核中，并且當代表性像素被包括在核中時確定第一像素是否為壞像素，所述核在核的中心處具有第一像素；以及 壞像素補償單元，被配置為當?shù)谝幌袼乇淮_定為壞像素時，使用核中的第二像素來補償?shù)谝幌袼兀⑶逸敵鲅a償后的像素圖像。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的圖像傳感器，其中，當代表性像素被包括在核中時，壞像素檢測單元調(diào)整核的第一像素范圍。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的圖像傳感器，其中，壞像素檢測單元將第一像素的坐標與代表性像素的坐標進行比較，基于比較結(jié)果計算水平偏移和豎直偏移，并且確定水平偏移和豎直偏移是否在與核的大小對應的預定值內(nèi)， 其中，水平偏移是第一像素與代表性像素之間在第一方向上的距離，并且 其中，豎直偏移是第一像素與代表性像素之間在與第一方向垂直的第二方向上的距離。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的圖像傳感器，其中，壞像素處理單元還包括被配置為存儲關(guān)于代表性像素的信息的壞像素存儲器。5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的圖像傳感器，其中，關(guān)于代表性像素的信息包括代表性像素的坐標或者與代表性像素相鄰的壞像素的數(shù)量。6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的圖像傳感器，其中，核的大小為2X 2、3 X 3、5 X 5和7 X 7中的一個。7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的圖像傳感器，其中，當代表性像素沒有被包括在核中時，壞像素檢測單元將第一像素輸出為補償后的像素圖像，而不執(zhí)行壞像素補償。8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的圖像傳感器，其中，圖像生成單元包括: 像素陣列，包括多個像素，每個像素被配置為生成根據(jù)入射光的強度變化的電信號； 讀出塊，被配置為將電信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字格式的像素圖像；以及 控制單元，被配置為控制像素陣列和讀出塊。9.一種應用處理器，包括: 照相機接口，被配置為接收像素圖像；以及 圖像信號處理器，被配置為處理像素圖像以生成圖像數(shù)據(jù)， 其中，圖像信號處理器，包括: 壞像素檢測單元，被配置為確定代表至少一個壞像素的代表性像素是否被包括在核中，并且當代表性像素被包括在核中時確定第一像素是否為壞像素，所述核在核的中心處具有第一像素；以及 壞像素補償單元，被配置為當?shù)谝幌袼乇淮_定為壞像素時，使用核中的第二像素來補償?shù)谝幌袼亍?0.根據(jù)權(quán)利要求9所述的應用處理器，其中，當代表性像素被包括在核中時，壞像素檢測單元調(diào)整核的第一像素范圍。11.根據(jù)權(quán)利要求9所述的應用處理器，其中，壞像素檢測單元將第一像素的坐標與代表性像素的坐標進行比較，基于比較結(jié)果計算水平偏移和豎直偏移，并且確定水平偏移和豎直偏移是否在與核的大小對應的預定值內(nèi)， 其中，水平偏移是第一像素與代表性像素之間在第一方向上的距離，并且 其中，豎直偏移是第一像素與代表性像素之間在與第一方向垂直的第二方向上的距離。12.根據(jù)權(quán)利要求9所述的應用處理器，其中，圖像信號處理器還包括被配置為存儲關(guān)于代表性像素的信息的壞像素存儲器。13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的應用處理器，其中，關(guān)于代表性像素的信息包括代表性像素的坐標或者與代表性像素相鄰的壞像素的數(shù)量。14.根據(jù)權(quán)利要求7所述的應用處理器，其中，核的大小為2X2、3X3、5X5和7X7中的一個。15.根據(jù)權(quán)利要求7所述的應用處理器，其中，當代表性像素沒有被包括在核中時，壞像素檢測單元將第一像素輸出為補償后的像素圖像，而不執(zhí)行壞像素補償。16.一種處理包括在像素圖像中的壞像素的方法，該方法包括: 利用代表至少一個壞像素的代表性像素的坐標來檢測壞像素；以及 當?shù)谝幌袼貫閴南袼貢r，使用核中的第二像素來補償?shù)谝幌袼兀龊嗽诤说闹行奶幘哂械谝幌袼兀?其中，檢測壞像素的步驟包括: 確定代表性像素是否被包括在核中； 當代表性像素被包括在核中時，確定第一像素是否為壞像素；以及 當?shù)谝幌袼氐牧炼戎挡辉诘谝幌袼胤秶鷥?nèi)時，確定第一像素為壞像素， 其中，基于核的平均亮度來確定第一像素范圍。17.根據(jù)權(quán)利要求16所述的方法，其中，檢測壞像素的步驟還包括: 當代表性像素被包括在核中時，減小核的第一像素范圍。18.根據(jù)權(quán)利要求16所述的方法，其中，檢測壞像素的步驟還包括: 當代表性像素不被包括在核中時，將第一像素輸出為補償后的像素圖像。19.根據(jù)權(quán)利要求16所述的方法，其中，檢測壞像素的步驟還包括: 當?shù)谝幌袼氐牧炼戎翟诤说牡谝幌袼胤秶鷥?nèi)時，將第一像素輸出為補償后的像素圖像。20.根據(jù)權(quán)利要求16所述的方法，其中，第二像素包圍核中的第一像素，并且具有與第一像素相同的顏色。
【專利摘要】本發(fā)明提供一種圖像傳感器、應用處理器和處理壞像素的方法。該方法包括：確定代表至少一個壞像素的代表性像素是否被包括在核中，當代表性像素被包括在核中時，確定第一像素是否為壞像素，以及當?shù)谝幌袼乇淮_定為壞像素時，使用核中的第二像素來補償?shù)谝幌袼?。所述核在核的中心處具有第一像素?br>【IPC分類】H04N5/367
【公開號】CN105611195
【申請?zhí)枴緾N201510791452
【發(fā)明人】趙鏞性
【申請人】三星電子株式會社
【公開日】2016年5月25日
【申請日】2015年11月17日
【公告號】DE102015222274A1, US20160142658