的方法，該方法不具有關于夾管閥設計的限制。
[0018]圖1顯示了根據本發(fā)明的范例實施方式的間歇性樣品入口裝置100。如圖所示，間歇性樣品入口裝置100包括管道102和旋轉分離器106。在實施方式中，導管102可包括孔板(例如，板或者壁)，孔板包括進入孔104。在其他實施方式中，導管102可包括可加熱或者不可加熱的毛細管。具體地，導管102可具有連續(xù)的直徑(平面板或者圓筒)。管道102中的進入孔104可包括設計為讓離子樣品通過到旋轉分離器106的孔，其中，旋轉分離器包括分離器孔108。在實施方式中，進入孔104的尺寸包括允許離子樣品和/或運載氣體通過的同時允許真空腔室(質譜儀的一部分)保持適當的真空的直徑。在一種實施方式中，進入孔104設置在孔板的中心并且與樣品電離源502的樣品入口對齊。只要進入孔104能夠攔截一部分離子樣品并且離子樣品能夠有效地通過管道102，進入孔104可設置在導管102上的其他位置。
[0019]如圖1和圖2所示，間歇性樣品入口裝置100包括具有分離器孔108的旋轉分離器106。在實施方式中，旋轉分離器106包括設置在導管102與真空腔室壁110之間的分離器，其中，旋轉分離器106從導管102偏離(例如，旋轉分離器106的軸線具有從導管102和/或進入孔104的軸線的垂直距離)。如圖2所示，旋轉分離器106包括分離器孔108并且設計為旋轉以便分離器孔108和進入孔104間歇地對齊。在一種實施方式中，分離器孔108從旋轉分離器106的中心偏離并且設置為當旋轉分離器106旋轉時間歇地與進入孔104對齊。當分離器孔108和進入孔104對齊時，離子樣品被允許從樣品電離源502通過分離器孔108和進入孔104進入質量分析器系統118和隨后的檢測器504。當分離器孔108和進入孔104不對齊時，離子樣品和運載氣體被阻塞。這種間歇地孔對齊功能讓樣品通過到分析器系統118的同時阻止過多的氣流并且保持真空。進一步地，分離器孔108和進入孔104的間歇性地對齊用于允許足夠數量的離子樣品穿過分離器孔108和進入孔104的同時允許隨后的質量分析器系統118保持足夠的真空以用于離子樣品分析。在一些實施方式中，設計在旋轉分離器106和導管102之間的預定缺口 114用于允許旋轉分離器106旋轉。在這些實施方式中，預定缺口 114設計為盡可能細小以在允許旋轉分離器106旋轉的同時防止氣體通過預定缺口 114進入質量分析器系統118。
[0020]圖3到圖6顯示了間歇性入口檢測裝置300的一種實施方式。在一些實施方式中以及如圖3所示，間歇性入口檢測裝置300包括間歇性樣品入口裝置100，離子漏斗112、離子引導器116、低真空栗120、質量分析器系統118和高真空栗122。在實施方式中，包括離子樣品和運載氣體的氣流穿過間歇性樣品入口裝置100并進入離子漏斗112(R.D.Smith and
S.A.Shaffer ,U.S.Pat.N0.6，107，628)。在本實施方式中，離子漏斗112包括平行、同軸設置的環(huán)形有孔隔板組件，該環(huán)形有孔隔板組件具有由狹小間隔分開的錐形內直徑。在這些實施方式中，隔板的孔的直徑朝向離子漏斗112的中心出口孔進入隨后的腔室(例如離子引導腔室，質量分析器系統等等)的方向逐漸變細。離子漏斗112的作用在于將離子束(或者離子樣品)在離子漏斗112的出口集中成小電導極限(small conductance limit)。在一些實施方式中，離子漏斗112在相對較高的壓力(例如高至30托爾)下運行并因此使得離子約束以及使得離子有效轉移進入下一真空級(例如離子引導器116、質量分析器系統118等等)，下一真空級中具有相對較低的壓力。于是離子樣品可從離子漏斗112流入離子引導器116和/或質量分析器系統118。
[0021]如圖3到圖5所示，間歇性入口檢測裝置300包括低真空栗120。因為真空能夠減少并且/或者消除分子間的碰撞，真空(至少部分地通過低真空栗120(例如隔膜栗)產生)是必要的，不然在基于元素的質荷比而分離元素時間歇性樣品入口裝置100和/或質量分析器系統118的有效性會降低(因為分子的碰撞可能顯著地改變參與其中的離子的軌道并導致較少的離子到達檢測器604)。此外，低真空栗120可用于減少通過預定缺口 114的氣體的量。在實施方式中，低真空栗120連接到間歇性入口檢測裝置300的至少一個真空腔室，例如旋轉分離器106和/或離子漏斗112所在的的腔室。在一些實施方式中，低真空栗120可包括，例如渦旋式真空栗。在一【具體實施方式】中，低真空栗120提供大約達到30托爾的真空(例如為包括離子漏斗112的真空腔提供)，盡管低真空栗120也可提供其他的真空壓力。
[0022]在圖3和圖4所示的實施方式中，離子引導器鄰近于離子漏斗112并且位于離子漏斗112的下游。在實施方式中，離子引導器116用于在抽走中性分子的同時引導離子從離子漏斗112進入質量分析器118。在一些實施方式中，離子引導器116包括多極離子引導器，多極離子引導器可包括多個沿離子路徑坐落的桿電極，在此射頻(RF)電場通過所述電極產生并且沿離子引導軸線限制離子。在一些實施方式中，離子引導器116在約為100毫托的壓力下運轉，盡管可以使用其他壓力。此外，跟隨離子引導器116可設置電導限制孔，電導限制孔的直徑可小于離子引導器116的出口孔的直徑。
[0023]在圖4中所示的實施方式中，間歇性入口檢測裝置300包括靜止分離器124。在該實施方式中，靜止分離器124可包括具有中心孔的分離器，例如分離器圓錐體，中心孔設計為攔截噴射或者射流擴張(例如離子樣品)的中心并起到取樣上述擴張的中心部分的作用。在該【具體實施方式】中，靜止分離器124包括設置為位于間歇性樣品入口裝置100的下游的分離器圓錐體，該分離器圓錐體設置為允許離子樣品的一部分穿過中心孔進入離子引導器116。在其他實施方式中，靜止分離器124可包括位于離子源和離子檢測器之間的用于低破壞地分離離子流或者氣體流的范圍的任何結構。此外，靜止分離器124可包括任何數量的可有效并且有利地攔截射流擴展的形狀和/或設計。在圖4所示的實施方式中，靜止分離器124包括不可移動的錐形分離器。
[0024]在圖5中所示的實施方式中，間歇性樣品入口裝置100和間歇性入口檢測裝置300包括毛細管502。在實施方式中，管道102包括設置在進入孔104的上游的毛細管502。在這些實施方式中，毛細管502的出口用于作為旋轉分離器106的入口。當大氣壓電離(API)源，例如電噴射(ES)或者大氣壓電離(APCI)源，安裝在質譜儀系統上(例如間歇性入口檢測裝置300)，從大氣壓電離腔室進入質譜儀的真空系統的氣流必須設置為與所使用的真空栗的栗送能力適配。利用毛細管是一種用于限制氣流從大氣壓噴射腔室進入質譜儀的真空系統的方法。在一些實施方式中，毛細管502可被加熱以向通過它們的溶劑化離子提供熱能，于是將這些離子去溶劑化。在一些實施方式中，離子流可通過旋轉分離器106直接進入質量分析器118(例如離子阱)。
[0025]如圖3至圖6所示，間歇性入口檢測裝置300包括質量分析器系統118。在實施方式中，質量分析器系統118包括質譜儀的部件(例如間歇性入口檢測裝置300)，質譜儀基于質荷比分離電離的質量并且將該電離的質量輸出到檢測器604。一些實施例中，質量分析器系統118包括四極質量分析器，飛行時間(TOF)質量分析器，磁式扇形質量分析器，靜電扇形質量分析器，四極離子捕獲質量分析器等等。在另一實施方式中，在間歇性入口檢測裝置300中使用的質量分析器系統118可包括離子阱裝置，離子阱裝置可包括多個用于小量地捕獲離子的電極。
[0026]如圖3至圖5所示，間歇性入口檢測裝置300包括高真空栗122。因為真空能夠減少和/或消除離子-分子的碰撞，真空(至少部分地通