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      質(zhì)量監(jiān)控的方法、裝置和系統(tǒng)的制作方法_4

      文檔序號(hào):8445146閱讀:來(lái)源:國(guó)知局
      于:
      [0221]根據(jù)得到的所述原因?qū)λ鯬CB的加工過(guò)程進(jìn)行質(zhì)量控制。
      [0222]其中,可選的,所述處理器92還用于:
      [0223]實(shí)時(shí)記錄確定的所述缺陷;
      [0224]在界面上實(shí)時(shí)顯示記錄的所述缺陷供用戶查看。
      [0225]其中,可選的,所述工序包括以下至少一種:
      [0226]印刷、錫膏厚度測(cè)試SP1、貼片、爐前自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)AO1、回流爐焊接、爐后AO1、自動(dòng)在線測(cè)試ICT或功能測(cè)試FT。
      [0227]本實(shí)施例提供的上述裝置,從數(shù)據(jù)庫(kù)獲取PCB在加工過(guò)程中的圖片信息,根據(jù)所述圖片信息確定發(fā)生缺陷的工序,在所述數(shù)據(jù)庫(kù)中獲取所述工序的檢測(cè)信息,分析所述檢測(cè)信息得到發(fā)生所述缺陷的原因,這種方式能夠匯總各種加工設(shè)備的信息并進(jìn)行分析和利用,實(shí)現(xiàn)PCB加工過(guò)程中質(zhì)量問(wèn)題的快速定位,提高了 PCB工藝質(zhì)量監(jiān)控的準(zhǔn)確率,便于及時(shí)進(jìn)行相應(yīng)的處理和控制,能夠有效提升PCB產(chǎn)品質(zhì)量。
      [0228]參見圖10,本實(shí)施例提供了一種質(zhì)量監(jiān)控的裝置,包括:
      [0229]接收機(jī)1001,用于接收印刷電路板PCB的加工設(shè)備在加工過(guò)程中上報(bào)的圖片信息和工序的檢測(cè)信息;
      [0230]發(fā)射機(jī)1002,用于將所述PCB的圖片信息和檢測(cè)信息發(fā)送至數(shù)據(jù)庫(kù)進(jìn)行存儲(chǔ);
      [0231]其中,所述圖片信息用于確定發(fā)生缺陷的工序,所述檢測(cè)信息用于確定發(fā)生所述缺陷的原因。
      [0232]本實(shí)施例中,可選的,所述接收機(jī)的功能包括以下至少一種:
      [0233]用于接收印刷機(jī)設(shè)備上報(bào)的印刷的圖片信息和檢測(cè)信息;
      [0234]用于接收錫膏厚度測(cè)試SPI設(shè)備上報(bào)的錫膏厚度測(cè)試的圖片信息和檢測(cè)信息;
      [0235]用于接收貼片機(jī)設(shè)備上報(bào)的貼片的圖片信息和檢測(cè)信息;
      [0236]用于接收爐前自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)AOI設(shè)備上報(bào)的爐前AOI的圖片信息和檢測(cè)信息;
      [0237]用于接收回流爐設(shè)備上報(bào)的回流爐焊接的圖片信息和檢測(cè)信息;
      [0238]用于接收爐后AOI設(shè)備上報(bào)的爐后AOI的圖片信息和檢測(cè)信息;
      [0239]用于接收自動(dòng)在線測(cè)試ICT設(shè)備上報(bào)的ICT的圖片信息和檢測(cè)信息;
      [0240]用于接收功能測(cè)試FT設(shè)備上報(bào)的FT的圖片信息和檢測(cè)信息。
      [0241]本實(shí)施例中,可選的,所述發(fā)射機(jī)用于:
      [0242]將所述PCB的圖片信息和檢測(cè)信息發(fā)送給所述數(shù)據(jù)庫(kù),使得所述數(shù)據(jù)庫(kù)建立所述PCB的索引信息與所述PCB的圖片信息和檢測(cè)信息的對(duì)應(yīng)關(guān)系并存儲(chǔ)該對(duì)應(yīng)關(guān)系;
      [0243]其中,所述索引信息包括條形碼,或者包括條形碼和器件編碼,或者包括條形碼、器件編碼和器件位置號(hào)。
      [0244]本實(shí)施例提供的上述裝置,通過(guò)接收PCB的加工設(shè)備在加工過(guò)程中上報(bào)的圖片信息和工序的檢測(cè)信息,將該圖片信息和檢測(cè)信息存儲(chǔ)在數(shù)據(jù)庫(kù)中,以便于客戶端根據(jù)該圖片信息確定發(fā)生缺陷的工序,根據(jù)該檢測(cè)信息確定發(fā)生該缺陷的原因,有效地匯總了各種加工設(shè)備的信息并進(jìn)行分析和利用,實(shí)現(xiàn)了 PCB加工過(guò)程中質(zhì)量問(wèn)題的快速定位,提高了PCB工藝質(zhì)量監(jiān)控的準(zhǔn)確率,便于及時(shí)進(jìn)行相應(yīng)的處理和控制,能夠有效提升PCB產(chǎn)品質(zhì)量。
      [0245]本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解實(shí)現(xiàn)上述實(shí)施例的全部或部分步驟可以通過(guò)硬件來(lái)完成,也可以通過(guò)程序來(lái)指令相關(guān)的硬件完成,所述的程序可以存儲(chǔ)于一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)中,上述提到的存儲(chǔ)介質(zhì)可以是只讀存儲(chǔ)器,磁盤或光盤等。
      [0246]以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例,并不用以限制本發(fā)明,凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi),所作的任何修改、等同替換、改進(jìn)等,均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
      【主權(quán)項(xiàng)】
      1.一種質(zhì)量監(jiān)控的方法,其特征在于,所述方法包括: 從數(shù)據(jù)庫(kù)獲取印刷電路板PCB在加工過(guò)程中的圖片信息; 根據(jù)所述圖片信息確定發(fā)生缺陷的工序; 在所述數(shù)據(jù)庫(kù)中獲取所述工序的檢測(cè)信息; 分析所述檢測(cè)信息得到發(fā)生所述缺陷的原因。
      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述從數(shù)據(jù)庫(kù)獲取印刷電路板PCB在加工過(guò)程中的圖片信息,包括: 接收用戶輸入的PCB的索引信息; 根據(jù)所述索引信息從所述數(shù)據(jù)庫(kù)中獲取所述PCB在加工過(guò)程中的圖片信息; 其中,所述索引信息包括條形碼,或者包括條形碼和器件編碼,或者包括條形碼、器件編碼和器件位置號(hào)。
      3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法還包括: 根據(jù)得到的所述原因?qū)λ鯬CB的加工過(guò)程進(jìn)行質(zhì)量控制。
      4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法還包括: 實(shí)時(shí)記錄確定的所述缺陷; 在界面上實(shí)時(shí)顯示記錄的所述缺陷供用戶查看。
      5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述工序包括以下至少一種: 印刷、錫膏厚度測(cè)試SP1、貼片、爐前自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)AO1、回流爐焊接、爐后AO1、自動(dòng)在線測(cè)試ICT或功能測(cè)試FT。
      6.一種質(zhì)量監(jiān)控的方法,其特征在于,所述方法包括: 接收印刷電路板PCB的加工設(shè)備在加工過(guò)程中上報(bào)的圖片信息和工序的檢測(cè)信息; 將所述PCB的圖片信息和檢測(cè)信息發(fā)送至數(shù)據(jù)庫(kù)進(jìn)行存儲(chǔ); 其中,所述圖片信息用于確定發(fā)生缺陷的工序,所述檢測(cè)信息用于確定發(fā)生所述缺陷的原因。
      7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法,其特征在于,所述接收印刷電路板PCB的加工設(shè)備在加工過(guò)程中上報(bào)的圖片信息和工序的檢測(cè)信息,包括以下至少一種: 接收印刷機(jī)設(shè)備上報(bào)的印刷的圖片信息和檢測(cè)信息; 接收錫膏厚度測(cè)試SPI設(shè)備上報(bào)的錫膏厚度測(cè)試的圖片信息和檢測(cè)信息; 接收貼片機(jī)設(shè)備上報(bào)的貼片的圖片信息和檢測(cè)信息; 接收爐前自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)AOI設(shè)備上報(bào)的爐前AOI的圖片信息和檢測(cè)信息; 接收回流爐設(shè)備上報(bào)的回流爐焊接的圖片信息和檢測(cè)信息; 接收爐后AOI設(shè)備上報(bào)的爐后AOI的圖片信息和檢測(cè)信息; 接收自動(dòng)在線測(cè)試ICT設(shè)備上報(bào)的ICT的圖片信息和檢測(cè)信息; 接收功能測(cè)試FT設(shè)備上報(bào)的FT的圖片信息和檢測(cè)信息。
      8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法,其特征在于,所述將所述PCB的圖片信息和檢測(cè)信息發(fā)送至數(shù)據(jù)庫(kù)進(jìn)行存儲(chǔ),包括: 將所述PCB的圖片信息和檢測(cè)信息發(fā)送給所述數(shù)據(jù)庫(kù),使得所述數(shù)據(jù)庫(kù)建立所述PCB的索引信息與所述PCB的圖片信息和檢測(cè)信息的對(duì)應(yīng)關(guān)系并存儲(chǔ)所述對(duì)應(yīng)關(guān)系; 其中,所述索引信息包括條形碼,或者包括條形碼和器件編碼,或者包括條形碼、器件編碼和器件位置號(hào)。
      9.一種質(zhì)量監(jiān)控的裝置,其特征在于,所述裝置包括: 第一獲取模塊,用于從數(shù)據(jù)庫(kù)獲取印刷電路板PCB在加工過(guò)程中的圖片信息; 確定模塊,用于根據(jù)所述圖片信息確定發(fā)生缺陷的工序; 第二獲取模塊,用于在所述數(shù)據(jù)庫(kù)中獲取所述工序的檢測(cè)信息; 分析模塊,用于分析所述檢測(cè)信息得到發(fā)生所述缺陷的原因。
      10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的裝置,其特征在于,所述第一獲取模塊包括: 接收單元,用于接收用戶輸入的PCB的索引信息; 第一獲取單元,用于根據(jù)所述索引信息從所述數(shù)據(jù)庫(kù)中獲取所述PCB在加工過(guò)程中的圖片信息; 其中,所述索引信息包括條形碼,或者包括條形碼和器件編碼,或者包括條形碼、器件編碼和器件位置號(hào)。
      11.根據(jù)權(quán)利要求9所述的裝置,其特征在于,所述裝置還包括: 控制模塊,用于根據(jù)得到的所述原因?qū)λ鯬CB的加工過(guò)程進(jìn)行質(zhì)量控制。
      12.根據(jù)權(quán)利要求9所述的裝置,其特征在于,所述裝置還包括: 記錄模塊,用于實(shí)時(shí)記錄確定的所述缺陷; 顯示模塊,用于在界面上實(shí)時(shí)顯示記錄的所述缺陷供用戶查看。
      13.根據(jù)權(quán)利要求9所述的裝置,其特征在于,所述工序包括以下至少一種: 印刷、錫膏厚度測(cè)試SP1、貼片、爐前自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)AO1、回流爐焊接、爐后AO1、自動(dòng)在線測(cè)試ICT或功能測(cè)試FT。
      14.一種質(zhì)量監(jiān)控的裝置,其特征在于,所述裝置包括: 接收模塊,用于接收印刷電路板PCB的加工設(shè)備在加工過(guò)程中上報(bào)的圖片信息和工序的檢測(cè)信息; 發(fā)送模塊,用于將所述PCB的圖片信息和檢測(cè)信息發(fā)送至數(shù)據(jù)庫(kù)進(jìn)行存儲(chǔ); 其中,所述圖片信息用于確定發(fā)生缺陷的工序,所述檢測(cè)信息用于確定發(fā)生所述缺陷的原因。
      15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的裝置,其特征在于,所述接收模塊包括以下至少一種: 第一接收單元,用于接收印刷機(jī)設(shè)備上報(bào)的印刷的圖片信息和檢測(cè)信息; 第二接收單元,用于接收錫膏厚度測(cè)試SPI設(shè)備上報(bào)的錫膏厚度測(cè)試的圖片信息和檢測(cè)信息; 第三接收單元,用于接收貼片機(jī)設(shè)備上報(bào)的貼片的圖片信息和檢測(cè)信息; 第四接收單元,用于接收爐前自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)AOI設(shè)備上報(bào)的爐前AOI的圖片信息和檢測(cè)信息; 第五接收單元,用于接收回流爐設(shè)備上報(bào)的回流爐焊接的圖片信息和檢測(cè)信息; 第六接收單元,用于接收爐后AOI設(shè)備上報(bào)的爐后AOI的圖片信息和檢測(cè)信息; 第七接收單元,用于接收自動(dòng)在線測(cè)試ICT設(shè)備上報(bào)的ICT的圖片信息和檢測(cè)信息; 第八接收單元,用于接收功能測(cè)試FT設(shè)備上報(bào)的FT的圖片信息和檢測(cè)信息。
      16.根據(jù)權(quán)利要求14所述的裝置,其特征在于,所述發(fā)送模塊包括: 發(fā)送單元,用于將所述PCB的圖片信息和檢測(cè)信息發(fā)送給所述數(shù)據(jù)庫(kù),使得所述數(shù)據(jù)庫(kù)建立所述PCB的索引信息與所述PCB的圖片信息和檢測(cè)信息的對(duì)應(yīng)關(guān)系并存儲(chǔ)所述對(duì)應(yīng)關(guān)系; 其中,所述索引信息包括條形碼,或者包括條形碼和器件編碼,或者包括條形碼、器件編碼和器件位置號(hào)。
      17.—種質(zhì)量監(jiān)控的系統(tǒng),其特征在于,所述系統(tǒng)包括:如權(quán)利要求9-13中任一項(xiàng)所述的裝置和如權(quán)利要求14-16中任一項(xiàng)所述的裝置。
      【專利摘要】本發(fā)明公開了一種質(zhì)量監(jiān)控的方法、裝置和系統(tǒng),屬于表面組裝技術(shù)領(lǐng)域。所述方法包括:從數(shù)據(jù)庫(kù)獲取印刷電路板PCB在加工過(guò)程中的圖片信息;根據(jù)所述圖片信息確定發(fā)生缺陷的工序;在所述數(shù)據(jù)庫(kù)中獲取所述工序的檢測(cè)信息;分析所述檢測(cè)信息得到發(fā)生所述缺陷的原因。所述裝置包括:第一獲取模塊、確定模塊、第二獲取模塊和分析模塊。本發(fā)明能夠匯總各種加工設(shè)備的信息并進(jìn)行分析和利用,實(shí)現(xiàn)PCB加工過(guò)程中質(zhì)量問(wèn)題的快速定位,提高了PCB工藝質(zhì)量監(jiān)控的準(zhǔn)確率,便于及時(shí)進(jìn)行相應(yīng)的處理和控制,能夠有效提升PCB產(chǎn)品質(zhì)量。
      【IPC分類】G05B19-418
      【公開號(hào)】CN104765344
      【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201510118269
      【發(fā)明人】白林, 曹曦, 湯永光
      【申請(qǐng)人】華為技術(shù)有限公司
      【公開日】2015年7月8日
      【申請(qǐng)日】2015年3月18日
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